JPS60204695A - 人工ダイヤモンド皮膜の析出形成方法 - Google Patents
人工ダイヤモンド皮膜の析出形成方法Info
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- JPS60204695A JPS60204695A JP59060347A JP6034784A JPS60204695A JP S60204695 A JPS60204695 A JP S60204695A JP 59060347 A JP59060347 A JP 59060347A JP 6034784 A JP6034784 A JP 6034784A JP S60204695 A JPS60204695 A JP S60204695A
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- Japan
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/02—Elements
- C30B29/04—Diamond
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
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- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、基体表面に人工ダイヤモンド皮膜を析出形
成するに際して、Fi]記基体表面((反応初期に析出
するダイヤモンド結晶核の増大をはかり、もって人工ダ
イヤモンド皮膜の析出形成速度の向上をはかる方法に関
するものである1、従来、基体表面に人工ダイヤモンド
皮膜を析出形成する方法としては多数の方法が4に案さ
れ、この中で反応混合ガスを加熱し、活性化する手段と
して、 (a、) 熱電子放躬拐、 (b) 高周波によるプラズマ放電、 (C) マイクロ波によるプラズマ放電、以上(a)〜
(C)のいずれかを採用する代表的方法が注目されてい
る。
成するに際して、Fi]記基体表面((反応初期に析出
するダイヤモンド結晶核の増大をはかり、もって人工ダ
イヤモンド皮膜の析出形成速度の向上をはかる方法に関
するものである1、従来、基体表面に人工ダイヤモンド
皮膜を析出形成する方法としては多数の方法が4に案さ
れ、この中で反応混合ガスを加熱し、活性化する手段と
して、 (a、) 熱電子放躬拐、 (b) 高周波によるプラズマ放電、 (C) マイクロ波によるプラズマ放電、以上(a)〜
(C)のいずれかを採用する代表的方法が注目されてい
る。
上記従来(a)方法は、第1図に概略断面図で示される
ように、石英製反応容器1内の」二部に開りする反応混
合ガス導入管2によって流入された、主として炭化水素
と水素で構成された反応混合力スを、熱電子放射拐とし
ての例えば金属タングステン製フィラメント3および台
板4上に支持された基体5を通して下方に流し、この間
反応容器1内の雰囲気圧力を01〜300 torrに
保持すると共に、フィラメント3を1500〜2500
℃に加熱して、反応混合ガスの加熱活性化と、所定間隔
下方に配置されプこ基体表面の300〜1300℃の範
囲内の温度への加熱をはかり、この状態で所定時間の反
応を行なわしめるととにより基体50表面にダイヤモン
ド皮膜を析出形成せしめる方法であり、例えば特開昭5
8−91100号公報に記載される方法がこの方法に相
当する方法である。
ように、石英製反応容器1内の」二部に開りする反応混
合ガス導入管2によって流入された、主として炭化水素
と水素で構成された反応混合力スを、熱電子放射拐とし
ての例えば金属タングステン製フィラメント3および台
板4上に支持された基体5を通して下方に流し、この間
反応容器1内の雰囲気圧力を01〜300 torrに
保持すると共に、フィラメント3を1500〜2500
℃に加熱して、反応混合ガスの加熱活性化と、所定間隔
下方に配置されプこ基体表面の300〜1300℃の範
囲内の温度への加熱をはかり、この状態で所定時間の反
