JPS60169182A - 半導体レ−ザ保護方式 - Google Patents

半導体レ−ザ保護方式

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JPS60169182A
JPS60169182A JP2409284A JP2409284A JPS60169182A JP S60169182 A JPS60169182 A JP S60169182A JP 2409284 A JP2409284 A JP 2409284A JP 2409284 A JP2409284 A JP 2409284A JP S60169182 A JPS60169182 A JP S60169182A
Authority
JP
Japan
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semiconductor laser
counter
output
comparator
laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP2409284A
Other languages
English (en)
Inventor
Isamu Shibata
柴田 勇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2409284A priority Critical patent/JPS60169182A/ja
Publication of JPS60169182A publication Critical patent/JPS60169182A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/06825Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Combination Of More Than One Step In Electrophotography (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は半導体レーザ出力制御装置におけろ半導体レー
ザ保護方式に関する。
(従来技術) 半導体レーザの光出力は温度に対し゛C非常に不安定で
ある為、半導体レーザの周囲温度が変化する環境下では
何らかの手段により半導体レーザの光出力を安定化する
必要がある。レーザプリンタの光源として使われている
半導体レーザのit小出力制御する装置にはカウンタを
用いる方式がある。
牙1図はこの方式ケ採用したレーザブリックの一例を示
す。
この例では半導体レーザ1より発生したレーザビームは
コリメータレンズ2Vcよりコリメートされて回転多面
鏡6で偏向され、fθ し/ズ4により感光体ドラム5
の帯電された表面に結像されてその結1象スポットが回
転多面鏡6の回転で矢印X方向に反復して移動すると同
時に感光体ドラム5が回転する。光検出器6は清報書込
み領域外に設けられ、回転多面鏡6で偏向されたレーザ
ビームを検出して同期信号を発生する。信号処理回路7
は情報信号な半導体レーザ駆動回路a VC印加するが
、そのタイミングを光検出器6かもの同期信号により制
御する。半導体レーザ枢動回路8は信号処理回路7から
の情報信号に応じて半導体レーザ1を駆動し、したがっ
て情報信号で変調されたレーザビームが感光体ドラム5
に照射されて静電潜1オが形成される。この静電潜1砂
は現1象器で現像されて転写器で紙等に転写される。ま
た半導体レーザ1かも後方に出射されるレーザビームは
光検出器9Vc入射してその光強度が検出され、制御回
路1U が光検出器9の出力信号に応じて半導体レーザ
駆動回路8を制御して半導体レーザ1の出力光量を一定
に制御する。
牙2図は上記半導体レーザ駆動回路8及び制御回路1U
を詳細に示す。
半導体レーザ1から後方に出射されたレーザビームはフ
ォトダイオードよ・りなる光検出器9に入射し、フォト
ダイオード9はそのレーザビームの強度に比例した電流
を出力する。この電流は増幅器11により電圧に変換さ
れ、比較器12で基準電圧Vref と比較される。比
較器12の出力電圧は比較器120両入力電圧の大小関
係により高レベル又は低レベルとなりアップダウ/カラ
/り16のカウントモードを制御する。例えば半導体レ
ー′+11からのレーザビームの強度が基準値より弱い
時には比較器12の出力が低レベルになり、アップダウ
/カウンタ16はアノプカウノタとして動作する状態と
なる。タイミング信号T、[よりエツジ検出回路14 
がアップダウンカウンタ16へのイネーブル信号を解除
すると、アップダウ/カウンタ13は発振器15かもの
クロック信号によりその計数値が増加して行く。このア
ップダウ/カラ/り13の計数出力はデジタル/アナロ
グ変換器16でアナログ量に変換されて半導体レーザ駆
動回路8に入力される。
半導体レーザ駆動回路8は信号処理回路7かもの情報1
ら号により半導体レーザ1を駆動するか、その駆動電流
をデジタル/アナログ変換器16の出力に応じて変化さ
せる。したがってアップダウ/カウンタ16の計数値が
徐々に増加することにより半導体レーザ1からのレーザ
ビームの強度が徐々に増加し、増幅器11の出力を増加
する。そして比較器12の出力が低レベルから高レベル
に反転すると、エツジ検出回路14が比較器12の出力
の立上りエンジを検出してアップダウ/カラ/り13V
cイネ一ブルイ1号を加える。よってアップダウ/カウ
ンタ16はイネーブル状態になってその計数値を保持し
、従って半導体レーザ1の駆動電流の大きさがそのまま
保持される。次にタイミング信号T1Vcよりエツジ検
出回路14がアップダウ/カラ/り16のイネーブル状
態を解除すると、比較器12の出力が高レベルであれば
(半導体レーザの出力強度が強ければ)アップダウ7カ
