JPS6015819A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JPS6015819A JPS6015819A JP58123903A JP12390383A JPS6015819A JP S6015819 A JPS6015819 A JP S6015819A JP 58123903 A JP58123903 A JP 58123903A JP 12390383 A JP12390383 A JP 12390383A JP S6015819 A JPS6015819 A JP S6015819A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
- G11B5/65—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition
- G11B5/656—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition containing Co
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明はビテオテーブレコーダ(VTR)等に利用され
る磁気記録媒体に関する。
る磁気記録媒体に関する。
(ロ)従来技術
テレビジョン信号のような高周波信号を高密度記録する
ためテープ状基台に金属膜を真空蒸着法、イ詞ンブレー
ティング法、スパッタリング法等で付設することが研究
されている。
ためテープ状基台に金属膜を真空蒸着法、イ詞ンブレー
ティング法、スパッタリング法等で付設することが研究
されている。
スパックリング法を用いて上記基台の表面上に例えはコ
ハル!・膜を市内磁化を呈するように付設した場合、膜
のi=f M力が強い、表面平滑性に優れる等の長所を
有する反面、磁気的に面内等力的であるため斜め蒸着法
(蒸着物質を基台面に74’ L c斜めから付設する
もの)による膜に比へて保磁力(Hc )か小さい、角
形比(S、S″)が悪い等の欠点があるとされでいる。
ハル!・膜を市内磁化を呈するように付設した場合、膜
のi=f M力が強い、表面平滑性に優れる等の長所を
有する反面、磁気的に面内等力的であるため斜め蒸着法
(蒸着物質を基台面に74’ L c斜めから付設する
もの)による膜に比へて保磁力(Hc )か小さい、角
形比(S、S″)が悪い等の欠点があるとされでいる。
そこでコバルト含有合金(例えばCo−Ni、C。
−Cr等)を1膜材として用いかつ膜面内に磁化容易軸
を形成するため、基台に苅して組成蒸気を斜めから入射
して付設することも考えられている。しかし、この方法
による面内の異方性はコバルトの結晶異方性に因るもの
が支配的で、その為膜の異方性定数(Ku)はコバルト
の結晶異方性定数と同し傾向の温度依存性を持つことに
なる。第1図の特性(P)で示す如く、100°C付近
におけるKuは液体窒素温度におけるもののおよそ半分
になってしまい、実用上問題がある。
を形成するため、基台に苅して組成蒸気を斜めから入射
して付設することも考えられている。しかし、この方法
による面内の異方性はコバルトの結晶異方性に因るもの
が支配的で、その為膜の異方性定数(Ku)はコバルト
の結晶異方性定数と同し傾向の温度依存性を持つことに
なる。第1図の特性(P)で示す如く、100°C付近
におけるKuは液体窒素温度におけるもののおよそ半分
になってしまい、実用上問題がある。
尚、スパッタリング法を用いて作製したGo−Pt合金
膜は耐蝕性に憂れ高密度記録かir能である、と報告さ
れている(r高密度記録用耐蝕性C。
膜は耐蝕性に憂れ高密度記録かir能である、と報告さ
れている(r高密度記録用耐蝕性C。
−Pt合金磁性薄膜」日本応用磁気学会誌Vo’17゜
N o2. P 87(198,3))。しかし、これ
はPtの添加量が20at、%と多いものを示しており
、結晶構造が不安定であるという欠点がある。また、従
来より永久磁石、光磁気記録材料として研究されてI7
