JPS60244750A - 巻厚検出装置 - Google Patents
巻厚検出装置Info
- Publication number
- JPS60244750A JPS60244750A JP59098641A JP9864184A JPS60244750A JP S60244750 A JPS60244750 A JP S60244750A JP 59098641 A JP59098641 A JP 59098641A JP 9864184 A JP9864184 A JP 9864184A JP S60244750 A JPS60244750 A JP S60244750A
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- JP
- Japan
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- detector
- winding
- thickness
- web
- light
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- Granted
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H23/00—Registering, tensioning, smoothing or guiding webs
- B65H23/005—Sensing web roll diameter
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2511/00—Dimensions; Position; Numbers; Identification; Occurrences
- B65H2511/10—Size; Dimensions
- B65H2511/16—Irregularities, e.g. protuberances
- B65H2511/166—Irregularities, e.g. protuberances relative to diameter, eccentricity or circularity
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、巻芯に巻かれている写真フィルム。
紙、織物等の長尺巻材の巻厚を検出するために用いられ
る巻厚検出装置に関するものである。
る巻厚検出装置に関するものである。
巻取り・巻戻し装置では、帯状をした巻材（以下、ウェ
ブと称する）を巻芯に巻き取ったり、あるいは巻芯に巻
かれたウェブを巻き戻したりする。
ブと称する）を巻芯に巻き取ったり、あるいは巻芯に巻
かれたウェブを巻き戻したりする。
一般的に、巻取りの場合には品質を茜めるために、巻厚
が常に一定値になることが要求され、また自動接合装置
で複数のウェブを繋ぎなから巻き戻す場合には、ウェブ
の無駄をなくすために、巻芯に残っているウェブが短い
ことが要求される。したがって、巻取り・巻戻し装置で
は、巻厚を検出する巻厚検出装置が設けられており、巻
厚が所定の値に近すいた時に徐々に巻取り速度を減速し
、そして所定の値に達した時に駆動機構を停止している
。
が常に一定値になることが要求され、また自動接合装置
で複数のウェブを繋ぎなから巻き戻す場合には、ウェブ
の無駄をなくすために、巻芯に残っているウェブが短い
ことが要求される。したがって、巻取り・巻戻し装置で
は、巻厚を検出する巻厚検出装置が設けられており、巻
厚が所定の値に近すいた時に徐々に巻取り速度を減速し
、そして所定の値に達した時に駆動機構を停止している
。
従来の巻厚検出装置としては、例えば特公昭４７−１３
２９２号に記載されているように、巻芯を一定速度で逆
転させ、この巻芯から巻き戻されたウェブのライン速度
を測定し、このライン速度が所定値まで低下した時点か
ら減速を開始させ、そしてこの減速時には巻戻し停止時
の目標巻径。
２９２号に記載されているように、巻芯を一定速度で逆
転させ、この巻芯から巻き戻されたウェブのライン速度
を測定し、このライン速度が所定値まで低下した時点か
ら減速を開始させ、そしてこの減速時には巻戻し停止時
の目標巻径。
現在の巻径、減速率、及びウェブ厚みを用いて現時点で
の目標ライン速度を算出し、この目標ライン速度に前記
