JPS6011140A - 薄層クロマトスキヤナ - Google Patents
薄層クロマトスキヤナInfo
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- JPS6011140A JPS6011140A JP11990683A JP11990683A JPS6011140A JP S6011140 A JPS6011140 A JP S6011140A JP 11990683 A JP11990683 A JP 11990683A JP 11990683 A JP11990683 A JP 11990683A JP S6011140 A JPS6011140 A JP S6011140A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- swing
- signal
- chromatosignal
- output
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/90—Plate chromatography, e.g. thin layer or paper chromatography
- G01N30/95—Detectors specially adapted therefor; Signal analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
イ、産業上の利用分野
本発明は薄層クロマＩ・り゛ラフイシこおいて、スポッ
トを光ビームによりジグザクにスキャノし反射光或は透
過光を測定することによりスポットの形状および濃度を
検出する、いわゆる薄層クロマトスキャナに関するもの
である。 口、従来技術 −４にＮｍクロマトスキャナにおいては、薄層プレート
自体の含有物質の分布のはらつきなどのために測定信号
の基準レベルが変動するという問題があり、この誤差を
できるたけ小さくするため］こジグザグスキャンの１ス
イング毎に基準レベルを設定し旧すという方法がとられ
ている。第１図（ａ）はジグザグスキャン時の測定光束
の軌跡を示したもので、試料スボ゛ノ）Ｐを含む充分大
きな幅で光束を左右にスイングさぜるものであり、各ス
イングの始点すなわち光束軌跡の左右端における測だ出
力を基準レベルと定めるのである。第１図（１））は１
スイングの測光出力曲線を示したもので、薄層プレート
のバンクグラウンドレベル
トを光ビームによりジグザクにスキャノし反射光或は透
過光を測定することによりスポットの形状および濃度を
検出する、いわゆる薄層クロマトスキャナに関するもの
である。 口、従来技術 −４にＮｍクロマトスキャナにおいては、薄層プレート
自体の含有物質の分布のはらつきなどのために測定信号
の基準レベルが変動するという問題があり、この誤差を
できるたけ小さくするため］こジグザグスキャンの１ス
イング毎に基準レベルを設定し旧すという方法がとられ
ている。第１図（ａ）はジグザグスキャン時の測定光束
の軌跡を示したもので、試料スボ゛ノ）Ｐを含む充分大
きな幅で光束を左右にスイングさぜるものであり、各ス
イングの始点すなわち光束軌跡の左右端における測だ出
力を基準レベルと定めるのである。第１図（１））は１
スイングの測光出力曲線を示したもので、薄層プレート
のバンクグラウンドレベル
【こスポットの波形が重畳さ
れた形状となっている。同図においてパンクグラウンド
レベルＬ１よりも上側の斜線部分の面積Ｓが積分回路で
められクロマト信号となるのである。 上述のような従来方法は、第１図（１〕）のようにバッ
クグラウンドレベルが平坦で左右端で設定される基準レ
ベルＬ１およびＬ２が相等しい場合は問題がないが、薄
層プレートの含有物質濃度にむらがって、丁度スポント
箇所におけるバックグラウンドレベルに勾配がある場合
には次に示すような問題を生じる。すなわち第２図は一
往復のスキャンにおける測定出力曲線であり、（ａ）図
は右向きスイング、（ｂ）図は左向きスイングを示した
ものである。（ａ）図の場合は基準レベルがＬｌに設定
され、上り勾配であるため【こ基準レベルより下側の三
角形面積が真の面積に余分に付加され、（ｂ）図の場合
は基準レベルがＬ２１こ設定され、下り勾配である上に
、測定出力が基準レベルＬ２よりも下がった部分は負の
面積として積分され衣ので、積分回路の出力すなわちク
ロマト信号は真の面積よりも小さな値を示すこと１こな