)る組成はPtの添加量が50at%のもので、熱処理
を行なわなりれは高い保磁力が得られず、かつ高価にな
る欠点もある。
N o2. P 87(198,3))。しかし、これ
はPtの添加量が20at、%と多いものを示しており
、結晶構造が不安定であるという欠点がある。また、従
来より永久磁石、光磁気記録材料として研究されてI7
)る組成はPtの添加量が50at%のもので、熱処理
を行なわなりれは高い保磁力が得られず、かつ高価にな
る欠点もある。
(ハ)発明の目的
本発明は以上の諸点に鑑みなされたもので、高密度記録
に適する高保磁力、高角形比を呈する磁気記録媒体を提
供しようとするものである。
に適する高保磁力、高角形比を呈する磁気記録媒体を提
供しようとするものである。
(ニ)発明の構成
本発明はテープ或いはティスフ状等の基台表面にCo−
Pt系合金の金属膜であって白金の金山比率が3〜20
a t 、%であるものを付設してなることを特徴とす
るものである。また、この金属膜は、基台の面内方向に
付与されたブラスマ収束磁界の下で、スパッタされた組
成金属を混合し1構成することを特徴とするものである
。さらに、金属膜を構成する合金のC軸を基台表面に垂
直な方向に一致するように、或いは上記プラスマ収束磁
界の方向に磁気異方性を持つように配向していることを
特徴とするものである。
Pt系合金の金属膜であって白金の金山比率が3〜20
a t 、%であるものを付設してなることを特徴とす
るものである。また、この金属膜は、基台の面内方向に
付与されたブラスマ収束磁界の下で、スパッタされた組
成金属を混合し1構成することを特徴とするものである
。さらに、金属膜を構成する合金のC軸を基台表面に垂
直な方向に一致するように、或いは上記プラスマ収束磁
界の方向に磁気異方性を持つように配向していることを
特徴とするものである。
(ホ)実施例
先ず本発明に係る磁気記録媒体を製造する装置の概髪を
第21.5!Jの構成略図を参考にして説明する。図に
おいて、(1)は真空槽、(2)(2)は対向する1組
のターゲット、(3)はテープ状基台装置である。真空
槽(1)はアルコンカス等(カス圧は例えば0.2〜2
0ミリト−ル)を導入4る給気孔り11)と、所定の真
空度(例えば4X10−’)−−ル以上)を得るための
排気孔(12)とを備え、さらに図示省略したがテープ
状基台の表面温度を適温り例えは70°C)に制御する
温度制御系を備え工いる。また、この真空槽(1)はそ
の中に、上記両ターゲット(2)(2)及びテープ状基
台装置(3)の一部を絶縁物(4)を介し−C内挿して
おり、該真空槽自身は接地されている。
第21.5!Jの構成略図を参考にして説明する。図に
おいて、(1)は真空槽、(2)(2)は対向する1組
のターゲット、(3)はテープ状基台装置である。真空
槽(1)はアルコンカス等(カス圧は例えば0.2〜2
0ミリト−ル)を導入4る給気孔り11)と、所定の真
空度(例えば4X10−’)−−ル以上)を得るための
排気孔(12)とを備え、さらに図示省略したがテープ
状基台の表面温度を適温り例えは70°C)に制御する
温度制御系を備え工いる。また、この真空槽(1)はそ
の中に、上記両ターゲット(2)(2)及びテープ状基
台装置(3)の一部を絶縁物(4)を介し−C内挿して
おり、該真空槽自身は接地されている。
IMiのクーゲット<2)(2)はコバルトと白金を所
定の比率(例えはC(Jl、P tz、すなわちPiが
10.5at、%)で混合してなる合金プレート或いは
この合金の主成分たるコバルト基板の一ヒに所定量のP
tベレットを配備したものであり、実験室規模で、直径
が100mm、対向間隔が150mmとしている。
定の比率(例えはC(Jl、P tz、すなわちPiが
10.5at、%)で混合してなる合金プレート或いは
この合金の主成分たるコバルト基板の一ヒに所定量のP
tベレットを配備したものであり、実験室規模で、直径
が100mm、対向間隔が150mmとしている。
各ターゲット(2)(2)は両ターゲット間に直流磁界
