JPS60226102A - 電圧非直線抵抗体及びその製造方法 - Google Patents
電圧非直線抵抗体及びその製造方法Info
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- JPS60226102A JPS60226102A JP59081831A JP8183184A JPS60226102A JP S60226102 A JPS60226102 A JP S60226102A JP 59081831 A JP59081831 A JP 59081831A JP 8183184 A JP8183184 A JP 8183184A JP S60226102 A JPS60226102 A JP S60226102A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/10—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material voltage responsive, i.e. varistors
- H01C7/102—Varistor boundary, e.g. surface layers
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01C7/10—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material voltage responsive, i.e. varistors
- H01C7/105—Varistor cores
- H01C7/108—Metal oxide
- H01C7/112—ZnO type
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は避雷器用の酸化亜鉛を主成分とする電圧非直線
抵抗体とその製造法に係り、特にインパルス耐量の優九
た電圧非直線抵抗体とその製造法に関する。
抵抗体とその製造法に係り、特にインパルス耐量の優九
た電圧非直線抵抗体とその製造法に関する。
酸化亜鉛系の電圧非直線抵抗体は一般に良く知られてい
るセラミック焼結技術で製作される。原料である酸化亜
鉛(Z n O)粉末を主成分として、酸化ビスマス(
Bi203 ) 、酸化アンチモン(Sbz 03 )
、酸化コバルト(Co□03)、酸化マンガン(Mn
Oz ) 、酸化クロム(Cr203 )、酸化ケイ素
(S10□)、酸化ホウ素 (8203) 、酸化アル
ミニウム(^fiz03)などを十分に混合し、これに
水及びポレビニルアルコールなど適当なバインダを加え
て造粒し、この造粒粉を成形する。この成形体は高温で
焼成する。この焼結体には沿面内絡を防止するために側
面にSiO□−sb、 o3−Bi、、03三元成分を
有機バインダに混合した無機ペーストを塗布・乾燥した
後電気炉を用いて温度1000〜1300℃で焼き付け
る。この様にして製作した電圧非直線抵抗体の上下両端
面を所定の厚さに研摩・調整し、溶射又は焼付は法によ
って電極を形成して仕上げている。
るセラミック焼結技術で製作される。原料である酸化亜
鉛(Z n O)粉末を主成分として、酸化ビスマス(
Bi203 ) 、酸化アンチモン(Sbz 03 )
、酸化コバルト(Co□03)、酸化マンガン(Mn
Oz ) 、酸化クロム(Cr203 )、酸化ケイ素
(S10□)、酸化ホウ素 (8203) 、酸化アル
ミニウム(^fiz03)などを十分に混合し、これに
水及びポレビニルアルコールなど適当なバインダを加え
て造粒し、この造粒粉を成形する。この成形体は高温で
焼成する。この焼結体には沿面内絡を防止するために側
面にSiO□−sb、 o3−Bi、、03三元成分を
有機バインダに混合した無機ペーストを塗布・乾燥した
後電気炉を用いて温度1000〜1300℃で焼き付け