ライン速度が一致するように速度制御し、停止時の巻厚
（残厚）を正確に制御するようにしたものが知られてい
る。一般的に、ライン速度には変動が伴うことが多いた
めに、この変動の影響でめる巻厚に誤差が発生するとい
う難点がある。
の目標ライン速度を算出し、この目標ライン速度に前記
ライン速度が一致するように速度制御し、停止時の巻厚
（残厚）を正確に制御するようにしたものが知られてい
る。一般的に、ライン速度には変動が伴うことが多いた
めに、この変動の影響でめる巻厚に誤差が発生するとい
う難点がある。
前述したライン速度の影響を受けないようにしたものと
して、例えば特開昭５１−３１２５７号に記載されてい
るように、ウェブの単位移動量を表すパルス信号と３巻
芯の１／Ｘ回転を表すパルス信号とを発生させ、巻芯の
１／Ｘ回転間に発生するウェブ移動量に比例したパルス
を計数することにより、その時点における巻径を逐次検
出するものが提案されている。巻芯はチャック等により
保持されているが、このチャッキングの際に偏心が生じ
やすく、また巻芯自体にも偏心があるため、前述した装
置のいずれも、巻厚を正しく検出することができないと
いう欠点があった。
して、例えば特開昭５１−３１２５７号に記載されてい
るように、ウェブの単位移動量を表すパルス信号と３巻
芯の１／Ｘ回転を表すパルス信号とを発生させ、巻芯の
１／Ｘ回転間に発生するウェブ移動量に比例したパルス
を計数することにより、その時点における巻径を逐次検
出するものが提案されている。巻芯はチャック等により
保持されているが、このチャッキングの際に偏心が生じ
やすく、また巻芯自体にも偏心があるため、前述した装
置のいずれも、巻厚を正しく検出することができないと
いう欠点があった。
本発明は、チャッキング時の偏心又は巻芯自体の偏心等
の影響を受＆ｊることなく、ウーヱブの巻厚を高精度に
検出することができるようにした巻厚検出装置を提供す
ることを目的とするものである。
の影響を受＆ｊることなく、ウーヱブの巻厚を高精度に
検出することができるようにした巻厚検出装置を提供す
ることを目的とするものである。
上記した目的を達成するために、本発明は、巻厚が所定
値になったことを低精度で検出する第１検出器と、投光
部と受光部とを備えウェブで反射して戻ってきたスポッ
ト光の入射位置から巻厚を高精度で検出する第２検出器
とを設け、前記第１検出器からの信号でタッチローラと
前記第２検出器とを移動し、タッチローラが巻芯に当接
した位置に第２検出器を位置決めし、この第２検出器に
より巻芯表面からウェブ外周までの厚みを光学的に測定
するようにしたものである。
値になったことを低精度で検出する第１検出器と、投光
部と受光部とを備えウェブで反射して戻ってきたスポッ
ト光の入射位置から巻厚を高精度で検出する第２検出器
とを設け、前記第１検出器からの信号でタッチローラと
前記第２検出器とを移動し、タッチローラが巻芯に当接
した位置に第２検出器を位置決めし、この第２検出器に
より巻芯表面からウェブ外周までの厚みを光学的に測定
するようにしたものである。
本発明は、巻芯に巻きイ」けられたウェブの巻厚を検出
するものであるが、予め分かっている巻芯の直径を加算
することにより、巻径をめることができるから、巻径検
出装置としても用いることができるものである。以下、
本発明を巻戻し装置に利用した実施例について詳細に説
明する。
するものであるが、予め分かっている巻芯の直径を加算
することにより、巻径をめることができるから、巻径検
出装置としても用いることができるものである。以下、
本発明を巻戻し装置に利用した実施例について詳細に説
明する。
第１図及び第２図において、巻芯、１０は円筒状をして
おり、その外周にウェブ１１が巻きイ１けられている。
おり、その外周にウェブ１１が巻きイ１けられている。
この巻芯１０は、円錐状をした一対のチャック１２．１
３でその両端が保持されている。
３でその両端が保持されている。
この一方のチャック１３は、モータ、減速器からなる駆
動機構１４で駆動され、ウェブ１１を巻き戻し、移送系
（図示ゼず）を介して加工工程に送るようになっている
。
動機構１４で駆動され、ウェブ１１を巻き戻し、移送系
（図示ゼず）を介して加工工程に送るようになっている
。
前記巻芯１０の両側に、スボ・ノド光を投光する投光部
１６と、このスポット光を受光する受光部１７とが配置
されており、これらによって残厚（巻厚）が所定値に達
