JPS5876710A - 表面粗さ測定装置 - Google Patents
表面粗さ測定装置Info
- Publication number
- JPS5876710A JPS5876710A JP17694881A JP17694881A JPS5876710A JP S5876710 A JPS5876710 A JP S5876710A JP 17694881 A JP17694881 A JP 17694881A JP 17694881 A JP17694881 A JP 17694881A JP S5876710 A JPS5876710 A JP S5876710A
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- JP
- Japan
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- signal
- circuit
- sample
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は原木をロータリスライスして形成す（１）
るつき板単板等の表面粗度を測定する表面粗さ測定装置
に関するものである。
に関するものである。
従来より、つき板単板等の被検査物の表面粗さを測定す
るには、レーザー光や白色光を被検査物表面に照射し、
その反射光や回折像を利用して行なっていた。しかし、
この方式では、被検査物表面の色や光沢、特に被検査物
が木材である場合には含水率の大小によって誤差が生じ
、また色柄のあるものについては製着が特に大きくなる
という問題を有していた。
るには、レーザー光や白色光を被検査物表面に照射し、
その反射光や回折像を利用して行なっていた。しかし、
この方式では、被検査物表面の色や光沢、特に被検査物
が木材である場合には含水率の大小によって誤差が生じ
、また色柄のあるものについては製着が特に大きくなる
という問題を有していた。
したがって、この発明の目的は、被検査物表面の色模様
や含水率の影響をうけずに精度良〈表面粗さを測定でき
る表面粗さ測定装置を提供することである。
や含水率の影響をうけずに精度良〈表面粗さを測定でき
る表面粗さ測定装置を提供することである。
この発明の一実施例を第１図ないし第５図を用いて説明
する。すなわち、この表面粗さ測定装置は、第１図に示
すように、レーザー光１を一定照射幅の平行光線２に変
えるコリメータ３と、スリガラス４と、対物レンズ５と
、ＩＴＶカメラ６と、２値化回路７と、基準電圧発生回
路８と、サンプ（２） ルホールド回路９と、バイパスフィルタ回路１０と、表
面粗度測定回路１１からなる。
する。すなわち、この表面粗さ測定装置は、第１図に示
すように、レーザー光１を一定照射幅の平行光線２に変
えるコリメータ３と、スリガラス４と、対物レンズ５と
、ＩＴＶカメラ６と、２値化回路７と、基準電圧発生回
路８と、サンプ（２） ルホールド回路９と、バイパスフィルタ回路１０と、表
面粗度測定回路１１からなる。
この装置による表面粗さの測定はつぎのようにして行な
う。すなわち、矢符Ａ方向に回転駆動した原木丸太１２
をナイフ１３で切削してつき板単板１４を形成する一方
、コリメータ３でレーザー光１を一定幅をもつ平行光線
２に変えて、その平行光線２を、その下半部が丸太１２
の表面を照明するとともに−Ｆ半部が丸太１２の上方を
通過するように、丸太表面の接線方向に照射し、丸太表
面の上方を通過した光を、スリガラス４上に結像させる
。この場合、スリガラス４に生じた投影像はガラスの裏
面側からも明確にとらえろことができる。
う。すなわち、矢符Ａ方向に回転駆動した原木丸太１２
をナイフ１３で切削してつき板単板１４を形成する一方
、コリメータ３でレーザー光１を一定幅をもつ平行光線
２に変えて、その平行光線２を、その下半部が丸太１２
の表面を照明するとともに−Ｆ半部が丸太１２の上方を
通過するように、丸太表面の接線方向に照射し、丸太表
面の上方を通過した光を、スリガラス４上に結像させる
。この場合、スリガラス４に生じた投影像はガラスの裏
面側からも明確にとらえろことができる。
そして、このスリガラス４上の投影像を、対物レンズ５
により拡大してＩＴＶカメラ６で撮像する。
により拡大してＩＴＶカメラ６で撮像する。
すなわち、第２図はスリガラス４上の投影像を示Ｉ７た
もので、同図において斜線領域が原木丸太１２により光
２が遮ぎられた暗部１５を示し、その上方の非斜線領域
が光２が遮ぎられ々かった明部１６を示す。そして、Ｉ
ＴＶカメラ６の走査線１７を、投影像の暗部１５から明
部１６に向う方向に走査するようにセットして、その走
査線１７を明暗境界線１８の一端から他端にかけて順番
にずらしながら１回走査させていくことにより投影像の
全体を撮像する。第３図（ａ）はＩＴＶカメラ６の出力
信号１９を示し、２０は暗部１５に対応する波形、２１
は明部１６に対応する波形をそれぞれ示す。
