JPS60173676A - 図形塗りつぶし方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、頂点座標が輪郭情報で与えられる任意の図
形や、曲線を含む輪郭線から成る任意の図形のそれぞれ
内部を検出し、この検出した図形の内部を高速に塗シつ
ぶす様にした図形量シつぶし方式に関するものである。

〔従来技術〕

従来くほみを含む様な任意の図形の内部を検出し、この
検出した図形の内部を塗シつぶすアルゴリズムとしては
、第１図に示す様に、外接長方形領域３内の塗シつぶし
図形１と走査線２との交点をめ、Ｘ座標の小さい交点よ
シ順に２個の交点を選び、この交点間を直線で結ぶアル
ゴリズムが提案されている。このアルゴリズムを実現す
る方式としては、輪郭線に沿って順次に塗シつぶし図形
１と走査線２との交点のＸ座標を計算し、第２図に示す
様に、表示画面４における座標テーフ゛ル５に記憶し、
各走査線２ごとにＸ座標をソートして上記アルゴリズム
を実行する手法、あるいはソートを行う回数を減らすた
めに、あらかじめ第３図に示す様に、塗９つぶし図形１
を領域ａ　−Ｈの様に分割し、各領域ａ　−ｇごとに存
在する辺をめ、これらの辺をソートとして上記アルゴリ
ズムを実行する手法が採られていた。このため、コマン
ドで指定可能な図形の頂点数が多くなると、最大数の頂
点を有する図形を前照して、大きなメモリ領域（座標テ
ーブル５等の）を必要とし、まだ、塗シつぶし図形１と
走査線２との交点数ｍｉ多い場合には、それらのＸ座標
あるいは辺をノートする時間が増大し、図形の内部を塗
シつぶす実行時間が大になるなどの欠点があった。

〔発明の概要〕

この発明は、上記の様・よ従来のものの欠点を改善する
目的でなされたもので、任意の図形の内部を塗シつぶす
際に、図形の各輪郭点の座標を計算して表示用メモリに
書き込むと同時に、図形の内部と外部との境界を与える
情報を、計算さ・れた図形の輪郭座標よシ逐次に検出し
て、表示用メモリと１と１に対応した下書き用メモリに
書き込み、この下書き用メモリに書き込まれた情報を走
査線にしたがって順次に読み出して図形の内部を検出し
、この検出した図形の内部を高速に塗りつぶす様にしだ
図形塗シつぶし方式を提供するものである。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の実施例を図について説明する。

第４図はこの発明の図形塗りつぶし方式が適用されるコ
マンド型静止両側末装置、あるいはグラフィック端末装
置の基本構成例を示すブロック図でおる。図に示す様に
、画像情報センターあるいはホストコンピュータ６から
のコマンド・データは、インタフェース７を介して端末
装置のプロセッサ８に入力される。プロセッサ８は与え
られｙｔコマンド・データを対応する表示パターンに変
換するための演算を行い、得られた表示パターンは各色
情報等に応じて各表示用メモリ９に書き込まれる。

表示用メモリ９に書き込まれた表示パターンは、６０フ
ィールド／秒の速度でＣＲＴ（陰極線管）１０に読み出
されて表示される。

第５図は、第４図の図形塗りつぶし方式で用いる下書き
用メモリを示す構成図である。図に示す様に、下書き用
メモリ１１は、塗）つぶし図形】を表示する表示画素数
Ａ、×Ａ２の表示画面４と１対１に対応した深さ１ビツ
トのメモリでｓｂ、１画素単位にアクセスが可能である
。この発明による図形塗シつぶし方式では、下書き用メ
モリ１１に図形の内部と外部との境界を示す情報（以下
、この情報を変化点情報と略記する）を書き込むが、上
記第２図に示す様な座標テーブル５等の他のメモリ領域
は必要とせず、したかって、コマンドによシ指定できる
頂点数とは無関係に、比較的に小さなメモリ領域で図形
の内部の塗シつぶし処理を行うことができる。