ウンタ16はダウ7カウ/りとして動作し発振器15か
らのり0.7り1ぎ号により計数値が減少して行く。よ
ってデジタル/アナログ変換器16の出力が減少して半
導体レーザ1の駆動電流が減少し、増幅器11の出力が
減少する。そして増幅器11の出力が基準電圧Vref
 より小さくなって比較器12の出力が高レベルから低
レベルに反転すると、エツジ検出回路14は比較器12
の出力の立下り工7ノジを検出してアップダウ7カウン
ク16 をイネーブル状態にする。したがってアップダ
ウ/カラ/り16が計数値な保持することになり、半導
体レーザ1の駆動電流の大きさがそのまま保持される。
この場合エツジ検出回路14はタイミング信号T1 に
よりアップダウ/カウンタ16のイネーブル状態を解除
して比較器12の出力が低レベルから高レベルに反転し
た時にのみアップダウ/カラ/り13なイネーブル状態
にするように構成しておけば比較器12の出力が低レベ
ルでタイミング信号Tj vcよりアップダウ/カラ/
り16のイネーブル状態か解除されている時に比較器1
2の出力か低レベルから高レベルに反転すると、アップ
ダウ/カウンタ13はイネーブル状態になって計数値る
′保持する。比較器12の出力か高レベルでタイミング
(、i″号T1 によりアップダウ/カウンタ16のイ
ネーブル状態が解除されている時に比較器12の出力が
高レベルから低レベルになると、アップダウ/カラ/り
13はイネーブル状態が解除されたままで比較器12の
出力によりアノプカウノタとして回1作することになる
。そして半導体レーザ1の駆動型jJ]1・。
が増加し比較器12の出力が高レベルから低レベルに反
転すると、エツジ検出回路14がその立下りエツジを杉
・j出してアップダウ7カウ/り13?イネーブル状態
にしその計数値な保持させる。ここに半導体レーザ駆動
回路8.増幅器11及び比較器12を含む回路1Zは±
12 Vが矛1の直流電源より印加され、アノプダウノ
カウノタ16.エツジ検出回路14゜発振器15及びデ
ジタル/アナログ変換器16は+5Vが牙2の直流電源
より印加される。また半導体レーザが使用されるレーザ
プリ/り等では環境温間の変化がゆるやかであり半導体
レーザとその取付金具の熱容量の影響で半導体レーザの
出力変動は短時間では無視できる。このため上記クイミ
/グIij号T+ に例えばレーザプリンタの記録開始
毎のグリ/トスタート信号又は′酸源投入時のパワーオ
/リセット信号を用いることにより半導体レーザの出力
変動を少なく押えて高品知の記録向1! &得ることが
できる。またレーザを使用した機器は安全規格によりレ
ーザビームが人間の目に入らないようにしなければなら
す、レーザプリッタでは」二カバー等が開けられること
によりインターロックスイッチで上記牙1の直流′電源
を切るようになっている。
しかしこのレーザプリ/りの半導体レーザ出力制御装置
にあってはインターロックスイッチで+12v の直流
電源か切られた場合アップダウ7カウ/り13はイネー
ブル状態でなければ比較器12の出力が低レベルのまま
であるから計数値がどんどん増加してしまい、その後に
インターロックスイッチが復帰して+12v の直流電
源か入った時には半導体レーザ1は大きな電流が流れて
破壊してしまう。
(目 的) 本発明はカウンタを用いた半導体レーザ出力制御lII
装置において半導体レーザ駆動回路の電源か入切されて
も半導体レーザの破壊を防止1−ることかできる半導体
レーザ保護方式を提供することを目的とする。
(構 成) 以下図面な参照しながら本発明を実症例に基づき説明す
る。
牙6図は本発明を応用した半導体レーザ出力制御装瞳の
一例を示す。
この例は前述したレーザプリンタにおいて上記±12V
 の直流電源が投入された時にリセット回路19でリセ
ット信号を発生させこのリセット信号をインバータ20
を介してアップダウ7カウ/り16に加えてこれをリセ
ットするようにしたものである。したがってインク−ロ
ックスイッチで+12vの直流電源が切られてアップダ
ウ7カウ、ンタ1ろノ!+ 数値カ増加してもインター
ロックスイッチの復帰で+12v の直流電源が入った
時はアップダウ/カウンタ16がリセットされ、半導体
レーザ1は大きな電流が流れなくなって破壊しなくなる
牙4図は上記リセット回路19を示し、牙5図はそのタ
イミングチャートである。
リセット回路19はトラフジスクン1.ツエナーダイオ
−トン2.コンデンサ25及び抵抗24〜27よりなり
、+12v の直流電源が入った時にはその12V が
抵抗24及びコンデンサ23により積分されてこの積分
出力かツェナーダイオード22によと)基準電圧Ref
(2〜3V)K達するまでトランジスタ21がオフし高
レベルのリセット信号な出力する。
なお、本発明は上記実症例に限定されるものではなく、
カラ/りを用いた他の半導体レーザ出力制御装置でも半
導体レーザ駆動回路の電源が切れた時にカウンタの計数
値が大きくなり、またこのカウンタの計数値に応じた駆
動直流を半導体レーザ駆動回路の半導体レーザに流すも
のであれ一同様に本発明を用いることができる。
(効 果) 以上のように本発明によればカウンタを用いた半導体レ
ーザ出力側側1装#において半導体レーザ駆動回路の電
源が入った時にカラ/りt″リセツトるので、半導体レ
ーザは大きな電流が流れなくなって破壊しなくなる。
【図面の簡単な説明】
之・1図はレーザプリ/りの一例を示す系統図、オン図
は同レーザプリンタの一部を示すブロック図、牙6図は
本発明を応用した半導体レーザ出力制御装置の一例を示
すブロック図、牙4図はりセソト回路の一例を示す回路
図、矛5図は同リセット回路のタイミングチャートであ
る。 1・・・半導体レーザ、8・・・半導体レーザ駆動回路
、9・・・光検出器、12・・比較器、16・・・カウ
ンタ、16・・・デジタル/アナログ変換器、19・・
・リセント回路。 虎5 イ1 処? X