もので、同図において斜線領域が原木丸太１２により光
２が遮ぎられた暗部１５を示し、その上方の非斜線領域
が光２が遮ぎられ々かった明部１６を示す。そして、Ｉ
ＴＶカメラ６の走査線１７を、投影像の暗部１５から明
部１６に向う方向に走査するようにセットして、その走
査線１７を明暗境界線１８の一端から他端にかけて順番
にずらしながら１回走査させていくことにより投影像の
全体を撮像する。第３図（ａ）はＩＴＶカメラ６の出力
信号１９を示し、２０は暗部１５に対応する波形、２１
は明部１６に対応する波形をそれぞれ示す。
この出力信号１９は２値化回路７に入力し、しきい値レ
ベル２２（第３図（ａ））で２値化して、第３図（ｈ）
に示す「ロー」信号２３と「ハイ」信号２４からなる２
値化信号２５を得る。そして、この２値化信号２５をサ
ンプルホールド回路９に入力し、「ロー」信ｆ２３から
「ハイ」信号２４への切替時に第３図（Ｃ）に示すサン
プルホールド信号２６を発生させる。一方、基準電圧発
生回路８においては、ＩＴＶカメラ６の走査線１７のｎ
回の走査に対応して、第３図（ｄ）に示すように直線的
に漸増する基準電圧２７をそれぞれｎ回発生させ、これ
をサンプルホールド回路９へ入力する。そして、サンプ
ルホールド回路９においては、上記サンプルホールド信
号２６（第３図（Ｃ））により、その信号発生時に対応
するホールド電圧Ｖを各走査線１７ごとにそれぞれホー
ルドして、第４図に示すホールド電圧信号２８を得る。
ベル２２（第３図（ａ））で２値化して、第３図（ｈ）
に示す「ロー」信号２３と「ハイ」信号２４からなる２
値化信号２５を得る。そして、この２値化信号２５をサ
ンプルホールド回路９に入力し、「ロー」信ｆ２３から
「ハイ」信号２４への切替時に第３図（Ｃ）に示すサン
プルホールド信号２６を発生させる。一方、基準電圧発
生回路８においては、ＩＴＶカメラ６の走査線１７のｎ
回の走査に対応して、第３図（ｄ）に示すように直線的
に漸増する基準電圧２７をそれぞれｎ回発生させ、これ
をサンプルホールド回路９へ入力する。そして、サンプ
ルホールド回路９においては、上記サンプルホールド信
号２６（第３図（Ｃ））により、その信号発生時に対応
するホールド電圧Ｖを各走査線１７ごとにそれぞれホー
ルドして、第４図に示すホールド電圧信号２８を得る。
このホールド電圧信号２８は、ＩＴＶカメラ６の一画面
分のホールド電圧Ｖ工〜ｖｎ（ｖｏは第１番目の走査線
１７に対応するホールド電圧、ｖｎは第ｎ番目の走査線
１７に対応するホールド電圧）の変化を表わしたもので
、その電圧変動は原木表面の凹凸形状と合致している。
分のホールド電圧Ｖ工〜ｖｎ（ｖｏは第１番目の走査線
１７に対応するホールド電圧、ｖｎは第ｎ番目の走査線
１７に対応するホールド電圧）の変化を表わしたもので
、その電圧変動は原木表面の凹凸形状と合致している。
そして、このホールド電圧信号２８をバイパスフィルタ
回路１０に入力して直流分を除去してから、その出力電
圧を表面粗度測定回路１１へ入力する。
回路１０に入力して直流分を除去してから、その出力電
圧を表面粗度測定回路１１へ入力する。
この場合、バイパスフィルタ回路１０から出力される出
力電圧と表面粗度との関係は、第５図に示すように出力
電圧が増すにつれて表面粗度が比例的に増大し、した７
５：ってその出力電圧を表面粗度測定回路１１で測定す
ることにより、表面粗度の程度を求めることができる。
力電圧と表面粗度との関係は、第５図に示すように出力
電圧が増すにつれて表面粗度が比例的に増大し、した７
５：ってその出力電圧を表面粗度測定回路１１で測定す
ることにより、表面粗度の程度を求めることができる。
このように、平行光線２を丸太表面の接線方向に投射す
ることによりスリガラス４上に結像させた投影像を用い
て表面粗さを測定するようにしたため、丸太表面の色模
様や含水率に影響されずに精度良く表面粗さを測定する
ことができる。また、ＩＴＶカメラ６．２値化回路７．
サンプルホールド回路９．基準電圧発生回路８．ハイバ
ヌフィルり回路１０により、丸太表面の凹凸形状を電気
信号に簡単に変換することができ、表面粗度測定回路１
１により電圧のレベルで表面粗度を正確に測定できる。
ることによりスリガラス４上に結像させた投影像を用い
て表面粗さを測定するようにしたため、丸太表面の色模
様や含水率に影響されずに精度良く表面粗さを測定する
ことができる。また、ＩＴＶカメラ６．２値化回路７．
サンプルホールド回路９．基準電圧発生回路８．ハイバ
ヌフィルり回路１０により、丸太表面の凹凸形状を電気
信号に簡単に変換することができ、表面粗度測定回路１
１により電圧のレベルで表面粗度を正確に測定できる。
なお、上記実施例においては、被検査物表面をスリガラ
ス４上に投影してその裏面側からＩＴＶカメラ６で撮像
したが、投影面の構成部材は特に限定せず、またＩＴＶ
カメラ６の撮像方向も裏面側に限定せず投影面の表面側
から撮像するようにしてもよい。さらにＩＴＶカメラ６
