JPS60135269A - 感熱記録ヘツド - Google Patents

感熱記録ヘツド

Info

Publication number
JPS60135269A
JPS60135269A JP58250777A JP25077783A JPS60135269A JP S60135269 A JPS60135269 A JP S60135269A JP 58250777 A JP58250777 A JP 58250777A JP 25077783 A JP25077783 A JP 25077783A JP S60135269 A JPS60135269 A JP S60135269A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
printed circuit
heat generating
circuit board
wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58250777A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Myokan
明官 功
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP58250777A priority Critical patent/JPS60135269A/ja
Publication of JPS60135269A publication Critical patent/JPS60135269A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N97/00Electric solid-state thin-film or thick-film devices, not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1、産業上の利用分野 本発明は感熱記録ヘッドに関するものである。
2、従来技術 感熱記録ヘッド(以下、単にヘッドと略す。)は、被記
録紙又は感熱紙等の被記録体に対して直接的に若しくは
インクフィルムを介して当接された状態で、記録用の電
気信号によって発熱部がドツト状に選択加熱され、これ
によって被記録体に画像等を記録できるように構成され
ている。
従来のヘッドでは一般に、基板上に発熱体層を設け、こ
の上に多数の対向電極を形成して発熱部を構成しておシ
、その(信号)電極に対し基板外に配した集積回路(以
下、ICと称する。)部から目的とする画像パターンに
対応した信号を与えるようにしている。
こうしたヘッドとしては、例えば特開昭56−7898
5号、57−8177号、57−8178号、57−8
179号、57−8180号、57−43883号、5
7−43884号、57一ブ’!7866号、57−1
07867号、57−107868号、57−1230
71号、57−174277号等各公報に開示されたも
のがある。
これまで提案されているヘッドによれば、被記録体への
(熱)エネルギー伝達効率が悪く、発熱体基板が過熱さ
れるために、これを防ぐ上で発熱体基板を放熱板上に直
接固定し、同基板の熱を放熱せしめている。 従って、
放熱板上には発熱体基板とIC基板とが並べて配置され
た構造になっている。
しかしながら、このような配置では、発熱体基板とIC
基板との位置合せに際し、両基板の配線端子を互いに精
度良く対応させてボンディングすることが極めて困難で
ある。 即ち、通常は、両基板の端面が互いに平行にな
るようにして両基板を位置合せすることはできるが、各
基板上の配線端子の位置関係(端子位置及びそのピッチ
)が正確に対応しているか否かを同時にチェックしては
おらず、そのチェック自体が不可能であった。
この原因としては、両基板を並置していることがら配線
端子間の距離が大きくなシ、両配線端子が顕微鏡の同−
視野内に入らないためである。 従って、配線端子間に
は常に位置ずれが存在しているか或いはその修正が行な
われない状態で、テープキャリア又はワイヤボンディン
グが行なわれるので、ミスボンディングが不可避的に生
じることになる。
3、発明の目的 本発明の目的は、発熱体基板とIC基板との双方の配線
端子間の位置合せを正確に行なえ、従って両差板間のボ
ンディングを精度良く行なえ、かつ両基板自体のマウン
トも正確に行なえるヘッドを提供することにある。
4、発明の構成 即ち、本発明は、発熱部と、この発熱部を駆動する集積
回路部とを有する感熱記録ヘッドにおいて、前記発熱部
を設けた基板が、前記集積回路部を設けた基板上に配置
されていることを特徴とする感熱記録ヘッドに係るもの
