JPS60175415A - 縦形気相成長装置 - Google Patents

縦形気相成長装置

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JPS60175415A
JPS60175415A JP3117784A JP3117784A JPS60175415A JP S60175415 A JPS60175415 A JP S60175415A JP 3117784 A JP3117784 A JP 3117784A JP 3117784 A JP3117784 A JP 3117784A JP S60175415 A JPS60175415 A JP S60175415A
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JP
Japan
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cover
quartz
belljar
jar
bell
Prior art date
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Pending
Application number
JP3117784A
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English (en)
Inventor
Kichizo Komiyama
吉三 小宮山
Nobuo Kashiwagi
伸夫 柏木
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Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS60175415A publication Critical patent/JPS60175415A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/0262Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02524Group 14 semiconducting materials
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は半導体基板上にエピタキシャル成長させるため
の気相成長装置において反応室を形成するベルジャ部分
の改良に関する。
〔従来技術〕
シリコン等の半導体基板上にエピタキシャル成長によシ
薄膜を気相成長させる従来装置の一例を第1図により述
べる。半導体基板(以下ウェハという)11.を載置し
たサセプタ12は回転軸13に支持され、回転軸13の
中心に設けた固定のノズル14の上方からは反応ガスが
噴出しまたサセプタ12の下方にはRFコイル15が設
置されている。サセプタ12等は石英ベルジャ16で被
れ、石英ベルジャ16の外側は2重構造をしたステンレ
ス鋼の金属ベルジャ17で被れ、石英ベルジャ16は支
持材18によシ金属ベルジャ17に支持されている。そ
して金属ベルジャ17はoリング19を介して基台2o
に載置されており、その2重部には冷却水が流通するよ
うになされている。
また両ベルジャ16および17の間の空間にはN2或い
はN2ガスでパージするようになっている。なお21は
反応ガスの排気管であり、16Aは石英ベルジャ16と
基台20によ多構成される反応室である。
この構造は石英ベルジャ16が金属ベルジャ17と共に
昇降するためウェハ11の装填および取出しが容易であ
ること、ならびに石英ベルジャの強度が弱く割れ易いた
め万一の爆発事故に対する対策においてすぐれている。
しかしながらサセプタ12からの輻射熱が高いため石英
ベルジャ16自身担当高温になっておシ、反応ガスが石
英ベルジャ16の内面にデポジションされ易くなってい
る。反応ガスとして例えば5iCtzH2或いは8LH
<等のガスの場合その傾向が顕著であり、石英ベルジャ
16の内面への付着物はウオールデボと呼ばれ嫌われて
いる。これはウオールデボがウェハ11の交換のため石
英ベルジャ16が昇降するときの振動やガス流により、
付着力の弱い場合石英ベルジャ16の内壁から剥離しク
リーンなウェハ11上に落下するとマウンドと呼ばれる
欠陥を生ずるためである。また外部から測温のため石英
ベルジャを通して観測するとき測温誤差が生じて品質管
理を低下させるほか、割れ易く取シ扱いの困難な石英ベ
ルジャ16の洗浄頻度を多くさせていた。さらに金属ベ
ルジャ17は溶接による2重構造であって熱応力の繰り
返しや、ウェハ11をエツチングするときに使用するH
Ctガスにさらされるため、長期間の運転によシ溶接部
に微細なピンホール等が発生する。金属ベルジャ17に
は冷却水が流れているためピンホールがあると水漏れを
起こし、この水が高温の石英ベルジャに接してこれを破
損させコストを高くすると共に生産性を低くする欠点が
あった。
〔発明の目的) 本発明はこのような欠点を除去したものでその目的は、
ウオールデボの発生を押えることによりマウンドのない
良好なエピタキシャル層が形成されると共K、石英ジル
ジャの洗浄回数を減少させて生産性を高くした縦形気相
成長装置を提供することにある。本発明の他の目的は測
温誤差の少いそしてコストの低い縦形気相成長装置を提
供することにある。
〔発明の要点〕
本発明の縦形気相成長装置は、基台と石英ベルジャで反
応室を構成しこの反応室に反応ガスを噴出させると共に
、反応室に設置した回転するサセプタ上に載置したウェ
ハをサセプタを介して加熱することにより、ウェハにエ
ピタキシャル成長を行わせる縦形気相成長装置において
、石英ベルジャの外周に外側カバーと多数の穴を加工し
た内側カバーとからなる空間を有する金属製カバーを配
置し、穴から空気あるいはN2ガスを前記石英ベルジャ
に吹き付けるようにしたことを特徴にしている。
〔発明の実施例〕
以下本発明について一実施例を示した第2図により説明
