JPS60169580A - 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 - Google Patents
鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法Info
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- JPS60169580A JPS60169580A JP2413184A JP2413184A JPS60169580A JP S60169580 A JPS60169580 A JP S60169580A JP 2413184 A JP2413184 A JP 2413184A JP 2413184 A JP2413184 A JP 2413184A JP S60169580 A JPS60169580 A JP S60169580A
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- Japan
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- circuit
- signal
- strip
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23G—CLEANING OR DE-GREASING OF METALLIC MATERIAL BY CHEMICAL METHODS OTHER THAN ELECTROLYSIS
- C23G3/00—Apparatus for cleaning or pickling metallic material
- C23G3/02—Apparatus for cleaning or pickling metallic material for cleaning wires, strips, filaments continuously
- C23G3/027—Associated apparatus, e.g. for pretreating or after-treating
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Cleaning And De-Greasing Of Metallic Materials By Chemical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、銅ストリップのデスケーリングプロセスにお
けるス） １７７１表面の残スケール状態の判別方法に
関するものである。
けるス） １７７１表面の残スケール状態の判別方法に
関するものである。
従来技術
鋼ストリップの冷間圧延にあたり、熱１＝１圧延時に生
成されたストリップ表面のスケールを除去するだめに高
圧水で砂鉄をストリップ表面に投射して脱スケールする
、いわゆるメカニカルデスケーリングと称する方法が実
用化されている。このデスケーリングプロセスにおいて
は、デスケーリング品質の向上、プロセスラインの操業
の安定化、運私コストのミニマム化などのためにデスケ
ーリング状態をオンラインで連続的に検出する必要があ
るが、従来はデスケ−２１ノング状魅金把握するのに作
業者かラインを停止させてデスケーリング状態を目視で
観察するか、あるいはカメラで撮影して判定する方法が
行われていた。
成されたストリップ表面のスケールを除去するだめに高
圧水で砂鉄をストリップ表面に投射して脱スケールする
、いわゆるメカニカルデスケーリングと称する方法が実
用化されている。このデスケーリングプロセスにおいて
は、デスケーリング品質の向上、プロセスラインの操業
の安定化、運私コストのミニマム化などのためにデスケ
ーリング状態をオンラインで連続的に検出する必要があ
るが、従来はデスケ−２１ノング状魅金把握するのに作
業者かラインを停止させてデスケーリング状態を目視で
観察するか、あるいはカメラで撮影して判定する方法が
行われていた。
このような従来方法では連続的にデスケーリング状態を
把握することができず、またその判断に作業者の主観が
入る等の欠点があった。上記の点に鑑み、本発明者等は
デスケーリング状態を連続的に検出する方法を開発し、
先に特願昭５８−４４８８０号として特許用ａ した。
把握することができず、またその判断に作業者の主観が
入る等の欠点があった。上記の点に鑑み、本発明者等は
デスケーリング状態を連続的に検出する方法を開発し、
先に特願昭５８−４４８８０号として特許用ａ した。
この先願になるデスケーリング状態検出方法は、電子走
査型光電変換器によりデスケ−リンク後のストリップの
表面をストリップ幅方向に走査して画像信号を得、該画
像信号の各走査画像信号を積分処理することにより幅方
向の平均的な残スケール状態を示す相律を得、各走査画
像４ｇ号の微分処理信号の積分処理およびピーク値検出
処理を行い幅方向の局Ｄｒ的な残スケール分布状態を示
す指標を得るようにしたものである。この方法によれは
ストリップの幅方向にみた残スケール状態をオンライン
で連続的に検出することができる。