である。
5、実施例 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。
まず、第1図につき、本実施例によるヘッドの基本的構
成を説明する。
このヘッド20によれば、基体(例えばアルミニウム基
板)1上に、多数(例えば64個)のICチップ4を固
定したプリント基板(例えばガラス・エポキシ又はセラ
ミックス板)5がマウントされ、かつこのプリント基板
5上に重ねて、発熱部2を設けた抵抗体基板(例えばア
ルミナ等のセラミックス板)3がマウントされている。
ICテップ4と発熱部2との電気的接続は第3図に明示
するワイヤボンディング方式で行なわれる。 まず、発
熱部2は、抵抗体基板3上に被着された発熱体(例えば
窒化タンタル)層8上に形成されている例えばアルミニ
ウム製の共通の接地電極9と、同発熱体層8上において
接地電極9の長さ方向に多数本配列せしめられている例
えばアルミニウム製の信号電極10との各対向部分11
によって形成されている。 一方、ICチップ4は一定
個数毎に、30で示した分離ラインで互いに接合された
別々のプリント基板5上にマウントされ、プリント基板
5上に所定パターンに設けられた例えばアルミニウム製
の配線12に対し、Au又はAノ等のワイヤ13によっ
てワイヤボンディングされている。 なお、上記の各配
線パターンは簡略図示され、一部は図示省略されている
また、発熱体層8は発熱部2のみに設けられていてよい
。 上記抵抗体基板3は、プリント基板5上の一辺側に
固定され、両基板の配線8.12の各端子間は上記と同
様のワイヤ16によって個々にワイヤボンディングされ
ている。
なお、上記した各電極又は配線の形成、ICチップのマ
ウント及びワイヤボンディングは、公知の半導体装技術
によって行なえるので、それらの詳細な説明は省略する
。 また、図示省略したが、第3図において抵抗体基板
3上には更に、5ift膜及び酸化タンタル膜(耐摩耗
被膜)が順次被着される。 また、プリント基板5上は
シリコン樹脂被膜等の保護膜で被覆される。
以上の如きヘッドを案出する過程において、本発明者は
次の如き状況が存在することを見出した。
即ち、近時のヘッドはエネルギー伝達効率(又は発熱効
率)が10チ程度若しくはそれ以上と向上したものとな
っているので、発熱体基板(上記の抵抗体基板3)を放
熱板(上記の基体1)に対し必ずしも直接固定する必要
はないことが分った。
こうした状況下で、ヘッドの熱応答性を損うことなしに
低コスト化を図るには、発熱体基板−プリント基板間の
位置合せを正確にすると同時に各配線端子間の接続を良
好に行なうことが望まれる。
そこで、本発明者は、上記に述べた如く、発熱体基板3
をプリント基板5上に配置することによって、側基板の
配線端子同士が第2図の如くに互いに近接し合った位置
で対向し合い、これらの各対向領域を実体顕微鏡等で同
−視野内で観ることができるという、従来技術では想到
され得ない配置構造を見出したのである。 これによれ
ば、側基板の配線端子同士を目視又はパターン認識で調
節しながら位置決めすることができるので、上記したワ
イヤ16によるワイヤボンディングを精度良く確実に行
なうことが可能となシ、歩留、信頼性が著しく向上する
ことになる。 この際、従来の如く側基板間の平行度は
考慮せずとも両配線端子間の対応関係を主体にして側基
板の相対的位置が決まることになる。
また、発熱体基板3を放熱板1に対してではなくプリン
ト基板5上にマウントする構造であるから、ICチップ
4−発熱部2間の距離を小さくしてヘッドを小型化でき
ると共に、第5図に示す如きマニエビエレータ等を用い
ることによって、精ビニレータ21は、X1IY@zス
テ一ジ方式(例えば中央精密工業(株)製)のものであ
ってよく、X方向移動用ハンドル22、Y方向移動用ハ
ンドル23、z方向移動用ハンドル26を夫々有してい
る。 使用に際しては、所定の配線(9,10)を施し
た長手状の抵抗体基板3の裏面に熱硬化性シリコン樹脂
からなる接着剤を予め塗布し、その両端を支持台27上
に支持する一方、マユ−ピーレータ上で支持板28に真
空チャック方式で位置固定された1枚のICチップ付き
プリント基板5を抵抗体基板3下0.5 zmの位置に
セットし、各ハンドル22.23の操作によってX方向
、Y方向及びe方向に位置合せする。 次いで、ハンド
ル24の操作でプリント基板5を2方向に持ち上げて、
抵抗体基板3の裏面に接着する。 この一連の操作中、
上方から例えば実体顕微鏡29で各配線10.12の端
子同士を観察しながら常に位置調節をしておく。
このようにして、抵抗体基板3に対するプリント基板5
.の接着を例えば8回繰返し、合計8枚のプリント基板