る。この様にして製作した電圧非直線抵抗体の上下両端
面を所定の厚さに研摩・調整し、溶射又は焼付は法によ
って電極を形成して仕上げている。
酸化亜鉛系の電圧非直線抵抗体は従来知られているSi
Cと叱べて電気−電流特性が非常に優れている。酸化亜
鉛系電圧非直線抵抗体を高電圧サージアブソーバやアレ
スタとして用いる場合、沿面内絡を防止するために従来
は第1図に示す様に焼結体1の側面に有機絶縁体を塗布
したり、無機質の高抵抗酸化物を焼き付けたりして高抵
抗層2を形成する方法が知られている。しかし、一般に
後者の様な無機質の焼付けによる側面高低抗層形成法で
は焼結体1と高抵抗層2との間における熱膨張係数の差
から焼き付は段階において界面亀裂或いは高抵抗層の剥
煎が生じ易く、従って界面内緒或いは沿面内絡し易い欠
点があった。
Cと叱べて電気−電流特性が非常に優れている。酸化亜
鉛系電圧非直線抵抗体を高電圧サージアブソーバやアレ
スタとして用いる場合、沿面内絡を防止するために従来
は第1図に示す様に焼結体1の側面に有機絶縁体を塗布
したり、無機質の高抵抗酸化物を焼き付けたりして高抵
抗層2を形成する方法が知られている。しかし、一般に
後者の様な無機質の焼付けによる側面高低抗層形成法で
は焼結体1と高抵抗層2との間における熱膨張係数の差
から焼き付は段階において界面亀裂或いは高抵抗層の剥
煎が生じ易く、従って界面内緒或いは沿面内絡し易い欠
点があった。
また、高抵抗層を形成する方法としては側面からリチウ
ムを拡散する方法も知られている。しかし、酸化亜鉛結
晶粒にリチウムが拡散された側面高抵抗層は厚さの制御
が難かしく、且つ長期間の使用によって素子内部へ拡散
され非直線性を損うと言う欠点を有する。
ムを拡散する方法も知られている。しかし、酸化亜鉛結
晶粒にリチウムが拡散された側面高抵抗層は厚さの制御
が難かしく、且つ長期間の使用によって素子内部へ拡散
され非直線性を損うと言う欠点を有する。
本発明の目的は高電界による沿面内絡、特に短波尾イン
パルス電流による熟破壊抵抗の大なるアレスタ用酸化亜
鉛系電圧非直線抵抗体とその製造法を提供するにある。
パルス電流による熟破壊抵抗の大なるアレスタ用酸化亜
鉛系電圧非直線抵抗体とその製造法を提供するにある。
本発明はLi2Co3を少量添加した5in2−5b2
03−Biz 03 ’171)末を有機バインダと共
に混合したペーストを焼結体側面に塗布・乾燥後高温で
焼付けた電圧非直線抵抗体でLi2Oを含むSiO□−
5b7,03 Bi2O3側面高抵抗層を形成させた電
圧非直線抵抗体である。
03−Biz 03 ’171)末を有機バインダと共
に混合したペーストを焼結体側面に塗布・乾燥後高温で
焼付けた電圧非直線抵抗体でLi2Oを含むSiO□−
5b7,03 Bi2O3側面高抵抗層を形成させた電
圧非直線抵抗体である。
本発明に関する1、i2 Co3を添加したSiO□−
5b203 Bj203ペーストの配合組成は次の通り
である; Sl、0?、 、 Sbz 03 * Bl
□03三元系図において(SiO□=95モル%+ S
bx 03 = 5モル%。
5b203 Bj203ペーストの配合組成は次の通り
である; Sl、0?、 、 Sbz 03 * Bl
□03三元系図において(SiO□=95モル%+ S
bx 03 = 5モル%。
Bi2O3= Oモル%L (SiOz=50モル%。
5b203=50モル%、Bi203=Oモル%)。
(SiOz、 = 50 モ/L/%、5b203 ”
30 モJL’%。
30 モJL’%。
Bi、、 03 = 2 Qモル%)及び(S10□=
75モル%。
75モル%。
5b203 = 5モル%、Bi203=20モル%)
の4ケの組成点を頂点とする四辺形の領域及びLi2C
O3=Q、l 〜t 0モル%。
の4ケの組成点を頂点とする四辺形の領域及びLi2C
O3=Q、l 〜t 0モル%。
