JPS62294946A - 塗面の平滑性測定方法 - Google Patents
塗面の平滑性測定方法Info
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- JPS62294946A JPS62294946A JP13731286A JP13731286A JPS62294946A JP S62294946 A JPS62294946 A JP S62294946A JP 13731286 A JP13731286 A JP 13731286A JP 13731286 A JP13731286 A JP 13731286A JP S62294946 A JPS62294946 A JP S62294946A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は、自動車のポデー等の塗面へ光照射し、その反
射像を基に塗面の粗さを測定する塗面の平滑性測定方法
に関するものである。
射像を基に塗面の粗さを測定する塗面の平滑性測定方法
に関するものである。
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕このよ
うな測定を行う場合、従来縦縞格子を通して光照射し、
その直交方向にフォトダイオードが直線状に配列された
リニヤイメージセンサを用いて反射光を検知し、そのア
ナログ出力信号のセンサに沿ったレベル（振［）分布か
ら塗面の平滑性を評価していた。つまり、人の視覚に頼
るもので、また面内な評価も難しいために、高精度の測
定はできなかった。
うな測定を行う場合、従来縦縞格子を通して光照射し、
その直交方向にフォトダイオードが直線状に配列された
リニヤイメージセンサを用いて反射光を検知し、そのア
ナログ出力信号のセンサに沿ったレベル（振［）分布か
ら塗面の平滑性を評価していた。つまり、人の視覚に頼
るもので、また面内な評価も難しいために、高精度の測
定はできなかった。
よって１本発明は２次元の塗面を高精度に評価可能にす
る冒頭に述べた類の塗面の平滑性測定方法を提供するこ
とを目的とする。
る冒頭に述べた類の塗面の平滑性測定方法を提供するこ
とを目的とする。
〔問題点を解決するための手段と作用〕本発明は、この
目的を達成するために測定すべき範囲の塗面を均一に光
照射し、塗面の凹凸で反射角の変動する反射光を２次元
イメージセンサで撮像し、そのマトリックス状画素の画
像信号を、第１図に示すように、複数段階にレベル弁別
し。
目的を達成するために測定すべき範囲の塗面を均一に光
照射し、塗面の凹凸で反射角の変動する反射光を２次元
イメージセンサで撮像し、そのマトリックス状画素の画
像信号を、第１図に示すように、複数段階にレベル弁別
し。
このレベルデータを統計処理してその分布状態より平滑
性を測定した。
性を測定した。
第２図は、本発明による方法を実施する塗面の平滑性測
定装置を示すもので、１０は塗面撮像装ごであり、遮光
性のケース内に塗面１への入射角を３０°〜６０°程度
にするように光源１１と、集光レン′ ズ１２と、光
むらを解消させる拡散板１３と、投影レンズ１４とが順
に収納されている。さらに１反射角度に対応して、集光
レンズ１５と、イメージセンサとしてのＣＣＤカメラ１
Ｂとが収納されている。これにより、塗面ｌの数センチ
平方の領域が光照射され、その反射像は、マトリックス
状の縦横が数ミリ平方で反射像に対して十分な解像度を
与えるように例えば５１２Ｘ ５１２個の画素を有する
ＣＣＤカメラ１Ｂに入射する。このＣＯＤカメラには１
画像処理装置としてのマイクロコンピュータ２０と、ブ
ラウン管表示装置２１が付属している。
定装置を示すもので、１０は塗面撮像装ごであり、遮光
性のケース内に塗面１への入射角を３０°〜６０°程度
にするように光源１１と、集光レン′ ズ１２と、光
むらを解消させる拡散板１３と、投影レンズ１４とが順
に収納されている。さらに１反射角度に対応して、集光
レンズ１５と、イメージセンサとしてのＣＣＤカメラ１
Ｂとが収納されている。これにより、塗面ｌの数センチ
平方の領域が光照射され、その反射像は、マトリックス
状の縦横が数ミリ平方で反射像に対して十分な解像度を
与えるように例えば５１２Ｘ ５１２個の画素を有する
ＣＣＤカメラ１Ｂに入射する。このＣＯＤカメラには１
画像処理装置としてのマイクロコンピュータ２０と、ブ
ラウン管表示装置２１が付属している。
マイクロコンピュータ２０は、動作手順及びゆず肌レベ
ルを標準偏差を基準にして例えばｌＯ段階にランク付け
するテーブルを格納しているＲＯＭ２０ａと、 ＣＣＤ
カメラ１８のマトリックス状画素に対応するアドレスを
有し、各画素の画像信号のレベルを例えば３２段階に弁
別してＡ／Ｄ変換したレベルデータをストアするＲＡＭ
２０ｂと、これらのメモリと協働して次ぎのような演算
を行うＣＰＵ２０ｃを含んでいる。即ち、各画素の３２
段階のレベルデータをＲＡＭ２０ｂにストアして、これ
らのレベルデータＤＩ、Ｄ、、、Ｄ３・・・Ｏｎを平均
演算し、その平均値訃を算出する。
ルを標準偏差を基準にして例えばｌＯ段階にランク付け
するテーブルを格納しているＲＯＭ２０ａと、 ＣＣＤ
