JPS60210855A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPS60210855A JPS60210855A JP59066516A JP6651684A JPS60210855A JP S60210855 A JPS60210855 A JP S60210855A JP 59066516 A JP59066516 A JP 59066516A JP 6651684 A JP6651684 A JP 6651684A JP S60210855 A JPS60210855 A JP S60210855A
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- chip
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/29—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
- H01L23/293—Organic, e.g. plastic
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- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔座業上の利用分野〕
本発明rJエポキシ樹脂刺止材料で封止した千尋体鋏直
の製造方法に開する〇 〔従来技術〕 千尋体1!M業の中で樹脂封止fJのダイオード。
の製造方法に開する〇 〔従来技術〕 千尋体1!M業の中で樹脂封止fJのダイオード。
トランジスタ、IC,LSl、超LSI力5主我となっ
ており、cfLらの*1irt今恢とも益々大きく拡大
すると予想さt″Lる0あらゆる麓楽の基本となあこn
らの半導体装置ね集積度が一々大き(な9そrLに応じ
てテッグ寸法も人きくなりつつある。
ており、cfLらの*1irt今恢とも益々大きく拡大
すると予想さt″Lる0あらゆる麓楽の基本となあこn
らの半導体装置ね集積度が一々大き(な9そrLに応じ
てテッグ寸法も人きくなりつつある。
こnに対してパッケージ外形寸6に小形薄形化さnつつ
あゐ◎大形チップで小形薄形パッケージの牛4俸装菖a
配線基板にア七ンブルする鰍、牛導体装はと配線基板の
接続を簡便に目動的に行うために午出憎に浸漬するxr
hXね千日が1@融丁ゐ尚龜ゾーンτ通過させる方法か
採用さnつつある。
あゐ◎大形チップで小形薄形パッケージの牛4俸装菖a
配線基板にア七ンブルする鰍、牛導体装はと配線基板の
接続を簡便に目動的に行うために午出憎に浸漬するxr
hXね千日が1@融丁ゐ尚龜ゾーンτ通過させる方法か
採用さnつつある。
ところが大形テッグ、小杉薄形バックージの#脂封止m
午導体装置τ千日偕に浸漬、又ね早出か浴融丁心^−ゾ
ーンにさらすと封止材樹脂層が熱倫撃により封止材樹脂
層がクランクし午尋体j!直の1ga性T撰う重スな問
題がある・封止材樹脂層が吸湿しているとこの樹脂層の
り2ツク発生rtm者にlゐ◎笑娠の作業工程において
a封止材樹脂層の吸湿rJ賭けらnないため早出6+!
Llll筐たね牛用T沼−丁ゐ尚−ゾーンにさらしπと
きの封止材樹脂層のクラツク0笑鍬の7センプル作東工
相において床Mな問題であるO 〔発明の目的〕 不発明ね千日惰に浸漬又ね早出1t(fl#IAする^
御ゾーンにさらしても樹脂層にクラックか生じないよう
な大形テップ、小型薄形パッケージの樹脂封止型牛導体
装慮τ提供丁ゐものである。
午導体装置τ千日偕に浸漬、又ね早出か浴融丁心^−ゾ
ーンにさらすと封止材樹脂層が熱倫撃により封止材樹脂
層がクランクし午尋体j!直の1ga性T撰う重スな問
題がある・封止材樹脂層が吸湿しているとこの樹脂層の
り2ツク発生rtm者にlゐ◎笑娠の作業工程において
a封止材樹脂層の吸湿rJ賭けらnないため早出6+!