を抵抗体基板3の長さ方向に並べて接着する。 この接
着後は乾燥P:(例えば150℃)に入れ、側基板を完
全に接着固定する。 なお、上記の接着剤はプリント基
板5側に塗布してもよく、或いは側基板に夫々塗布して
おいてもよい。
側基板3−5の接着固定後は、更に放熱用基体1(第1
図、第3図参照)上に接着剤(例えば基体1上に予め塗
布されたもの)を介して載置する。
そして次に、側基板3.5の配線10.12の各端子同
士をワイヤボンディングする。 他の配線間の接続は半
田付けやコネクタを用いて行なってよい。
本例においては、ICチップ4をマウントするプリント
基板5は、第1図及び第2図に示した如く、ICチップ
の一定個数毎に別々に設けられていることも重要である
。 即ち、各プリント基板5の位置は、その接着時(第
5図参照)に独立して決めることができるから、抵抗体
基板3上の各配線10に対し各配線12が可能な限シ正
確に対応するように各プリント基板5を位置調整でき、
その調整に自由度をもたせることができる。
また、プリント基板5が個々に分離されていることは、
工Cチップのワイヤボンディングとの関連で顕著な効果
がある。 一般に知られているように、全自動化された
ワイヤボンディング時の歩留シは、ボンディング位置の
ずれ等の要因から0゜998(99,8%)であるとさ
れ、ワイヤ数(旬に応じて(0,998)”になるもの
とされている。
従9て仮に、上記とは異なって1枚のみのプリント基板
上に多数のICチップをマウントしたとき、例えばワイ
ヤの総本数を3000本とすれば歩留は(0,998)
”’°−i−0,0025となることがある。
これに対し、本実施例のようにプリント基板5を幾つか
に分けると、プリント基板上のICチップ数(従ってワ
イヤ本数)を減らせるから、各プリント基板5上のIC
チップ数に応じたワイヤ本数を各プリント基板につき例
えば500本にでき、このためにワイヤボンディングの
歩留は各プリント基板について夫々(0,998) +
0.3675となる。 これと同様のことは、配線10
−12間のワイヤボンディングの歩留についても当ては
まる。 即ち、単に1枚のプリント基板を用いた場合、
両配線10−12間の接続箇所は2048個あるからワ
イヤボンディングの歩留は(o、598)”’中0.0
166となるが、本例のようにプリント基板を例えば8
枚に分けると歩留シは(0,998)″″56中0.5
990 と大きく向上する。 従って、本実施例のよう
にプリント基板を複数(例えば8枚)に分けることによ
って、歩留が大幅に向上することになる。
ICチップ4は各プリント基板5毎にマウントされ、ワ
イヤボンディングされた後に、各プリント基板5が抵抗
体基板3に接着され、更に基体1上に接着等で固定され
るが、この際、基体1には必ずと言ってよい程反りがち
シ、その表面は全体として平担ではない。 このため、
仮に、1枚のみのプリント基板を基体1上に固定した場
合、両者の密着性が悪く、接着不良が生じ易い。 しか
し、本実施例によれば、プリント基板を分割し、個々に
基体1上に固定される状態となるから、上記に比べて基
体1の表面性の影響を緩和し、個々のプリント基板5の
基体1に対する密着性は良くなシ、接着強度が向上する
まだ、発熱部2をマウントしたICチップ4を支持体で
ある単一の基体1上に設けていることによシ、ヘッド構
成が著しく簡略化若しくはコンパクトなものとなる。 
この場合、特にIC部は、ICチップ4のマウント及び
配線へのワイヤボンディングで実装されるが、作動時に
ICチップ4から発生する熱は下地の基板5(更には1
)を通して放散されるから、ICの熱破壊を効果的に防
止できる。
プリント基板5と抵抗体板3とを上記のように別々の基
板としていることの他の利点としては、そのように構成
することによって抵抗体基板3自体の幅を狭くできる(
即ち小幅で長尺状の抵抗体板にできる)から、発熱体層
8を例えばスノ(ツタ法で形成する際に抵抗体基板3を
スノ(ツタ装置内へ装、入し易く、また中度に処理され
る抵抗体基板の個数も増やせるだめに量産性が向上する
ことになる。
なお、ワイヤボンディングに代えて、第6図に示す如く
フィルムキャリア方式で両配線10−12間を接続して
よい。 即ち、このフィルムキャリアテープ7は、例え
ばポリイミド基板14上に、上記信号電極10及び配線
12に対応した本数(例えば64本)の例えば銅箔製の
リード15が接着されたものからなっている。 そして
、リード15の両端は加熱下で両配線10.12上に圧
着され、ビームリード方式で接続が行なわれる。
なお、第6図においてテープ7上にリード15を形成す
る代シに通常の配線を形成し、これらを上記配線12.
