JPH05143717A - 地合計測方法 - Google Patents

地合計測方法

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JPH05143717A
JPH05143717A JP3287880A JP28788091A JPH05143717A JP H05143717 A JPH05143717 A JP H05143717A JP 3287880 A JP3287880 A JP 3287880A JP 28788091 A JP28788091 A JP 28788091A JP H05143717 A JPH05143717 A JP H05143717A
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JP
Japan
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image
formation
density difference
paper
sum
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Withdrawn
Application number
JP3287880A
Other languages
English (en)
Inventor
Makio Hasuike
牧雄 蓮池
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 地合濃度差の検出に基づく処理によって、粒
状地合の判定に極めて有力な地合係数が得られる地合計
測方法を提供することを目的とする。 【構成】 静止あるいは走行中の所定面積を有する紙1
に光量可変の平行光源2より光を投射し、その透過光を
カメラ3に入射する。カメラ3により得た画像信号を画
像処理用演算装置5に送出する。この画像処理用演算装
置5は、カメラ3により撮影した画像信号を処理し、表
示装置6に透過光画像9を表示する。この際、画像処理
用演算装置5は、所定面積の紙を透過した光の画像を、
最初にx,y方向の差分フィルタリング処理を行なって
隣接画素の濃度差の2乗和を求め、次にx,y方向の2
乗和の和の平方根を求めて濃度差分量とし、同差分量の
頻度分布の平均値を求めて地合指数とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、画像処理用演算装置
を用いた地合計測方法及び地合欠陥検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の画像処理用演算装置を用いた地合
計測方法は、紙を透過した光の濃度分布を検出して、濃
度の平均値と分散を算出し、変動係数を地合指数とする
ことを特徴としている。その他、透過光変動を周波数分
析処理を行なって特定の波長域の変動係数を算出し、そ
れを地合指数とする方法も実施されている。さらに、紙
の地合の欠陥は、地合計による上記地合指数の異常値や
目視判定によって検出されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の紙の透過光濃度
の変動係数を地合指数としたとき、地合テクスチャが類
似する紙の地合の目視判定による良否の判定結果と良く
対応するが、地合テクスチャが異なる、例えば粒状であ
るものと雲状であるものを比較したとき、地合指数と目
視判定結果と必ずしも対応しない。これは、地合の目視
判定結果が、地合濃淡のコントラストに大きく影響され
ることによる。
【0004】粒状地合の特徴をもつ紙、例えばストリー
ク地合の特徴を有する紙では、使用環境が多湿である場
合、波打ち等の変形を生じ、また、さめ肌地合の特徴を
有する紙では、その後の塗工時に塗工膜厚むら、印刷時
に印刷網点濃度むらが発生し易いため地合として最も嫌
われる。
【0005】また、地合計による地合指数の異常値は、
極端に悪い地合の検出には有効であるが、地合に上述し
たさめ肌、ストリーク等の特徴が現れた場合、地合指数
はほぼ正常値に近く、このような地合パターンの特徴上
の欠陥の検出には不向きである。これは地合指数が地合
濃度変動の大きさの尺度であり、地合濃淡パターンの幾
何学的特徴に対する情報を含んでいないことによる。
【0006】この発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、地合濃度差の検出に基づく処理によって、粒状地合
の判定に極めて有力な地合係数を得る地合計測方法と、
さらに地合濃度差の角度分布を検出し、ストリーク地
合、さめ肌地合等の検出が可能な地合欠陥検出方法を提
供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】(1)この発明に係る地
合計測方法は、光量可変の平行光源より発せられ、所定
面積の紙を透過した光による映像をカメラでとらえて画
像処理用演算装置の表示装置に透過光画像として映し出
すと共に、当該表示装置に映し出された画像の隣接画素
の濃度差を検出し、濃度差の平均値を算出して、それを
地合指数とする。
【0008】(2)この発明に係る地合欠陥検出方法
は、光量可変の平行光源より発せられ、所定面積の紙を
透過した光による映像をカメラでとらえて画像処理用演
算装置の表示装置に透過光画像として映し出すと共に、
当該表示装置に映し出された画像の隣接画素の濃度差を
検出し、上記隣接画素の濃度差から濃度差方向を求め、
この濃度差方向と上記濃度差分量から所定の角度におけ
る累積濃度差分量を求め、この累積濃度差分量のレベル
の角度分布に基づいて地合の欠陥及びこの欠陥の特徴を
検出する。
【0009】
【作用】(1)の地合計測方法では、地合濃度差の平均
値は地合の局所的な変動の大きさ(地合濃淡のコントラ
スト)を表わすため、計測領域全体の地合濃淡の平均レ
ベルからの偏差の程度を示す地合濃度の変動係数より地
合濃淡が急激に変る粒状地合や地合濃度がゆるやかに変
る雲状地合の特徴に依存する地合指数が計測される。
【0010】(2)の地合欠陥検出方法では、地合濃度
差の各方向角における累積濃度差分量が、地合の幾何学
的パターンに特異性がない場合には、一様な分布を示す
が、ストリーク状の地合では抄紙機ワイヤ走行方向に近
い角度でレベルが高い分布となり、さめ肌地合では特定
の角度で極大をもつ分布となるため、累積濃度差分量の
全角度平均をもとに、しきい値を決定して、それより高
いレベルとなる角度がある場合に地合欠陥の存在するこ
とを、またその場合の角度からストリーク地合、さめ肌
