JPS60169581A - 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 - Google Patents
鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法Info
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- JPS60169581A JPS60169581A JP2460284A JP2460284A JPS60169581A JP S60169581 A JPS60169581 A JP S60169581A JP 2460284 A JP2460284 A JP 2460284A JP 2460284 A JP2460284 A JP 2460284A JP S60169581 A JPS60169581 A JP S60169581A
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- JP
- Japan
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- remaining
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- strip
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23G—CLEANING OR DE-GREASING OF METALLIC MATERIAL BY CHEMICAL METHODS OTHER THAN ELECTROLYSIS
- C23G3/00—Apparatus for cleaning or pickling metallic material
- C23G3/02—Apparatus for cleaning or pickling metallic material for cleaning wires, strips, filaments continuously
- C23G3/027—Associated apparatus, e.g. for pretreating or after-treating
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Cleaning And De-Greasing Of Metallic Materials By Chemical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、鋼ストリップのデスク−リングプロセスにお
けるストリップ表面の残スケール状悪の判別方法に関す
るものでりる。
けるストリップ表面の残スケール状悪の判別方法に関す
るものでりる。
従来技術
鋼ストリップの冷間圧延にあたり、熱間圧延時に生成さ
れ／とストリップ表面のスクールを除去するために、高
圧水で砂鉄をス）ＩＪッグ表面に投射して脱スケールす
る、いわゆるメカニカルデスク＋７ングと称する方法が
実用化されでいる。
れ／とストリップ表面のスクールを除去するために、高
圧水で砂鉄をス）ＩＪッグ表面に投射して脱スケールす
る、いわゆるメカニカルデスク＋７ングと称する方法が
実用化されでいる。
このテスク−リングプロセスにおいては、デスク−リン
グ品質の向上、プロセスラインの操業の安定化、運転コ
ストのミニマム化などのために、デスケーリング状態を
オンラインで連続的に検出する必要かりるが、従来はデ
スケーリング状態を把握するのに、作業者かラインを停
止芒せてナスグーリング状態を目視で観察するか、ある
いはカメラで撮影して利足する方法が行わ！ｔていた。
グ品質の向上、プロセスラインの操業の安定化、運転コ
ストのミニマム化などのために、デスケーリング状態を
オンラインで連続的に検出する必要かりるが、従来はデ
スケーリング状態を把握するのに、作業者かラインを停
止芒せてナスグーリング状態を目視で観察するか、ある
いはカメラで撮影して利足する方法が行わ！ｔていた。
このよりなＶｔ米の方法では、連続的にデスケーリング
状態を把握することができず、またその判断に作業者の
主観が入る等の欠点があった。
状態を把握することができず、またその判断に作業者の
主観が入る等の欠点があった。
上ｉ己の点に鑑み、本元明者寺（はデスケーリング状態
を連続的に検出する方法を開元し、先に％願昭５８−４
