JPS60233853A - 受光素子アレイ - Google Patents

受光素子アレイ

Info

Publication number
JPS60233853A
JPS60233853A JP59089074A JP8907484A JPS60233853A JP S60233853 A JPS60233853 A JP S60233853A JP 59089074 A JP59089074 A JP 59089074A JP 8907484 A JP8907484 A JP 8907484A JP S60233853 A JPS60233853 A JP S60233853A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrode
receiving element
light
conductivity type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59089074A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Iwabuchi
岩渕 俊之
Yuichi Masaki
裕一 正木
Akira Uchiyama
章 内山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP59089074A priority Critical patent/JPS60233853A/ja
Publication of JPS60233853A publication Critical patent/JPS60233853A/ja
Priority to US07/204,942 priority patent/US4885622A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14665Imagers using a photoconductor layer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) この発明はpin構造を有する受光素子アレイに関する
(背景技術の説明) 従来から種々の使用目的に適用される多くのタイプの受
光素子アレイが提案されている。
第2図はこのような受光素子アレイのうちpin構造の
感光部を有する例を示す断面図である。
第2図に示す構造では、20はガラス等から成る透明基
板、21はこの基板20上に被着した透明電極である。
22はアモルファスシリコン(以下a −8iという)
からなるpin構造の感光部で、各受光素子毎に分離形
成されている。この感光部22は透明電極21側から、
p型a−Silj23、i型a−9i中間層24及びn
型&−Si層25で構成されている。さらに、26はn
型a−3i層25上の一部分を除いて全てを被覆する表
面保護膜、27はn型a −9i層25の一部分を露出
させるために選択的に除去して形成された窓、28はn
型a−9:層25の露出面上に形成された金属電極であ
る。
この構造の受光素子アレイに光りを照射すると、これが
透明基板20、透明電極2!を透過し、感光部22に入
射する。感光部22中で、こ、の入射した光の強度に比
例した量の電子・正孔対が創成されるので、透明電極2
1と、金属電極2Bとの間に逆バイアス電圧を印加する
と、光強度応じた電流を取り出すことが出来る。
(解決すべき問題点) しかしながら、この構造の受光素子アレイでは、表面保
護膜2Bをパターニングするに当り、下側の透明電極2
1に金属電極28の材料が短絡を起さないようにするた
め、サイドエツチングとマスクのずれを考慮して、ny
!!1a−3i層の領域よりも小さい窓27を保護層2
6に開けているので、n型a −9i層25の表面のう
ち周縁側にある幅を持たせて金属電極28と接触しない
非接触領域25aを設けている。
この非接触領域25aには、金属電極2Bとの接触領域
25bに比べて、両電極21及び28間の逆バイアス電
圧が正確に印加されないので、この部分で発生した電子
・正孔が両電極21及び28に達するのに時間がかかり
、これがため、照射光りの強度変化に対する光電法変化
の応答速度(以下、光応答速度という)が遅いという欠
点があった。
さらに、この発光素子アレイの信頼性を向上させるため
、一般には、表面保護膜26を被着するが、この場合、
感光部22の、エツチングにより現われた端面22aに
おける表面保護膜2Bの段差被覆性に問題がある。
このような被覆性の悪い表面保護膜が生じないようにす
るためには、この保護膜を厚く被着することが必要とな
り、その結果、表面保護膜の被着に要する時間が長くな
るという欠点があった。
さらに、この表面保護膜2Bが厚いと、金属電極28と
透明電極21から接続用の端子を外部に取り出すための
保護膜の開孔作業に障害が生じ、作業が困難となるとい
う欠点もあった。
(発明の目的) この発明の目的は光応答速度が速く、しかも、段差被覆
性が良好で、作成の容易かつ簡単な受光素子アレイを提
供することにある。
(問題点を解決すべき手段) この目的の達成を図るため、この発明によれば、基板上
に第一電極と、この第−電極側から第一導電型層、中間
層及び第二導電型層で構成したpin構造としてなる感
光部と、第二電極と、保護膜とを具える受光素子を配列
して成る受光素子アレイにおいて、これら基板、第一電
極、第−導電型層及び中間層をそれぞれ各受光素子に対