上記無機粉末は有機バインダと混練してペースト状にす
る。有機バインダにはエチルセルローズをトリクレン乃
至ブチルカルピトールに溶解して用いる。
る。有機バインダにはエチルセルローズをトリクレン乃
至ブチルカルピトールに溶解して用いる。
本発明の電圧非直線抵抗体は一般に用いられるZnOを
主成分とする焼結体の側面に上記無機ペーストを一様に
塗布し、温度100〜150℃に昇温した乾燥炉で乾燥
した後、 1000〜1300℃で焼付ける。
主成分とする焼結体の側面に上記無機ペーストを一様に
塗布し、温度100〜150℃に昇温した乾燥炉で乾燥
した後、 1000〜1300℃で焼付ける。
リチウムは焼成中にZn○結晶粒内に拡散し絶縁性を高
めZnOと反応した5i02 Sb203−Bi203
高抵抗層と合せて高電流アップターン領域における特
性を改善しインパルス耐量を向上させる。
めZnOと反応した5i02 Sb203−Bi203
高抵抗層と合せて高電流アップターン領域における特
性を改善しインパルス耐量を向上させる。
無機ペースト塗布層の厚さは0.2〜211w11程度
が望ましい、これ以下ではインパルス耐量は従来のSi
O□−3b2.03−Biz 03側面高抵抗層の場合
と変らず改善の効果が認められな1.一方これ以上厚く
してもインパルス耐量は向上せず、抵抗体の外径を増大
するだけで好ましくはない。
が望ましい、これ以下ではインパルス耐量は従来のSi
O□−3b2.03−Biz 03側面高抵抗層の場合
と変らず改善の効果が認められな1.一方これ以上厚く
してもインパルス耐量は向上せず、抵抗体の外径を増大
するだけで好ましくはない。
本発明の無機ペーストに用いる炭酸リチウム景は0.1
〜10モル%が望ましい。これ以下ではインパルス耐
量は向上せず、一方これ以上でもインパルス耐量は向上
せず抵抗体の外径を増大するだけで望ましくない。
〜10モル%が望ましい。これ以下ではインパルス耐
量は向上せず、一方これ以上でもインパルス耐量は向上
せず抵抗体の外径を増大するだけで望ましくない。
本発明の無機ペーストを塗布する場合粘度を変えれば塗
布量は任意にg節できる。また、吹き付けによっても形
成可能である。無機ペーストを焼結体側面に塗布・乾燥
後高温で焼成すると界面において同−同、或いは溶融温
度の低い5b203゜B、1z03とは同一液相反応を
起し、特に融剤として働(Bi>、03はそれ自体側面
高抵抗層を形成すると同時に強固に接合する。
布量は任意にg節できる。また、吹き付けによっても形
成可能である。無機ペーストを焼結体側面に塗布・乾燥
後高温で焼成すると界面において同−同、或いは溶融温
度の低い5b203゜B、1z03とは同一液相反応を
起し、特に融剤として働(Bi>、03はそれ自体側面
高抵抗層を形成すると同時に強固に接合する。
無機ペーストの焼付は温度は1000〜1300℃が望
ましい。これ以下の温度では焼付けが十分でなく、一方
これ以上の温度では拡散層、特にリチウムが焼結体内部
まで拡散すると同時に酸化ビスマスや酸化アンチモンが
蒸発するため望ましくない。
ましい。これ以下の温度では焼付けが十分でなく、一方
これ以上の温度では拡散層、特にリチウムが焼結体内部
まで拡散すると同時に酸化ビスマスや酸化アンチモンが
蒸発するため望ましくない。
側面高抵抗層はZnOを含み、塗布した無機ペースト成
分5jn2. Sbz 03 t Bj+、 03 +
Liz CO3O3化物との多元系組成物である。木
屑の厚さは3μm〜2■が望ましい。これより層が浅く
形成されると層が不均一となり、一方これ以上厚いとイ
ンパルス耐量への悪影響は認められないが、徒らにZn
○素子の外径を大きく好ましくない。上記各成7分は側
面よりの深さに応じて濃度勾配がある。S i + A
b t B it T−i等は表面において濃度が高
く、一方、Znは焼結体内部の濃度が高い。
分5jn2. Sbz 03 t Bj+、 03 +