査型光電変換器によりデスケ−リンク後のストリップの
表面をストリップ幅方向に走査して画像信号を得、該画
像信号の各走査画像信号を積分処理することにより幅方
向の平均的な残スケール状態を示す相律を得、各走査画
像４ｇ号の微分処理信号の積分処理およびピーク値検出
処理を行い幅方向の局Ｄｒ的な残スケール分布状態を示
す指標を得るようにしたものである。この方法によれは
ストリップの幅方向にみた残スケール状態をオンライン
で連続的に検出することができる。
発明の目的
本発明は、上記画像信号の処理にさらに工夫を加え、ス
トリップの一定面私毎の残スケール状態をパターンとし
て判別する方法を提供することを目的とする。
トリップの一定面私毎の残スケール状態をパターンとし
て判別する方法を提供することを目的とする。
発明の構成作用
このだめの本発明方法は、銅ス） ＩＪツブのデスケー
リングプロセスにおいて、霜、子走査型光″Ｆ、ｌ１．
変換器によりデスケーリング後のストリップの表面をス
トリップの幅方向に走査して祷数個の走を画像信号を得
、該複数個の走査画像信号を加算した信号のピーク値お
よび複数個の走査画像信号のうちの最判の走査画像信号
と残りの走査ｒｉ！Ｉｌ像信号を平均化した信号との差
信号のピーク値をめ、前記加算信号のピーク値と差信号
のピーク値の大／ｈ関係から残スケールの模様判別を行
うことを特徴とするものである。以下本発明を１ｚ１示
の実施例にもとついて詳Ｓ＋ｔ＋にＲｆｆ、明する。
リングプロセスにおいて、霜、子走査型光″Ｆ、ｌ１．
変換器によりデスケーリング後のストリップの表面をス
トリップの幅方向に走査して祷数個の走を画像信号を得
、該複数個の走査画像信号を加算した信号のピーク値お
よび複数個の走査画像信号のうちの最判の走査画像信号
と残りの走査ｒｉ！Ｉｌ像信号を平均化した信号との差
信号のピーク値をめ、前記加算信号のピーク値と差信号
のピーク値の大／ｈ関係から残スケールの模様判別を行
うことを特徴とするものである。以下本発明を１ｚ１示
の実施例にもとついて詳Ｓ＋ｔ＋にＲｆｆ、明する。
第１図（ａ）は本発明の実施例における装置の全体着・
成を示す図であり、第１ν＋ （ｂ） Ｉ″ｉ紀１図（
ａ）の信号処理回路を除く部分の正面図である。図にお
いてＳは被検出材であるストリップ、１ｌｌｊニブライ
ドルロールである。２はストリップＳのａ測定面を期間
するだめのランプで、ストリップの幅方向に均−外部る
さになるように枦数個設置しである。１はストリップＳ
の走査画像信号を得るだめの電子走査型光電変換器（以
下単にカメラという）である。本発明において使用する
カメラとしては、リニヤアレイを用いた固体カメラでも
よく、またストリップの速度が遅い場合は撮像管を使用
することができる。このカメラ１は、ランプ２がらの正
反射光が入らないよう々配置とし、また外部の反射光が
入ら々い配置とするととは霜うまでもない。
成を示す図であり、第１ν＋ （ｂ） Ｉ″ｉ紀１図（
ａ）の信号処理回路を除く部分の正面図である。図にお
いてＳは被検出材であるストリップ、１ｌｌｊニブライ
ドルロールである。２はストリップＳのａ測定面を期間
するだめのランプで、ストリップの幅方向に均−外部る
さになるように枦数個設置しである。１はストリップＳ
の走査画像信号を得るだめの電子走査型光電変換器（以
下単にカメラという）である。本発明において使用する
カメラとしては、リニヤアレイを用いた固体カメラでも
よく、またストリップの速度が遅い場合は撮像管を使用
することができる。このカメラ１は、ランプ２がらの正
反射光が入らないよう々配置とし、また外部の反射光が
入ら々い配置とするととは霜うまでもない。
３はストリップの側縁を鮮明化させるだめの黒色の板で
ある。４．５および６はカメラ１がらの走査画像信号を
処理してストリップＳの残スケールの状態を判別し、こ
れを表示する＠ｆ−で、４は残スケール模様判別のだめ
の残スケール状態を算出する回路であシ、５は残スケー
ル状ｕＬ指初さから残スケール模様を判別する回路であ
シ、６は判別した残スケール模様を表示する表示器であ
る。第２図（ａ）はカメラ１がらの走査画像信号の１例
を示し、第２図（ｂ）はストリップＳの残スケール状態
の１例を示すもので、図中残スケール部ｄ、およびｄ２
が第２図（ａ）の信号波形のくほみＤｌおよびり、に対
応している。第３図は残スクール模様の典型的なパター
ンとそのときの走査画像信号を示す図で、第３図の（イ
）はたてしま模様、（ロ）は格子じま模様、（ハ）は一
様残シである。図中の一点鎖線は、カメラ１でとらえる
視野位置で、（イ）、（ロ）、？ｅの該視野位置での走
査画像信号を第３図のに）、（ホ）、（へ）に示す。本
発明では、第３図に）〜（へ）に示されるような走査画
像信号を処理して残スケール状態の模様を判別する□も
のである。
ある。４．５および６はカメラ１がらの走査画像信号を
処理してストリップＳの残スケールの状態を判別し、こ
れを表示する＠ｆ−で、４は残スケール模様判別のだめ
の残スケール状態を算出する回路であシ、５は残スケー
ル状ｕＬ指初さから残スケール模様を判別する回路であ
シ、６は判別した残スケール模様を表示する表示器であ
る。第２図（ａ）はカメラ１がらの走査画像信号の１例
を示し、第２図（ｂ）はストリップＳの残スケール状態