する共通層とし、この共通の中間層上に前述の保護膜を
具え、この保護膜に中間層の表面を部分的に露出させる
複数個の窓を設け、前述の第二導電型層は前述の窓を介
して前述の中間層の露出面上に個別的に形成し、前述の
第二電極は第二導電型層上に個別的に形成1て成ること
を特徴とする。
(作用) このように構成す2れば、第二導電型層が互いに分離し
ていると共に、第二導電型層が中間層と接触している範
囲でこの第二導電型層の全面が第二電極と接触している
ので、バイアス電圧が正確に印加され、光応答速度が速
くなる。
さらに、第−導電型層及び中間層は各受光素子に共通と
なっているので、これらの層の表面が平担となっており
、これがため、表面保護膜の被覆性が極めて良好となり
、従って1表面保護膜を薄く被着させれば良く、そのた
めの作業時間を短縮することが出来る。
さらに、第二導電型層が互いに分離されていることによ
り、隣接する受光素子のビット電流が回り込むことがな
く、各受光素子毎の正確な光電流を取出すことが出来る
(実施例の説明) 以下、図面につき、この発明の詳細な説明する。
第1図波はこの発明の詳細な説明するための路線的断面
図である。尚、図示の簡略化のため、断面を表わすハツ
チング等を一部分を除き、省略しである。
11i1図は基板側から光りを照射して使用するタイプ
の受光素子アレイを示す、lはガラス、合成樹脂、或い
は、その他の任意好適な材料から成る透明基板である。
2はこの透明基板l上に被着した第一電極を構成する透
明電極で、インジウム錫酸化物(ITO) 、その他の
光透過性の導電材料であれば良い、インジウム錫酸化物
とする場合には、インジウム酸化物に対して約5%の錫
酸化物を混合し酸素雰囲気中で電子ビーム或いはスパッ
タ等で蒸着するのが良い。特に感光部がa −5iの場
合には、インジウム錫酸化物上へ錫酸化物を蒸着し、二
層膜とすることが多い。
3は感光部で、この透明電極2の被着形成後、a−5i
を被着して形成する。このa −Siの層形成は、シラ
ン(SiHa )ガスを高周波グロー放電で分解するこ
とによって、200〜300℃という低温で行うことが
出来る。この形成工程において、例えば、シランガスに
対して500〜10000pp■のジポラン(B2 H
& )を混合して第一導電型層であるp型a−Si層4
を50〜100OAの厚さに積層し、次にシランガスに
対して少量(too ppm以下)のジポラン(B2 
H6)を混合してp型層4上に中間層としてのi型a−
Si層5を0.5〜1.51Lmの厚さに積層する。さ
らに、後述する保護膜の窓を介して中間層5上に第二導
電型層であるn型a −Si層6を形成するが、これは
シランガスに対して500〜110000ppのホスフ
ィン(PH3)を混合して中間層5上に100〜200
OAの厚さで積層する。このようにして、第一導電型層
4、中間層5及び第二導電型層6から成るa−Siの感
光部3を被着することが出来る。
次に、絶縁性を有する表面保護膜7を中間層5上に形成
する。この保護膜(絶縁膜)7として、スパッタ法によ
って、シリコン酸化膜、アルミナ等を形成しても良いが
、グロー放電法を用いると、同じ°装置で空気中に晒さ
れずに連続して保護膜7を被着出来るので、この発明に
おいては後者のグロー放電法を使用するのが好適である
。この場合、シリコン酸化膜(5iOx)はSiH4と
亜酸化窒素(?h、 0)とを用いれば良く、シリコン
窒化膜(SiNx)はS iH4とアンモニア(NH3
)とを用いるか或いはSiH,と窒素(N2)とを用い
れば良い。
保護膜7の成膜が終了したならば、受光素子に対応する
、保護膜の部分に窓8を開ける。この窓開けは通常のホ
トリソグラフィ技術におけるエツチングで行う、その後
に、このようにして得られた部材の全面上に前述した方
法で第二導電型層6ヲ成膜し、続いてアルミニウム、ク
ロム、ニクロム、又はその他の電極材料を蒸着してこれ
をエツチングして第二電極(金属電極)9を形成する。
次に、例えば、このパターニングにより得られた金属電
極9をマスクにして下側の第二導電型層、すなわち、n
型a−Si層6をエツチングして金属電極9と同一の形
状にする。このエツチングは四塩化炭素(CFa )に
酸素(02)を数%添加したガスを用いたドライエツチ
ング法で行うのが一般的である。また、この方法である
と、n型a−Si層6のエツチング速度に比較して保護
膜7のエツチング速度は非常に遅いため、保護膜7は除
去虞れず、従って、第二電極9の下側部分以外のn型a
−St層6のみが除去され、基板面に対して垂直な方向
から見て、第二電極9と同一形状の第二導電型層6が残
存する。
このようにして、基板l、第一電極2、感光部3及び第
二電極9から成る受光素子が共通基板上に多数配列して
得ら−れた受光素子アレイへ光りを透明基板l側から照
射すると、この光が透明基板1及び透明電極2を透過し
て感光部3に入射する。この入射光の光強度に応じた電
子Φ正孔対等のキャリアが感光部3に発生する。この状
態で、透明電強2と金属電極8との間へ逆バイアス電圧
を印加すると、これらキャリアを光電流として取り出す
ことが出来る。
次に、この発明の受光素子アレイを構成する受光素子と
、第1図に示した従来構造の受光素子とにおいて、光応
答時間の比較実験した結果の一例を次表Iに示す。
表I この実験では、光の点灯時間を10ミリ秒、消灯時間を
10ミリ秒と変調し、波長880n層の発光ダイオード
を用いた。受光部は直径3層履の円形であり、従来例に