４８８０号として特許出願した。この先願になるデスケ
ーリング状態検出方法は、電子走査型光電変換器によシ
デスグーリング後のストリップの表面をストリップ幅方
向に走査して画像信号を得、該画像信号の各走査画像信
号を積分処理することによシ幅方向の平均的な残スケー
ル状態を示す指標を得、各走査画像信号の微分処理信号
の積分処理およびピーク値検出処理を行ない幅方向の局
所的な残スケール分布状態を示す指標を杓るようにした
ものである。この方法によれは、ストリップの幅方向に
みた残スケール状態をオンラインで連続的に検出するこ
とができる。
を連続的に検出する方法を開元し、先に％願昭５８−４
４８８０号として特許出願した。この先願になるデスケ
ーリング状態検出方法は、電子走査型光電変換器によシ
デスグーリング後のストリップの表面をストリップ幅方
向に走査して画像信号を得、該画像信号の各走査画像信
号を積分処理することによシ幅方向の平均的な残スケー
ル状態を示す指標を得、各走査画像信号の微分処理信号
の積分処理およびピーク値検出処理を行ない幅方向の局
所的な残スケール分布状態を示す指標を杓るようにした
ものである。この方法によれは、ストリップの幅方向に
みた残スケール状態をオンラインで連続的に検出するこ
とができる。
発明の目的
本発明は、上記画像信号の処理にさらに工夫を刃口え、
ストリップの一定面積毎の残スクール状悪盆パターンと
して！ｌＪ別する方法を提供することを目的とする。
ストリップの一定面積毎の残スクール状悪盆パターンと
して！ｌＪ別する方法を提供することを目的とする。
発り」の構成作用
このだめの本発明方法は、鋼ストｌ）ツブのデスケーリ
ングプロセスにおいて、電子足前型光電変換器によりデ
スケーリング依りストリップの表面をストリップ幅方向
に走査して画像信号を得、該画像信号の各走査画像信号
の積分値、変動範囲および最小値をめ、該３つの値の一
定時間内の平均値と変動範囲をそれぞれ泳め、これらの
値を用いて予め定めた変換式により残スケールの模様に
関連した特性値をめ、該特性値の大小関係から残スクー
ルの模様紮＋」別すること葡特徴とするものである。以
下本プ４明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
ングプロセスにおいて、電子足前型光電変換器によりデ
スケーリング依りストリップの表面をストリップ幅方向
に走査して画像信号を得、該画像信号の各走査画像信号
の積分値、変動範囲および最小値をめ、該３つの値の一
定時間内の平均値と変動範囲をそれぞれ泳め、これらの
値を用いて予め定めた変換式により残スケールの模様に
関連した特性値をめ、該特性値の大小関係から残スクー
ルの模様紮＋」別すること葡特徴とするものである。以
下本プ４明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図（、）は本発明の実施例における装置の全体構成
勿２ドず図でりり、第１図（ｂ）は第１図（ａ）の信号
処理回路を除く部分の正面図である。図においてＳは被
検出材でりるストリップ、■心はブライドルロールであ
る。２はストリップＳの被測定面７ｃ照明するためのラ
ンプ−Ｃ１ス） リッツの幅方向に均一な１力るさＶこ
なるように複数１向設置してりる。１ｑよストリップＳ
の走査画像信号ケ得るだめの域子走責型光颯変換器（以
下単にカメラといり）である。本発明において開用する
カメラとしてＶよ、リニヤアレイを用いた固体カメラが
好ましいが、ストリップの速度が遅い場合は撮像管を使
用することができる。このカメラ１は、ランプ２からの
正反射光が入光しない様な配置とし、また外部の反射光
が入らない配置とすることは言う捷でもない。
勿２ドず図でりり、第１図（ｂ）は第１図（ａ）の信号
処理回路を除く部分の正面図である。図においてＳは被
検出材でりるストリップ、■心はブライドルロールであ
る。２はストリップＳの被測定面７ｃ照明するためのラ
ンプ−Ｃ１ス） リッツの幅方向に均一な１力るさＶこ
なるように複数１向設置してりる。１ｑよストリップＳ
の走査画像信号ケ得るだめの域子走責型光颯変換器（以
下単にカメラといり）である。本発明において開用する
カメラとしてＶよ、リニヤアレイを用いた固体カメラが
好ましいが、ストリップの速度が遅い場合は撮像管を使
用することができる。このカメラ１は、ランプ２からの
正反射光が入光しない様な配置とし、また外部の反射光
が入らない配置とすることは言う捷でもない。
３はストリップの側線を鮮明化させるだめの黒色の板で