応を行なわしめるととにより基体50表面にダイヤモン
ド皮膜を析出形成せしめる方法であり、例えば特開昭5
8−91100号公報に記載される方法がこの方法に相
当する方法である。
°甘だ、上記従来(b)方法は、同じく第2図に概略断
面図で示されるように、5莢製反応容器1内の中央部に
基体5を置き、この反応容器1の一方側に設けた反応混
合ガス導入管2から主として炭化水素と水素で構成され
た反応混合ガスを流入し、一方反応容器lの他方側から
排気し、この間、反応容器l内の雰囲気圧力を数1、o
tr〜数10 to、rrに保持すると共に、反応容器
lの中火外周部に設けた高周波コイル6に、例えば周波
数: 13..56 MHz 。
面図で示されるように、5莢製反応容器1内の中央部に
基体5を置き、この反応容器1の一方側に設けた反応混
合ガス導入管2から主として炭化水素と水素で構成され
た反応混合ガスを流入し、一方反応容器lの他方側から
排気し、この間、反応容器l内の雰囲気圧力を数1、o
tr〜数10 to、rrに保持すると共に、反応容器
lの中火外周部に設けた高周波コイル6に、例えば周波
数: 13..56 MHz 。
出カニ500Wの条件を(i加して反応容器1内の基体
5の周囲にプラズマ放電を誘起させ、このプラズマ放電
によって反応混合ガスの加熱活性化と基体表面温度の上
昇をはかり、この状態で所定時間の反応を行なわしめる
ことにより基体表面にダイヤモンド皮膜を析出形成せし
める方法であり、例えば特開昭58713511’7号
公報に記載されている方法がこれに相当するものである
。
5の周囲にプラズマ放電を誘起させ、このプラズマ放電
によって反応混合ガスの加熱活性化と基体表面温度の上
昇をはかり、この状態で所定時間の反応を行なわしめる
ことにより基体表面にダイヤモンド皮膜を析出形成せし
める方法であり、例えば特開昭58713511’7号
公報に記載されている方法がこれに相当するものである
。
さらに、上記従来(C)方法は、同様に第3図に概略断
面図で示されるように、石英製反応容器1内の中央部に
基体5を置き、この反応容器1の上方に設けた反応混合
ガス導入管2から、主として炭化水素と水素で構成され
た反応混合ガスを流入し、一方反応容器lの下方から1
ノ1気し、この間、反応容器内の雰囲気圧力をO]〜3
00’torrに保持し、一方反応容器lの中火外周部
に設けた導波管7を通して供給された、例えば2450
MHzのマイクロ波をプラズマ調整用ブランツヤ8に
よって調整して、反応容器1内の基体5の周囲にプラズ
マ放電を発生させ、このプラズマ放電によって反応混合
ガスの加熱活性化と基体表面温度の」二昇をはかり、こ
の状態で所定時間の反応を行なわしめることにより基体
表面にダイヤモンド皮膜を析出形成せしめる方法であり
、例えば特開昭、58−11’o/1.Q4−シJ公報
に記載されている方法がこれに相当する方法である。
面図で示されるように、石英製反応容器1内の中央部に
基体5を置き、この反応容器1の上方に設けた反応混合
ガス導入管2から、主として炭化水素と水素で構成され
た反応混合ガスを流入し、一方反応容器lの下方から1
ノ1気し、この間、反応容器内の雰囲気圧力をO]〜3
00’torrに保持し、一方反応容器lの中火外周部
に設けた導波管7を通して供給された、例えば2450
MHzのマイクロ波をプラズマ調整用ブランツヤ8に
よって調整して、反応容器1内の基体5の周囲にプラズ
マ放電を発生させ、このプラズマ放電によって反応混合
ガスの加熱活性化と基体表面温度の」二昇をはかり、こ
の状態で所定時間の反応を行なわしめることにより基体
表面にダイヤモンド皮膜を析出形成せしめる方法であり
、例えば特開昭、58−11’o/1.Q4−シJ公報
に記載されている方法がこれに相当する方法である。
しかし、これらの従来方法は、いずれも共通して反応初
期における基体表面に析出するダイヤモンド結晶核の数
が少なく、一方ダイヤモンドはこの結晶核を中心に成長
し、膜状を呈するようになるものである/こめ、所定の
膜厚を有する人工ダイ−\・センド皮膜を4R出形成す
るrcは、かなりの反応++、l1間を必夛とするもの
であった。