(5)を生ずるように、図示方向に着磁された永久磁石
(21)を裏当てしている。また、シールドカバー(2
2)を配備し工放電がターゲ/ト間のみで起こるように
制限している。さらに、各ターゲラ1〜(2)(2)に
負の電圧(例えは500〜900V)を付与すへく電1
(6)かけ設されている。この電源はRFt源であって
も構わない。この時は、2枚のターゲットに同位相、同
電圧のRF電圧が印加される。テープ状基台装置(3)
は、回転軸がクーケラト主面と平行なキャンロール(3
1)と、該キルンロールの外周に案内され乍し供給リー
ル(32)から巻取り−ル(33)に向けて移送される
テープ状基台(34)とを傭人ており、この移送中、テ
ープ状基台〈34)はその長手方向が直流磁界(5〉の
向きと=一致するように配備され−Cいる。しかし、こ
の直流磁界の向きを、ヘリカルスキャンVTRにJUい
てビテオトシソクが磁気テープの長手方向に対して採る
角度(例えばβ’35式の約5°)たけ該長手方向に傾
け、ビデ第1〜ラツクに一致させるようにしても良い。
(5)を生ずるように、図示方向に着磁された永久磁石
(21)を裏当てしている。また、シールドカバー(2
2)を配備し工放電がターゲ/ト間のみで起こるように
制限している。さらに、各ターゲラ1〜(2)(2)に
負の電圧(例えは500〜900V)を付与すへく電1
(6)かけ設されている。この電源はRFt源であって
も構わない。この時は、2枚のターゲットに同位相、同
電圧のRF電圧が印加される。テープ状基台装置(3)
は、回転軸がクーケラト主面と平行なキャンロール(3
1)と、該キルンロールの外周に案内され乍し供給リー
ル(32)から巻取り−ル(33)に向けて移送される
テープ状基台(34)とを傭人ており、この移送中、テ
ープ状基台〈34)はその長手方向が直流磁界(5〉の
向きと=一致するように配備され−Cいる。しかし、こ
の直流磁界の向きを、ヘリカルスキャンVTRにJUい
てビテオトシソクが磁気テープの長手方向に対して採る
角度(例えばβ’35式の約5°)たけ該長手方向に傾
け、ビデ第1〜ラツクに一致させるようにしても良い。
これは、ターゲット(2)(2>とキヘ・ンロール(3
1)の相対位置関係を制御することによって容易に可能
である。尚、実験室では、このテープ状基台装置(3)
に代えて、支柱(71)によって支持された矩形状の基
板(72)を、両ターゲット(2)(2)の中心線から
75mmの位置に垂直に配備してい乙。
1)の相対位置関係を制御することによって容易に可能
である。尚、実験室では、このテープ状基台装置(3)
に代えて、支柱(71)によって支持された矩形状の基
板(72)を、両ターゲット(2)(2)の中心線から
75mmの位置に垂直に配備してい乙。
第3図はこの基板(72)の正面区を示し、方向X、Y
はそれぞれこの基板(72〉の面内方向を示している。
はそれぞれこの基板(72〉の面内方向を示している。
そして、方向Xは磁界(5)の方向に一致しかつ上記長
手方向に一致する。また、方向Yはこの方向Xに直交す
る方向を示している。
手方向に一致する。また、方向Yはこの方向Xに直交す
る方向を示している。
この製造装置によるスパッタ法は通常のスパッタ法(基
板をターゲットに体面させプラズマ中に配備さゼる方法
)に対し、ターゲットが対向しかつ基板がプラズマの外
におかれる(プラズマフリーという)構成であるので対
向ターゲット式スパッタ法と呼称できる。そして、この
列内ターゲット式スパッタ法は通常のスパッタ法に比へ
て次の様な特徴を有する。すなわち、■高エネルギー粒
子の基板衝撃が少なくプラズマフリーの状態で膜形成が
できる為、基板の温度上昇が少なく、耐熱性の低い基板
上にも膜が作成できる。■プラズマフリーであるため得
られる膜の結晶性が良い。■得られる膜の結晶配向性の
制御か容易である。■ターゲットの利用効率が高い。■
スバ・/り法の中では最も膜の形成速度が速く、生産性
が良い。特に、磁性材料を高速形成できる唯一の方法で
ある。
板をターゲットに体面させプラズマ中に配備さゼる方法