したごとを粗く検出する第１検出器３５が構成される。
１６と、このスポット光を受光する受光部１７とが配置
されており、これらによって残厚（巻厚）が所定値に達
したごとを粗く検出する第１検出器３５が構成される。
なお、第１検出器３５は低精度で残厚を検出すればよい
から、前述した従来の巻厚検出装置を用いることができ
る。
から、前述した従来の巻厚検出装置を用いることができ
る。
第２図に詳細に示すように、タッチローラ２０は巻芯１
０の一部付近に位置しており、軸２１を支点にしてアー
ム２２が時計方向に回動した時に、巻芯１０の外周に押
し付けられる。このアーム２２を回動するために、その
途中にエアーシリンダ２３のピストンロット２４力く取
りイ」けられており、このエアーシリンダ２３はその下
端部が軸２５に回動自在に軸支されている。なお、直進
シリンダ又はボールネジによってタッチローラ２０を巻
芯１０に押しく−１けてもよい。
０の一部付近に位置しており、軸２１を支点にしてアー
ム２２が時計方向に回動した時に、巻芯１０の外周に押
し付けられる。このアーム２２を回動するために、その
途中にエアーシリンダ２３のピストンロット２４力く取
りイ」けられており、このエアーシリンダ２３はその下
端部が軸２５に回動自在に軸支されている。なお、直進
シリンダ又はボールネジによってタッチローラ２０を巻
芯１０に押しく−１けてもよい。
前記アーム２２の先端には、第２検出器２６が取り付け
られている。この第２検出器２６は、投光部から投光さ
れ、そしてウェブ１１の表面で反射されて戻ってきたス
ポット光の入射位置から、ウェブ１１までの高さく残厚
）を検出するようになっており、ハウジング２７．この
中に収納さ塾た光源２８．この光源２８で発光した光を
ウェブ１１上で集光させるレンズ２９．ウェブ１１の表
面で反射したスポット光を集光するレンズ３０゜このレ
ンズ３０を通った光を受光するアレイセンサー３１とか
ら構成されている。なお、ウェブ１１が１ｆ真フイルム
の場合には、スポット光の照射で感光するから、これを
避けるために赤外光を発光する半導体レーザを用い、か
つスポット光のサイズがなるべく小さくなるようにする
のが望ましい。また、スポット光の投光角度は４５度に
なっているが、これは任意の角面でよく、更にはミラー
やブリズノ・を用いて投光系または受光系の光路を変更
し゛（もよい。
られている。この第２検出器２６は、投光部から投光さ
れ、そしてウェブ１１の表面で反射されて戻ってきたス
ポット光の入射位置から、ウェブ１１までの高さく残厚
）を検出するようになっており、ハウジング２７．この
中に収納さ塾た光源２８．この光源２８で発光した光を
ウェブ１１上で集光させるレンズ２９．ウェブ１１の表
面で反射したスポット光を集光するレンズ３０゜このレ
ンズ３０を通った光を受光するアレイセンサー３１とか
ら構成されている。なお、ウェブ１１が１ｆ真フイルム
の場合には、スポット光の照射で感光するから、これを
避けるために赤外光を発光する半導体レーザを用い、か
つスポット光のサイズがなるべく小さくなるようにする
のが望ましい。また、スポット光の投光角度は４５度に
なっているが、これは任意の角面でよく、更にはミラー
やブリズノ・を用いて投光系または受光系の光路を変更
し゛（もよい。
第３図は巻戻し装置の電気回路を示すものである。第１
検出器３５は、ウェブ１１の残厚が所定値に達したこと
を検知した時に、検知信号を制御器３６に送り、エアー
シリンダ作動部３７を作動させる。エアーシリンダ作動
部３７ば、タッチローラ２０を巻芯」０に押しｆ−３け
た時に、セント完了信号を第２検出器２６に送って測定
全開始させる。この第２検出器２６は、前記タッチロー
ラ２０が巻芯１０に当接した状態のもとで、ウェブ１１
表面までの高さに対応した信号を出力してこれを演算器
３８に送る。この演算器３８は、第２検出器２６からの
出力信号を演算して残厚を算出するとともに、設定器３
９で指定された減速開始点及び停止点の残厚と比較し、
減速信号（停止信号も含む）を出力する。前記制御器３
６は、この演算器３８からの減速信号に応じて駆動機構
１４の回転を制御する。
検出器３５は、ウェブ１１の残厚が所定値に達したこと
を検知した時に、検知信号を制御器３６に送り、エアー
シリンダ作動部３７を作動させる。エアーシリンダ作動
部３７ば、タッチローラ２０を巻芯」０に押しｆ−３け
た時に、セント完了信号を第２検出器２６に送って測定