Liz CO3O3化物との多元系組成物である。木
屑の厚さは3μm〜2■が望ましい。これより層が浅く
形成されると層が不均一となり、一方これ以上厚いとイ
ンパルス耐量への悪影響は認められないが、徒らにZn
○素子の外径を大きく好ましくない。上記各成7分は側
面よりの深さに応じて濃度勾配がある。S i + A
b t B it T−i等は表面において濃度が高
く、一方、Znは焼結体内部の濃度が高い。
側面高抵抗層の組成は焼結体の側面において、表面より
の深さ200μmの位置までの量を平均して次の通りに
規定される。
の深さ200μmの位置までの量を平均して次の通りに
規定される。
Siは5i02に換算して5〜70モル%、sbは5b
203に換算して2〜30モル%、BiはBi2O3に
換算して2〜10モル%、Liは■、12cO3に換算
して0.01 〜5モル%、ZnはZnOに換算して1
0〜90モル%及び微量のCo p M n g Cr
m Bi2O3は融剤として働く事により5in2や5b2
03の拡散或いは酸化亜鉛との反応を促進すると考えら
れるが、一部はZn○と固溶し側面高抵抗層を形成する
。LiはZ n t S it S b tBi各酸化
物中に固溶して側面高抵抗層を形成するに留まらず、一
部は焼結体を構成するZnO結晶粒内に拡散し抵抗率を
高めて高抵抗層を形成する。しかし、高抵抗層全体の厚
さは2m以下が望ましい。SbとStとは各々ZnとZ
r+r 5b2012並びにZn7St04の複化合物
を形成する時に高抵抗層が得られる。
203に換算して2〜30モル%、BiはBi2O3に
換算して2〜10モル%、Liは■、12cO3に換算
して0.01 〜5モル%、ZnはZnOに換算して1
0〜90モル%及び微量のCo p M n g Cr
m Bi2O3は融剤として働く事により5in2や5b2
03の拡散或いは酸化亜鉛との反応を促進すると考えら
れるが、一部はZn○と固溶し側面高抵抗層を形成する
。LiはZ n t S it S b tBi各酸化
物中に固溶して側面高抵抗層を形成するに留まらず、一
部は焼結体を構成するZnO結晶粒内に拡散し抵抗率を
高めて高抵抗層を形成する。しかし、高抵抗層全体の厚
さは2m以下が望ましい。SbとStとは各々ZnとZ
r+r 5b2012並びにZn7St04の複化合物
を形成する時に高抵抗層が得られる。
以下、本発明の実施例について説明する。
〈実施例1〉
主成分として酸化亜鈴7630 gに対して、添加物ど
して酸化ビスマス(Biz03)325g、酸化コバル
ト(Co203 ) ] 66 g + 酸化マンガン
(M n O) 57 g +酸化アンチモン(Sbz
03 )292g、酸化クロム(Crz 03)76
gy酸化ケイ素(SiO□)90gy硝酸アルミニウ
ム(AQ (NO3)2 ’91120) 1.5 g
を正確に秤量して、ボールミルで12時時間式混合した
。この混合粉を乾燥した後造粒し、58m++φX27
+wntに成形した後温度1200℃に2時間保持して
焼成した。
して酸化ビスマス(Biz03)325g、酸化コバル
ト(Co203 ) ] 66 g + 酸化マンガン
(M n O) 57 g +酸化アンチモン(Sbz
03 )292g、酸化クロム(Crz 03)76
gy酸化ケイ素(SiO□)90gy硝酸アルミニウ
ム(AQ (NO3)2 ’91120) 1.5 g
を正確に秤量して、ボールミルで12時時間式混合した
。この混合粉を乾燥した後造粒し、58m++φX27
+wntに成形した後温度1200℃に2時間保持して
焼成した。
別途製作した無機ペーストの配合組成は次の通りである
。トリクレン;50wt%、エチルセルローズ: 3w
t%、無機粉末; 47wt%。また無機粉末の成分は
次の通りである。SiO□:60モル、 Sby、 0
3 ; 30モル、 BizO+ ; 10モル。
。トリクレン;50wt%、エチルセルローズ: 3w