カメラ１８のマトリックス状画素に対応するアドレスを
有し、各画素の画像信号のレベルを例えば３２段階に弁
別してＡ／Ｄ変換したレベルデータをストアするＲＡＭ
２０ｂと、これらのメモリと協働して次ぎのような演算
を行うＣＰＵ２０ｃを含んでいる。即ち、各画素の３２
段階のレベルデータをＲＡＭ２０ｂにストアして、これ
らのレベルデータＤＩ、Ｄ、、、Ｄ３・・・Ｏｎを平均
演算し、その平均値訃を算出する。
次いで、この平均値Ｎｏに対するレベルデータの標準偏
差σ を算出する（ｎニレベルデータの数）、さらに、この演
算結果をＲＯＭ２０ａに格納されたテーブルと参照し、
ゆず肌レベルを判定して表示器２２において対応するラ
ンク１−１０で表示させる。ブラウン管表示装２１２１
は、ＩＩＩＡ）Ｉ２０ｂにストアされている ＣＣＯカ
メラＩＢの画像信号をＤ／Ａ変換して表示する。キーボ
ード２３は動作の始動或は必要な場合ブラウン管表示装
置２１の画像上でワーキングエリア２１ａを設定して、
その領域をマイクロコンピュータ２０へ指示する等を行
う。
差σ を算出する（ｎニレベルデータの数）、さらに、この演
算結果をＲＯＭ２０ａに格納されたテーブルと参照し、
ゆず肌レベルを判定して表示器２２において対応するラ
ンク１−１０で表示させる。ブラウン管表示装２１２１
は、ＩＩＩＡ）Ｉ２０ｂにストアされている ＣＣＯカ
メラＩＢの画像信号をＤ／Ａ変換して表示する。キーボ
ード２３は動作の始動或は必要な場合ブラウン管表示装
置２１の画像上でワーキングエリア２１ａを設定して、
その領域をマイクロコンピュータ２０へ指示する等を行
う。
このように構成された平滑性測定装置の動作を第３図及
び第４図を参照して説明する。
び第４図を参照して説明する。
凹凸波長が１〜５履曹程度であるゆず肌を含む塗面ｌに
おける反射像は、その程度に応じて種々に反射角が変動
して、反射光の輝度がバラ付いた状態でＣＣＤカメラ１
Ｂへ入射する。キーボード２３の操作によりマイクロコ
ンピュータ２０を始動させ、ＣＣＤカメラ１Ｂの５１２
Ｘ ５１２個の画素の変動する画像信号を逐次ディジタ
ル化し、レベルデータとしてＲＡＭ２０ｂの対応するア
ドレスにストアする。このレベルデータは、ゆず肌の度
合に応じて第４図に示すように正規分布になる。ちなみ
に、塗面１が完全に鏡面状の場合は同一レベルになる。
おける反射像は、その程度に応じて種々に反射角が変動
して、反射光の輝度がバラ付いた状態でＣＣＤカメラ１
Ｂへ入射する。キーボード２３の操作によりマイクロコ
ンピュータ２０を始動させ、ＣＣＤカメラ１Ｂの５１２
Ｘ ５１２個の画素の変動する画像信号を逐次ディジタ
ル化し、レベルデータとしてＲＡＭ２０ｂの対応するア
ドレスにストアする。このレベルデータは、ゆず肌の度
合に応じて第４図に示すように正規分布になる。ちなみ
に、塗面１が完全に鏡面状の場合は同一レベルになる。
ブラウン管表示装置２１はゆず肌の度合に応じて輝度の
変化する画像を表示し、必要により測定範囲に応じてワ
ーキングエリア２１ａを設定する０次いで、このエリア
の各レベルデータを平均して平均値Ｎｏを算出する。続
いて、前述の式（１）に従い標準偏差σを算出する。そ
してＲＯＭ２０ａのテーブルと対照させてゆず肌のラン
クを表示器２２に数値表示させる。
変化する画像を表示し、必要により測定範囲に応じてワ
ーキングエリア２１ａを設定する０次いで、このエリア
の各レベルデータを平均して平均値Ｎｏを算出する。続
いて、前述の式（１）に従い標準偏差σを算出する。そ
してＲＯＭ２０ａのテーブルと対照させてゆず肌のラン
クを表示器２２に数値表示させる。
ブラウン管表示装置２１に表示されたゆず肌像は写真記
録することもできる。
録することもできる。
尚、前述の実施例において、レベルデータの演算処理は
標準偏差でなく、他の統計手法によることもできる。測
定条件を安定保持でき、かつ同種の塗面を測定する装置
においては、前述のレベルデータの平均演算は省略して
、固定値に予め設定しておくことも考えられる。
標準偏差でなく、他の統計手法によることもできる。測
定条件を安定保持でき、かつ同種の塗面を測定する装置
においては、前述のレベルデータの平均演算は省略して
、固定値に予め設定しておくことも考えられる。
以上、本発明によれば測定領域が２次元になるのでバラ
ツキが少なく、高精度の定量ができる。
ツキが少なく、高精度の定量ができる。
視覚に近い評価が可能になる０表示面での塗面品質の観
察及び写真記録もできる。
察及び写真記録もできる。
第１図は本発明の詳細な説明するためのフローチャート
、第２図は本発明による方法を実施するための装置の構
成を示す図、第３図は同実施例の動作を説明するフロー
チャート並びに第４図は同実施例の動作を説明する図で
ある。 ｌ・・・塗面、 １１・・・光源、 １Ｂ・・
・ＣＣＯカメラ。
、第２図は本発明による方法を実施するための装置の構
成を示す図、第３図は同実施例の動作を説明するフロー
チャート並びに第４図は同実施例の動作を説明する図で
ある。 ｌ・・・塗面、 １１・・・光源、 １Ｂ・・
・ＣＣＯカメラ。
Claims (1)
- 所定範囲の塗面を光照射し、その反射光を２次元イメー
