JPS60125111A - 故障検出方法 - Google Patents
故障検出方法Info
- Publication number
- JPS60125111A JPS60125111A JP23140183A JP23140183A JPS60125111A JP S60125111 A JPS60125111 A JP S60125111A JP 23140183 A JP23140183 A JP 23140183A JP 23140183 A JP23140183 A JP 23140183A JP S60125111 A JPS60125111 A JP S60125111A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- constant current
- voltage
- comparator
- light receiving
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の利用分野)
本発明は、定電流電源をもつ電流出力形装置の故障検出
方法に係り、特に、定電流電源回路の故障、電流出力ラ
インの断線検出に有効な故障検出方法に関する。
方法に係り、特に、定電流電源回路の故障、電流出力ラ
インの断線検出に有効な故障検出方法に関する。
第1図に従来方式の一実施例を示す。第1図は抵抗素子
R,,R2,定電圧ダイオードZI、演算増幅器I C
,1からなる定電流電源回路から電電電流Iが負荷抵抗
器RL、−RL3に供給され、負荷抵抗器RL、〜RL
、の両端に発生する電圧を抵抗素子RA、−RA、、コ
ンデンサCA、〜 ・CA、、水銀リレーRY、〜RL
、、演算増幅器I’C2からなるアナログ入力回路で取
り込み、負荷抵抗器RL、−RLaの抵抗値変化を検知
するアナログ入力装置である。第1図で、一定電流Iを
供給する定電流電源回路の故障、一定電流供給ラインの
断線等を検出するために、負荷抵抗器RL、−RL、と
直列に岬抗器R6を接続し、−抵抗器R8の両端に発生
する電圧を抵抗素子RA。
R,,R2,定電圧ダイオードZI、演算増幅器I C
,1からなる定電流電源回路から電電電流Iが負荷抵抗
器RL、−RL3に供給され、負荷抵抗器RL、〜RL
、の両端に発生する電圧を抵抗素子RA、−RA、、コ
ンデンサCA、〜 ・CA、、水銀リレーRY、〜RL
、、演算増幅器I’C2からなるアナログ入力回路で取
り込み、負荷抵抗器RL、−RLaの抵抗値変化を検知
するアナログ入力装置である。第1図で、一定電流Iを
供給する定電流電源回路の故障、一定電流供給ラインの
断線等を検出するために、負荷抵抗器RL、−RL、と
直列に岬抗器R6を接続し、−抵抗器R8の両端に発生
する電圧を抵抗素子RA。
”= RA a g ’:1 ンデンサcA4、水銀り
L/−RL4からなる回路で取り込む検出回路を付加し
、抵抗器R0の両端に発生する電圧の有無で故障を検出
していた。
L/−RL4からなる回路で取り込む検出回路を付加し
、抵抗器R0の両端に発生する電圧の有無で故障を検出
していた。
この従来の方式では回路構成素子が多く高価となる欠点
がある。
がある。
本発明の目的は、安価な故障検出方法を提供するにある
。
。
本発明の特徴は、光結合素子の発光素子に十分な定電流
を流すことにより、受光素子のベースとコレクタ間に安
定した定電圧が発生することを利用し、この発生電圧の
有無を比較器で検出することにある。
を流すことにより、受光素子のベースとコレクタ間に安
定した定電圧が発生することを利用し、この発生電圧の
有無を比較器で検出することにある。
第2図に本発明の一実施例を示す。第2図は抵抗素子R
、、R2、定電圧ダイオード(ツェナーダイオード)Z
+y演算増幅素子ICIから構成される定電流電源回路
に、発光素子Q、受発光素子2からなる光結合素子Pc
t、抵抗素子RLt比較器I’C3から成る故障検出回
路から構成される。
、、R2、定電圧ダイオード(ツェナーダイオード)Z
+y演算増幅素子ICIから構成される定電流電源回路
に、発光素子Q、受発光素子2からなる光結合素子Pc
t、抵抗素子RLt比較器I’C3から成る故障検出回
路から構成される。
光結合素子Pctは実験によって第3図に示すような特
性をもつことが確認される。第3図では実験回路とそれ
から得られた特性を横軸に発光素子Q、に流す順方向電
流1.F (mA) 、縦軸に受光素子Q2のベース−
エミッタ間に発生する電圧”−憎を示す。このデータよ
り負荷抵抗Rz≧IMI2でIF=4mA付近で、V!