Llll筐たね牛用T沼−丁ゐ尚−ゾーンにさらしπと
きの封止材樹脂層のクラツク0笑鍬の7センプル作東工
相において床Mな問題であるO 〔発明の目的〕 不発明ね千日惰に浸漬又ね早出1t(fl#IAする^
御ゾーンにさらしても樹脂層にクラックか生じないよう
な大形テップ、小型薄形パッケージの樹脂封止型牛導体
装慮τ提供丁ゐものである。
すなわち、′4発明0側脂封止励牛尋停鉄直の製造方法
において、テップおよびインサートに**強化のために
エポキシ基τMするシランカップリング剤でグル化皮膜
τ形地したあと、ガラス転移点が200℃以上のエポキ
シ樹脂封止材料で封止す々ものであ勾〇 本発明0物にチップ寸法が6開角以上、内厚が1.5鵬
以下パツケ一ジ全体の厚さか3閤以下の衝脂封止型牛4
悴装置において有効である。
において、テップおよびインサートに**強化のために
エポキシ基τMするシランカップリング剤でグル化皮膜
τ形地したあと、ガラス転移点が200℃以上のエポキ
シ樹脂封止材料で封止す々ものであ勾〇 本発明0物にチップ寸法が6開角以上、内厚が1.5鵬
以下パツケ一ジ全体の厚さか3閤以下の衝脂封止型牛4
悴装置において有効である。
不発明に用−らnゐエポキシシランカップリング薊とし
てはT−グリシドキシグロビルトリメトキシシラン、β
(ム4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメト牛ジシ
ラン等かM幼であるO 本発明rJエポキシ基を有するシランカップリング剤で
ゲル化a膜τ形成し、ガラス転位点が200℃以上のエ
ポキシ債脂封止材料で封止丁ゐという物足の組魯台ぜの
ものτ用いることによりTh 3flllaM以上で肉
厚が1.5鵬以下、パッケージ全停の内厚か3a+m以
下のパッケージで%封止樹脂層にり2ツクか発生しない
ようにし7C%ので、メルカプト基τ有丁Qシ2ンカッ
プリング材Q!他の処理剤、カラス転移点の低いエボギ
シ樹71@凧形材料で0本発明の目的τ達成丁ゐCとは
できない。
てはT−グリシドキシグロビルトリメトキシシラン、β
(ム4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメト牛ジシ
ラン等かM幼であるO 本発明rJエポキシ基を有するシランカップリング剤で
ゲル化a膜τ形成し、ガラス転位点が200℃以上のエ
ポキシ債脂封止材料で封止丁ゐという物足の組魯台ぜの
ものτ用いることによりTh 3flllaM以上で肉
厚が1.5鵬以下、パッケージ全停の内厚か3a+m以
下のパッケージで%封止樹脂層にり2ツクか発生しない
ようにし7C%ので、メルカプト基τ有丁Qシ2ンカッ
プリング材Q!他の処理剤、カラス転移点の低いエボギ
シ樹71@凧形材料で0本発明の目的τ達成丁ゐCとは
できない。
以下不発kA’v冥厖例に基いて睨明すゐ。
実M例1
下記1m ml、 1r−絢合し、封止材料を作9k。
は) ケルミイド K2O2(−一ント2シ製ボリイゼ
ド糸傭Bぽ曲品名)62θ(6)2エノールノボラツク
80 (4) 石英カラス粉(200メツシユパス)192 (5) カルナバワックス 5 (6) γ−グリシドキシグロビルメトキシシラン(7
) 刀−ポンプラック 1 (1)〜(7)τ80〜90℃で混練し%冷i4J粉砕
して刺止材料τ作りた0こnτ180℃5分地形し、2
00℃5hア2タキニアしたあとのカラス転移点023
℃であった〇 一力テッグ寸法6x611Im角τ取り付けた素子竹す
−ドフレームτγ−グリシドキシグロビルメトキ7S/
ラン2%イソプロピルアルコール浴故τスプレーして鳳
布し風乾2bしたあと180℃1h熱処理した・次にこ
の系手付2レームTFPモールド金型にセットし上記封
止材でトランス21成形した@成形条件6180℃6分
である。このあと200℃5hアンタキニアしたO このチップ寸法6×6mm角、FPht、形品(封止材
層肉厚1.Omfll、全体肉厚2mu+Lrtzo℃
2atms水蒸気中で5h吸湿させた0次にこの吸湿は
俊に260℃の午出袷憎に2Qsec間反漬し7(結果
、成形品の到止材佃脂層にり2ツク0健生ぜず、14當
aな〃為った。(0/20)(υ 無水マレイン[89
,17 し) ジアミドジアエニルメタン 450g(2)T1
20〜140℃に〃asmmt、、crtに(υ’v
7J11えて160〜180℃で反応させ、反応物(1
)τ作り7C。
ド糸傭Bぽ曲品名)62θ(6)2エノールノボラツク
80 (4) 石英カラス粉(200メツシユパス)192 (5) カルナバワックス 5 (6) γ−グリシドキシグロビルメトキシシラン(7
) 刀−ポンプラック 1 (1)〜(7)τ80〜90℃で混練し%冷i4J粉砕