第６図は、第４図の図形塗りつぶし方式において、下書
き用メモリを用いて図形の内部を塗シつぶす手順を示す
フローチャート図である。図に示す様に、まず、図形に
よって与えられた頂点座標から各輪郭点を計算し、表示
用メモリ９に書き込むと同時に、上記各輪郭点より図形
の内部と外部との境界を与える変化点を検出し、下書き
用メモリ１１の対応する位置に「１」という情報を排他
的論理和で書き込む。次に、すべての輪郭点及び変化点
の書き込みが終了した後、それらの変化点情報を読み出
して図形の内部を検出し、これを表示用メモリ９に描画
する。以下、上記変化点情報を与える手法及びこの変化
点情報より図形の内部を検出し、この検□出した図形の
内部の塗シつぶしを・実行する手法について説明する。

上記第１図から明らかな様に、くほみを有する塗りつぶ
し図形ｌと走査線２との交点は必らず偶数個存在する。

ただし、第１図に示す点Ａの様に、辺の傾きが単調増加
から単調減少に変わる頂点、あるいは単調減少から単調
増加に変わる頂点（以下、この頂点を偶頂点と略記する
）は除外する。上記各交点の中で、走査線２の走査方向
よシ奇数番目の交点と次の偶数番目の交点との間（第１
図では、Ｘ、　−Ｘ２゜Ｘ３　Ｘ４及びＸｓ　Ｘｅ）は
図形の内部で６Ｄ、その他の部分は図形の外部となる。

したがって、これらの交点を変化点として下書き用メモ
リ１１に書き込み、図形の内部を塗）つぶす際には、下
書き用メモリ１１の内容を走査線２にしたがって順次に
読み出すことによシ、塗シつぶし図形１の内部を首尾良
く検出することができる。

第７図ないし第１０図は、それぞれ第４図の図形塗りつ
ぶし方式において、図形の計算された輪郭点の中で変化
点となシ得る点を示す説明図である。第７図に示す様に
、傾きθが４５°よシ大なる直線は、表示画面４上でデ
ィジタル化して表示すると、上記直線上のすべての輪郭
点は、第８図に示す様に、１本の走査線２に対して１個
の輪郭点しか存在しない。したがって、上記輪郭点は図
形の内部と外部との境界を示す変化点であるから、第７
図に示される様な傾きθを有する辺（直線）の場合には
、この辺に属するすべての輪郭点（ただし、偶頂点は除
く）を変化点として、下書き用メモリ１１の対応する位
置にｒｌＪを書き込む。これに対して、第９図に示す様
に、傾きθが４５゜ヨシ小さい直線は、表示画面４上で
ディジタル化して表示すると、第１０図に示す様に、１
本の走査線２に対して複数個の連続する輪郭点が存在す
ることになる。この様な場合、上述した様にすべての輪
郭点（ただし、偶頂点は除く）を変化点とすると、首尾
良く図形の内部を検出することはできない。そこで、第
１０図に示す様に、１本の走査線２に対して連続する輪
郭点を１組とし、この組の任意の１点を変化点として、
ド書き用メモリ１１の対応する位置に「１」を書き込み
、他の輪郭点には変化点としての情報を与えない様にす
る。

第１１図は、第４図の図形塗りつぶし方式において、輪
郭点よシ変化点を見い出す具体的な手順を示すフローチ
ャート図である。図において、与えられた多角形の図形
の辺の両端の頂点を各々Ｐ。

（Ｘｓ、Ｙｔ）　、Ｐｔ（Ｘ、、Ｙｔ）とすると、まず
ステップ１において各々のＹ座標Ｙ、及びＹ、を比較す
る。

そして、大なるＹ座標を有する点をＰ、（ｘ、、、　Ｙ
Ｆ、）。

小なるＹ座標を有する点をＰ８（Ｘｓ、Ｙ８）とし、ス
テップ２において点Ｐ８を表示用メモリ９に描画する。

ステップ３では、現在の描画している点Ｐｎ（Ｘｎ、　
Ｙｎ）と点ＰＥとを比較し、等しければステップ７へ進
み、等しくなければステップ４へ進む。

ステップ４では、次の輪郭点を示す点ｐｎを計算し、ス
テップ５で点ｐｎを表示用メモリ９に描画する。

ステップ６では、Ｙ座標Ｙｎと前の輪郭点を示す点ｐｎ
−１のＹ座標Ｙ１−１とを比較し、等しくなければ点Ｐ
ｎを下書き用メモリ１１に排他的論理和で書き込んでス
テップ３へ進み、等しければそのままステップ３へ進む
。ステップ７では、すべての辺についてステップトステ
ツプ６のすべてが終了したか否かを判定し、終了してい
なけれは各点Ｐｌ　＋Ｐ、をセットしてステップｌへ進
む。