る。その結果釜クロマト信号をスキャンニングのＹ方向
にプロットしたクロマＩ・信号曲線は第３図に実線で示
したよう【こ凹凸の多いものとなり、信号処理回路にお
いてピーク検出を行う際ｌこ、ピークスタート位置、ピ
ークエンド位置、ピーク最大値などの検出に誤差を生じ
易いという欠点がある。同図において、破線はバックグ
ラウンドレベルに勾配がない場合のクロマト出力波形で
ある。 ハ、目的 本発明は上記の問題点を解消し、クロマト信号曲線の四
〇を少くすることによりピーク位置検出等の精度を向上
することを目的とするものである。 二、構成 上記目的を達成するために、本発明はスキャンニングに
おいて右向きスイング時における積分値と次の左向きス
イング時における積分値との平均値をクロマト信号とす
るよう■こしたもので、そのために受光部からの測定出
力を１スイング毎に積分し、その積分値をクロマト信号
として出力する積分回路と、クロマト信号を処理してピ
ーク検出などを行う信号処理回路との間に、相隣る２個
のクロマト信号を平均化して１個のクロマト信号とする
平均化回路を設けたものである。 ホ、実施例 第４図は本発明の一実施例をブロック図で示したもので
、測定回路１】）は受光素子］２）の出力を受けて光の
吸収量に比例した測定信号を出力するものであり、積分
回路（３）はこの測定出力を光ビームの１スイングにつ
いて、スイング始点の測光出力を零レベルとして積分し
、その積分値をクロマト信号として出力するものである
。この積分回路（３）の出力には第２図（ａ）のような
左向きスイングによるクロマト信号と、第２図（ｂ）の
ような右向きスイング１こよるクロマト信号とが交互に
含まれており、したがって順次連続２個のクロマト信号
を平均化すれば、バックグラウンドレベルの勾配の影響
が往復のスイングで相殺され真の積分値に近いクロマト
信号が得られるのである。第４図の平均化回路（４）は
そのためのもので、こうして得られた新しいクロマト信
号が信号処理回路（５）に入力され、ここでピーク検出
などの信号処理が行われたのち、結果が表示装置（６）
に表示される。 第５図は平均化回路］４）の動作を説明するためのもの
で、いま左端の基準レベルをＬＬ、右端の基準レベルを
Ｌ２とし往復のスイング時における測定出力波形がほと
んど変らないとすると、真の面積はＡ＋Ｂであり、右向
きスイング時の面積値はＡ −１−Ｂ ＋ Ｄ 、左向
きスイング時の面積値はＡ −Ｂ−Ｃである。一方図形
の対称性よりＤ＝Ｂ＋Ｃであるから、左右スイング時の
面積値の和は、（Ａ＋Ｂ＋Ｄ）＋（Ａ−Ｃ）−２Ａ＋Ｂ
＋Ｂ４−Ｃ−Ｃ−２（Ａ＋Ｂ）となり、その平均値は真
の面積Ａ十Ｂとみなすことができるのである。 ホ、効果 本発明は上述のよう１こ、従来の薄層クロマトスキャナ
の積分回路と信号処理回路との間に、連続２個のクロマ
ト信号を平均化して新しい１個のクロマト信号に変換す
る平均化回路を設けるというきわめて簡単な構成１こよ
り、バックグラウンドレることによってピーク検出など
の信号処理の誤差を少＜Ｌ、分析精度を向上し得るとい
う利点がある。
れた形状となっている。同図においてパンクグラウンド
レベルＬ１よりも上側の斜線部分の面積Ｓが積分回路で
められクロマト信号となるのである。 上述のような従来方法は、第１図（１〕）のようにバッ
クグラウンドレベルが平坦で左右端で設定される基準レ
ベルＬ１およびＬ２が相等しい場合は問題がないが、薄
層プレートの含有物質濃度にむらがって、丁度スポント
箇所におけるバックグラウンドレベルに勾配がある場合
には次に示すような問題を生じる。すなわち第２図は一
往復のスキャンにおける測定出力曲線であり、（ａ）図
は右向きスイング、（ｂ）図は左向きスイングを示した
ものである。（ａ）図の場合は基準レベルがＬｌに設定
され、上り勾配であるため【こ基準レベルより下側の三
角形面積が真の面積に余分に付加され、（ｂ）図の場合
は基準レベルがＬ２１こ設定され、下り勾配である上に
、測定出力が基準レベルＬ２よりも下がった部分は負の
面積として積分され衣ので、積分回路の出力すなわちク
ロマト信号は真の面積よりも小さな値を示すこと１こな
る。その結果釜クロマト信号をスキャンニングのＹ方向
にプロットしたクロマＩ・信号曲線は第３図に実線で示
したよう【こ凹凸の多いものとなり、信号処理回路にお
いてピーク検出を行う際ｌこ、ピークスタート位置、ピ
ークエンド位置、ピーク最大値などの検出に誤差を生じ
易いという欠点がある。同図において、破線はバックグ