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体レーザの光出力を検出する光検出器と、この光検
    出器の出力信号を基準信号と比較する比較器と、この比
    較器の出力信号により制御されるカラ/りと、このカラ
    /りづカウント出力をアナログ量に変換するデジタル/
    アナログ変換器と、このデジタル/アナログ変換器の出
    力信号に比例した電流を前記半導体レーザに流す半導体
    レーザ駆動回路とな有し前記半導体レーザ駆動回路が前
    記カウンタとは別個に矛1の直流電源により給電される
    半導体レーザ出力制御装置において、前記〕・1の直流
    ′6源の投入時にリセット信号な発生して前1カウンタ
    ′をリセットするリセット手段を備えた半導体レーザ保
    護方式。
JP2409284A 1984-02-10 1984-02-10 半導体レ−ザ保護方式 Pending JPS60169182A (ja)

Priority Applications (1)

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JP2409284A JPS60169182A (ja) 1984-02-10 1984-02-10 半導体レ−ザ保護方式

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JP2409284A JPS60169182A (ja) 1984-02-10 1984-02-10 半導体レ−ザ保護方式

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JPS60169182A true JPS60169182A (ja) 1985-09-02

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JP2409284A Pending JPS60169182A (ja) 1984-02-10 1984-02-10 半導体レ−ザ保護方式

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62116260U (ja) * 1986-01-13 1987-07-23
US4734914A (en) * 1985-03-15 1988-03-29 Olympus Optical Co., Ltd. Stabilized laser apparatus
WO1998018184A1 (en) * 1996-10-22 1998-04-30 Maxim Integrated Products, Inc. Laser diode having smooth enable apc circuit
JP2007308190A (ja) * 2006-05-22 2007-11-29 Sharp Corp 薄型電子機器用梱包構造及びそれに用いられる緩衝材

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