める。４，５および６は、カメラ１からの走査画像信号
を処理してストリップＳの残スケールの状態を判別し、
これを表示する装置で、４は残スケール模様判別のだめ
の残スケール状態指標を舅−出する回路であり、５は残
スケール状怨指標から残スケール模様を判別する回路で
あり、６は判別した残スケール模＠を表示する懺示器で
ある。
める。４，５および６は、カメラ１からの走査画像信号
を処理してストリップＳの残スケールの状態を判別し、
これを表示する装置で、４は残スケール模様判別のだめ
の残スケール状態指標を舅−出する回路であり、５は残
スケール状怨指標から残スケール模様を判別する回路で
あり、６は判別した残スケール模＠を表示する懺示器で
ある。
第２図（ａ）はカメラ１からの走査画像信号の１例を示
し、第２図（ｂ）はストリップＳの残スケール状態の１
例を示すもので、図中残スケール都ｄ１およびｄ２が信
号（ａ）の波形Ｄ１およびＤ２に対応している。
し、第２図（ｂ）はストリップＳの残スケール状態の１
例を示すもので、図中残スケール都ｄ１およびｄ２が信
号（ａ）の波形Ｄ１およびＤ２に対応している。
第３図（ａ）は第１図（ａ）の残スクール状態指標算出
回路４０回路構成を不すプロ、り図でろる。図において
４１はカメラｌからの走査画像信号にのっている高周波
ノイズを除去するだめのフィルタ回路で、第３図（ｂ）
に示すような出力波形が得られる。
回路４０回路構成を不すプロ、り図でろる。図において
４１はカメラｌからの走査画像信号にのっている高周波
ノイズを除去するだめのフィルタ回路で、第３図（ｂ）
に示すような出力波形が得られる。
４２は積分回路、４３はホールド回路でアシ、第３図（
ｂ）の出力波形を積分処理しホールドして、ストリップ
幅方向の平均的な残スケール状態を衣わす第１の指標（
イ）を得る。４４は第３図（ｂ）の出力波形の変動範囲
すなわち最大値と最小値の範囲Ｐ−Ｐ（第３図（Ｃ）に
示す）を算出する回路であり、この範囲Ｐ −１’をホ
ールド回路４５でホールドし、ストリップ幅方向にみた
残スケールのむらの度合を表わす第２の指１票（ロ）を
倚る。４６は第３図（ｂ）の出力波形の最大値Ｐｍａｘ
（第３図（ｄ）に示す）を算出する回路であり、４７は
該最大値Ｐｍａｘから前記範囲Ｐ−Ｐの減ρ−を灯って
第３図（ｂ）の出力波形の最小値Ｐｒｎ１ｎ （第３図
（ｅ）に示す）を算出する回路であり、この最小値Ｐｍ
１ｎｋホ一ルド回路４８でホールドし、ストリップ幅方
向で残スクールの最も大きかった位置の残スケールの程
反を衣わす第３の指標（ハ）を倚る。これら残スクール
状悪金められす谷指標（イ） 、 （ｏ） 、 （ノリ
を第１図の模椋到別回路５に入力し、つぎに述べる演算
を祇て、残スケール状態を模様（パターン）として判別
する。まず一定時間（カメラｌの走査回数にて２０００
回分程度）内における前記各指標（イ）、（ロ）、（ハ
）を一旦記憶し、該時間内の各指標毎の平均値と変動範
囲をめる。この１例を第４図に示す。
ｂ）の出力波形を積分処理しホールドして、ストリップ
幅方向の平均的な残スケール状態を衣わす第１の指標（
イ）を得る。４４は第３図（ｂ）の出力波形の変動範囲
すなわち最大値と最小値の範囲Ｐ−Ｐ（第３図（Ｃ）に
示す）を算出する回路であり、この範囲Ｐ −１’をホ
ールド回路４５でホールドし、ストリップ幅方向にみた
残スケールのむらの度合を表わす第２の指１票（ロ）を
倚る。４６は第３図（ｂ）の出力波形の最大値Ｐｍａｘ
（第３図（ｄ）に示す）を算出する回路であり、４７は
該最大値Ｐｍａｘから前記範囲Ｐ−Ｐの減ρ−を灯って
第３図（ｂ）の出力波形の最小値Ｐｒｎ１ｎ （第３図
（ｅ）に示す）を算出する回路であり、この最小値Ｐｍ
１ｎｋホ一ルド回路４８でホールドし、ストリップ幅方
向で残スクールの最も大きかった位置の残スケールの程
反を衣わす第３の指標（ハ）を倚る。これら残スクール
状悪金められす谷指標（イ） 、 （ｏ） 、 （ノリ
を第１図の模椋到別回路５に入力し、つぎに述べる演算
を祇て、残スケール状態を模様（パターン）として判別
する。まず一定時間（カメラｌの走査回数にて２０００
回分程度）内における前記各指標（イ）、（ロ）、（ハ
）を一旦記憶し、該時間内の各指標毎の平均値と変動範
囲をめる。この１例を第４図に示す。
第４図は、一定時間Ｔ内における第１の指標の信号パタ
ーンで、（チ）が平均値、（す）が変動範囲である。第
２の指標および第３の指標についても同様にして平均値
と変動範囲がめられるので合わせて６個の値が得られる
