JPS5984540A - 熱処理装置 - Google Patents

熱処理装置

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JPS5984540A
JPS5984540A JP19559182A JP19559182A JPS5984540A JP S5984540 A JPS5984540 A JP S5984540A JP 19559182 A JP19559182 A JP 19559182A JP 19559182 A JP19559182 A JP 19559182A JP S5984540 A JPS5984540 A JP S5984540A
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boat
cassette
wafers
moved
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JP19559182A
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Toshiro Kato
敏郎 加藤
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Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 肢業上の利用分野 本発明は熱処理装置の改良に係わる。
1!県技術とその問題点 半導体素子の製造工程に於いては、熱拡散処理、CVD
(化学気相成長)処理あるいはアニール処理など新曲横
形加熱炉を用いた処理工程があシ、これらの処理工程で
は半導体ウェーハをカセットから取シ出し、一定間隔を
もって配列した状態で加熱炉(移送し、処理終了後に再
び元のカセットに戻すという一連の作業工程の自動化が
望まれている。従来の装置を用いた場合の斯種の作業手
順は、′(1)カセットからビンセットで半導体ウェー
ハを取り出す、(ii)このウェーハをピンセットで所
定ピッチをもってピーシに並べる、軸)該テートを?−
ト受は台に乗せる、(1■)該ビート受は台を手に持っ
て炉芯管内にデー”トを移す、(いボートにボート挿入
棒を引っかけてボートローダを作動させ、炉芯管の中心
部にボートを挿入する、(■1)ボートの挿入で炉芯管
内部の温度が下るので回復を待ってガスを注入し、拡散
又はCVDなどの処理を行う、(via)処理が終了し
た後は上記と逆の順序で()〜(1)の作業を行って処
理されたウェーハを元の同じカセットに収納する、とい
うものである。
このような作業手順のうち、(いのボートローダ作業か
ら(vl)の炉内本処理までが自動化されているだけで
、他の作業は全て手作業にたよっている。
そこで、先に本出願人は半導体素子の製造において、そ
の横形加熱炉を用いた処J!fj工程の全自動化をDJ
能ならしめるようにした半導体製造装置を提案した。
以下に、図面を参照して、かがる半導体製造装置を説明
しよう。
第1図はこの半導体製造装置の全体を示すものである。
この半轡体製造、1!:置は、複数の被処理物即ち半導
体ウェーハを収納した収納器(カセット)からウェーハ
を取り出し、これを一定間隔をもって配列支持して指定
の加熱炉に挿入してH1定の処理(拡散、Cv1〕、又
はアニールなどの処理)を行い、処理後のウェーハ勿再
び元のカセットに収納するという一連の作業をコンピュ
ータ制御によって自動的に行うように構成されるもので
、図示の如く、上記全ての作業工程をマイクロコンぎユ
ータによって自動制御する制御操作部(1)と、61数
の半導体ウェーハ(3)を収納し、夫々コード番号を付
された複数(本例では12個)の収納器即ちカセツ) 
(2) C(2A) 、 (2B)・・・・・・・・・
(2L) )と、例えば垂直方向に配列された3つの加
熱炉(4A) 、 (4B) 、 (4C)を備えた処
理装置(4)と、ウェーハ(3)をカセット(2)と処
理装置(4)との間で移送する移送装置(5)とを有し