の１例を示すもので、図中残スケール部ｄ、およびｄ２
が第２図（ａ）の信号波形のくほみＤｌおよびり、に対
応している。第３図は残スクール模様の典型的なパター
ンとそのときの走査画像信号を示す図で、第３図の（イ
）はたてしま模様、（ロ）は格子じま模様、（ハ）は一
様残シである。図中の一点鎖線は、カメラ１でとらえる
視野位置で、（イ）、（ロ）、？ｅの該視野位置での走
査画像信号を第３図のに）、（ホ）、（へ）に示す。本
発明では、第３図に）〜（へ）に示されるような走査画
像信号を処理して残スケール状態の模様を判別する□も
のである。
第４図は、第１図（ａ）の残スケール状態指梶算出回路
４の回路構成を示すブロック図である。図において４１
は遅延回路で、本実施例では、カメラ１からの走査画像
信号をカメラ１の一走査時間分遅延させる機能を持つＢ
ＢＤ回路を採用し、これを１０段用いた。４２は加算回
路で、現走査画像佃号■とそれ以前の走査画像１３号で
ある遅延信号■〜［相］を加算する。４３は積分回路で
■〜［相］の加算信号を積分する。この積分回路４３の
出力は、ス） ＩＪツブ表面の走査研１０本に相当する
部分のストリップ幅方向の平均的な残スケール状態を表
わす指標であシ、このＭ分値をホールド回路４４にてホ
ールドした後、模様判別回路５に出力する。
４の回路構成を示すブロック図である。図において４１
は遅延回路で、本実施例では、カメラ１からの走査画像
信号をカメラ１の一走査時間分遅延させる機能を持つＢ
ＢＤ回路を採用し、これを１０段用いた。４２は加算回
路で、現走査画像佃号■とそれ以前の走査画像１３号で
ある遅延信号■〜［相］を加算する。４３は積分回路で
■〜［相］の加算信号を積分する。この積分回路４３の
出力は、ス） ＩＪツブ表面の走査研１０本に相当する
部分のストリップ幅方向の平均的な残スケール状態を表
わす指標であシ、このＭ分値をホールド回路４４にてホ
ールドした後、模様判別回路５に出力する。
４５はピーク検出回路で、■〜［相］の加算信号のピー
ク値を検出する。このピーク検出回路４５の出力は、前
記ストリップ表面部分のストリップ幅方向における残ス
ケール状態のむらの度合を表わす指標であり、このピー
ク値をホールド回路４６でホールドした後、模様判別回
路５に出力する。４７は平均処理回路で、遅延信号■〜
［相］の重み付き平均を斜、出する。各遅延信号■〜［
相］に対する重みは実験的にめるが、本実施例の場合は
等価とした。
ク値を検出する。このピーク検出回路４５の出力は、前
記ストリップ表面部分のストリップ幅方向における残ス
ケール状態のむらの度合を表わす指標であり、このピー
ク値をホールド回路４６でホールドした後、模様判別回
路５に出力する。４７は平均処理回路で、遅延信号■〜
［相］の重み付き平均を斜、出する。各遅延信号■〜［
相］に対する重みは実験的にめるが、本実施例の場合は
等価とした。
４８は減算回路で、現走査ｉｉｉ＋ｉ像イ包号■とそれ
以前の走査画像信号である遅延信号■〜０の平均処理回
路の差をめる。４９は減ｆ−回路４８の出力である差信
号のピーク１］げを検出するピーク検出回路、５０はホ
ールド回路である。この出力は、残スケールの連続性ま
たは断続性を示す指標となる。
以前の走査画像信号である遅延信号■〜０の平均処理回
路の差をめる。４９は減ｆ−回路４８の出力である差信
号のピーク１］げを検出するピーク検出回路、５０はホ
ールド回路である。この出力は、残スケールの連続性ま
たは断続性を示す指標となる。
これを第５図で説明すると、ストリップの表面の残スケ
ール状態が例えは連続したたてじま模様の場合は、加勢
回路４２の出力信号Ｓｌはたてじまの数に対応したピー
ク波をもち（第５図の（ａ））、減算回路４８の出力信
号Ｓ２は零に近くなる（第５図の（ｂ））。残スケール
状態が格子じま模様のように断続している場合は、加算
回路４２．減９回路４８ともに比斬的大きい値をもつ出
力となる（第５図の（ｃ）と（ｄ））。またス） ＩＪ
ツブ表面に一様にスケールが残っている場合は、加算回
路４２の出力は残スケールの程度に応じた値（ただし実
際面では比較的小さい仙′、第５図の（ｅ））をもち、
減′算回路４８の出力は零に近くなる（第５図の（ｆ）
）。
ール状態が例えは連続したたてじま模様の場合は、加勢
回路４２の出力信号Ｓｌはたてじまの数に対応したピー
ク波をもち（第５図の（ａ））、減算回路４８の出力信
号Ｓ２は零に近くなる（第５図の（ｂ））。残スケール
状態が格子じま模様のように断続している場合は、加算
回路４２．減９回路４８ともに比斬的大きい値をもつ出
力となる（第５図の（ｃ）と（ｄ））。またス） ＩＪ
ツブ表面に一様にスケールが残っている場合は、加算回
路４２の出力は残スケールの程度に応じた値（ただし実
際面では比較的小さい仙′、第５図の（ｅ））をもち、
減′算回路４８の出力は零に近くなる（第５図の（ｆ）
）。
上記のことから、ホールド回路４６の出力とホールド回
路５０の出力の大小の組合わせから、残スケールの俣様
を判別することができる。すなわち、第１表に示すよう
に、ホールド回路４６の出力信第１表 号Ｓ３が犬でホールド回路５０の出力信号Ｓ４が小また
は零のときはたてしま模様と判定し、ホールド回路４６