おける金属電極と接しない感光部の領域(第2図に25
aで示す部分)の幅は0.25mmであった。
この実験結果から明らかなように、この発明の受光素子
の光応答時間は従来例の約1/20と速くなっているこ
とが確認された。
この発明は上述した実施例にのみ限定されるものではな
い。
例えば、感光部3の第一導電型層をn型層とし、かつ、
第二導電型層をp型層としても良い。
さらに、感光部をa−3iで形成したが、これに限定す
るものではなく、任意好適な材料でpin型構造に形成
しても良い。
さらに、保護膜の窓を介して中間層上に形成する第二導
電型層の厚さを任意好適な厚さとすることが出来る。こ
の場合、この第二導電型層の下側の面が中間層と接触し
ている範囲と同一の範囲においてこの第二導電型層の上
側面が第二電極と接触するように構成する。
さらに、上述した実施例では、基板側から光を入射させ
るタイプの受光素子アレイにつき説明したが、第二電極
を透明電極として構成して基板とは反対側から光を入射
させるように構成しても良い。
(発明の効果) 上述した説明から明らかなように、この発明の受光素子
アレイによれば、第二導電型層が互いに分離していると
共に、第二導電型層が中間層と接触している範囲でこの
第二導電型層の全面が第二電極と接触しているので、バ
イアス電圧が正確に印加され、光応答速度が速くなると
いう利点がある。
さらに、第−導電型層及び中間層は各受光素子に共通と
なっているので、これらの層の表面が平担となっており
、これがため、表面保護膜の被覆性が極めて良好となり
、従って、表面保護膜を薄く被着させれば良く、そのた
めの作業時間を短縮することが出来るという利点がある
さらに、第二導電型層が互いに分離されていることによ
り、隣接する受光素子のビット電流が回り込むことがな
く、各受光素子毎の正確な光電流を取出すことが出来る
このように、この発明の受光素子アレイは光応答性が速
く、表面保護膜の被覆性も良いので、高速高密度のライ
ンセンサや、面センサに利用して好適である。
この受光素子アレイは二次元或いは三次元配列として形
成することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の受光素子アレイの実施例を示す路線
的断面図、 第2図は従来の受光素子アレイを示す路線的断面図であ
る。 1・・・基板、 2・・・第一電極 3・・・感光部、 4・・・第一導電型層5・・・中間
層、 6・・・第二導電型層7・・・保護膜、 8・・
・(保護膜の)窓9・・・第二電極。 特許出願人 沖電気工業株式会社 第1図 22a 2’A25b M 手続補正書 昭和60年1月23日 特許庁長官 本質 学 殿 l事件の表示 昭和59年特許願89074号?発明の
名称 受光素子アレイ 3補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所(〒−105) 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 名称(029)沖電気工業株式会社 代表者 橋本 南海男 4代理人 〒170− 廿(98B)5563住所 東
京都豊島区東池袋1丁目20番地5池袋ホワイトハウス
ビル805号 氏名 (8541)弁理士 大垣 孝 5補正命令の日付 自発 6補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 7補正の内容 別紙の通り (1)、明細書の第1O頁第8行の「透明電強」を「透
明電極」と訂正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に共通第一電極と、該第−電極側から第一導電型
    層、中間層及び第二導電型層で構成したpin構造とし
    てなる感光部と、第二電極と、保護膜とを具える受光素
    子を配列して成る受光素子アレイにおいて、前記基板、
    第一電極、第−導電型層及び中間層をそれぞれ各受光素
    子に対し共通層とし、この共通の中間層上に前記保護膜
    を具え、該保護膜に該中間層の表面を部分的に露出させ
    る複数個の窓を設け、前記第二導電型層は故意を介して
    前記中間層の露出面上に個別的に形成し、前記第二電極
    は該第二導電型層上に個別的に形成して成ることを特徴
    とする受光素子アレイ。
JP59089074A 1984-03-23 1984-05-02 受光素子アレイ Pending JPS60233853A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59089074A JPS60233853A (ja) 1984-05-02 1984-05-02 受光素子アレイ
US07/204,942 US4885622A (en) 1984-03-23 1988-06-06 Pin photodiode and method of fabrication of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59089074A JPS60233853A (ja) 1984-05-02 1984-05-02 受光素子アレイ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60233853A true JPS60233853A (ja) 1985-11-20