ジセンサで撮像し、このイメージセンサのマトリックス
状画素の各画像信号のレベルを複数段階に弁別し、これ
らのレベルデータの分布を統計的に処理して前記塗面の
平滑性を判定するようにした塗面の平滑性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61137312A JPH061177B2 (ja) | 1986-06-14 | 1986-06-14 | 塗面の平滑性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61137312A JPH061177B2 (ja) | 1986-06-14 | 1986-06-14 | 塗面の平滑性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62294946A true JPS62294946A (ja) | 1987-12-22 |
| JPH061177B2 JPH061177B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=15195744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61137312A Expired - Lifetime JPH061177B2 (ja) | 1986-06-14 | 1986-06-14 | 塗面の平滑性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061177B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08117656A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-14 | Nissan Motor Co Ltd | 塗装品質解析装置 |
| JPH09262533A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-07 | Nissan Motor Co Ltd | 塗装品質解析装置 |
| JP2000028536A (ja) * | 1998-07-07 | 2000-01-28 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査装置 |
| US6222624B1 (en) | 1997-12-26 | 2001-04-24 | Nidek Co., Ltd. | Defect inspecting apparatus and method |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2492668B1 (en) * | 2011-02-28 | 2013-08-28 | C.R.F. Società Consortile per Azioni | System and method for monitoring painting quality of components, in particular of motor-vehicle bodies |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60183808U (ja) * | 1985-04-16 | 1985-12-06 | 三菱電機株式会社 | 表面検査装置 |
-
1986
- 1986-06-14 JP JP61137312A patent/JPH061177B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60183808U (ja) * | 1985-04-16 | 1985-12-06 | 三菱電機株式会社 | 表面検査装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08117656A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-14 | Nissan Motor Co Ltd | 塗装品質解析装置 |
| JPH09262533A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-07 | Nissan Motor Co Ltd | 塗装品質解析装置 |
| US6222624B1 (en) | 1997-12-26 | 2001-04-24 | Nidek Co., Ltd. | Defect inspecting apparatus and method |
| JP2000028536A (ja) * | 1998-07-07 | 2000-01-28 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH061177B2 (ja) | 1994-01-05 |
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