の走査線１７の走査方向を上記実施例では暗部１５から
明部１６に向かう方向に定めたが、その逆に設定しても
よく、要するに走査線１７を明暗部境界線１８の垂直方
向へ走査させればよい。
ス４上に投影してその裏面側からＩＴＶカメラ６で撮像
したが、投影面の構成部材は特に限定せず、またＩＴＶ
カメラ６の撮像方向も裏面側に限定せず投影面の表面側
から撮像するようにしてもよい。さらにＩＴＶカメラ６
の走査線１７の走査方向を上記実施例では暗部１５から
明部１６に向かう方向に定めたが、その逆に設定しても
よく、要するに走査線１７を明暗部境界線１８の垂直方
向へ走査させればよい。
以上のように、この発明の表面粗さ測定装置は、平行光
線により被検査物表面を投影する投影面と、この投影面
に投影した被検査物表面に垂直な方向に走査して撮像す
るＴＶカメラと、このＴＶカメラの輝度信号を２［化す
る２値化回路と、各走査線ごとに各走査線の走査に対応
して直線的に漸増する基準電圧を発生する基準電圧発生
回路と、前記２値化回路の出力信号が切替ったときサン
プルホールド信号を発生してその信号発生時に対応する
前記基準電圧発生回路の電圧をホールドするサンプルホ
ールド回路と、このサンプルホールド回路のホールド電
圧の直流分をカットするバイパスフィルタ回路と、この
バイパスフィルタ回路の出力電圧を測定して表面粗度を
求める表面粗度測定回路とを備えたため、被検査物表面
の色模様や含水率の影響をうけずに精度良〈表面粗さを
測定できるという効果がある。
線により被検査物表面を投影する投影面と、この投影面
に投影した被検査物表面に垂直な方向に走査して撮像す
るＴＶカメラと、このＴＶカメラの輝度信号を２［化す
る２値化回路と、各走査線ごとに各走査線の走査に対応
して直線的に漸増する基準電圧を発生する基準電圧発生
回路と、前記２値化回路の出力信号が切替ったときサン
プルホールド信号を発生してその信号発生時に対応する
前記基準電圧発生回路の電圧をホールドするサンプルホ
ールド回路と、このサンプルホールド回路のホールド電
圧の直流分をカットするバイパスフィルタ回路と、この
バイパスフィルタ回路の出力電圧を測定して表面粗度を
求める表面粗度測定回路とを備えたため、被検査物表面
の色模様や含水率の影響をうけずに精度良〈表面粗さを
測定できるという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例の構成図、第２図は投影像
と走査線の関係を表示する図、第３図は−ルド電圧との
関係特性図、第５図は出力電圧と表面粗度との関係特性
図である。 ２・・・平行光線、４・・・スリガラス（投影面）、６
・・・ＩＴＶカメラ、７・・・２値化回路、８・・・基
準電圧発生回路、９・・・サンプルホールド回路、１０
・・・ハイパヌフィルり回路、１１・・・表面粗度測定
回路第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
と走査線の関係を表示する図、第３図は−ルド電圧との
関係特性図、第５図は出力電圧と表面粗度との関係特性
図である。 ２・・・平行光線、４・・・スリガラス（投影面）、６
・・・ＩＴＶカメラ、７・・・２値化回路、８・・・基
準電圧発生回路、９・・・サンプルホールド回路、１０
・・・ハイパヌフィルり回路、１１・・・表面粗度測定
回路第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
Claims (1)
- 平行光線により被検査物表面を投影する投影面と、この
投影面に投影した被検査物表面に垂直な方向に走査して
撮像するＴＶカメラと、このＴＶカメラの輝度信号を２
値化する２値化回路と、各走査線ごとに各走査線の走査
に対応して直線的に漸増する基型電圧を発生する基準電
圧発生回路と、前記２値化回路の出力信号が切替ったと
きサンプルホールド信号を発生してその信号発生時に対
応する前記基準電圧発生回路の電圧をホールドするサン
プルホールド回路と、このサンプルホールド回路のホー
ルド電圧の直流分をカットするバイパスフィルタ回路と
、このバイパスフィルり回路の出力電圧を測定して表面
粗度を求める表面粗度混１定回路とを備えた表面粗さ測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17694881A JPS5876710A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | 表面粗さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17694881A JPS5876710A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | 表面粗さ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876710A true JPS5876710A (ja) | 1983-05-09 |