第１２図は、第４図の図形量シつぶし方式において、図
形の内部を検出・出力し、表示用メモリに描画する手順
を示すフローチャート図である。

図において、点Ｆ　（Ｘｆ、　Ｙｆ）及び点Ｅ（１，Ｙ
ｅ）は、例えば第１図に示す様な塗シつぶし図形１を囲
む外接長方形領域３の読み出し開始を示す点及び読み出
し終了を示す点である。そして、この外接長方形領域３
に対応する下書き用メモリｌｌの内容を、読み出し開始
を示す点Ｆ（Ｘｆ、Ｙｆ）よシ読み出し終了を示す点Ｅ
　（Ｘｅ、　Ｙｅ）まで順次に走査して、ステップ１に
おいて変化点「１」を検出する。この時、読み出した内
容が変化点の「１」でない場合には、その点が塗シつぶ
し図形１の内部か外部かを示すステップ２０判定フラグ
Ｗ（例えば塗シつぶし図形ｌの内部であれば「１」、外
部であれば「０」とする）により、内部であればステッ
プ３において表示用メモリ９の対応する位置に描画し、
外部であれば何にもせずに次の点を読み出しに行く。ま
た、読み出した内容が変化点の「１」である場合には、
ステップ４において判定フラグＷの内容を反転し、さら
に、ステップ５において下書き用メモリ１１の対応する
位置に「０」を書き込み、下書き用メモリ１１を逐次に
クリアする。

この発明の図形系シつぶし方式において、変化点情報の
「１」を、下書き用メモリ１１の対応する位置に排他的
論理和で書き込むことによシ、以下の問題点を除去する
ことができる。すなわち、第１３図に示す様に、図形の
各頂点Ｂ、Ｃ，Ｄにおいて、シャープな角を有する頂点
Ｂを表示画面４上でディジタル化して表示すると、第１
４図に示す様に、頂点Ｂの近傍の点Ｘａ、Ｘｂは辺ＢＣ
及び辺ＢＤ上の点が重複して存在する点となる。この様
な場合、変化点情報の「１」を転送命令で書き込むと、
結果として、点Ｘａ、Ｘｂは「１」という変化点情報を
有することになシ、図形の内部を首尾良く検出すること
ができない。ところが、排他的論理和では、ａ■ｂ＝ｃ
、ｃ■ｂ　＝　ａの様に、同一内容のｂを偶数個演算す
ると元の情報のａが得られるので、下書き用メモリ１１
のある位置に変化点が複数回書き込まれても、奇数回の
場合には変化点であるという情報の「１」が、また、偶
数回の場合には変化点でないという情報のｒＯＪが、結
果としてそれぞれストアされ、これによシ、図形の内部
を正しく検出できる。

第１５図はこの発明の図形系シつぶし方式において、図
形の内部検出・出力のハードウェア構成の一実施例を示
すブロック図、第１６図ないし第１８図線、それぞれ第
１５図のブロック図における各部のモードを示すタイム
チャート図である。