t%、無機粉末; 47wt%。また無機粉末の成分は
次の通りである。SiO□:60モル、 Sby、 0
3 ; 30モル、 BizO+ ; 10モル。
Liz CO3; 1モル。調合に際してはトリクレン
を50〜60℃に加温した後エチルセルローズを入れ、
超音波洗浄槽中に約20分間入れて完全に溶解し、これ
に十分混合した上記無機粉末を入れ、雷かい機を用いて
混練した。本ペーストを上記焼結体の側面に一様に塗布
し、乾燥した。無機ペーストを塗布した焼結体は105
0℃に2時間保持し焼成した6本焼結体は上下両端をラ
ップマスタで約0.5IIIIIずつ研摩・洗浄し、Δ
Q溶射電極を付けた。なお、直径1+w++のII!電
極を上下両面に一定間隔を設けてバリスタ電圧VfmA
を測定した結果側面高抵抗層の厚さは0.5 vmであ
った。
を50〜60℃に加温した後エチルセルローズを入れ、
超音波洗浄槽中に約20分間入れて完全に溶解し、これ
に十分混合した上記無機粉末を入れ、雷かい機を用いて
混練した。本ペーストを上記焼結体の側面に一様に塗布
し、乾燥した。無機ペーストを塗布した焼結体は105
0℃に2時間保持し焼成した6本焼結体は上下両端をラ
ップマスタで約0.5IIIIIずつ研摩・洗浄し、Δ
Q溶射電極を付けた。なお、直径1+w++のII!電
極を上下両面に一定間隔を設けてバリスタ電圧VfmA
を測定した結果側面高抵抗層の厚さは0.5 vmであ
った。
この様にして製作された電圧非直線抵抗体と従来のSi
O□−5bz 03 Bi2O3高抵抗層を形成した電
圧非直線抵抗体のインパルス耐量試験結果を第1表に示
す、8X20μs (40KA以上は4×10μS)イ
ンパルス電流を各2回通電した時の試料の破壊の有無を
調べた。同表においてO印は正常、x印は破壊を示す。
O□−5bz 03 Bi2O3高抵抗層を形成した電
圧非直線抵抗体のインパルス耐量試験結果を第1表に示
す、8X20μs (40KA以上は4×10μS)イ
ンパルス電流を各2回通電した時の試料の破壊の有無を
調べた。同表においてO印は正常、x印は破壊を示す。
従来試料は50KAで破壊するのに対して本発明の試料
は90に八まで正常である。
は90に八まで正常である。
第1表
〈実施例2〉
第2表に示した各炭酸リチウム量をSiO□=60モル
、 Sbz 03 = 30モル、BizO3=]Oモ
ルを配合した組成に加えて、実施例1で用いたと同じ焼
結体の側面に高抵抗層を形成し、上下両面をラップマス
タで研摩・洗浄した後中心から側面まで1wnの間隔で
直径1mの銀電極を形成し、各部分の電圧−電流特性を
測定した。第2図にはVll、の分布を示す。Li2C
o3 = Oの場合側面付近においてV l m Aは
僅かに増加する。図示していないが、側面より0.3
mは5i02Sb203Bi20:] ZnO層が形成
されているため高抵抗である。これに対してI、i?、
C,o3を添加するとVImAは増大する。、 Lj
、2. Co3 = 1モルの場合側面でのv、l、1
A=7Kvで、中央部分のVIIIIA=5KVの1.
4 倍を示し、厚さ11Wlが高抵抗である。
、 Sbz 03 = 30モル、BizO3=]Oモ
ルを配合した組成に加えて、実施例1で用いたと同じ焼
結体の側面に高抵抗層を形成し、上下両面をラップマス
タで研摩・洗浄した後中心から側面まで1wnの間隔で
直径1mの銀電極を形成し、各部分の電圧−電流特性を
測定した。第2図にはVll、の分布を示す。Li2C
o3 = Oの場合側面付近においてV l m Aは
僅かに増加する。図示していないが、側面より0.3
mは5i02Sb203Bi20:] ZnO層が形成
されているため高抵抗である。これに対してI、i?、
C,o3を添加するとVImAは増大する。、 Lj
、2. Co3 = 1モルの場合側面でのv、l、1
A=7Kvで、中央部分のVIIIIA=5KVの1.