)に対し、ターゲットが対向しかつ基板がプラズマの外
におかれる(プラズマフリーという)構成であるので対
向ターゲット式スパッタ法と呼称できる。そして、この
列内ターゲット式スパッタ法は通常のスパッタ法に比へ
て次の様な特徴を有する。すなわち、■高エネルギー粒
子の基板衝撃が少なくプラズマフリーの状態で膜形成が
できる為、基板の温度上昇が少なく、耐熱性の低い基板
上にも膜が作成できる。■プラズマフリーであるため得
られる膜の結晶性が良い。■得られる膜の結晶配向性の
制御か容易である。■ターゲットの利用効率が高い。■
スバ・/り法の中では最も膜の形成速度が速く、生産性
が良い。特に、磁性材料を高速形成できる唯一の方法で
ある。
この製造装置によってスバ・/タリ/グを行なうと、永
板<72)の表面上i:co−pt系合金の金属膜(8
〉を1分間当り例えば投入電力500Wのとき600人
のスピードで堆積することかできる。
板<72)の表面上i:co−pt系合金の金属膜(8
〉を1分間当り例えば投入電力500Wのとき600人
のスピードで堆積することかできる。
また、投入電力を上げることにより1分間当り1μm程
度の堆積速度もβf能であるとされている。この堆積中
、基板り72)のX方向に絶えず1θ流磁界(5)が付
与されていて、合金の異方性が二のXづj向に誘導され
ている。換言1れは、この合金の磁化容易軸がこのX方
向に配向きれ乍ら堆積され工いる(−軸異方性をもつで
いる)と3゛える。
度の堆積速度もβf能であるとされている。この堆積中
、基板り72)のX方向に絶えず1θ流磁界(5)が付
与されていて、合金の異方性が二のXづj向に誘導され
ている。換言1れは、この合金の磁化容易軸がこのX方
向に配向きれ乍ら堆積され工いる(−軸異方性をもつで
いる)と3゛える。
第7図(a>(b)と第8図<a)(b)はアll=
i”7ガス圧がそれぞれ5ミリトール<mトール)舅、
ド、lOm t−−ル以上の条件で形成した膜中の1つ
の結晶の結晶配向を示す模式図と基台にイf設された膜
の模式図である。図中、斜線を伺した而、即ち、第7図
(a)では(002)而が、メ第71ffl<b)ては
<101>而が膜面に平行に配向する。即ち、C軸は(
a)では膜面に垂直、(b)ではほぼ平行に配向してい
る。但し、(bンでは面内でラソタムな方向に向いてい
る。そして、いずれの場合も結晶配向性は膜面内では等
方向である。しかし、膜はすべてプラズマ収束磁界方向
に磁気的異方性をもつ。この原因としでは第9図に示し
た様にPt原子(斜線で示す、尚、白丸はCo原子を模
式する)が2原子ずつ対になり磁界方向に配列すること
が考えられる。
i”7ガス圧がそれぞれ5ミリトール<mトール)舅、
ド、lOm t−−ル以上の条件で形成した膜中の1つ
の結晶の結晶配向を示す模式図と基台にイf設された膜
の模式図である。図中、斜線を伺した而、即ち、第7図
(a)では(002)而が、メ第71ffl<b)ては
<101>而が膜面に平行に配向する。即ち、C軸は(
a)では膜面に垂直、(b)ではほぼ平行に配向してい
る。但し、(bンでは面内でラソタムな方向に向いてい
る。そして、いずれの場合も結晶配向性は膜面内では等
方向である。しかし、膜はすべてプラズマ収束磁界方向
に磁気的異方性をもつ。この原因としでは第9図に示し
た様にPt原子(斜線で示す、尚、白丸はCo原子を模
式する)が2原子ずつ対になり磁界方向に配列すること
が考えられる。
第4図は、上記基板(72)上に堆積した金属膜〈8)
の磁化特性図である。特性(R>はX方向に、また特性
(T)はY方向にそれぞれ印加磁場を配した場合のB−
H曲線である。図より明らかなように、保磁力(Hc)
及び角形比(S、S″)に関して特性(R)が優れでい
る。すなわち、X方向に一軸異方性をもっていると認め
られる。尚、このデータはアルボ〉・圧20mトール、
白金含有率11at%、膜If、3000人での金属膜
にイτ1いてであり、この金属膜は、磁束密度125に
カラス、保磁力1110エルスデツド、角形比S=0.