期における基体表面に析出するダイヤモンド結晶核の数
が少なく、一方ダイヤモンドはこの結晶核を中心に成長
し、膜状を呈するようになるものである/こめ、所定の
膜厚を有する人工ダイ−\・センド皮膜を4R出形成す
るrcは、かなりの反応++、l1間を必夛とするもの
であった。
、そこで、不発IJI渚舌L[、上述のような観点から
、反応初期に)、し体表面にイji出するダイヤモンド
結晶核の増大をにj、かるへくイσ[死を行なつ/C結
果、前記基体表面に、ダイヤモンド皮膜の析出形成に先
たって、イオンエツチング処理を施して、これを活1)
1化してやるど、反応初1υJに析出するダイヤモンド
結晶核の形成が促進されるようになり、この結Jj、
:j屯い4j「出形成連I周での人1ニダイヤモンド皮
膜の形成が可能となるという知見を得たのである。
、反応初期に)、し体表面にイji出するダイヤモンド
結晶核の増大をにj、かるへくイσ[死を行なつ/C結
果、前記基体表面に、ダイヤモンド皮膜の析出形成に先
たって、イオンエツチング処理を施して、これを活1)
1化してやるど、反応初1υJに析出するダイヤモンド
結晶核の形成が促進されるようになり、この結Jj、
:j屯い4j「出形成連I周での人1ニダイヤモンド皮
膜の形成が可能となるという知見を得たのである。
しだがって、この発明は、」二部知見にもとづいてなさ
れたものであって、主成分が炭化水素と水素からなり、
かつ熱電子放射材、高周波によるプラズマ放電、あるい
はマイクロ波によるプラズマ放電などにより活性化され
た加熱反応混合ガスの流れの中に加熱基体を置くことに
よって前記基体の表面に人工ダイヤモンド皮膜を析出形
成する方法において、ダイヤモンド皮膜の析出形成に先
たって、前記基体の表面にイオンエツチング処理を力布
し、これを活性化することによって反応初期に析出する
ダイヤモンド結晶核の増大をkj、かる点に特徴を有す
るものである。
れたものであって、主成分が炭化水素と水素からなり、
かつ熱電子放射材、高周波によるプラズマ放電、あるい
はマイクロ波によるプラズマ放電などにより活性化され
た加熱反応混合ガスの流れの中に加熱基体を置くことに
よって前記基体の表面に人工ダイヤモンド皮膜を析出形
成する方法において、ダイヤモンド皮膜の析出形成に先
たって、前記基体の表面にイオンエツチング処理を力布
し、これを活性化することによって反応初期に析出する
ダイヤモンド結晶核の増大をkj、かる点に特徴を有す
るものである。
つぎに、この発明の力沈−を実施例により具体的に説明
する。
する。
実施例 1
第1図に示される装置を用い、
反応容器(1)、外径50 mmφを翁する石英製のも
の。
の。
基体(5):平面I Q am X厚さ1關の寸法を有
する金属タングステン仮相。
する金属タングステン仮相。
反応混合ガス組成、容量割合で、H2/CT]4−10
0/1゜ 金属タングステン製フィラメント(3)と基体(5)の
表面との間隔:3QM。
0/1゜ 金属タングステン製フィラメント(3)と基体(5)の
表面との間隔:3QM。
雰囲気圧力ニ 201;orr 。
フィラメント(3)の加熱温度: 2000℃。
フィラメントによる基体表面の加熱温度 700℃。
の条件で基体5の表面に人工ダイヤモンド皮膜を形成す
るに先だって、 反応容器(1)内の雰囲気:Ar(反応混合ガス導入管
2よりAr流入)。
るに先だって、 反応容器(1)内の雰囲気:Ar(反応混合ガス導入管
2よりAr流入)。
雰囲気圧力ニ I X 10− torr。
台板4を介しての基体(5)への刊加電圧 −1000
V(直流グロー放電発生)。
V(直流グロー放電発生)。
処理時間°]−〇分。
の条件にて、1)ili記基体表面に直流グロー放電を
発生させ、この直流グロー放電にて前記基体表面をイオ
ンエツチングし、引続いて上記の条件で人工ダイヤモン
ド皮膜を形成したが、その反応時間を、反応初期におけ
るダイヤモンド結晶核の析出生成状態を観察する目的で
1時間とする場合と、人工ダイヤモンド皮膜の析出形成
速度を評価する目的で6時間としだ場合について行なっ
た。
発生させ、この直流グロー放電にて前記基体表面をイオ
ンエツチングし、引続いて上記の条件で人工ダイヤモン