第１５図に示す様に、図形系シつぶし処理における図形
の内部の検出、出力時以外の通常モードでは、第１６図
に示す様に、表示用メモリ９はＣＲＴｌｏへの読み出し
とプロセッサ８からのアクセスが時分割で交互に行われ
、ＣＲＴＩＯへの読み出しのアドレスはＣＲＴレート・
アドレスカウンタ１４よシ与えられ、プロセッサ８から
のアクセスのアドレスはプロセッサ８自身より与えられ
、その切シ換えは第２のアドレスセレクタ１６によシ自
動的に行われる。また、通常モードにおいては、下書き
用メモリ１１は常にプロセッサ８からのアクセスが可能
である。なお、プロセッサ８から表示用メモリ９への書
き込みと読み出しの切シ換えは、ライトパルスＷＰのオ
ン・オフの切シ換えによシ行われる。図形塗りつぶし処
理では、通常モードにおいて、プロセッサ８が下書き用
メモリ１１に変化点を書き込む。１つの塗９つぶし図形
１に関するすべての変化点の書き込みが終了すると、プ
ロセッサ８は表示用メモリ９におけるＣＲＴＩＯへの読
み出しが次の走査線２に移行する時に、第′　１のアド
レスセレクタ１５をＣＲＴレート・アドレスカウンタ１
４側に切シ換えて、内部検出・出力回路１２に下書き用
メモリ１１の内容を順次に読み出すと共に、ライトパル
スＷＰ２をオフにし、第２のアドレスセレクタ１６のア
ドレスの切シ換えを中止して、常にＣＲＴレート・アド
レスカウンタ１４のアドレスが表示用メモリ９に与えら
れる様にすることによシ、内部検出−出力モードに切シ
換える。この内部検出や出力モードでは、第１７図に示
す様に、表示用メモリ９の内容をＣＲＴｌＯへ読み出す
アドレスが、表示用メモリ９のＣＲＴＩＯへの読み出し
以外の期間に与えられると共に、同一アドレスが下をき
用メモリ１１にも与えられる。下書き用メモリ１１では
、各読み出し期間に与えられたアドレス（例えばｎ）の
内容が読み出されて内部検出・出力回路１２に出力され
、ここで、内部であると検出された場合には、表示用メ
モリ９の同一アドレス（例えばｎ）に描画され、外部で
あると検出された場合には、表示用メモリ９には描画さ
れない。また、下書き用メモリ１１の各書き込み期間に
は「０」が書き込まれ、下書き用メモリ１１が逐次にク
リアされる。

第１９図は、第１５図のブロック図に゛おける内部検出
・出力回路を示す図である。図に示す様な内部検出・出
力回路１２は、下書き用メモリ１１から読み出された内
容（下書き用メモリ１１からの入力ｉｎ）により、その
読み出された位置が内部であるか外部であるかをリアル
タイムで判定し、内部であれば上記したタイミングで表
示用メモリ９に描画する。すなわち、読み出された下書
き用メモリ１１の位置が内部である場合には、出力Ｏｎ
として「ｌ」が出力され、また、外部である場合には、
出力Ｏｎとして「０」が出力される。この出力Ｏｎと第
１５図に示すライトパルスＷＰ３Ｃ内部検出・出力モー
ド時は常に「１」）との論理積が表示用メモリ９へのラ
イトパルスＷＰとなシ、このライトパルスＷＰ＝「１」
の時には、塗シつぶし色がストアされた色レジスタ１３
の内容が、第２のデータセレクタ１８を介して表示用メ
モリ９に書き込まれる。プロセッサ８は、上記したアド
レスセレクタの切シ換え等の図形の内部検出・出力の前
処理を実行した後、図形の内部検出・出力が完了したこ
とを保証するため、１フィールド時間待って通常モード
に戻す。あるいは、プロセッサ８がＣＲＴレート・アド
レスカウンタ１４を観察し、上記第１図に示す様な外接
長方形領域３の読み出し開始を示す点Ｆ　（Ｘｆ　、　
Ｙｆ）及び終了を示す点Ｅ（Ｘｅ。

Ｙｅ）において、各Ｙ座標Ｙｆよ、９Ｙｅの期間のみ図
形の内部を検出して出力することによシ、実行時間を短
縮できる。

第２０図はこの発明の図形量シつぶし方式において、図
形の内部検出・出力のハードウェア構成の他の実施例を
示すブロック図である。図に示す様に、通常モードの時
は、第１６図に示す様に、ＣＲＴＩＯへの読み出しある
いはプロセッサ８からのアクセスが行われる。図形の内
部検出・出力モードでは、ＣＲＴレートでアトＶツシン
グが可能な塗シつふし用アドレスカウンタ２１を用いる
ことによシ、第１８図に示す様なタイミングによシ、第
１図に示す外接長方形領域３のみを内部検出・出力回路
１２に読み出し、図形の内部を検出することによシ表示
用メモリ９にその図形の内部を描画する。この実施例に
よれば、塗りつぶし図形１の大きさに比例した実行時間
で、高速に図形の内部の塗りつぶし処理を実現できる。