て成る。各カセット(2)は相対向する一力の側面が開
放されたような1凸型をなし、夫々に例えば10ット分
25枚の半導体ウェーハ(3)が高さ方向に所定ピッチ
(例えば4.76 mピッチ)をもって積層状に収納さ
れる。この複数のカセット(2)は第2図に示すように
2列に配列されると共に、矢印atbtC及びd方向に
沿って1力セツト分づつ間欠的に且つ循環的に移送する
ようになされ、各カセット(2)に伺されたコード番号
が位置Soに来たときにホトセンサ(D)に夷って認識
され、選択される。このため各カセット(2)の横には
マイクロコンピュータが確認できるような例えば4つの
穴(10)を設け、之に対応して反射型発光ダイオード
(Dl) 、 (D2) 。
(Da ) −(D4 )からなるホトセンサ(D)に
よって反射する所と反射しない所とを読み分け、4ビツ
ト16進の信号を作り出しカセットのコード番号をデジ
タル化する。反射する所は金属の表面そのままとし、反
射しないハ[は発光ダイオードの赤外線光が反射しない
黒いラバーが貼着される。カセット(2)を循環的に移
送する機構(6)は、カセット(2)の2つの列の下方
に夫々配される各カセット(2)間に対応する位置に爪
(7)を一体に崩した1対の送シ爪部kA’ (8A)
 (813)と、列の両端に対応して設けられた1対の
アース、 (9A) (913)とから構成される。こ
の場合には、送東爪部材(8A)がシリンダー(CT2
)によシ上昇した冬瓜(7)がカセット間に挿入された
後シリンダー(CYI )で矢印a方向に1力セツト分
移動されることによって一力の列のカ七ッ) (2A)
〜(2F)が冬瓜(7)に押されて1力セツト分だけ移
送され、カセツ) (2A)が位置Soに持来される。
次にシリンダー(CYs )によるアーム(9A)の矢
印す方向の移動で位置Soのカセット(2A)が他の列
側に移送され、又シリンダー(CYg)によるアーム(
9B)の矢印d方向の移動でカセッ) (2G)が−力
の列側に移送される。続いて送り爪部材(8B)がシリ
ンダー(CYa)により上昇し且つシリンダー(CT4
)で矢印C方向に移動されることによって上記と同様に
他方の列のカ七ツ) (2A) 、 (2L)・・・・
・・・・・(2H)が1力セツト分だけ移送され、この
ようにして各カセット(2)は循環移送される。
一方、移送装置(5)は第3図に示す如くホトセンサ(
1))によって指定されたカセット(2)内のウェーハ
(3)を一旦カセット(2)と同一ピッチをもって移し
替えるピッチ変換用小ケース(12と、この小ケース(
121からウエーノ・(3)を1枚づつエアーベアリン
グ03)で移送し予め設定された所定ピッチをもって順
次に配列するピッチ変換用大ケース(14)が設けられ
る。
小ケース(+21は位置Soに持来されたカセット(2
)と近接対向する位置に在り、エアーベアリング(I□
□□を跨いでパルスモータM1を含む上下移動手段(1
5)を介して1ピツチづつ垂直方向に上下移動可能に配
される。なお、位置Soにおいて指定されたカセット(
2)と小ケース(121間でのウエーノ・(3)の移し
替えを行うために、カセット(2)と小ケース<la間
に渡る上方には第2図で示すようにシリンダー(CY7
 )で上下動する支持体(17)と、この支持体07)
に保持され夫々シリンダー(CY’5)及び(CYa 
)にて互に逆方向に駆動するアーム(16A)及び(1
6B)からなる移し替え機構4301が設けられる。こ
の移し替え機構CI)において、世1えはカセット(2
)から小ケース(121にウェーハ(3)を移すときは
シリンダー(CY7)により支持体(17)が下げられ
て後シリンダー(CY5)が作動してアーム(16A)
が矢印H方向に動き、このアーム(16A)によってカ
セット(2)内の25枚のウェーハ(3)が一度に小ケ
ースtta内に、移し替えられる。小ケースf13から
カセット(2)ヘウェーハ(3)を移すときはシリンダ
ー(CYs)によりアーム(16B)を矢印Y方向に動
がして行われる。