ド皮膜を形成したが、その反応時間を、反応初期におけ
るダイヤモンド結晶核の析出生成状態を観察する目的で
1時間とする場合と、人工ダイヤモンド皮膜の析出形成
速度を評価する目的で6時間としだ場合について行なっ
た。
この結果の1時間の反応後の前記基体表面を1700倍
の走査電子顕微鏡で観察し、写真にとり、その単位面積
当りの結晶核の数を測定したところ、平均50個/ c
niのダイヤモンド結晶(亥の形成が見られ、寸だ6時
間の反応後の前記基体表面には平均膜厚゛4μmの人工
ダイヤモンド皮膜が形成されていた。
の走査電子顕微鏡で観察し、写真にとり、その単位面積
当りの結晶核の数を測定したところ、平均50個/ c
niのダイヤモンド結晶(亥の形成が見られ、寸だ6時
間の反応後の前記基体表面には平均膜厚゛4μmの人工
ダイヤモンド皮膜が形成されていた。
これに対して、上記のイオンエツチング処理を行なわな
い以外は、同一の条件で1jなつた人工ダイヤモンド皮
膜の析出形成では、11時間の反応後の前記基体表面に
析出生成したダイヤモンド結晶核の数は平均10個/c
1?Lであり、寸だ6時間の反応後の前記基体表面に形
成された人工ダイヤモンド皮膜の平均膜厚は2μmであ
った。これらの結果から、基体表面を、人工ダイヤモン
ド皮膜の析出形成に先だって、イオンエツチングするこ
とに」:す、反応初期におけるダイヤモンド結晶核の析
出生成速度が著しく促進されるようになり、その析出生
成数が多数となることから、ダイヤモンド皮膜の析出形
成が一段と高速化するようになることが明らかである。
い以外は、同一の条件で1jなつた人工ダイヤモンド皮
膜の析出形成では、11時間の反応後の前記基体表面に
析出生成したダイヤモンド結晶核の数は平均10個/c
1?Lであり、寸だ6時間の反応後の前記基体表面に形
成された人工ダイヤモンド皮膜の平均膜厚は2μmであ
った。これらの結果から、基体表面を、人工ダイヤモン
ド皮膜の析出形成に先だって、イオンエツチングするこ
とに」:す、反応初期におけるダイヤモンド結晶核の析
出生成速度が著しく促進されるようになり、その析出生
成数が多数となることから、ダイヤモンド皮膜の析出形
成が一段と高速化するようになることが明らかである。
実施例 2
第2図に示される装置を用い、
反応容器(1):外径50111Jπφを有する石英製
のもの。
のもの。
基体(5):平面12.、 ’7 mjπ×厚さ4.、
8 rruaの寸法をもった炭化タングステン基超硬合
金(Co:’6重−1ii、 %。
8 rruaの寸法をもった炭化タングステン基超硬合
金(Co:’6重−1ii、 %。
WC:残り)製板拐。
反応混合ガス組成 容量割合で、](27C2H6−1
、00/ 5 。
、00/ 5 。
雰囲気月二力゛工01、Orl’。
高周波コイル(6)への印加条件(周波数:13.56
MIIZ、出カニ 500 Vl’ ) 。
MIIZ、出カニ 500 Vl’ ) 。
の条件て、上記基体50表面に人工ダイヤモンド皮膜を
形成するに先だって、 反応容器(1)内の雰囲気 Ar(反応混合ガス導入管
2よりAr流入)。
形成するに先だって、 反応容器(1)内の雰囲気 Ar(反応混合ガス導入管
2よりAr流入)。
雰囲気圧力ニ 8 X I O−t、orr 。
高周波コイル(6)への印加電力 200W。
処理時間 10分間。
の条件にて、T)i記基体表面に高周波放電を発生させ
、この高周波放電にて1)行記基体表面をイオンエツチ
ングし、この後で上記の条件で、上gt ノ実Mw例1
におけると同じ1時間および6時間の反応111間にて
人工ダイヤモンド皮膜を析出形成ぜ1〜めた。
、この高周波放電にて1)行記基体表面をイオンエツチ
ングし、この後で上記の条件で、上gt ノ実Mw例1
におけると同じ1時間および6時間の反応111間にて
人工ダイヤモンド皮膜を析出形成ぜ1〜めた。
この結果、上記基体表面には、実施例」と同じ方法で測
定したところ、1時間の反応で31′均60個/dのダ
イヤモンド結晶核の析出生成が見られ、寸だ6時間の反
応で平均膜厚: 4..57.+ 7rIの人工ダイヤ
モンド皮膜が形成されていた。