して刺止材料τ作りた0こnτ180℃5分地形し、2
00℃5hア2タキニアしたあとのカラス転移点023
℃であった〇 一力テッグ寸法6x611Im角τ取り付けた素子竹す
−ドフレームτγ−グリシドキシグロビルメトキ7S/
ラン2%イソプロピルアルコール浴故τスプレーして鳳
布し風乾2bしたあと180℃1h熱処理した・次にこ
の系手付2レームTFPモールド金型にセットし上記封
止材でトランス21成形した@成形条件6180℃6分
である。このあと200℃5hアンタキニアしたO このチップ寸法6×6mm角、FPht、形品(封止材
層肉厚1.Omfll、全体肉厚2mu+Lrtzo℃
2atms水蒸気中で5h吸湿させた0次にこの吸湿は
俊に260℃の午出袷憎に2Qsec間反漬し7(結果
、成形品の到止材佃脂層にり2ツク0健生ぜず、14當
aな〃為った。(0/20)(υ 無水マレイン[89
,17 し) ジアミドジアエニルメタン 450g(2)T1
20〜140℃に〃asmmt、、crtに(υ’v
7J11えて160〜180℃で反応させ、反応物(1
)τ作り7C。
次にこの反応物<1)’v用い1次の作成で封止材料1
作った0 菖童比 (5) 反応物(1) 45 (4) エポキシノボラック (エポキシ当蓋220)100 (5) カルナバワックス 2 (6) α−グリシドキシグロビルメトキシシラン(7
2石英カラス$(200メツシニバス)655 (8)刀−ポンプラック 1 t37〜(8J T B 5〜90℃テ′oI5線し、
冷却、粉砕して封止材)?=+τ作った。こrLT18
0℃6分成形し、200℃5hアンタキニアτし友もの
りガラス転移点ね205℃であり罠。
作った0 菖童比 (5) 反応物(1) 45 (4) エポキシノボラック (エポキシ当蓋220)100 (5) カルナバワックス 2 (6) α−グリシドキシグロビルメトキシシラン(7
2石英カラス$(200メツシニバス)655 (8)刀−ポンプラック 1 t37〜(8J T B 5〜90℃テ′oI5線し、
冷却、粉砕して封止材)?=+τ作った。こrLT18
0℃6分成形し、200℃5hアンタキニアτし友もの
りガラス転移点ね205℃であり罠。
−刀6×6I[lll1角テツプを柩9何けたンレーム
τ実施例1と1I71@にアンタキエアτ何い、テップ
寸法6x6mm角FP成形品τ作り吸湿依、半田反漬τ
行っ罠0その粕朱、輌Ij目層にクラック0琵生ぜず1
4状Cな7)^ッ7Co (0/ 20 )比戦例1 6x6mm角ナッグT城!ll付けた2レームτ接眉踵
化前処理fぜずに直接に実施例6で作った封止材で成形
し、アフタキエアτ何い実施例1と同体にvL湿佼牛早
出償τ行っπ0 その精米封止材層にクラックか弁生じ外観に異状がみら
t’L1ζ0(ILI/20)比較例2 厘量比 (1)エポキシノボラック 100 (2) フェノールノボラック 47 (6) 11’−シー/’ C17Z 1.5(4)
カルナバワックス 2 (5)石英カラス粉 358 (6) カーボンブラック 1 (7) γ−グリシドキシグロビルメトキシシラン 2 (1)〜(7)770〜80℃で混祿佐、冷却粉砕し。
τ実施例1と1I71@にアンタキエアτ何い、テップ
寸法6x6mm角FP成形品τ作り吸湿依、半田反漬τ
行っ罠0その粕朱、輌Ij目層にクラック0琵生ぜず1
4状Cな7)^ッ7Co (0/ 20 )比戦例1 6x6mm角ナッグT城!ll付けた2レームτ接眉踵
化前処理fぜずに直接に実施例6で作った封止材で成形
し、アフタキエアτ何い実施例1と同体にvL湿佼牛早
出償τ行っπ0 その精米封止材層にクラックか弁生じ外観に異状がみら
t’L1ζ0(ILI/20)比較例2 厘量比 (1)エポキシノボラック 100 (2) フェノールノボラック 47 (6) 11’−シー/’ C17Z 1.5(4)
カルナバワックス 2 (5)石英カラス粉 358 (6) カーボンブラック 1 (7) γ−グリシドキシグロビルメトキシシラン 2 (1)〜(7)770〜80℃で混祿佐、冷却粉砕し。
封止材料を作っ罠ocnは180℃90秒敗形俊180
℃5hアンタキエア恢のガラス転移点0170℃であっ
た。
℃5hアンタキエア恢のガラス転移点0170℃であっ
た。
一刀6X6mm角テップr取り付けたフレームr夾厖ν
II 1と1り株に艦雇食化処理を行い、上記封止材で
180℃ν0抄で成形T行い、1dO℃3hアフタキエ
アT行った。次に実施ガ1と1”J様にe、匿τしたあ
と牛用&:漬τ行りた〇そり鮎釆、對止材層にクラック
売主か今らnた。(20/21] ) 〔発明の幼果〕 本発明によりチップ寸法が人形で小形薄形のパッケージ
の衝BF1劃止型牛導捧央裟において封止樹脂ノ曽が吸