．５０ともに出力信号が犬のときは格子じま梗杼と判犀
し、ホールド回路４６．５０’ともに出力信号が小また
は零のときは一様なスケール残りと判定する。第１図（
ａ）および第４図の５は上記の論理判断を行う模様判別
回路である。
路５０の出力の大小の組合わせから、残スケールの俣様
を判別することができる。すなわち、第１表に示すよう
に、ホールド回路４６の出力信第１表 号Ｓ３が犬でホールド回路５０の出力信号Ｓ４が小また
は零のときはたてしま模様と判定し、ホールド回路４６
．５０ともに出力信号が犬のときは格子じま梗杼と判犀
し、ホールド回路４６．５０’ともに出力信号が小また
は零のときは一様なスケール残りと判定する。第１図（
ａ）および第４図の５は上記の論理判断を行う模様判別
回路である。
第６図は、ストリップ幅方向の平均的な残スケール状態
を表わす指標（ホールド回路４４の出力）について完全
デスケーリング状態を１０、完全残シスケール状態を０
とする１０個並列の表示灯６１およびだてじま模様表示
灯６２、格子じ″８１：模様表示灯６３、一様残り表示
灯６４からなる表示器６の構成を示す図である。作業者
は、表示灯６１および６２〜６４の点灯内容によってス
トリップのデスケーリング状況を診断し、デスケーリン
グ装部に対して必要な処置をとることができる。
を表わす指標（ホールド回路４４の出力）について完全
デスケーリング状態を１０、完全残シスケール状態を０
とする１０個並列の表示灯６１およびだてじま模様表示
灯６２、格子じ″８１：模様表示灯６３、一様残り表示
灯６４からなる表示器６の構成を示す図である。作業者
は、表示灯６１および６２〜６４の点灯内容によってス
トリップのデスケーリング状況を診断し、デスケーリン
グ装部に対して必要な処置をとることができる。
々お、以上の実施例の説、明では、カメラ１として一次
元画像信号を得るリニヤアレイを用いた固体カメラを使
用した例について説明したが、カメラｌとしてはエリア
アレイを用いた固体カメラを使用することもできる。エ
リアアレイを用いた固体カメラの場合は、同時に複数個
の走査画像信号が得られるので信号処理回路としては第
４図に示した遅延回路は不要となる。
元画像信号を得るリニヤアレイを用いた固体カメラを使
用した例について説明したが、カメラｌとしてはエリア
アレイを用いた固体カメラを使用することもできる。エ
リアアレイを用いた固体カメラの場合は、同時に複数個
の走査画像信号が得られるので信号処理回路としては第
４図に示した遅延回路は不要となる。
発明の効果
以上述べたごとく本発明によれは、銅ストリップのデス
ケーリングプロセスにおけるストリップ表面の残スケー
ル状態を、プロセスを停止することなく、１だ作業者の
生仲１による誤差もなく連続的に検出することかでき、
デスク−リング品質の向上、プロセスラインの操業の安
定、生産性の向上。
ケーリングプロセスにおけるストリップ表面の残スケー
ル状態を、プロセスを停止することなく、１だ作業者の
生仲１による誤差もなく連続的に検出することかでき、
デスク−リング品質の向上、プロセスラインの操業の安
定、生産性の向上。
コストの引下けなどに太きく貢献する。
＆４１区１ （ａ） 、 （ｂ）は、本発明の実）７Ｉ
Ｑ例におりる装置の全体構成を示す図、第２し１（ａ）
は走査画１を信号のケール状η（・の桟付、とこれに交
」応する走査１１１ｉ像イト号の波形の例を丞す図、第
４図は第１図の指標ｑ出回路の回路構成を示すブロック
図、第５図は第４図の回路の出力信号のｆ・１」を示す
図、第６し１は第１図の表示器の構成を示す説明図であ
る。 に電子定査型光電変換器 Ｓ：金・伺ストリップ４：残
スケール状態指標算出回路 ５：残スケール模様判別回路 ６：表示器 出願人 新日本製鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第１図 （ｂ）
Ｑ例におりる装置の全体構成を示す図、第２し１（ａ）
は走査画１を信号のケール状η（・の桟付、とこれに交
」応する走査１１１ｉ像イト号の波形の例を丞す図、第
４図は第１図の指標ｑ出回路の回路構成を示すブロック
図、第５図は第４図の回路の出力信号のｆ・１」を示す
図、第６し１は第１図の表示器の構成を示す説明図であ
る。 に電子定査型光電変換器 Ｓ：金・伺ストリップ４：残
スケール状態指標算出回路 ５：残スケール模様判別回路 ６：表示器 出願人 新日本製鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 第１図 （ｂ）
Claims (1)
- 鋼ストリップのデスケーリングプロセスにおいて、電子
走査型光電変換器によシブスケーリング後のス） ＩＪ
ツブの表面をストリップの幅方向に走査して複数個の走
査画像信号を得、該複数個の走査画像信号を加算した信
号のピーク値および複数個の走査画像信号のうちの最新
の走査画像信号と残シの走査画像信号を平均化した信号
との差信号のピーク値をめ、前記加算信号のピーク仙と
差信号のピーク値の大小関係から残スケールの模様判別
を行うことを特徴とする鋼ストリップの残スケール状態