定したところ、1時間の反応で31′均60個/dのダ
イヤモンド結晶核の析出生成が見られ、寸だ6時間の反
応で平均膜厚: 4..57.+ 7rIの人工ダイヤ
モンド皮膜が形成されていた。
一方、比較の目的で、イオンエツチング処理を行なわな
い以外は、同一の条件で行なつ/こ人工ダイヤモンド皮
膜の析出形成では、1時間の反応では平均17個/cr
&のダイヤモンド結晶核しか析出形成されておらず、丑
だ6時間の反応では平均膜厚 25μ7++のダイヤモ
ンド皮膜しか形成されていなかつノこ。
い以外は、同一の条件で行なつ/こ人工ダイヤモンド皮
膜の析出形成では、1時間の反応では平均17個/cr
&のダイヤモンド結晶核しか析出形成されておらず、丑
だ6時間の反応では平均膜厚 25μ7++のダイヤモ
ンド皮膜しか形成されていなかつノこ。
実施例 33
第3図に示され3る装置rtを用い、
反応容器(J):外径30iπφを有する石英製のもの
。
。
基体(5)平面]、 2.7 m、m ×厚さ48+l
lI++の寸法をもつ/3 W Cソ(り超硬合金(’
11’iC:コ0爪量係 (:O:’7 重(if、’
$ + W”残り)製板制。
lI++の寸法をもつ/3 W Cソ(り超硬合金(’
11’iC:コ0爪量係 (:O:’7 重(if、’
$ + W”残り)製板制。
反応混合ガス組成 容量割合で、J−1’2 / CH
4,=10 i) / 5 。
4,=10 i) / 5 。
雰囲気圧力ニ 5 Lorr 。
マイクロ波: 24 、’30 M+’(z。
の条件て上記’JiV:休5の表面にダイヤモンド皮膜
を形成するに先だって、 反応容器(」)内の雰囲気:Ar(反応混合ガス導入′
1t2よりA、r流入)。
を形成するに先だって、 反応容器(」)内の雰囲気:Ar(反応混合ガス導入′
1t2よりA、r流入)。
雰囲ダ(圧力ニ i X 、10”−”torr 。
導波管(7)のマイクロ波: 24.50λ4Hz(5
0W)。
0W)。
処理時間 20分間。
の条件にて、前記基体表面にマイクロ波によるプラズマ
放電を発生させ、このマイクロ波によるプラズマ放電に
て前記基体表面をイオンエツチングし、引続いて上記の
条件で、同様に実施例1におけると同じ1116問およ
び6時間の反応時間にて人工ダイヤモンド皮膜を析出形
成せしめ/こ。
放電を発生させ、このマイクロ波によるプラズマ放電に
て前記基体表面をイオンエツチングし、引続いて上記の
条件で、同様に実施例1におけると同じ1116問およ
び6時間の反応時間にて人工ダイヤモンド皮膜を析出形
成せしめ/こ。
丑/こ、比較の目的で、上記の条件でのイオンエツチン
グ処理を行なわない以外は、同一の条件で上記基体表面
に人工ダイヤモンド皮膜を析出形成せしめた。
グ処理を行なわない以外は、同一の条件で上記基体表面
に人工ダイヤモンド皮膜を析出形成せしめた。
この結果、イオンエツチング処理を施し/ζ基体表面に
は、同様に実施例1と同じ方法で測定し/こところ、1
時間の反応で平均5.′3個/ cnfのダイヤモンド
結晶核の析出生成が見られ、6■寺間の反応で平均膜厚
40μ7nの人工ダイヤモンド皮膜が形成されていだ
のに対して、イオンエツチング処理を行なわない基体表
面には、それぞれ1.5個Ar1のダイヤモンド結晶核
および平均膜厚、2;うμ7nのダイヤモンド皮膜の形
成しか見られないものであった。
は、同様に実施例1と同じ方法で測定し/こところ、1
時間の反応で平均5.′3個/ cnfのダイヤモンド
結晶核の析出生成が見られ、6■寺間の反応で平均膜厚
40μ7nの人工ダイヤモンド皮膜が形成されていだ
のに対して、イオンエツチング処理を行なわない基体表
面には、それぞれ1.5個Ar1のダイヤモンド結晶核
および平均膜厚、2;うμ7nのダイヤモンド皮膜の形
成しか見られないものであった。
上述のように、この発明の方法によれば、基体表面に人
工ダイヤモンド皮膜を析出形成するに先だって、予め基
体表面をイオンエツチングすることによって反応初期に
おけるダイヤモンド結晶核の析出生成割合を著しく増大
することができ、これによってきわめて速い析出形成速
度での人工ダイヤモンド皮膜の形成が可能となるなど工