87、S″=0.98を示し、またトルクメータによる
異方性定数の測定では2.5X 1106er/ cc
という大きい値を示した。きらに、温度依存性について
は、第1図の特性(Q)で示す如く、流体窒素の温度(
77°K)から400°Kまで殆んと変化をdμ、めら
れない。尚、図中の縦軸は流体窒素の異方性定数で規格
化した」二記金属膜の異方性定数を示し、横軸は温度(
°K)を示している。
の磁化特性図である。特性(R>はX方向に、また特性
(T)はY方向にそれぞれ印加磁場を配した場合のB−
H曲線である。図より明らかなように、保磁力(Hc)
及び角形比(S、S″)に関して特性(R)が優れでい
る。すなわち、X方向に一軸異方性をもっていると認め
られる。尚、このデータはアルボ〉・圧20mトール、
白金含有率11at%、膜If、3000人での金属膜
にイτ1いてであり、この金属膜は、磁束密度125に
カラス、保磁力1110エルスデツド、角形比S=0.
87、S″=0.98を示し、またトルクメータによる
異方性定数の測定では2.5X 1106er/ cc
という大きい値を示した。きらに、温度依存性について
は、第1図の特性(Q)で示す如く、流体窒素の温度(
77°K)から400°Kまで殆んと変化をdμ、めら
れない。尚、図中の縦軸は流体窒素の異方性定数で規格
化した」二記金属膜の異方性定数を示し、横軸は温度(
°K)を示している。
第5図は金属膜(8)を構成するCu−Pt台金中の白
金含有比率を0〜20at、%にわたって変化させた場
合の、磁束密度(4πMs)、保磁力(Hc>、角形比
(S、S”)を示すものである。但し、アルコンツJス
等のガス圧は20m1・−ルに、よた膜厚は3000人
にそれぞれ設定されている。白金の混合比率を制御する
ことにより保磁力(H(〉をはy゛直線的に変えられる
。ここで、白金含有率が3at%より少ないと保磁力が
小きくなり高密度記りまに適さなくなるし、また20a
t、 Zより大きいと結晶構造がh c p (be
xagonal close packed)と fc
t(face centered tetragona
l>の混和にわたり安定性に欠げる()l c p単相
構造でなくなる〉ので適当でない。
金含有比率を0〜20at、%にわたって変化させた場
合の、磁束密度(4πMs)、保磁力(Hc>、角形比
(S、S”)を示すものである。但し、アルコンツJス
等のガス圧は20m1・−ルに、よた膜厚は3000人
にそれぞれ設定されている。白金の混合比率を制御する
ことにより保磁力(H(〉をはy゛直線的に変えられる
。ここで、白金含有率が3at%より少ないと保磁力が
小きくなり高密度記りまに適さなくなるし、また20a
t、 Zより大きいと結晶構造がh c p (be
xagonal close packed)と fc
t(face centered tetragona
l>の混和にわたり安定性に欠げる()l c p単相
構造でなくなる〉ので適当でない。
第6図は真空槽に導入するカメ圧と、テープ上基台に形
成された結晶のC軸の配向関係を示すX線回折パターン
図で、(a)区はガス圧2mトール、(b)図はガス圧
20’m トールでスパッタした場合を示している。回
れも白金の含有比率は1lat。
成された結晶のC軸の配向関係を示すX線回折パターン
図で、(a)区はガス圧2mトール、(b)図はガス圧
20’m トールでスパッタした場合を示している。回
れも白金の含有比率は1lat。
%である。各図とも横軸にBragg角の2倍を示し、
縦軸に回折されたX線の強度を示している。
縦軸に回折されたX線の強度を示している。
<a)図では、結晶のり002)面で強度のピークを持
っており、C軸が基台表面に対して垂直に形成されてい
ることを示し、(b)図では結晶の(101)面でピー
クを持っており、C軸が基台表面に対し鋭角を為号−よ
うに形成されでいることを示し又いる。よって、カス圧
を大きくすることによって、結晶のC軸を基台の面内男
向に傾斜きせることか−Cき、該面内に磁化容易軸を配
向させることかできることがわかる。これはまた、基台
に垂直に磁化容易軸を形成するにはガス圧を低く(例え
ば5mトール以下)設定し、一方面内方向に磁化容易軸
を形成するにはガス圧を高く〈例えば10mb−ル以上
)設定してスパッタリングを行なえばよいと言える。尚
、白金含有率の範囲は後者に付い工は上述の通り3〜2
0a t%が適当てめるか、目11者に付いては6〜1
5at、%が必要を保磁力を呈するのに適当であること
を確認、シている。
っており、C軸が基台表面に対して垂直に形成されてい
ることを示し、(b)図では結晶の(101)面でピー