地合を判定する。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例を説
明する。 (第1実施例)
【0012】図1は、この発明に係る地合計測方法の構
成図である。同図に示すように静止あるいは走行中の所
定面積を有する紙1に光量可変の平行光源2より光を投
射し、その透過光をカメラ3に入射する。カメラ3によ
り得た画像信号をケーブル4を介して画像処理用演算装
置5に送出する。この画像処理用演算装置5は、カメラ
3により撮影した画像信号を処理し、表示装置6に透過
光画像9を表示する。また一方、カメラ3から出力され
る画素信号は、ケーブル8を介してモニターテレビ7に
送られて透過光画像10として表示される。
【0013】次に上記第1実施例の動作を図2のフロー
チャートに従って説明する。平行光源2から発せられる
光は静止あるいは走行中の紙1に投射され、その透過光
がカメラ3に入射する。カメラ3は、紙1の透過光を撮
影し、その画像をケーブル4を介して画像処理用演算装
置5へ出力する(ステップA1 )。この画像処理用演算
装置5は、カメラ3からの画像信号を処理し、表示装置
6に透過光画像9を映し出す。
【0014】この際、画像処理用演算装置5は、必要が
あればシェーディング補正(光源ムラの補正)を施して
地合測定用画像とする(図3の(イ)に相当する)。図
3(イ)の画像WをX方向及びY方向の差分フィルタリ
ング処理を実施して、それぞれ図3(ロ)の画像(δW
/δx)及び(ハ)の画像(δW/δy)を求める(ス
テップA2 ,A4 )。
【0015】その後、(ロ)の平方画像(δW/δx)
2 及び(ハ)の平方画像(δW/δy)2 を求め(ステ
ップA3 ,A5 )、両者の和の画像(ヘ)を求める(ス
テップA6 )。更に、この(ヘ)の画像の1/2乗画像
を求め(ステップA7 )、(ト)の画像((δW/δ
x)2 +(δW/δy)2 1/2 を導く(ステップA
8)。この(ト)の画像が紙の透過光濃度差の空間分布
を示す画像であり、この画像が濃度分布を求めると
(チ)の画像即ち濃度差分量の頻度分布が得られ、その
平均値から地合指数が得られる(ステップA9 )。目視
判定による粒状度得点と、この発明の地合計測法で求め
た透過光平均差分量は図4にみられるように高い相関性
がある。 (第2実施例)次にこの発明に係る第2実施例を説明す
る。この第2実施例は上述した第1実施例と同様の構成
を有する。
【0016】この実施例の動作を図5のフローチャート
に従って説明する。平行光源2から発せられる光は静止
あるいは走行中の紙1に投射され、その透過光がカメラ
3に入射する。カメラ3は、紙1の透過光を撮影し、そ
の画像をケーブル4を介して画像処理用演算装置5へ出
力する(ステップB1 )。この画像処理用演算装置5
は、カメラ3からの画像信号を処理し、表示装置6に透
過光画像9を映し出す。
【0017】この際、画像処理用演算装置5は、必要が
あればシェーディング補正(光源ムラの補正)を施して
地合測定用画像とする(図6の(イ)に相当する)。図
6(イ)の画像WをX方向及びY方向の差分フィルタリ
ング処理を実施して、それぞれ図6(ロ)の画像(δW
/δx)及び(ハ)の画像(δW/δy)を求める(ス
テップB2 ,B4 )。
【0018】その後、(ロ)の平方画像(δW/δx)
2 及び(ハ)の平方画像(δW/δy)2 を求め(ステ
ップB3 ,B5 )、両者の和の画像(ヘ)を求める(ス
テップB6 )。更に、この(ヘ)の画像の1/2乗画像
を求め、(ト)の濃度差分量画像I((δW/δx)2
+(δW/δy)2 1/2 を導く(ステップB7 )。
【0019】次に(ハ)のY方向差分画像(δW/δ
y)を(ロ)のX方向差分画像(δW/δx)で除した
画像(リ)の逆正接変換を実施して(ヌ)の画像θ(t
an-1((δW/δy)/(δW/δx)))を導く
(ステップB8 ,B9 )。その結果(ト)の画像Iと
(ヌ)の画像θによって、地合画像Wの各画素に対して
濃度差分量iと濃度差方向角θが定まり、濃度差方向角
θに対応する濃度差分量iを累積して、累積濃度差分量
f(θ)、
【0020】
【数1】 を求めて、累積濃度差分量の角度分布(ル)が得られる
(ステップB10,B11)。
【0021】さらに、累積濃度差分量の全角度平均を求
め、平均値より10〜15%高いしきい値を設定する
(ステップB12,B13)。このしきい値より高いレベル
の角度がある場合、地合の欠陥があるものと判定(ステ
ップB14,B15)、その角度が抄紙機ワイヤ走行方向に
近い角度である場合はストリーク地合、ワイヤ走行方向
と垂直方向に近い角度である場合にはさめ肌地合と判断
し(ステップB17)、その種変を極大ピークレベルを平
均レベルで除した量で表示する。ステップB15にて、地
合欠陥なしと判断された場合は、平均濃度差分量が表示
される(ステップB16)。
【0022】同実施例において、図7(a)のテスト画
像を処理した結果、同図(b)の累積濃度差分量角度分
布が得られ、地合の幾何学的パターンの特徴を的確に検
出することが可能となった。さらに、透過光取り込み時
に、個々の繊維が識別可能なカメラ等の装置を使用する
ことにより、繊維配向を判定することができる。
【0023】
【発明の効果】以上詳記したようにこの発明によれば、
所定面積の紙を透過した光の画像を、最初にx,y方向
の差分フィルタリング処理を行なって隣接画素の濃度差
の2乗和を求め、次にx,y方向の2乗和の和の平方根
を求めて濃度差分量とし、同差分量の頻度分布の平均値
を求めて地合指数とするようにしたので、粒状地合の判
定に極めて有力な地合係数を得ることができる。さら
に、地合濃度差の角度分布を検出し、地合の欠陥を検査
することにより、ストリーク地合、さめ肌地合の検出が
可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例に係る地合計測方法の機器
構成図。
【図2】同機器構成における第1実施例の動作を示すフ
ローチャート。
【図3】同実施例における画像処理説明図。
【図4】同実施例における目視粒状度得点と透過光平均
差分量の相関図。
【図5】図1に示される機器構成における第2実施例の
動作を示すフローチャート。
【図6】同実施例における画像処理説明図。
【図7】同実施例におけるテスト画像及びこのテスト画
像からの累積濃度差分量角度分布。
【符号の説明】
1…紙、2…平行光源、3…カメラ、5…画像処理用演
算装置、6…表示装置、7…モニターテレビ、9,10
…透過光画像。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 7/18 C 8626−5C