4 倍を示し、厚さ11Wlが高抵抗である。
第2表には各試料のインパルス耐量を示す。インパルス
耐量は通電時に正常に動作する電流値を示す。L12
CO3= 0 、1 〜20モルの場合のインパルス耐
量は5O−80KAを示し、Lj−2Co3 =0の場
合の40KAを上回る。しかし、Li、lCo3=20
モルの場合は高抵抗層が厚すぎるため望ましくない。1
,3□Co3 = 1モルの場合が実用上最適である。
耐量は通電時に正常に動作する電流値を示す。L12
CO3= 0 、1 〜20モルの場合のインパルス耐
量は5O−80KAを示し、Lj−2Co3 =0の場
合の40KAを上回る。しかし、Li、lCo3=20
モルの場合は高抵抗層が厚すぎるため望ましくない。1
,3□Co3 = 1モルの場合が実用上最適である。
。
第 2 表
〈実施例3〉
第3表に示したSiO2+ Sbz 03 + B12
03 +1、j 、、 C,o 3配合量の無機ペース
トを製作し、実施例1と同様にして同焼結体の側面に焼
付けて各高抵抗層を形成した。
03 +1、j 、、 C,o 3配合量の無機ペース
トを製作し、実施例1と同様にして同焼結体の側面に焼
付けて各高抵抗層を形成した。
Si、Sb、Bi及びZnのX線マイクロアナライザに
よる分析結果並びにLiの化学分析結果を同表に示す。
よる分析結果並びにLiの化学分析結果を同表に示す。
Liの分析はX線マイクロアナライザを用いてはできな
いので、側面より深さ200μmまでの化学分析結果を
示しである。
いので、側面より深さ200μmまでの化学分析結果を
示しである。
第3図にはに試料側面付近のSi、Sb、Bi及びZn
のX線マイクロアナライザによる分析結果を示す。St
、Sb、Bi3元素の濃度は表面において高く、側面よ
り100μmの位置より深い部分で急激に低減する。B
i、、03の役割は融剤として働いて5i02やSbz
03の拡散或いはZnOとの反応を促進すると考えら
れるが、表面の濃度は高く高抵抗層成分となっている。
のX線マイクロアナライザによる分析結果を示す。St
、Sb、Bi3元素の濃度は表面において高く、側面よ
り100μmの位置より深い部分で急激に低減する。B
i、、03の役割は融剤として働いて5i02やSbz
03の拡散或いはZnOとの反応を促進すると考えら
れるが、表面の濃度は高く高抵抗層成分となっている。
一方、Znは100μmより浅い部分においても検出さ
れ、Si、Sb、Bi並びにLiと拡散して高抵抗層を
形成する。
れ、Si、Sb、Bi並びにLiと拡散して高抵抗層を
形成する。
インパルス耐量は試料j−m、o、p、sデ 1゜w−
yにおいて十分高く、側面高抵抗層として望ましい。し
かし、試料mでは別途測定した方形波耐量が低く、yで
は非直線係数αが低下して望まましくない。
yにおいて十分高く、側面高抵抗層として望ましい。し
かし、試料mでは別途測定した方形波耐量が低く、yで
は非直線係数αが低下して望まましくない。
〈実施例4〉
第4表に示した様にSj、Oz量を60〜80モル間に
おいて3通り変え、Li’2 Co’3 = 1モル添
加した無機ペーストを製作し、実施例1と同様にして焼
結体の側面に焼き付けた。この時のインパルス耐量は8
0KAであった。
おいて3通り変え、Li’2 Co’3 = 1モル添
加した無機ペーストを製作し、実施例1と同様にして焼
結体の側面に焼き付けた。この時のインパルス耐量は8
0KAであった。
第4表
〈実施例5〉
実施例1において用いた造粒粉を57mn+φX26m
に成形した。成形体を予備収縮させるため温度1050
℃で2時間焼成した。焼結体寸法は50圃φX23m5
で、この時の収縮率は13%であった。
に成形した。成形体を予備収縮させるため温度1050
℃で2時間焼成した。焼結体寸法は50圃φX23m5
で、この時の収縮率は13%であった。
次に、Li2 Co3 = 0〜20モル添加した無機
ペーストを上記焼結体の側面に一様に塗布・乾燥後12
50℃で2時間焼成した。無機ペーストの酸化珪素は6
0モル、酸化アンチモンは30モル、酸化ビスマスは1
0モルとし−た。
ペーストを上記焼結体の側面に一様に塗布・乾燥後12
50℃で2時間焼成した。無機ペーストの酸化珪素は6
0モル、酸化アンチモンは30モル、酸化ビスマスは1
0モルとし−た。
第4図には1.j、2 Co3爪はバリスタ電圧V5.