クを持っており、C軸が基台表面に対し鋭角を為号−よ
うに形成されでいることを示し又いる。よって、カス圧
を大きくすることによって、結晶のC軸を基台の面内男
向に傾斜きせることか−Cき、該面内に磁化容易軸を配
向させることかできることがわかる。これはまた、基台
に垂直に磁化容易軸を形成するにはガス圧を低く(例え
ば5mトール以下)設定し、一方面内方向に磁化容易軸
を形成するにはガス圧を高く〈例えば10mb−ル以上
)設定してスパッタリングを行なえばよいと言える。尚
、白金含有率の範囲は後者に付い工は上述の通り3〜2
0a t%が適当てめるか、目11者に付いては6〜1
5at、%が必要を保磁力を呈するのに適当であること
を確認、シている。
(へ)発明の効果
本発明は基台上の磁性金属膜とし−CCo−Pt系合金
を用い、しかも白金の含有率を3〜20at、%とした
のでhcp構造の安定な結晶とすることができまた、残
留磁束をそれ程低−トさせることなく保磁力を約300
〜1600−Lルステソドの範囲℃任意に選択でさ、さ
らに角形比<S、Sつを大きくすることかできるという
著しい効果を得られる。また、スパックリンクにおける
ガス圧を制御することで磁気異ノJ性を基台表面に直交
する方向、或いは面内方向に向けることができ垂直磁気
記録或いは長子磁気記録の何れの方式にも対応させるこ
とかできイ1用である。そし゛〔、長手磁気記録方式の
場合、トジソク延在方向に磁化容易軸を配向することが
できる。
を用い、しかも白金の含有率を3〜20at、%とした
のでhcp構造の安定な結晶とすることができまた、残
留磁束をそれ程低−トさせることなく保磁力を約300
〜1600−Lルステソドの範囲℃任意に選択でさ、さ
らに角形比<S、Sつを大きくすることかできるという
著しい効果を得られる。また、スパックリンクにおける
ガス圧を制御することで磁気異ノJ性を基台表面に直交
する方向、或いは面内方向に向けることができ垂直磁気
記録或いは長子磁気記録の何れの方式にも対応させるこ
とかできイ1用である。そし゛〔、長手磁気記録方式の
場合、トジソク延在方向に磁化容易軸を配向することが
できる。
第1図は異方性定数の温度依存性を示す特性図、第2図
はスパッタリンク装置の概略構成図、第3図は基板(〕
−−ブ状基台に相当する)の正面区、第4図はこの基板
上に堆積された合金の磁化性外曲線図、第5図は各種磁
気特性の白金含廂率に対Jる1衣存性を示す特性図、第
6図(a)(b)はX線回折パターン図、第7図(a)
(b)はカス圧がそれぞれ5n11・−ル以下、10m
トール以上の条件で形成した膜中の1つの結晶の結晶配
向の模式図、第8図(a)(b)は第7図(aXb)に
ス・j向する膜の模式図、第9図は第8図(b)の膜内
の原子配列の模式図である。 王な図番の説明 (8〉・金属膜、(34)・テープ状基台。 102 第R図 第8図 第2図 第4図 硝刺E席(KG) +15 PI 5fg力Df (aj、Dん) 第6図 (a) (b) 第7図 (a) (b) 矛8図 a図
はスパッタリンク装置の概略構成図、第3図は基板(〕
−−ブ状基台に相当する)の正面区、第4図はこの基板
上に堆積された合金の磁化性外曲線図、第5図は各種磁
気特性の白金含廂率に対Jる1衣存性を示す特性図、第
6図(a)(b)はX線回折パターン図、第7図(a)
(b)はカス圧がそれぞれ5n11・−ル以下、10m
トール以上の条件で形成した膜中の1つの結晶の結晶配
向の模式図、第8図(a)(b)は第7図(aXb)に
ス・j向する膜の模式図、第9図は第8図(b)の膜内
の原子配列の模式図である。 王な図番の説明 (8〉・金属膜、(34)・テープ状基台。 102 第R図 第8図 第2図 第4図 硝刺E席(KG) +15 PI 5fg力Df (aj、Dん) 第6図 (a) (b) 第7図 (a) (b) 矛8図 a図
Claims (4)
- (1)基自表面にCo−Pt系合金の金属膜で白金の金
山率が3〜20at、%であるものをイ」設してなる磁
気記録媒体。 - (2)前記金属膜は、前記基台の面内方向に付与された
プラスマ収束磁界の下で、スパッタされた組成金属を混
合してなるものである特許請求の範囲第<1)項記載の
磁気記録媒体。 - (3)iiii記金属膜は前記合金のC軸を前記基台表
面に垂直な方向に形成してなるものである特許請求の範
囲第(1)項記載の磁気記録媒体。 - (4)前記金属膜は自ij記合金のC軸を前記プラズマ
収束磁、界の方向に傾斜してなるものである特許請求の