ピッチ変換用大ケース04)は、小ケースuJと対向す
るようにエアーベアリング峙の他端にこれを跨ぎ・母ル
スモータM2を含む上下移動手段(至)を介してlピッ
チづつ垂直方向に上下移動可能に設けられると共に、上
り切ったところでモータM3によシ水平に倒れるよう構
成される。この場合、大ケース(14)はウエーノ・(
3)が収容されるピッチか例えば4.0咽ピツチとなさ
れ、4.0mmピッチとしたときには100枚(4力セ
ツト分)のウエーノ・(3)が、8.0nvnピツチと
したときには50枚(2力セツト分)のウエーノ・(3
)が、12.0mmピッチとしたときには25枚(1力
セツト分)のウェーハ(3)が夫々収容される。小ケー
ス(121から大オース0aへのウェー−(3)の移送
は、ウェーハ(3)が収納された小ケース(1乃を1ピ
ツチづつ降下させ核層されたウエーノ5(3)を下から
順次エアーベアリング(1■に沿って大ケース(14)
側に送り、大ケース(14)では小ケース(12の降下
と同期して1ピツチづつ上昇させ上方から順次\ウエー
ノ(3)を収容するように行われる。大ケース(14)
から小ケースα4へ。
のウェーハ(3)の移送は上記と逆に小ケース(1りを
下から1ピツチづつ上昇させ、大ケースttaを上から
1ピツチづつ降下させて行われる。ウエーノ5(3)が
大ケース(14Jに移し終えた状態では各ウエーノf3
)のファセツ+−0υ(位置合せ用にウエーノ・の一部
を水平に切断した部分)が揃っていない。従って、各ウ
ェーハ(3)のファセット01)を共に揃える手段(1
81が大ケース(14)の下部に設けられる。この手段
(181は例えば収容された全ウェーハ(3)の周側に
共通しで転接しモータ〜14にて回転される棒状回転体
(1にて構成され、この棒状回転体(至)によって各ウ
ェーハ(3)が回転されたときウェーハ(3)のファセ
ッ)(3υの部分で棒状回転体(至)を離れ、ウェーハ
(3)の回転が停止されることによって各ウェーハ(3
)のファセット6υが揃えられる。又、大ケースIの下
部には、大ケース(14)に収容された全ウェーハ(3
)を大ケースα荀よシ上刃に持上げるためのウェーハリ
フ)(1’Jが配される。(CYlo、)はウェーハリ
フト(IIを上下動するためのシリンダーである。
さらに、移送秒置(5)においては、第4図に示すよう
に大ケース(]4)に収容されたウェーハ(3)を一括
して保持し、指定の加熱炉(4) [(4A) 、 (
4B)、又u (4C) )のテート端上に移すウエー
ハチャツクシυ、  が設置される。このチャック12
Dは、パルスモータM6を宮む縦直移動手段(例えば送
シネジ機構等)(匈を介して垂直力向に移動可能に配さ
れると共に、モータM5を含む水平移動手段09を介し
て水平方向に移動可能に配される。(CYII)はチャ
ック(21)の開閉を行うだめのシリンダーである。又
、3つの加熱炉(4A) 、 (413) 、 (4C
)を備えた処理装置(4)においては、夫々加熱炉(4
A) 、 (4B) 、 (4C)に対応して&  )
(2(1)が設けられ、この+1−”−Hυは夫々のデ
ートローダアーム(36A) 、 (3613) 、 
(36C)が連結され?−トローダ(37A) 、 (
37B) 、 (37c)によって炉に対して出入され
る。尚、各加熱炉(4A) 。
(4B) 、 (4C)の外の入口近傍には夫々ぎ一ト
(2Iを受ける受台ta(8)が設けられ、z −ト+
20)が炉内に挿入された時点では夫々対応するシリン
ダー(CY12) +(CY13) 、 (CY14)
により横に移動され待機状態となされる。
次に、かかる構成の動作を説明する。
夫々例えば10ット分25枚の半導体ウエーノ・(3)
を収納した複数、本例では12個のカセット(2)が第
1図で示されるようにFjr定位置に送られると、以後
コンピュータ制御され、先づ12個のカセット(2)が
カセット移送機構(6)によって1力セツト分づつ順次
間欠的に且つ循環的に移送される。1番目のカ七ツ) 
(2A)が位置Soに移送されるとホトセンサ(J〕)