。これらの６個の値は残スクール状態を模様として表現
するのに適したものとするだめに第１衣のような変換を
「■っで新しい特性値ＸＩ〜ｘ６を得る。
ーンで、（チ）が平均値、（す）が変動範囲である。第
２の指標および第３の指標についても同様にして平均値
と変動範囲がめられるので合わせて６個の値が得られる
。これらの６個の値は残スクール状態を模様として表現
するのに適したものとするだめに第１衣のような変換を
「■っで新しい特性値ＸＩ〜ｘ６を得る。
第１表
さらにこれらの特性値Ｘｉ〜ｘ６を用い、予め定めた変
換式により残スケール模様を判別するだめの特性値Ｊｌ
アＪ２をめる。
換式により残スケール模様を判別するだめの特性値Ｊｌ
アＪ２をめる。
前記予め定めた変換式とは、多変量解析法における主成
分分析法を用い、無相ＰＡな生成分に要約した式である
。実施例では、輝々の残スケール状態を含んだ２９例の
データについて、各データの特性値ＸＩ””Ｘ６を用い
、主成分分析を行った結果、第ｌ生成分Ｚｌおよび第２
主成分Ｚ２の累積寄与率として９４．５％が得られてお
シ、第１主成分ｚ１はストリップ幅方向の全体的なスケ
ールの残り度合を、第２生成分Ｚ２は、残スケール模イ
＊を王として衣わしている。
分分析法を用い、無相ＰＡな生成分に要約した式である
。実施例では、輝々の残スケール状態を含んだ２９例の
データについて、各データの特性値ＸＩ””Ｘ６を用い
、主成分分析を行った結果、第ｌ生成分Ｚｌおよび第２
主成分Ｚ２の累積寄与率として９４．５％が得られてお
シ、第１主成分ｚ１はストリップ幅方向の全体的なスケ
ールの残り度合を、第２生成分Ｚ２は、残スケール模イ
＊を王として衣わしている。
第５図は、第１主成分Ｚｒと第２主成分Ｚ２を２次元パ
ターンとして衣わしだもので、座標軸を一点鎖線に移動
したとき、残スケールのはとんどないもの（図中○印）
はほは領域Ｉ内に必り、縦じま模様の残スクールのおる
もの（図中の［有］印）はほぼ倶域ｎ内にあり、まだら
模４ホと格子模様の合成 １模４求の残スケールのある
もの（図中の◎および■印）はほぼ領域■内にある。領
域■はごく薄い模様の残スケールのある領域であるが、
前記２９例のデータにはたまたまこの領域での残スケー
ル模様は含まれていなかった。これらのことよシ、第１
主成分Ｚ１と第２主成分ｚ２の値から、残スケールの模
様（前記４つに類別した模様）′ｆ：判別できることが
わかる。第５図の座標変換位置（一点鎖線）についてｚ
ｌ軸の移＠Ｉ量をα＋ ２２軸の移動量をβとして予め
決め、Ｊ１＝Ｚｌ（１＋ Ｊ２ ＝Ｚ２−βｉ７）演ｐ
−ヲはどこす。これら２つの特性値Ｊ＋ 、 Ｊ２の大
小関係によって残スケール模様の判別ができる。
ターンとして衣わしだもので、座標軸を一点鎖線に移動
したとき、残スケールのはとんどないもの（図中○印）
はほは領域Ｉ内に必り、縦じま模様の残スクールのおる
もの（図中の［有］印）はほぼ倶域ｎ内にあり、まだら
模４ホと格子模様の合成 １模４求の残スケールのある
もの（図中の◎および■印）はほぼ領域■内にある。領
域■はごく薄い模様の残スケールのある領域であるが、
前記２９例のデータにはたまたまこの領域での残スケー
ル模様は含まれていなかった。これらのことよシ、第１
主成分Ｚ１と第２主成分ｚ２の値から、残スケールの模
様（前記４つに類別した模様）′ｆ：判別できることが
わかる。第５図の座標変換位置（一点鎖線）についてｚ
ｌ軸の移＠Ｉ量をα＋ ２２軸の移動量をβとして予め
決め、Ｊ１＝Ｚｌ（１＋ Ｊ２ ＝Ｚ２−βｉ７）演ｐ
−ヲはどこす。これら２つの特性値Ｊ＋ 、 Ｊ２の大
小関係によって残スケール模様の判別ができる。
第６図は、以上の演算を行う模様判別回路５の回路構成
を示すブロック図である。図において５１は指標算出回
路４７ノ・らの３つの指標（イ）、（ロ）。
を示すブロック図である。図において５１は指標算出回
路４７ノ・らの３つの指標（イ）、（ロ）。
（ハ）について一定時間内の平均値と変動範囲を昇出し
、これらから前記６個の特・α値ｘ１ ” ｘ６をめる
演算回路である。５２は特性値ｘ１ ””” ｘ６を用
いて前記した主成分Ｚｌおよびｚ２を算出する演算回路
である。５３は判別回路でろり、前記したＪ、ｉ−よび
〈 Ｊ２の演算を行い、その結果Ｊ、 −０およびＪ２≦０
であれば完全デスケーリング状態■と判別し、Ｊｌ＞０
およびＪ２≦０であれは縦じま模様の残スクールし、Ｊ
ｌ≦０およびＪ２〉０であれｔよごく薄いイ莫１求の残
スケール状態■と判別する。