する。なお第1図と同等部材は同一符号を付して詳しい
説明を省略し異なる部分についてのみ説明する。石英ベ
ルジャ31は下方にフランジ32を有しOリング等のパ
ツキン材19を介して基台20に載置されており、基台
20はテーブル33上に置かれている。石英ベルジャ3
1の外周には内部に空間34を有する2重構造の金属製
カバー35がフランジ32上にり、yジョン材36を介
して載置されている。内側カバー37には多数の穴38
が加工されておシ、外側カバー39の頂部には弁40を
設けた管41が取付けられまた内側カバー37と外側カ
バー39との接合部にはフランジ42が形成されている
。フランジ42の下面には複数の支持材43が取付けら
れその先端はフランジ32に対向しているため、ウエノ
S11の交換時石英ベルジャ31は金属製カバー35と
共に昇降する。またフランジ42の側方とテーブル33
の上面にはカバー44が置かれており、カバー44と基
台20との間に複数の排気管45がテーブル33に設け
である。
次に前述した実施例の動作を説明する。管41され金属
製カバー35の空所34に送り込まれる。
ベルジャ31に吹き付けられ石英ベルジャ31を冷却す
る。石英ベルジャ31の熱を受けた空気は下方に流れ両
フランジ32および42の間を通シ、カバー44に案内
されて排気管45から外部に排出される。なお排気管4
5の先端に吸引機構を設ければ排気効果は高まシ好まし
い。また穴、−は図を簡明にするため少数しか示してい
ないが多数の穴が均一ピッチで内側カバー37に多数膜
けである。
さらに、内側カバー37の内面に金膜を施こせば、輻射
熱が反射されることによシ、内側カバー37の昇温を押
えられるため、石英ベルジャ31の冷却効率を高めるこ
とができる。
〔発明の効果〕
本発明の縦形気相成長装置は以上説明したように1石英
ベルジャの外周に外側カバーと多数の穴を加工した内側
カバーとからなる空間を有する金属製カバーを配置し、
この穴から空気あるいはN2ガスを石英ベルジャに吹き
付けるよう圧構成した。
このため石英ベルジャは空気あるい社N2ガスによシ冷
却されるととKより5iC12Hz等の反応ガスが石英
ベルジャ内に噴出されても、内面にウオールデボを生ず
ることはなくなった。この結果石英ベルジャ内面から付
着物が落ちるとともないため欠陥のない高品質のエピタ
キシャル層が得られる。
また石英ベルジャにはウオールデボを生じないだめ高精
度の測温が可能になると共に、石英ベルジャの洗浄回数
が減少した。さらに石英ベルジャは水でなく空気による
冷却であるから水による破損は絶無となり、この点から
も生産性が高くなると共にコストは低くなる等多くの利
点を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例の断面図、第2図は本発明の一実施例の
断面図である。 11・・・ウエノ1.1z・・・サセプタ、31・・・
石英ベルジャ、34・・・空間、35・・・金属製カッ
<−137・・・内側カバー、38・・・穴、39・・
・外側カックー、工願/−軒へ位キi仝★゛1 片1図 ル21¥1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)基台と石英ベルジャで反応室を構成しこの反応室に
    反応ガスを噴出させると共に、前記反応室に設置した回
    転するサセプタ上に載置したウェハを前記サセプタを介
    して加熱することによシ、前記ウェハにエピタキシャル
    成長を行わせる縦形気相成長装置において、前記石英ベ
    ルジャの外周に外側カバーと多数の穴を加工した内側カ
    バーとからなる空間を有する金属製カバーを配置し、前
    記穴から空気もしくはN2ガスを前記石英ベルジャに吹
    き付けるようにした縦形気相成長装置。 2)内側カバーの内面に金膜を施したことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の縦形気相成長装置。
JP3117784A 1984-02-21 1984-02-21 縦形気相成長装置 Pending JPS60175415A (ja)

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JP3117784A JPS60175415A (ja) 1984-02-21 1984-02-21 縦形気相成長装置

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JP3117784A JPS60175415A (ja) 1984-02-21 1984-02-21 縦形気相成長装置

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JPS60175415A true JPS60175415A (ja) 1985-09-09

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JP3117784A Pending JPS60175415A (ja) 1984-02-21 1984-02-21 縦形気相成長装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6457717A (en) * 1987-08-28 1989-03-06 Nec Corp Manufacture of semiconductor device
JPH07297145A (ja) * 1995-03-02 1995-11-10 Tokyo Electron Tohoku Ltd 熱処理装置
US5855677A (en) * 1994-09-30 1999-01-05 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling the temperature of reaction chamber walls

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