業上有用な効果がもたらされるのである。
工ダイヤモンド皮膜を析出形成するに先だって、予め基
体表面をイオンエツチングすることによって反応初期に
おけるダイヤモンド結晶核の析出生成割合を著しく増大
することができ、これによってきわめて速い析出形成速
度での人工ダイヤモンド皮膜の形成が可能となるなど工
業上有用な効果がもたらされるのである。
第1図、第2図、および第3図はいずれも人工ダイヤモ
ンl゛皮膜の析出形成装置を示す概略断面1ン1で、ち
る。 1 反応芥2:)、 2・・反応混合ガス導入管、;う
−熱′ilL子放躬桐としてのフィラメント、4 台板
、 5・・・基体、 ()・高周波コイル、/・・導波管。 出1i’a1人 三菱金属株式会社 代l(4!人 富 1]」 和 夫 外1名第1図 架2図
ンl゛皮膜の析出形成装置を示す概略断面1ン1で、ち
る。 1 反応芥2:)、 2・・反応混合ガス導入管、;う
−熱′ilL子放躬桐としてのフィラメント、4 台板
、 5・・・基体、 ()・高周波コイル、/・・導波管。 出1i’a1人 三菱金属株式会社 代l(4!人 富 1]」 和 夫 外1名第1図 架2図
Claims (1)
- 主成分が炭化水素と水素からなり、かつ熱電子放射拐、
高周波によるプラズマ放電、あるいはマイクロ波にJ−
るプラズマ放電などにより活性化された加熱反応混合ガ
スの流れの中に加熱基体を置くことによって前記基体の
表面に人工ダイヤモンド皮膜を析出形成する方法におい
て、ダイヤモンド皮膜の析出形成に先だって、前記基体
の表面にイオンエツチング処理を施し、これを活性化す
ることに」二つて反応初期に析出するダイヤモンド結晶
核の増大をはかることを特徴とする人工ダイヤモンド皮
膜のイア1出形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59060347A JPS60204695A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 人工ダイヤモンド皮膜の析出形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59060347A JPS60204695A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 人工ダイヤモンド皮膜の析出形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60204695A true JPS60204695A (ja) | 1985-10-16 |
Family
ID=13139535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59060347A Pending JPS60204695A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 人工ダイヤモンド皮膜の析出形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60204695A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6395199A (ja) * | 1986-10-09 | 1988-04-26 | Yoichi Hirose | 気相法によるダイヤモンドの合成法 |
US5028451A (en) * | 1988-02-04 | 1991-07-02 | Idemitsu Petrochemical Company Limited | Method of producing sintered hard metal with diamond film |
US5662877A (en) * | 1989-08-23 | 1997-09-02 | Tdk Corporation | Process for forming diamond-like thin film |
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