。
。
及び平坦率V+okA /V+ mAの関係を示す。
Li7. Co3 iど共にVI?IIA及び■1ok
A/V I Ill Aは増加する傾向にあるが、実用
可能な範囲にある。しかし、 L12 CO3= 20
モルの場合には2 m s方形波射基が従来試料の70
−80ヅ、に低下し望ましくない。
A/V I Ill Aは増加する傾向にあるが、実用
可能な範囲にある。しかし、 L12 CO3= 20
モルの場合には2 m s方形波射基が従来試料の70
−80ヅ、に低下し望ましくない。
1、j2Co3 = 2 、5 モルの場合のAC課電
力命特性は従来試料と比べて遜色ない。
力命特性は従来試料と比べて遜色ない。
以上述べた様に、本発明の酸化亜鉛系電圧非直 ′線抵
抗体は従来の電圧非直線抵抗体においてしばしば発生す
る清面内絡を防ぐ事ができる。具体的には従来の2倍近
いインパルス耐量が得られる。
抗体は従来の電圧非直線抵抗体においてしばしば発生す
る清面内絡を防ぐ事ができる。具体的には従来の2倍近
いインパルス耐量が得られる。
このため素子の量産・検査段階におけるインパルス放電
試験による不良品の量を減らせる上、避雷器に組込んだ
時の雷サージ電流吸収による劣化も大1jに改善される
。
試験による不良品の量を減らせる上、避雷器に組込んだ
時の雷サージ電流吸収による劣化も大1jに改善される
。
第1図は従来の酸化亜鉛系電圧非直線抵抗体の側面図、
第2図は本発明の電圧非直線抵抗体の内部のバリスタ電
圧の分布図、第3図は本発明の一実施例において側面及
びその付近の酸化物の濃度分布測定図、第4図は本発明
の電圧非直線抵抗体の側面高抵抗層を形成するために添
加する炭酸リチウム量と電気特性の関係線図である。 1・・焼結体、2・・側面高抵抗層。 代理人 弁理士 高橋明夫 慴2図 中1いりゞらのτb鳥庄(’rnm)
第2図は本発明の電圧非直線抵抗体の内部のバリスタ電
圧の分布図、第3図は本発明の一実施例において側面及
びその付近の酸化物の濃度分布測定図、第4図は本発明
の電圧非直線抵抗体の側面高抵抗層を形成するために添
加する炭酸リチウム量と電気特性の関係線図である。 1・・焼結体、2・・側面高抵抗層。 代理人 弁理士 高橋明夫 慴2図 中1いりゞらのτb鳥庄(’rnm)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、酸化亜鉛(Z n O)を主成分とする焼結体の側
面に高抵抗層が形成され、上記焼結体の上下両端面に電
極が形成された電圧非直線抵抗体において、側面高抵抗
層は珪素、アンチモン、ビスマス。 リチウムを含み、側面より深さ200μmの位置までの
平均組成はシリコンが5i(b、に換算して5〜70モ
ル%、アンチモンはSbz 03に換算して2〜30モ
ル%、ビスマスはBiz 03に換算して2〜30モル
%、リチウムはLiz Co3に換算して0.01〜5
モル%、亜鉛はZnOに換算して10−90モル%及び
微量のCo、Mn、Crが含まれている事を特徴とする
電圧非直線抵抗体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59081831A JPS60226102A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 電圧非直線抵抗体及びその製造方法 |
US06/725,584 US4692735A (en) | 1984-04-25 | 1985-04-22 | Nonlinear voltage dependent resistor and method for manufacturing thereof |
CA000479985A CA1222066A (en) | 1984-04-25 | 1985-04-24 | Nonlinear voltage dependent resistor and method for manufacturing thereof |
BR8501937A BR8501937A (pt) | 1984-04-25 | 1985-09-24 | Resistor linear dependente de tensao e processo de fabricar o mesmo |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59081831A JPS60226102A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 電圧非直線抵抗体及びその製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60226102A true JPS60226102A (ja) | 1985-11-11 |
JPH0310204B2 JPH0310204B2 (ja) | 1991-02-13 |
Family
ID=13757417
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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BR (1) | BR8501937A (ja) |
CA (1) | CA1222066A (ja) |
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JP2008091441A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Tdk Corp | バリスタ |
JP2021532569A (ja) * | 2018-07-27 | 2021-11-25 | 清華大学Tsinghua University | 酸化亜鉛バリスタに用いられる液体高抵抗層 |
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-
1984
- 1984-04-25 JP JP59081831A patent/JPS60226102A/ja active Granted
-
1985
- 1985-04-22 US US06/725,584 patent/US4692735A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-04-24 CA CA000479985A patent/CA1222066A/en not_active Expired
- 1985-09-24 BR BR8501937A patent/BR8501937A/pt not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4692735A (en) | 1987-09-08 |
CA1222066A (en) | 1987-05-19 |
BR8501937A (pt) | 1985-12-24 |
JPH0310204B2 (ja) | 1991-02-13 |
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