湿しても半田憎に反漬またに半田が浴融丁ゐ品温ン゛−
ンにさらしたときに位(IIロノ曽にクラックが昆虫し
ないようになりπ。
II 1と1り株に艦雇食化処理を行い、上記封止材で
180℃ν0抄で成形T行い、1dO℃3hアフタキエ
アT行った。次に実施ガ1と1”J様にe、匿τしたあ
と牛用&:漬τ行りた〇そり鮎釆、對止材層にクラック
売主か今らnた。(20/21] ) 〔発明の幼果〕 本発明によりチップ寸法が人形で小形薄形のパッケージ
の衝BF1劃止型牛導捧央裟において封止樹脂ノ曽が吸
湿しても半田憎に反漬またに半田が浴融丁ゐ品温ン゛−
ンにさらしたときに位(IIロノ曽にクラックが昆虫し
ないようになりπ。
Claims (1)
- 1、 チックおよびリードフレームのインサートにエポ
キシ基を有丁ゐシランカップリング剤でゲル化皮−τ形
成し7cあと、ガラス転移点が200℃以上のエポキシ
樹脂封止材料で封止することτ脣倣とすゐ牛4I体#C
直の製造力i%。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59066516A JPS60210855A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59066516A JPS60210855A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60210855A true JPS60210855A (ja) | 1985-10-23 |
Family
ID=13318094
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59066516A Pending JPS60210855A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60210855A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63268261A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-04 | Toray Silicone Co Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
JPS63288050A (ja) * | 1987-05-20 | 1988-11-25 | Nitto Electric Ind Co Ltd | 樹脂封止半導体装置 |
EP0417787A2 (en) * | 1989-09-13 | 1991-03-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multimold semiconductor device and the manufacturing method therefor |
JPH0831985A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-02-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
-
1984
- 1984-04-03 JP JP59066516A patent/JPS60210855A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63268261A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-04 | Toray Silicone Co Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
JPS63288050A (ja) * | 1987-05-20 | 1988-11-25 | Nitto Electric Ind Co Ltd | 樹脂封止半導体装置 |
EP0417787A2 (en) * | 1989-09-13 | 1991-03-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multimold semiconductor device and the manufacturing method therefor |
JPH0831985A (ja) * | 1994-07-05 | 1996-02-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
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