ラウンドレベルに勾配がない場合のクロマト出力波形で
ある。 ハ、目的 本発明は上記の問題点を解消し、クロマト信号曲線の四
〇を少くすることによりピーク位置検出等の精度を向上
することを目的とするものである。 二、構成 上記目的を達成するために、本発明はスキャンニングに
おいて右向きスイング時における積分値と次の左向きス
イング時における積分値との平均値をクロマト信号とす
るよう■こしたもので、そのために受光部からの測定出
力を１スイング毎に積分し、その積分値をクロマト信号
として出力する積分回路と、クロマト信号を処理してピ
ーク検出などを行う信号処理回路との間に、相隣る２個
のクロマト信号を平均化して１個のクロマト信号とする
平均化回路を設けたものである。 ホ、実施例 第４図は本発明の一実施例をブロック図で示したもので
、測定回路１】）は受光素子］２）の出力を受けて光の
吸収量に比例した測定信号を出力するものであり、積分
回路（３）はこの測定出力を光ビームの１スイングにつ
いて、スイング始点の測光出力を零レベルとして積分し
、その積分値をクロマト信号として出力するものである
。この積分回路（３）の出力には第２図（ａ）のような
左向きスイングによるクロマト信号と、第２図（ｂ）の
ような右向きスイング１こよるクロマト信号とが交互に
含まれており、したがって順次連続２個のクロマト信号
を平均化すれば、バックグラウンドレベルの勾配の影響
が往復のスイングで相殺され真の積分値に近いクロマト
信号が得られるのである。第４図の平均化回路（４）は
そのためのもので、こうして得られた新しいクロマト信
号が信号処理回路（５）に入力され、ここでピーク検出
などの信号処理が行われたのち、結果が表示装置（６）
に表示される。 第５図は平均化回路］４）の動作を説明するためのもの
で、いま左端の基準レベルをＬＬ、右端の基準レベルを
Ｌ２とし往復のスイング時における測定出力波形がほと
んど変らないとすると、真の面積はＡ＋Ｂであり、右向
きスイング時の面積値はＡ −１−Ｂ ＋ Ｄ 、左向
きスイング時の面積値はＡ −Ｂ−Ｃである。一方図形
の対称性よりＤ＝Ｂ＋Ｃであるから、左右スイング時の
面積値の和は、（Ａ＋Ｂ＋Ｄ）＋（Ａ−Ｃ）−２Ａ＋Ｂ
＋Ｂ４−Ｃ−Ｃ−２（Ａ＋Ｂ）となり、その平均値は真
の面積Ａ十Ｂとみなすことができるのである。 ホ、効果 本発明は上述のよう１こ、従来の薄層クロマトスキャナ
の積分回路と信号処理回路との間に、連続２個のクロマ
ト信号を平均化して新しい１個のクロマト信号に変換す
る平均化回路を設けるというきわめて簡単な構成１こよ
り、バックグラウンドレることによってピーク検出など
の信号処理の誤差を少＜Ｌ、分析精度を向上し得るとい
う利点がある。
第１図〜第３図は従来例を説明するためのもので、第１
図（ａ）は測定光束の軌跡を示す説明図、同図（ｂ）は
測定出力波形図、第２図（ａ）および（ｂ）はバンクグ
ラウンドレベル）こ勾配がある場合の右向きスイング時
および左向きスイング時の測定出力波形図、第３図はク
ロマト出力波形図である。第４図は本発明の一実施例を
示す装置のブロック図、第５図は同」二の動作説明図で
ある。 （１）・・・受光部、（２）・・・受光素子、（３）・
・・積分回路、１４）・・・平均化回路、（５）・・・
信号処理回路、（６）・・・表示装置、Ｐ・・・試Ｎス
ポット、ＬＩＬ２・・・基準レベル、Ｓ・・・面積値。 代理人 弁理士 縣 浩 介
図（ａ）は測定光束の軌跡を示す説明図、同図（ｂ）は
測定出力波形図、第２図（ａ）および（ｂ）はバンクグ
ラウンドレベル）こ勾配がある場合の右向きスイング時
および左向きスイング時の測定出力波形図、第３図はク
ロマト出力波形図である。第４図は本発明の一実施例を
示す装置のブロック図、第５図は同」二の動作説明図で
ある。 （１）・・・受光部、（２）・・・受光素子、（３）・
・・積分回路、１４）・・・平均化回路、（５）・・・
信号処理回路、（６）・・・表示装置、Ｐ・・・試Ｎス
ポット、ＬＩＬ２・・・基準レベル、Ｓ・・・面積値。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 測定光ビームを左右にスイングさせることにより試料ス
ポットをジグサグにスキャノさせ、受光部出力を積分回
路で１スイング毎に積分Ｌ、積分値出力をクロマト信号
として信号処理回路に入力するよう１こした構成シこお
いて、相隣る２個のクロで１・信号を平均化して１個の
クロマト信号とする平均化回路を設けて成ることを特徴