判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2413184A JPS60169580A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2413184A JPS60169580A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60169580A true JPS60169580A (ja) | 1985-09-03 |
Family
ID=12129753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2413184A Pending JPS60169580A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 鋼ストリツプの残スケ−ル状態判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60169580A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62124018A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| JPS62124017A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| EP1167577A2 (de) * | 2000-06-30 | 2002-01-02 | SMS Demag AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Zundererkennung auf Oberflächen von metallischem Bandgut, insbesondere von warmgewalztem Stahlband und Edelstahlband |
| GB2514599A (en) * | 2013-05-30 | 2014-12-03 | Siemens Vai Metals Tech Gmbh | Adjustable descaler |
-
1984
- 1984-02-10 JP JP2413184A patent/JPS60169580A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62124018A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| JPS62124017A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Nippon Steel Corp | 熱延鋼板の脱スケ−ル方法 |
| EP1167577A2 (de) * | 2000-06-30 | 2002-01-02 | SMS Demag AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Zundererkennung auf Oberflächen von metallischem Bandgut, insbesondere von warmgewalztem Stahlband und Edelstahlband |
| JP2002082061A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-03-22 | Sms Demag Ag | 金属ストリップ材、特に熱間圧延された鋼ストリップ及び高級鋼の表面上の自動的スケール検出のための方法及び装置 |
| EP1167577A3 (de) * | 2000-06-30 | 2003-07-23 | SMS Demag AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Zundererkennung auf Oberflächen von metallischem Bandgut, insbesondere von warmgewalztem Stahlband und Edelstahlband |
| GB2514599A (en) * | 2013-05-30 | 2014-12-03 | Siemens Vai Metals Tech Gmbh | Adjustable descaler |
| GB2514599B (en) * | 2013-05-30 | 2015-07-08 | Siemens Vai Metals Tech Gmbh | Adjustable descaler |
| JP2016522087A (ja) * | 2013-05-30 | 2016-07-28 | プライメタルズ・テクノロジーズ・オーストリア・ゲーエムベーハー | 調節可能なデスケーラ |
| US10449584B2 (en) | 2013-05-30 | 2019-10-22 | Primetals Technologies Austria GmbH | Adjustable descaler |
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