によってカセッ) (2A)のコード番号が確認され、
とのカセッ) (2A)が指定されたものであると、第
2図に示す如くシリンダー(CY7)によって支持体(
17)が降下し、アーム(16A)かカセット(2A)
の開放されだ1i11j面に対向され、次にシリンダー
(CY5)によってアーム(16A)がカセット(2N
)内を通過する如く矢印H方向に移動されることによっ
てカセツ) (2A、)内の25枚のウェーハ(3)が
全てピッチ変換用小ケース([2)内に移し替えられる
。次にエアーベアリング(13)が作’mb L 、エ
アーベアリング(13)と対向する最下層のウェーハ(
3)がエアーベアリング(13)上を移送し、ピッチ変
換用大ケース(14)の最上↑<lSに収・容され、以
後111t+次小ケースαつが1ピツチづつ+hc−下
して下方より1枚づつウェーハ(3)がエアーベアリン
グ(+31を通じて1ピツチづつ上昇する大ケース(1
嚇内に例えば4wnビジチで収容される。
(なお、大ケース圓に収納するピッチは予めその大ケー
ス04)に間欠的に上昇するピッチを指定することによ
って4間ピッチ、8mピッチ、12111+++ピッチ
等自由に選択できる。)1力セツト分のウェーハ(3)
の収容が終ると、次に同様にして第2、第3、第4のカ
セット(2B) 、 (2C) 、 (2JJ)のウェ
ーハ(3)が大ケース04の次の段から入シ、第5図に
示す如く、4つのカセット(2人)〜(21))の計1
.00枚のウェーハ(3)が大ケース(14)に収容さ
れる。大ケース04)に指定されたカセット(2)のウ
ェーハ(3)が全て収容されると、次に大ケース04)
はモータM3の駆動で第3図の鎖線で示す如く水平に倒
れる。続いて、モータM4によって棒状回転体C’L3
)が回転し、各ウェーハ(3)のファセット(3υが揃
えられて後、シリンダー(CYlo)によりウェーハリ
フトθ翅が」二昇し、大ケース(14)内の全ウェーハ
(3)がR上げられる。次に、第4図の位置834に待
機していたウェーハチャックQわが垂直移送手段c34
)により位置831 寸で降下しシリンダー(CYI 
t )をしてリフトα1上の全ウェーハ(3)をつかみ
上げて後、指定の加熱炉(炉芯管)、例えば第1の加熱
炉(4A)の高さに対応する位置まで上昇し、その後水
平移送手段(3滲を介して矢印E方向に水平移動され、
ウェーハ(3)が指定の加熱炉(4A)のyl?−ト(
20)上に載置される。このときd?−トシQは受台例
上に保持されている。ウエーノ・チャック(2I)はウ
ェーハ(3)をボート((1)上に載置した後は矢印H
方向に水平移動され、垂直力向の定位置834に彷帰し
て待機される。ボー) +20)はウェーハ(3)が載
1dされた後、?−トローダアーム(36A)及びデー
トローダ(37A)を介して加熱炉(4A)に挿入され
る。このようにして指定された4力セツト分づつの生酒
、体ウェーハ(3)が夫々指定の加熱炉(4B)及び(
4C)に挿入される。そして加熱炉内に於て所をの処理
(拡散、CVD1アニール等の処理)が施される。
処理された後、各加熱炉(4A) 、 (4B) 、 
(4C)からウェーハ(3)を載置したボート+20)
が夫々取出され、以後は仲人時の動作と全く逆のl1l
l’l序で指定された元のカセット(2)に夫々のウェ
ーハ(3)が収納される。
即ち /、1「、つ、ウェーハチャックC!わが動作し
て加熱炉(4C)で処理されたウェーハ(3)をつかん
でピッチz(444!、!!用大ケース(14)内のウ
ェーハリフト([9上に載置する。リフト(+、!])
はシリンダー(CYI o )により降下し、ウェーハ
(3)は大ケースOa内に収容される。ウェーハチャッ
ク(21)は元の位置834に(R帰される。大ケース
(14)はモータM3によりエアーベアリング(13)
上に対向する如く起立シフ、続いてエアーベアリングα
りの動作で大ケース圓内の、ウエーノ(3)が1枚づつ
/JXケース(121内に収納される。このとき大ケー
ス(14)は1ピツチづつ降下し、之に対応して小ケー