なお、第２０図中の１９は第３のアドレスセレクタ、２
０はＣＲＴ表示用アドレスカウンタである。

第２１図はこの発明の図形塗りつぶし方式において、変
化点の検出及び書き込みをハードウェアで実現するため
の他の実施例の構成例を示すブロック図である。図に示
す様に、プロセッサ８は与えられた図形の頂点座標より
隣り合う２頂点の座標を堆シ出し、上記第１１図に示す
ステップ１を実行し、点Ｐｓ及びＰＥをベクタージェネ
レータ２２に渡す。点Ｐ８及びＰＲの座標を受け取った
ベクタージェネレータ２２は、直線発生に必要な情報を
計算し、点Ｐ８及びＰＥまで順次に輪郭点を示す点Ｐｎ
の座標０（ｎ、Ｙｎ）を計算しく第１１図のステップ４
）、アドレス変換回路２３に出力する。アドレス変換回
路２３は、輪郭点を示す点ｐｎの座標（Ｘｎ、Ｙｎ）よ
シ表示用メモリ９に対応したアドレスに変換し、表示用
メモリ９及び下書き用メモリ１１に与える。

表示用メモリ９には、該当するアドレス位置にあらかじ
め色レジスタ１３にセットされた値で輪郭が描画される
（第１１図のステップ５）。また、ベクタージェネレー
タ２２は、第１１図のステップ３で一辺が終了したか否
かを判定し、終了した際は、プロセッサ８及び変化点検
出回路２４に終了信号を送る。この終了信号を受け増っ
たプロセッサ８は、第１１図のステップ７においてすべ
ての辺が終了したか否かを判定する。終了していない場
合は、次の点Ｐｓ及びｐＥをベクタージェネレータ２２
に渡し、上記した各事項を繰シ返し行う。

変化点検出回路２４は、第１１図のステップ６を実行す
る。すなわち、まずベクタージェネレータ２２からの終
了信号を受け摩った変化点検出回路２４はリセット状態
になシ、ベクタージェネレータ２２からの出力であるＹ
アドレスの最下位ビットのＹｏを入力し、リセット後に
最初に入力したＹｏを、第１１図及び第２２図−に示す
Ｙ　ｎ−１にセットする。そして、２番目以降の人力の
ＹｏをＹｎにセットして、第２２図に示す様に、Ｙｎと
Ｙｎ−１の排他的論理和の結果をライトパルスＷＰ４と
して出力する。この出力後に、変化点検出回路２４はＹ
ｎをＹｎ−＋にセットして次のＹｏを入力する。下書゛
き用メモリ１１は、表示用メモリ９と同様に輪郭点のア
ドレスが与えられるが、下書き用メモリ１１には、ライ
トパルスＷＰ４とプロセッサ８からのライトパルスＷＰ
１がそれぞれＯＮの時のみ、排他的論理和書き込み回路
２５にょシ、第１のデータセレクタ１７を通じて該当す
るアドレスに「１」が排他的論理和で書き込まれる。な
お、プロセッサ８は下書き用メモリ１１にアクセスする
際、ライトパルスＷＰ１をＯＮにしてその他の時はＯＦ
Ｆにするため、図形の内部の塗９つぶし時以外に、ベク
タージェネレータ２２を使用して表示用メモリ９に描画
する際には、下書き用メモリ１１には何にも書き込まれ
ない。輪郭点及び変化点をすべて書き込んだ後は、上記
第１５図に示した実施例と同じ手法によシ、図形の内部
を表示用メモリ９に描画する。また、第１５図、第２０
図及び第２１図において述べた各実施例において、内部
検出・出力モードの開始をプロセッサ８から指示された
後、この内部検出・出力モードにおけるすべての必要な
操作を実行し、モード終了時には、図形の内部の塗シつ
ぶし完了をプロセッサ８に知らせるメモリ制御回路を付
加することによシ、プロセッサ８の負荷を軽減すること
ができる。

なお、上記したこの発明の図形塗りつぶし方式の変形例
として、曲線を含む輪郭線から成る任意の図形を塗シつ
ぶす場合、曲線の極大点又は極小点をめ、このめた点を
上記多角形の図形の偶頂点と同様の扱いをすることによ
シ、上記した各実施例と同様な手順及びハードウェア構
成で、任意の図形の内部の塗りつぶしを実現することが
できる。