全開始させる。この第２検出器２６は、前記タッチロー
ラ２０が巻芯１０に当接した状態のもとで、ウェブ１１
表面までの高さに対応した信号を出力してこれを演算器
３８に送る。この演算器３８は、第２検出器２６からの
出力信号を演算して残厚を算出するとともに、設定器３
９で指定された減速開始点及び停止点の残厚と比較し、
減速信号（停止信号も含む）を出力する。前記制御器３
６は、この演算器３８からの減速信号に応じて駆動機構
１４の回転を制御する。
次に、第４図を参照して上記実施例の作用について説明
する。駆動機構１４が作動すると、巻芯１０が逆転して
ウェブ１１＋巻き戻し、移送系を介して所定の加エエ稈
に移送する。そして、この巻戻し中に、ウェブ１１の残
厚が所定値にほぼ達したごとが検知されると、エアーシ
リンダ２３が作動する。このエアーシリンダ２３は、ア
ーム２２を回動してウェブ１１から退避していたタッチ
＋７−ラ２０を巻芯１０の外周に押し付ける。
する。駆動機構１４が作動すると、巻芯１０が逆転して
ウェブ１１＋巻き戻し、移送系を介して所定の加エエ稈
に移送する。そして、この巻戻し中に、ウェブ１１の残
厚が所定値にほぼ達したごとが検知されると、エアーシ
リンダ２３が作動する。このエアーシリンダ２３は、ア
ーム２２を回動してウェブ１１から退避していたタッチ
＋７−ラ２０を巻芯１０の外周に押し付ける。
前記タッチローラ２０は、巻芯１０に当接して回転する
から、アー１８２２の先端に取り付けた第２検出器２６
は、チャッキング又は巻芯１０の偏心に関係な（、常に
巻芯１０の表面から一定の距離に位置決めされることに
なる。光源２８から投光されたスポット光は、ウェブ１
１の表面で反射し、アレイセンサー３１に入射する。そ
して、このスボノ１〜光は、ウェブ］１の厚みに応して
入射位置が変化するから、アレイセンサー３１からスボ
ソ１〜光の入射位置に応じた信号が出力され、前記演算
器３８に送られ、次式によりウェブ１１の残厚りが算出
される。
から、アー１８２２の先端に取り付けた第２検出器２６
は、チャッキング又は巻芯１０の偏心に関係な（、常に
巻芯１０の表面から一定の距離に位置決めされることに
なる。光源２８から投光されたスポット光は、ウェブ１
１の表面で反射し、アレイセンサー３１に入射する。そ
して、このスボノ１〜光は、ウェブ］１の厚みに応して
入射位置が変化するから、アレイセンサー３１からスボ
ソ１〜光の入射位置に応じた信号が出力され、前記演算
器３８に送られ、次式によりウェブ１１の残厚りが算出
される。
ｈ＝ （Ｎｂ−Ｎａ）ＸＰＸｓ ｊｎθ／ｍここで、各
記号は次の通りである。
記号は次の通りである。
Ｎａニスボット光の入射位置Ｐａのビット番号Ｎｂニス
ボット光の入射値１ＷＰｂのビット番号θ ニスボット
光の投光角度 ｍ ：レンズ３０の縮小倍率 Ｐ ：受光セルのピンチ こうしてめた残厚りは、前記設定器３９で指定された減
速開始点の残厚及び停止時の残厚に比較され、それによ
り減速信号が出力される。この減速信号は、制御器３６
人力され、ここで減速指令信号が出力され、この信号に
より駆動機構１４が制御される。駆動機構１４は、巻芯
ＩＯの回転速度を制御し、所定の残厚に達した時に巻芯
１０の回転を停止させる。なお、前記減速指令信号は移
送系にも送られ、これらも同時に減速制御させる。
ボット光の入射値１ＷＰｂのビット番号θ ニスボット
光の投光角度 ｍ ：レンズ３０の縮小倍率 Ｐ ：受光セルのピンチ こうしてめた残厚りは、前記設定器３９で指定された減
速開始点の残厚及び停止時の残厚に比較され、それによ
り減速信号が出力される。この減速信号は、制御器３６
人力され、ここで減速指令信号が出力され、この信号に
より駆動機構１４が制御される。駆動機構１４は、巻芯
ＩＯの回転速度を制御し、所定の残厚に達した時に巻芯
１０の回転を停止させる。なお、前記減速指令信号は移
送系にも送られ、これらも同時に減速制御させる。
次に残厚の検出精度味ついて具体例を挙げて説明する。
巻芯１０の外径を２００ ｍｍ、、 ウェブ１１の厚み
をＱ、１ｍｍ、チャッキング時の偏心を０゜８鰭とする
と、０．８÷０．１＝８であるから、８巻分の誤差がｄ
ニジる。この８巻分は、約５ｍに相当するから、巻戻Ｕ
７停止時には、５ｍ分が余分に残っており、これが捨て
られて、しまうことになる。本発明では、チャッキング
時の偏心はタッチローラ２０により吸収するから、この