スは1ピツチづつ上昇する。−力、カセット(2)側に
おいては、カセット移送機構(6)によってカセット(
2)を移送させると共にホトセンサ(1))によって各
カセット(2)のコード番号を確認し、指定のカセット
、仁の場合はカセツ) (2L)を選択して位置SOに
待機させる。1力セツト分(即ちカセツ) (2L)に
収納される分)の25枚のウエーノ・(3)が小ケース
(121に収納されると、シリンダ(CY7)が作動し
て支持体(17)が降下し、続いてシリンダ(CY6 
)によりアーム(16B)が矢印Y方向に移動して小ケ
ース(1り内の全つエーノ・(3)が指定された元のカ
七ツ) (2L)に収納される。同様にして、大ケース
の次の25枚のウェーハ(3)が、カセツ) (2K)
に収納される等して11111次対応するウェーハ(3
)がカセッ) (2J) 、 (21)に収納される。
加熱炉(4C)のウェーハ(3)の収納が終了した後は
、−り記と同様の動作が繰返えされ、第2の加熱炉(4
B)のウェーハ(3)及び第1の加熱炉(4A)のウェ
ーハ(3)か夫々対応する元のカセット(2)に収納を
れる。
上述せる半導体製造装置によれば、半導体素子の製造に
際して、その横形加熱炉を用いた拡散、Cvl、)、ア
ニール等の処理工程の全作業、即ち半導体ウェーハをカ
セットから取出し一定間隔をもって配列した状態で加熱
炉に移送し、処理終了後に再び元の指定されたカセット
に戻すという一連の作業工程が自動的に行えるものであ
る。従って之により終夜無人稼動がDJ能になり、装置
の稼動率が向上すると共に、作業者の削減も計られる等
の利点がある。
とζろで、かかる半導体製造装置dでは、ウェーハ(3
)を載置したyt?−[2Iを炉芯管(加熱炉) (4
A)(413) 、 (4C)内に出し入れする際、デ
ー) +20)を炉芯管内面を滑らせていた。このため
、炉芯管内面に付着していた不純物が舞い上り、これに
よりウェーハが汚染され、歩留りの低下につながるとい
う欠点があった。
発明の目的 かかる点にねみ、本発明はウエーノ・等の被処理物の配
列保持はれたボートを炉芯管等の管装置の内面に滑らせ
ることなく確実旧つ容易に出し入れすることのできる熱
処理装置を提案せんとするものである。
発明の概敬 本発明による熱処理装置は、管軸が水平力向で内部に被
処理物を収容して熱処理を行なう管装置と、複数の被処
理物を配列″L保持するツ?−トと、この、+7  )
の一端の夫々上部及び下部に設けられた第1の保合部及
び第1の当接部から成る第1の装置を部と、操作棒と、
この操作棒の一端の夫々上部及び下部に設けられ、上記
第1の保合部及び上記第1の当接部と夫々係合及び当接
する第2の係合部及び第2の当接部から成る第2の装着
部とを有し、第1及び第2の装着部を連結した状態で操
作棒を水平及び垂直方向に移動させることによpg−ト
を管装置に挿入し及びこれから脱却させるようにしたも
のである。
かかる本発明によれば、被処理物の配列保持されたテー
トを管装置の内面に滑らせることなく確実且つ容易に出
し入れすることのできる熱処理装置を得ることができる
実施例 以下に、第6図及び組7図を参照して、本発明の一実施
例を説明する。この熱処理装置は、上述した半導体装置
に適用するものである。(4〔は水平力向に配された石
英から成る管装置、即ち炉芯管を示す。I40は多数の
被処理物、即ちウエーノ(3)の載1角、される石英製
のが一トである。
次にこのボート4I)について油、明する。4.)4■
はウェーハ(3)を支持する支持棒で、互いに平行とな
るようにその各両端が端棒14) 、 fi5)を介し
て連結合体されている。支持棒+2) t 1.+31
にはウエーノ・(3)を位((決め保持するノツチ(4
(9が等間隔に多数形成されている。支持棒・1力、1
・(■の両端には夫々足置が取付けられている。
4ξ−[41)の一端側には中央に円孔(61)を有す
る第1の端板I4ηが支持棒IJ 、 、43と直交す
るように支持棒!42111431上に植立され、その
端板(47)の上部には一対の腕部・18)’、!4!