l(!=0.4Vの電圧が −得られ、この受光素子Q
2のベース−エミッタ間に得られる電圧V−11(!は
光結合素子のばらつきに依らずほぼ一定である。本発明
はこの光結合素子のもつ特性を利用し、受光素子Q1に
定電流電源回路の出力電流工を流し、受光素子Q1のベ
ースとエミッタ間に発生する電圧VIEを比較器IC2
の一端子に入力し、比較器IC2の子端子には受光素子
Q2のベースとエミッタ間に発生する電圧Vtより低い
定電圧vr・f を入力する。出力線が正常な状態では
、出力電流工が発光素子Q1に流れているために、受光
素子Q2のベースとエミッタ間には電圧yntが発生し
ており、比較器IC2の出力はI(ighレベルである
。逆に、出力線が断線時には出力電流工が発光素子Q1
に流れないために、受光素子Q2のベースとエミッタ間
には電圧が発生せず、比較器IC2の出力は反転しLo
wレベルになる。
性をもつことが確認される。第3図では実験回路とそれ
から得られた特性を横軸に発光素子Q、に流す順方向電
流1.F (mA) 、縦軸に受光素子Q2のベース−
エミッタ間に発生する電圧”−憎を示す。このデータよ
り負荷抵抗Rz≧IMI2でIF=4mA付近で、V!
l(!=0.4Vの電圧が −得られ、この受光素子Q
2のベース−エミッタ間に得られる電圧V−11(!は
光結合素子のばらつきに依らずほぼ一定である。本発明
はこの光結合素子のもつ特性を利用し、受光素子Q1に
定電流電源回路の出力電流工を流し、受光素子Q1のベ
ースとエミッタ間に発生する電圧VIEを比較器IC2
の一端子に入力し、比較器IC2の子端子には受光素子
Q2のベースとエミッタ間に発生する電圧Vtより低い
定電圧vr・f を入力する。出力線が正常な状態では
、出力電流工が発光素子Q1に流れているために、受光
素子Q2のベースとエミッタ間には電圧yntが発生し
ており、比較器IC2の出力はI(ighレベルである
。逆に、出力線が断線時には出力電流工が発光素子Q1
に流れないために、受光素子Q2のベースとエミッタ間
には電圧が発生せず、比較器IC2の出力は反転しLo
wレベルになる。
本発明によれば回路構成が簡単で、安価となる。
第1図はアナログ入力装置の故障検出方法を示す従来の
回路図、第2図は本発明の故障検出方法を示す一実施例
の回路図、第3図は本発明の一実施例の受発光素子の特
性図である。 Vlm ″i420
回路図、第2図は本発明の故障検出方法を示す一実施例
の回路図、第3図は本発明の一実施例の受発光素子の特
性図である。 Vlm ″i420
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、定電流電源回路の定電流状出力ラインに直列に光結
合素子の発光素子を接続して常時一定電流を供給し、且
つ、発光素子に対応する受光素子を抵抗を介して比較器
の一入力端子に接続し、前記比較器の他の入力端子に比
較電圧を入力する方法において、 前記受光素子に発生する電圧により、前記定電流電源回
路の前記定電流出カラインの断線検出を行なうことを特
徴とする故障検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23140183A JPS60125111A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 故障検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23140183A JPS60125111A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 故障検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60125111A true JPS60125111A (ja) | 1985-07-04 |
Family
ID=16923023
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23140183A Pending JPS60125111A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 故障検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60125111A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010103696A1 (ja) | 2009-03-11 | 2010-09-16 | シャープ株式会社 | 電子回路、電子装置 |
-
1983
- 1983-12-09 JP JP23140183A patent/JPS60125111A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010103696A1 (ja) | 2009-03-11 | 2010-09-16 | シャープ株式会社 | 電子回路、電子装置 |
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