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定面積の紙を透過した光の画像を、最
    初にx,y方向の差分フィルタリング処理を行なって隣
    接画素の濃度差の2乗和を求め、次にx,y方向の2乗
    和の和の平方根を求めて濃度差分量とし、同差分量の頻
    度分布の平均値を求めて地合指数とすることを特徴とす
    る地合計測方法。
  2. 【請求項2】 所定面積の紙を透過した光の画像を、最
    初にx,y方向の差分フィルタリング処理を行なって隣
    接画素の濃度差の2乗和を求め、次にx,y方向の2乗
    和の和の平方根を求めて濃度差分量とし、また、上記
    x,y方向の差分フィルタリング処理による隣接画素の
    濃度差から濃度差方向を求め、この濃度差方向と上記濃
    度差分量から所定の角度における累積濃度差分量を求
    め、この累積濃度差分量のレベルの角度分布に基づいて
    地合の欠陥及びこの欠陥の特徴を検出することを特徴と
    する地合欠陥検出方法。
JP3287880A 1991-09-25 1991-11-01 地合計測方法 Withdrawn JPH05143717A (ja)

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JP3287880A JPH05143717A (ja) 1991-09-25 1991-11-01 地合計測方法

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JP3-245769 1991-09-25
JP24576991 1991-09-25
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008537142A (ja) * 2005-04-21 2008-09-11 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド 移動中のウェブの繊維配向を測定する方法および装置
US7487685B2 (en) 2005-09-01 2009-02-10 Kabushiki Kaisha Strain measurement method and device
JP2012103225A (ja) * 2010-11-15 2012-05-31 Ricoh Co Ltd 検査装置、検査方法、検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体
CN103562711A (zh) * 2011-03-10 2014-02-05 美德客科技有限公司 改善图像清晰度的目视检查装置
CN109191433A (zh) * 2018-07-31 2019-01-11 华南理工大学 柔性IC基板覆铜表面粗糙度Ra的显微成像检测方法

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Effective date: 19990204