また、上記したこの発明の図形量シつぶし方式は、上述
した様な各構成例に限定されるものではない。例えば、
この発明の下書き用メモリｌｌをメモリプレーンとして
構成し、図形の内部の塗りつぶし時以外では、表示用マ
ルチプレーンメモリの１メモリとして、画像情報の表示
用あるいは描画画像の個別消去用に利用する等のことが
できる。

さらに、図形の内部検出・出力の実行を、ＣＲＴ表示の
ブランキング期間を利用して実行することも可能である
。

〔発明の効果〕

この発明は以上説明した様に、任意の図形の内部を塗り
つぶす際に、図形の各輪郭点の座標を計算して表示用メ
モリに書き込むと同時に、図形の内部と外部との境界を
与える情報を、計算された図形の輪郭座標よシ逐次に検
出して、表示用メモリと１対１に対応した下書き用メモ
リに書き込み、この下書き用メモリに書き込まれた情報
を走査線にしだがって順次に読み出して図形の内部を検
出し、この検出した図形の内部を塗シっぷす様に構成し
たので、コマンドで指定できる塗りつぶし図形の頂点数
とは無関係に、表示画面の解像度に比例した比較的に小
さなメモリ領域及び簡単なハードウェア構成により、高
速に任意の図形の内部を塗シつぶすことができるという
優れた効果を奏するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の図形塗９つぶし方式におけるアルゴリズ
ムを示す説明図、第２図及び第３図は、第１図の図形量
シつぶし方式の動作態様を示す説明図、第４図はこの発
明の図形量シっぷし方式が適用されるコマンド型静止両
側末装置、あるいはグラフィック端末装置の基本構成例
を示すブロック図、第５図は、第４図の図形塗りつぶし
方式で用いる下書き用メモリを示す構成図、第６図は、
第４図の図形量シつぶし方式において、下書き用メモリ
を用いて図形の内部を塗りつぶす手順を示すフローチャ
ート図、第７図ないし第１０図は、それぞれ第４図の図
形量シっぷし方式において、図形の計算された輪郭点の
中で変化点となシ得る点を示す説明図、第１１図は、第
４図の図形塗りつぶし方式において、輪郭点よシ変化点
を見い出す具体的な手順を示すフローチャート図、第１
２図は、第４図の図形塗りつぶし方式において、図形の
内部を検出・出力し、表示用メモリに描画する手順を示
すフローチャート図、第１３図及び第１４図は、それぞ
れこの発明の図形塗９つぶし方式において、シャープな
角を有する頂点を含む図形及びこの図形をディジタル化
した場合を示す説明図、第１５図は、この発明の図形塗
りつぶし方式において、図形の内部検出・出方のハード
ウェア構成の一実施例を示すブロック図、第１６図ない
し第１８図は、それぞれ第１５図のブロック図における
各部のモードを示すタイムチャー）ＩＩ、第１９図は、
第１５図のブロック図における内部検出・出力回路を示
す図、第２０図はこの発明の図形量シつぶし方式におい
て、図形の内部検出・出力のハードウェア構成の他の実
施例を示すプロツク図、第２１図はこの発明の図形塗り
つぶし方式において、変化点の検出及び書き込みをハー
ドウェアで実現するための他の実施例の構成例を示スフ
ロック図、第２２図は、第２１図のブロック図における
変化点検出回路の入出力関係の真理値を示す表図である
。 図において、１・・・塗シつふし図形、２・・・走査線
、３・・・外接長方形領域、４・・・表示画面、５・・
・座標テーブル、６・・・画像情報センターあるいはホ
ストコンピュータ、７・・・インタフェース、８・・・
プロセッサ、９・・・表示用メモリ、ｌＯ・・・ＣＲＴ
（陰極線管）、１１・・・下書き用メモリ、１２・・・
内部検出・出力回路、１３・・・色レジスタ、１４・・
・ＣＲＴレート・アドレスカウンタ、１５・・・第１の
アドレスセレクタ、１６・・・第２のアドレスセレクタ
、１７・・・第１のデータセレクタ、１８・・・第２の
データセレクタ、１９・・・第３のアドレスセレクタ、
２０・・・ＣＲＴ表示用アドレスカウンタ、２１・・・
塗シつぶし用アドレスカウンタ、２２・・・ベクタージ
ェネレータ、２３・・・アドレス変換回路、２４・・・
変化点検出回路、２５・・・排他的論理和書き込み回路