10とワイヤボンディングすることも可能である。
更に、この例によれば、上記の如くに位置調整されたプ
リント基板5上の各配線12と、発熱部2側の信号電極
配線10との間が、上記したフィルムキャリアテープ7
のリード15によってビームリード方式で電気的(及び
機械的)に接続される場合に、ICチップ4の複数個(
例えば2個)に対し1枚のテープ7が使用されてよい。
 1個のICチップ4に対し1枚のテープ7を使用して
もよいが、上記のように複数のICチップ当シ1枚のテ
ープ7を使用すれば、ヘッド全体としてのフィルムキャ
リアテープの使用枚数を減らせ、この分かなシのコスト
ダウンを図れることになる。
本例のフィルムキャリアテープ7は夫々、ICチップ4
を別のプリント基板5上にマウントしたために、配線と
してのCuリード15のみを所定パターンに設けるだけ
でよく、そのパターンは簡略化できる。 しかも、IC
チップ4をすべてプリント基板5側に配し、これを配線
12、リード15、配線10を介して発熱部2に接続す
る構造であるから、ICチップの実装密度を高めること
ができ、テープ7では配線本数に応じた数のリードを公
知のメタライジング技術で容易かつ正確に形成すること
ができる。
次に、上述した各実施例によるヘッド、例えば第1図〜
第4図に示したヘッドを使用した感熱記録方法及びその
装置を説明する。
第7図の例によれば、第1図〜第4図に示したヘッド2
0をインクフィルム41を介して被記録紙33に当接さ
せた感熱転写タイプの感熱記録装置39において、ケー
ス23内に感熱記録のだめの各種装置が組込まれている
被記録紙33は、例えばカセット34内に折畳み状態で
収納され、ローラー25を経て熱転写部36へ送られ、
転写後は矢印Aの如く装置外へ排紙される。 インクフ
ィルム4工は、供給ロール42から、ガイドロー243
、駆動ローラー44を経て熱転写部36へ送られ、更に
駆動ローラー45から巻取シローラー46に巻取られる
。 なお、インクフィルム41は、例えば供給i−ル4
2とガイドローラー43との間で、熱溶融性インク(図
示せず)が塗布されるように構成されている。
インクフィルム41の移動経路中において、駆動ローラ
ー44の手前位置に熱溶融性インクを塗布したインクフ
ィルム41を検出するだめの7オトセンサ(例えば赤外
光センナ)47が配されてローラー48の手前位置に7
オトセンサ(例えば赤外光センサ)49が配されている
熱転写部36には、上述したヘッド20とプラテンロー
ラー24との組が設けられている。 また、被記録紙3
3及びインクフィルム41を挾着するための圧接ローラ
ー48が配されている。
なお、図面中の矢印Bは、圧接駆動機構を有することを
示している。
こうした感熱記録装置39において注目すべきことは、
第8図に拡大図示する如くにプラテンローラー24とヘ
ッド20との間に被記録紙33とインクフィルム41と
を発熱部2の位置で挾着して記録を行なう(即ち、イン
クフィルム41上の熱溶融性インク50を選択的に加熱
、溶融せしめて被記録紙33上に記録パターン5σを形
成する)際に、上述した如きヘッド構成に基いて発熱部
2を図中のヘッド左端側に、しかもICチップ4から高
さり、(例えば0.5朋以刀だけ突出せしめて設けるこ
とができることである。 即ち、こうした配置によって
、1つの重要な効果は、記録直後に被記録紙33をヘッ
ド20外へ取出せることである。 この結果、記録後、
まもない時間内に被記録紙33上の記録パターン50′
を目視することができ、極めて都合がよい。 これに反
し、従来のヘッドのように、発熱部がヘッドの中間位置
にある場合には、発熱部とへラド端部との間には本実施
例のヘッドに比較してかなシの距離があるため、その分
だけ記録直後に被記録紙が出てくるまでに時間を要し、
使用者にとって扱いすらいという問題が生じる。 他の
重要な効果として、抵抗体基板3をプリント基板5上に
固定するために発熱部が上記高さh7.(≧0.5 M
ln )分ICチップ4よシ高くなるから、発熱部に対
するプラテンローラー24の当シが良く、ICチップが
その際の邪魔にならない。 しかも、ICチップと発熱
部との間の距離を小さくできるから、ヘッドの小型化に
有効であシ、装置39内での配置も行ない易い。
第9図にハ、感熱紙を用いる感熱記録装置59を示し、
これによれば、ケース53内にて感熱紙51が供給ロー
ル52から繰出され、ヘッド20とプラテンローラー5
4との間で挾着されてヘッド20による加熱で選択的に
発色せしめられる。
そして、この感熱紙は画像が色パターンとして記録され
た状態で搬送ローラー55及び56間から排出される。
以上、本発明を例示したが、上述の例は本発明の技術的
思想に基いて更に変形が可能である。
例えば、発熱部の抵抗体基板のプリント基板上での配置
は種々変更できるし、また側基板間の固定は接着以外で
あってもよい。 発熱部及びIC部の配置や形状、層構
成、材料、電気的接続方式等は種々変更してよい。 上
述のプリント基板はヘッド全長に亘って1枚のみ使用し
てよい。 また、上述の各側において、ICチップ4は
、上記したようにワイヤボンディングで配線12と接続
する以外にも、フリップチップ方式、TAB方式等のボ
ンディング方法を採用してよいが、この場合にはワイヤ
レスなのでワイヤの切断、破壊がなく、接続の信頼性が
よシ向上する。
6、発明の作用効果 本発明は上述した如く、発熱部の基板がIC部の基板上
に配置されているので、両基板の配線端子間を近接せし
めてこれを観ながら位置合せを行なうことができ、側基
板間のボンディング精度が大幅に向上する。 しかも、
両基板の相対位置も容易かつ正確に決められるから、そ
のマウントも正確に行なえる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示すものであって、第1図は感
熱記録ヘッドの一部分の概略斜視図、第2図は第1図の
拡大平面図、 第3図は第2図のX−X線拡大断面図、第4図は第2図