影響を受けることがなく、したがって５ｍ分も巻き戻し
、これを有効に利用することができる。
をＱ、１ｍｍ、チャッキング時の偏心を０゜８鰭とする
と、０．８÷０．１＝８であるから、８巻分の誤差がｄ
ニジる。この８巻分は、約５ｍに相当するから、巻戻Ｕ
７停止時には、５ｍ分が余分に残っており、これが捨て
られて、しまうことになる。本発明では、チャッキング
時の偏心はタッチローラ２０により吸収するから、この
影響を受けることがなく、したがって５ｍ分も巻き戻し
、これを有効に利用することができる。
前記実施例では、演算器３８を用いて残厚りを算出して
いるが、この残厚りは−ｒ、レイセンサー３１の出力に
対応しているから、いちいち残厚を算出することなく、
アレイセンサー３１のどのビ・ノドにスポット光が入射
しているかを検出することにより、駆動機構１４を制御
してもよい。
いるが、この残厚りは−ｒ、レイセンサー３１の出力に
対応しているから、いちいち残厚を算出することなく、
アレイセンサー３１のどのビ・ノドにスポット光が入射
しているかを検出することにより、駆動機構１４を制御
してもよい。
上記構成を有する本発明は、巻厚を相く検出する第１検
出器を設け、巻厚が所定値にほぼ達した時に、タッチロ
ーラを巻芯に押し付け、この夕・ノチローラに連結した
第２検出器からスポット光をウェブの表面に投光し、そ
の反射光の入射位置を検出して巻厚を測定するよ・うに
したから、チャッキング又は巻芯に偏心があっ゛（も、
これらの影響を受りることなく、高精度て巻厚を測定す
ることができる。
出器を設け、巻厚が所定値にほぼ達した時に、タッチロ
ーラを巻芯に押し付け、この夕・ノチローラに連結した
第２検出器からスポット光をウェブの表面に投光し、そ
の反射光の入射位置を検出して巻厚を測定するよ・うに
したから、チャッキング又は巻芯に偏心があっ゛（も、
これらの影響を受りることなく、高精度て巻厚を測定す
ることができる。
また、第２検出器とし”ζ光学的距離検出器を用いてい
るから、従来のようにウェブの速度や速度ムラの影響を
受けることがない。更に、低精度の第１検出器と、高精
度の第２検出器を用いているので、第２検出器の検出範
囲を狭く抑えることができ、最終的の巻厚を極めて高精
度で検出することができる。
るから、従来のようにウェブの速度や速度ムラの影響を
受けることがない。更に、低精度の第１検出器と、高精
度の第２検出器を用いているので、第２検出器の検出範
囲を狭く抑えることができ、最終的の巻厚を極めて高精
度で検出することができる。
第１図は本発明を実施した巻戻し装置の平面図である。
第２図は第１図のＩＩ ７ ｎ線断面図である。
第３図は電気回路を示ずブＩ−四ノク図である。
第４図は第２検出器の作用を示す説明図である。
１０・・巻芯 １１・・ウェブ
１’２．１３・・チャック １６・・投光部１７・・受
光部 ２０・・タッチローラ２３・・エアーシリンダ
２６・・第２検出器２８・・光源 ３１・・アレイセン
サーｈ・・・残厚。
光部 ２０・・タッチローラ２３・・エアーシリンダ
２６・・第２検出器２８・・光源 ３１・・アレイセン
サーｈ・・・残厚。
Claims (4)
- （１）巻芯にロール状に巻き取られたウェブの巻厚を検
出する装置において、 前記巻芯に当接した位置と離れた位置との間を移動する
タッチｌ」−ラと、前記ウェブの巻厚が所定の値に達し
たことを検出する第１の検出器と。 この第１の検出器からの出力信号により駆動され前記タ
ッチローラを巻芯に押し付ける押付は手段と、この押付
は手段に連結されており、スポット光を投光する投光部
及び前記ウェブで反射したスボソ１−光を受光する受光
部を備え、受光部に入射したスポット光の入射位置に応
じた信号を出力する第２の検出器とからなり、この第２
の検出器の出力信号からウェブの巻厚を検出するように
したことを特徴とする巻厚検出装置。 - （２）前記第１の検出器は、スポット光を投光する投光
部とこのスポット光を受光する受光部とからなり、これ
らが巻芯に沿ってウェブの両側に配置されていることを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の巻厚検出装置。 - （３）前記第２の検出器は、その受光部がアレイセンサ
ーであることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