である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人　大岩増雄 第１図 第２図 、　第３図 第４図 ＠　１３図 第１４図 第２２図 第１頁の続き ［相］発　明　者　富　１）　悟 ＠発明者　画用　秀− 尼崎市塚口本町８丁目１番１号　三菱電機株式会社応用
機器研究所内 尼崎市塚口本町８丁目１番１号　三菱電機株式会社応用
機器研究所内 手続補正書（自利 昭和５９年１０　月１７　Ｂ 特許庁長官殿　４ト １、事件の表示　特願昭５９−２５７７４号２、発明の
名称 図形像９つぶし方式 ３、補正をする者 ′ｌ）１名） ） ５、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」、「発明の詳細な説明」、
「図面の簡単な説明」の欄及び図面。 ６、補正の内容 （１）明細書の「特許請求の範囲」を別紙の通ルに補正
する。 （２）同書第３頁第４行目の「おける」を、「対応する
」と補正する。 （３）同書第３頁第１７行目の「時間が増大し、図形の
内部を塗シつぶす」を、「時間が増大することによシ、
図形を塗シつぶす」と補正する。 （４）同書第４頁第６行目の「１と１」を、「１対１」
と補正する。 （５）同書第３頁第１６〜１７行目の「各点Ｐ□。 Ｐ２を」を、「次の辺に対応する点Ｐ０及びＰ。 を」と補正する。 （６）　同書第１２頁第４〜５行目、第２２頁第１４〜
１５行目の「ないし第１８図は、」を、「及び第１７図
は、」と補正する。 （７）　同書第２２頁第１７行目の「第１９図は、」を
、「第１８図は、第２０図のブロック甲における各部の
モードを示すタイムチャート図、第１９図は、」と補正
する。 （８）添付図面の第１図、第１４図及び第２２図を別紙
の通りに補正する。 別　紙 ２、特許請求の範囲 （１）頂点座標が輪郭情報として与えられる任意の図形
の内部を塗フつぶす際に、前記頂点座標よυ各輪郭点の
座標を計算して表示用メモリに書き込むと同時に、前記
図形の内部と外部との境界を与える情報を、計算された
輪郭座標よシ逐次に検出して、前記表示用メモリと１対
１に対応した下書き用メモリに書き込む手段と、この下
書き用メモリに書き込まれた情報を走査線にしたがって
順次に読み出し、゛□前記図形の内部を検出して前記表
示用メモリに書き込む回路とにより、前記図形の内部を
塗りつぶす様にして成ることを特徴とする図形塗りつぶ
し方式。 （２）前記図形は、多角形の図形であることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の図形量シつぶし方式。 （３）　前記図形として、曲線を含む輪郭線から成る任
意の図形である場合、前記曲線の極大点又は極小点を見
い出す手段を用いて、前記図形の内部を塗りつぶす様に
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の図形
塗りつぶし方式。 第１図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）　頂点座標が輪郭情報で与えられる任意の図形の
   内部を塗シつぶす際に、前記頂点座標よシ各輪郭点の座
   標を計算して表示用メモリに書き込むと同時に、前記図
   形の内部と外部との境界を与える情報を、計算された輪
   郭座標よシ逐次に検出して、前記表示用メモリと１対１
   に対応した下書き用メモリに書き込む手段と、この下書
   き用メモリに書き込まれた情報を走査線にしたがって順
   次に読み出し、前記図形の内部を検出して前記表示用メ
   モリに書き込む回路とにより、前記図形の内部を塗シつ
   ぶす様にして成ることを特徴とする図形量シつふし方式
   。
2. （２）　前記図形は、多角形の図形であることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載の図形量シつぶし方式。
3. （３）前記図形として、曲線を含む輪郭線から成る任意
   の図形である場合、前記曲線の極大点又は極小点を見い
   出す手段を用いて、前記図形の内部を塗シつぶす様にし
   たことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の図形量
   シつふし方式。