のY−Y線一部拡大断面図、第5図は両基板の位置合せ
及び接着時の操作を示す斜視図、 第6図は他の感熱記録ヘッドの第3図と同様の断面図、 第7図は感熱転写記録装置全体の概略断面図、第8図は
第7図の要部拡大図、 第9図は感熱紙を用いる感熱記録装置全体の概略断面図
、 である。 なお、図面に示された符号において、 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・基体2
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・発熱部3
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・抵抗体基
板4・・・・・・・・・・・・・・−・・・・・・IC
チップ5・・・・・・−・・・−・・・・・・・・・・
プリント基板7・−・・・・−・・・・・・・・・・・
・・フィルムキャリアテープ8・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・発熱体層9・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・接地電極10・・・・・・・・
・・・・・・・・・・信号電極12・・・・・・・・・
・・・・・・・・・配線13.16・・・・・・・・・
ワイヤ 15・・・・・・・・・・・・・・・・・・リード20
・・・・・・・・・・・・・・・・・・感熱記録ヘッド
21・・・・・・・・・・・・・・・・・・マニユピユ
レータ22.23.26・・・ハンドル 28・・・・・・・・・・・・・・・・・・真空チャッ
ク板29・・・・・・・・・・・・・・・・・・顕微鏡
である。 代理人 弁理士 逢 坂 宏(他1名)第1 図 第50 第5図 第60 第70 第80 第90

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、発熱部と、この発熱部を駆動する集積回路部、とを
    有する感熱記録ヘッドにおいて、前記発熱部を設けた基
    板が、前記集積回路部を設けた基板上に配置されている
    ことを特徴とする感熱記録ヘッド0
JP58250777A 1983-12-23 1983-12-23 感熱記録ヘツド Pending JPS60135269A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58250777A JPS60135269A (ja) 1983-12-23 1983-12-23 感熱記録ヘツド

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58250777A JPS60135269A (ja) 1983-12-23 1983-12-23 感熱記録ヘツド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60135269A true JPS60135269A (ja) 1985-07-18

Family

ID=17212885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58250777A Pending JPS60135269A (ja) 1983-12-23 1983-12-23 感熱記録ヘツド

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60135269A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06265194A (ja) * 1993-03-11 1994-09-20 Noritz Corp 空気調和機の暖房開始時における制御方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06265194A (ja) * 1993-03-11 1994-09-20 Noritz Corp 空気調和機の暖房開始時における制御方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4899174A (en) Method of making LED array printhead with tab bonded wiring
TWI264380B (en) Ink jet recording head and recording apparatus
JPS60135269A (ja) 感熱記録ヘツド
JPS63179764A (ja) 感熱記録ヘツド
JP2022175561A (ja) サーマルプリントヘッド、およびサーマルプリントヘッドの製造方法
JPS60143639A (ja) 集積回路装置
JP2914573B2 (ja) インクジェットヘッド
JPS6080233A (ja) 集積回路装置
JPS6092638A (ja) 電気回路装置マウント用支持体
JPS6097871A (ja) 感熱記録ヘツド
JPH055669B2 (ja)
JPS6097869A (ja) 感熱記録ヘツド
JPS60110467A (ja) 感熱記録ヘッド
JPS60143640A (ja) 集積回路装置
JPS60110470A (ja) 感熱記録ヘッド
JPS60183752A (ja) 長尺電子装置
EP0430039B1 (en) Thermal head
JPS6052365A (ja) 感熱記録ヘッド
JPS60122173A (ja) 感熱記録ヘッド
JPS60135270A (ja) 感熱記録ヘツド
JPH11346042A (ja) 基板を電気的接続をするための構成物
JPS60110469A (ja) 感熱記録ヘッド
JPS6092874A (ja) 感熱記録ヘツド
KR930000704B1 (ko) 고해상도 감열기록 소자를 위한 구동집적회로의 탑재방법
JPS60171169A (ja) 感熱記録ヘツド