巻厚検出装置。 - （４）前記第２の検出器は、その投光部が赤外線を発光
する半導体レーザであることを特徴とする特許請求の範
囲第３項記載の巻厚検出袋ＦＲ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59098641A JPS60244750A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | 巻厚検出装置 |
| US06/735,647 US4657198A (en) | 1984-05-18 | 1985-05-20 | Apparatus for measuring the thickness of a roll winding on or unwinding from a core |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59098641A JPS60244750A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | 巻厚検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60244750A true JPS60244750A (ja) | 1985-12-04 |
| JPH0436990B2 JPH0436990B2 (ja) | 1992-06-17 |
Family
ID=14225129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59098641A Granted JPS60244750A (ja) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | 巻厚検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4657198A (ja) |
| JP (1) | JPS60244750A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0455000Y2 (ja) * | 1987-11-02 | 1992-12-24 | ||
| JP2002022417A (ja) * | 2000-07-13 | 2002-01-23 | Disco Abrasive Syst Ltd | 厚さ測定装置 |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1246430B (it) * | 1990-08-06 | 1994-11-18 | Tapematic Spa | Procedimento e dispositivo per la ricerca di un capo di un nastro magnetico avvolto su una bobina in macchine automatiche confezionatrici di cassette a nastro |
| US5340049A (en) * | 1990-08-06 | 1994-08-23 | Tapematic U.S.A., Inc. | Method and apparatus for finding one end of tape wound onto a reel |
| US5053629A (en) * | 1990-08-23 | 1991-10-01 | The Aerospace Corporation | Microdensitometer with submicron resolution having dual diaphragms and dual microscopes |
| US5356092A (en) * | 1992-06-29 | 1994-10-18 | Tapematic U.S.A., Inc. | Reduced size tape loading module |
| US5643395A (en) * | 1992-09-01 | 1997-07-01 | Cms Gilbreth Packaging Systems, Inc. | Automatic splicing apparatus |
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