Family

ID=13960706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59089074A Pending JPS60233853A (ja) 1984-03-23 1984-05-02 受光素子アレイ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60233853A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57106083A (en) * 1980-12-23 1982-07-01 Toshiba Corp Amorphous silicon diode array

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57106083A (en) * 1980-12-23 1982-07-01 Toshiba Corp Amorphous silicon diode array

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5133809A (en) Photovoltaic device and process for manufacturing the same
US5348589A (en) Solar cell and method of forming the same
US8362354B2 (en) Photovoltaic apparatus and method of manufacturing the same
KR840004986A (ko) 반도체 광전 변환장치 및 그 제조방법
JPH0793451B2 (ja) 多接合型アモルファスシリコン系太陽電池
JPS6154756A (ja) 密着型イメ−ジセンサ
JPS61159771A (ja) 光起電力装置
JPH0746721B2 (ja) イメ−ジセンサおよびその製造方法
JPS60233853A (ja) 受光素子アレイ
JP2005322707A (ja) 集積型太陽電池
JPH02177374A (ja) 光電変換装置
JPS6313358B2 (ja)
US5187563A (en) Photoelectric conversion device with Al/Cr/TCO electrode
JPS61113273A (ja) 光センサ素子
JP2883370B2 (ja) 光起電力装置
JPS60231359A (ja) ホトダイオ−ドアレイ
JPH05291607A (ja) pinダイオード及びこれを用いた密着型イメージセンサ
JPS60198870A (ja) 光センサ素子
JPS63119259A (ja) アモルフアスシリコンホトダイオ−ドアレイ
JPH067598B2 (ja) 太陽電池の製造方法
JPH0559590B2 (ja)
JPS62193172A (ja) 受光素子アレイの製造方法
JPS60233871A (ja) 光センサ素子
JP5731869B2 (ja) 半導体紫外線受光装置
JPS61228679A (ja) 光発電装置