、これらから前記６個の特・α値ｘ１ ” ｘ６をめる
演算回路である。５２は特性値ｘ１ ””” ｘ６を用
いて前記した主成分Ｚｌおよびｚ２を算出する演算回路
である。５３は判別回路でろり、前記したＪ、ｉ−よび
〈 Ｊ２の演算を行い、その結果Ｊ、 −０およびＪ２≦０
であれば完全デスケーリング状態■と判別し、Ｊｌ＞０
およびＪ２≦０であれは縦じま模様の残スクールし、Ｊ
ｌ≦０およびＪ２〉０であれｔよごく薄いイ莫１求の残
スケール状態■と判別する。
第７図は、指標典出回路４で奔出した残スケール状態の
第ｌの指標および模様判別回路５で判別した残スクール
状態の模様■〜■を表示する表示器６の構成を示す図で
、６１はストリップ輻方向の平均的な残スクール状態を
秋わす第ｌの指標について、完全デスク−リング状態を
１０、完全残スケール状態全Ｏとする１０個並列の壮示
灯でめる。６２は残スケール状態の模４求を衣わ丁次示
灯で６２−１が模様■、６２−２が模様■、６２−３が
模様（ｌｉＪ）、６２−４が模様■にそれてれ・１目当
する。
第ｌの指標および模様判別回路５で判別した残スクール
状態の模様■〜■を表示する表示器６の構成を示す図で
、６１はストリップ輻方向の平均的な残スクール状態を
秋わす第ｌの指標について、完全デスク−リング状態を
１０、完全残スケール状態全Ｏとする１０個並列の壮示
灯でめる。６２は残スケール状態の模４求を衣わ丁次示
灯で６２−１が模様■、６２−２が模様■、６２−３が
模様（ｌｉＪ）、６２−４が模様■にそれてれ・１目当
する。
作業者は、秋示灯６１および６２の点灯内容によってス
トリップのデスケーリング状況全診断し、デスケーリン
グ装置に対して必景な処ｉＬ′８ｉｌ−とることができ
る。
トリップのデスケーリング状況全診断し、デスケーリン
グ装置に対して必景な処ｉＬ′８ｉｌ−とることができ
る。
発明の効果
以上述べたごとく本発明によれは、銅ストリップのデス
ケーリングプロセスにおけるストリップ衣面の残スケー
ル状態ｒ１プロセスを停止させることなく、また作業者
の主観による誤差もなく連続的に検出することができ、
デスケーリング品質の向上、プロセスラインの操業の女
ンピ、生産性の向上、コストの引下けなどに大きく貢献
する。
ケーリングプロセスにおけるストリップ衣面の残スケー
ル状態ｒ１プロセスを停止させることなく、また作業者
の主観による誤差もなく連続的に検出することができ、
デスケーリング品質の向上、プロセスラインの操業の女
ンピ、生産性の向上、コストの引下けなどに大きく貢献
する。
第１図（ａ） 、 （ｂ）は本発明の夾流例における装
置の全体構成を示す図、第２図（ａ）は疋食画像伯号の
１例を示す図、８１！２図（ｂ）はス） ｌ）ツブの残
シスケール状態を示す説明図、第３図（ａ）は第１１り
１の残スケール状態指標昇出回路の構成をポす図、第３
図（ｂ）〜（、）は第３図（ａ）の回路でめる指標を読
切するだめの図、第４図は残スク〜ル状態を狐わず指・
隙の１つについて一定時間の信号肚過の例を示す図、第
５図は主成分分析結果の１例を２次元パターンで表わし
た図、第６図は残スケール模様判別回路の構成を示すフ
ロック図、第７図は残スケール模・１永利別精果を表示
する衣示器の構成を示す説明図である。 １；光電俊換器電子走食型、Ｓ；鍋ストリップ１４；残
スケール状）ル指イ票算出回路、５；残スケール模様刊
別回路、６；表示梅。 出願人 耕日木製賊体式会社 代理人９Ｐ理士 ぜ 柳 稔 第ｉト１ ２ ？ １２２ 第２図 （ｄ）（ｂ） 第４図 ７（ 第３図 （ｄ）（ｅ） 第５図
置の全体構成を示す図、第２図（ａ）は疋食画像伯号の
１例を示す図、８１！２図（ｂ）はス） ｌ）ツブの残
シスケール状態を示す説明図、第３図（ａ）は第１１り
１の残スケール状態指標昇出回路の構成をポす図、第３
図（ｂ）〜（、）は第３図（ａ）の回路でめる指標を読
切するだめの図、第４図は残スク〜ル状態を狐わず指・
隙の１つについて一定時間の信号肚過の例を示す図、第
５図は主成分分析結果の１例を２次元パターンで表わし
た図、第６図は残スケール模様判別回路の構成を示すフ
ロック図、第７図は残スケール模・１永利別精果を表示
する衣示器の構成を示す説明図である。 １；光電俊換器電子走食型、Ｓ；鍋ストリップ１４；残
スケール状）ル指イ票算出回路、５；残スケール模様刊
別回路、６；表示梅。 出願人 耕日木製賊体式会社 代理人９Ｐ理士 ぜ 柳 稔 第ｉト１ ２ ？ １２２ 第２図 （ｄ）（ｂ） 第４図 ７（ 第３図 （ｄ）（ｅ） 第５図
Claims (1)