Family
ID=16022526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17694881A Pending JPS5876710A (ja) | 1981-10-31 | 1981-10-31 | 表面粗さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876710A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59167866A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気録画再生装置のテ−プ停止位置検知装置 |
| JPS59167865A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気録画再生装置のテ−プ停止位置検知装置 |
| JPS59201257A (ja) * | 1983-04-29 | 1984-11-14 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気テ−プ停止位置検知装置 |
| JPH04131710U (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-04 | 三菱自動車工業株式会社 | ワーク形状識別装置 |
| JP2008070164A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Inoac Corp | ローラの検査方法 |
| CN107036560A (zh) * | 2016-11-09 | 2017-08-11 | 上海理工大学 | 光学玻璃精密磨削加工的表面粗糙度检测方法 |
| CN109724543A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-05-07 | 南京林业大学 | 一种快速评价木材铣削加工性能的方法 |
-
1981
- 1981-10-31 JP JP17694881A patent/JPS5876710A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59167866A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気録画再生装置のテ−プ停止位置検知装置 |
| JPS59167865A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気録画再生装置のテ−プ停止位置検知装置 |
| JPH0315273B2 (ja) * | 1983-03-11 | 1991-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPH0315272B2 (ja) * | 1983-03-11 | 1991-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPS59201257A (ja) * | 1983-04-29 | 1984-11-14 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気テ−プ停止位置検知装置 |
| JPH0316705B2 (ja) * | 1983-04-29 | 1991-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPH04131710U (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-04 | 三菱自動車工業株式会社 | ワーク形状識別装置 |
| JP2008070164A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Inoac Corp | ローラの検査方法 |
| CN107036560A (zh) * | 2016-11-09 | 2017-08-11 | 上海理工大学 | 光学玻璃精密磨削加工的表面粗糙度检测方法 |
| CN107036560B (zh) * | 2016-11-09 | 2019-04-19 | 上海理工大学 | 光学玻璃精密磨削加工的表面粗糙度检测方法 |
| CN109724543A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-05-07 | 南京林业大学 | 一种快速评价木材铣削加工性能的方法 |
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