とするＲ層りロマトスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58119906A JPH0692933B2 (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 薄層クロマトスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58119906A JPH0692933B2 (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 薄層クロマトスキャナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6011140A true JPS6011140A (ja) | 1985-01-21 |
| JPH0692933B2 JPH0692933B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=14773129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58119906A Expired - Lifetime JPH0692933B2 (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 薄層クロマトスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0692933B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1308670C (zh) * | 2000-11-10 | 2007-04-04 | 爱科来株式会社 | 使用图像传感器的测定方法及装置 |
| KR100746307B1 (ko) | 2005-09-20 | 2007-08-03 | 강충길 | 기계식과 유압식을 이용하는 복합 단조장치 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5534383A (en) * | 1978-09-04 | 1980-03-10 | Teac Co | Time display unit of tape recorder |
| JPS5694948U (ja) * | 1979-12-21 | 1981-07-28 | ||
| JPS5942684U (ja) * | 1982-09-08 | 1984-03-19 | 三洋電機株式会社 | 赤外線リモコン受信装置 |
-
1983
- 1983-06-30 JP JP58119906A patent/JPH0692933B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5534383A (en) * | 1978-09-04 | 1980-03-10 | Teac Co | Time display unit of tape recorder |
| JPS5694948U (ja) * | 1979-12-21 | 1981-07-28 | ||
| JPS5942684U (ja) * | 1982-09-08 | 1984-03-19 | 三洋電機株式会社 | 赤外線リモコン受信装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1308670C (zh) * | 2000-11-10 | 2007-04-04 | 爱科来株式会社 | 使用图像传感器的测定方法及装置 |
| US7274829B2 (en) | 2000-11-10 | 2007-09-25 | Arkray, Inc. | Measuring method and instrument comprising image sensor |
| KR100746307B1 (ko) | 2005-09-20 | 2007-08-03 | 강충길 | 기계식과 유압식을 이용하는 복합 단조장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0692933B2 (ja) | 1994-11-16 |
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