- 鋼ストリップのデスケーリングプロセスにおいて、電子
走ｆ型光電変換器によりデスク−リング後のストリップ
の表面を７１１７１幅方向に定食して画像信号を侍、該
画像信号の各走丘画像信号の積分値、変動範囲および最
小値をめ、該３つの値の一定時間内の平均値と変動Ｍ迫
囲をそれヤれめ、これらの値を用いて予め定めた変換式
によ９残スクールの模様に関連した特性値をめ、該特性
値の大小関係から残スケールの構体を判別することを特
徴とする鋼ストリップの残スクール状態判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2460284A JPS60169581A (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2460284A JPS60169581A (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60169581A true JPS60169581A (ja) | 1985-09-03 |
Family
ID=12142697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2460284A Pending JPS60169581A (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60169581A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62124018A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| JPS62124017A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| EP1167577A2 (de) * | 2000-06-30 | 2002-01-02 | SMS Demag AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Zundererkennung auf Oberflächen von metallischem Bandgut, insbesondere von warmgewalztem Stahlband und Edelstahlband |
| CN108883452A (zh) * | 2016-03-18 | 2018-11-23 | Sms集团有限公司 | 用于为工件除去鳞皮的装置和方法 |
-
1984
- 1984-02-13 JP JP2460284A patent/JPS60169581A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62124018A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| JPS62124017A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| EP1167577A2 (de) * | 2000-06-30 | 2002-01-02 | SMS Demag AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Zundererkennung auf Oberflächen von metallischem Bandgut, insbesondere von warmgewalztem Stahlband und Edelstahlband |
| EP1167577A3 (de) * | 2000-06-30 | 2003-07-23 | SMS Demag AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Zundererkennung auf Oberflächen von metallischem Bandgut, insbesondere von warmgewalztem Stahlband und Edelstahlband |
| CN108883452A (zh) * | 2016-03-18 | 2018-11-23 | Sms集团有限公司 | 用于为工件除去鳞皮的装置和方法 |
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