範囲第(2)項記載の磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58123903A JPS6015819A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58123903A JPS6015819A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 磁気記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6015819A true JPS6015819A (ja) | 1985-01-26 |
JPH056254B2 JPH056254B2 (ja) | 1993-01-26 |
Family
ID=14872187
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58123903A Granted JPS6015819A (ja) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6015819A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61253622A (ja) * | 1985-04-08 | 1986-11-11 | Hitachi Metals Ltd | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPS62185236A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体 |
JPH01256017A (ja) * | 1988-04-04 | 1989-10-12 | Victor Co Of Japan Ltd | 磁気記録媒体 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57149706A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Tdk Corp | Magnetic recording medium |
JPS587806A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-17 | インタ−ナシヨナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−シヨン | 磁気薄膜材料 |
-
1983
- 1983-07-06 JP JP58123903A patent/JPS6015819A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57149706A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Tdk Corp | Magnetic recording medium |
JPS587806A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-17 | インタ−ナシヨナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−シヨン | 磁気薄膜材料 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61253622A (ja) * | 1985-04-08 | 1986-11-11 | Hitachi Metals Ltd | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPH0670849B2 (ja) * | 1985-04-08 | 1994-09-07 | 日立金属株式会社 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPS62185236A (ja) * | 1986-02-10 | 1987-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体 |
JPH01256017A (ja) * | 1988-04-04 | 1989-10-12 | Victor Co Of Japan Ltd | 磁気記録媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH056254B2 (ja) | 1993-01-26 |
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