9が支持棒・13 、 +13の延長方向と平行でボー
ト14υの外側に向う如く取付けられている。
そして、この腕部18)、・4Iの下面に例えばV字形
(U字形等も可)の溝・’、01 、 (51)が形成
され、これらが第1係合部とされる。端棒(角形) +
44)は端板(47)と平行で、端板(47)の外側に
位置し、第1邑接部とされる。そして、第1保合部(:
遜、に功及び第1当接部144)にて第1装着部(52
が構成される。
(5漕は石英製の操作棒(丸棒)で、その先端に石英製
の第2の端板◎aが取付けられている。この端板(!i
4)はその上端の中央に突片が形成され、その両側の端
部が第2の係合部(5G) 、 Cinとされ、夫々第
1装着部(5湯の第1保合部・11,6υと係合するよ
うになされている。端板(i4の下側が第2当接部6秒
とされ、デー・9−状をなしている。第2の保合部so
 、 157)及び第2の当接部(5印にて第2の装着
部(5ωが構成きれる。
次に、かかる熱処理装置の動作を説明しよう。
初めボー) (41)は炉芯管(,11の外にあり、受
は台(図示せず)上に載IWされている。、t”−)(
41)上に、上述の半導体製造装置と同様に、ウェーハ
(3)を並べる。操作棒(5■を水平力向(炉芯管(4
0の管軸方向)aに移動させてrW  ) !41)に
接近させる。第2の装肩部159)の第2の当接部(至
)が第1の装着部(521の第10当接部1aに当接し
たら、操作棒Qi■を上向きの垂直力向すに移動させて
、第2の保合部(至)、67)を第1の保合部”’11
 e c′i1)に係合させ、更に続けて操作棒(5国
を上向きの垂直力向に移動させた後、再び水平力向aに
移動させ、d?−)61)を炉芯管T4()内に挿入す
る(第7図参照)。この場合、&−ト(41)のどの部
分も炉芯管(41の内壁に接触しないようにして移動さ
せる。ぞして1.t’−)(41)が炉芯管(4Q内の
適当位置に来たら、操作棒(53を矢印すとは逆方向に
除徐に移動させる。かくすると、ボー) t、11)の
足が炉芯管t4Iの内壁に着き、その後第1及び第2の
保合部・、)G 、 5υ; (51,c)’f)の保
合が解除される。しかる後、操作棒(至)を矢印aと反
対力向に移動させ、操作棒脅を炉芯管(41から引抜く
。その後、炉芯管01内に於いて、ylr−ト!4υ上
に載置場れたウェーハ(3)は例えば1100〜120
0℃の程度の温度で拡散処理される。
この拡散処理が終了した後は、操作棒63)を再び炉芯
管(41内に挿入し、第1及び第2の装漸部り。
1!l!J)を連結合体させ、操作棒0りによシテ−)
i4υを炉芯管(4Gの外部に取出す。
上述せる本発明熱処理装置によれば、被処理物(ウェー
ハ)の配列保持されたポートを管装置(炉芯管)の内面
に滑らせることなく確実且つ容易に出し入れすることが
できる。従って、被処理物(ウェーハ)が汚染されて歩
留りが低下するのが有効に回避される。
爽に、本発明熱処理装置によれば、次のような利点があ
る。被処理物の径が管装置の内径にかなシ近い場合でも
、この熱処理装置を適用できる。
管装置とケートとの並行度を保つのが容易である。
ゲートが横ずれし難い。管装置に対するビートの挿脱が
容易且つ確実である。
発明の効果 上述せる本発明熱処理装置によれば、被処理物の配列保
持された収納体を管装置の内面に滑らせることなく確実
且つ容易に出し入れすることができる。従って、被処理
物が汚染されて歩留りが低下するのが有効に回避される
。従って、本発明を冒頭に述べた半導体製造装置に適用
して頗る好適である。
史に、本発明熱処理装置によれば、次のような利点があ
る。被処理物の大きさが管装置の内径にかなシ近い場合
でも、この熱処理装置を適用で■る。管装置とテートと
の並行度を保つのが容易である。ポートが横ずれし難い
。管装置に対するポートの挿脱が容易且つ確実である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の半導体製造装置の全体を示す斜視図、4
12図はそのカセット部分を示す路線的配置図、第3図
はそのウェーハの移送装置の狭部の路線的配置図、第4
図はその他の狭部の路線的配置図i図、第5図は動作の
説明に供する図、第6図は不発明による熱処理装置の一
実施例を示す斜視図、第7図はその動作状態を示、す一
部の断面図である。 (3)はウェーハ、(4Gは管装置(炉芯管)、(41
)はデート、(4り、(43は支持棒、・・14)は第
1の当接部、(4119はノツチ、’47)は第1の端
板、Gas 、 (4鳴は腕部、へ;渇、G1)は第1
の係合部(溝)、6′!Jは第1の装着部、5階は操作
棒、64)は第2の端板、(至)、6υは第2の保合部
、C逓は第2の当接部、6つは第2の装着部、霞は足で
ある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 管軸が水平方向で内部に被処理物を収容して熱処理を行
    なう管装置と、複数の被処理物を配列保持する1ケート
    と、該テートの一端の夫々上部及び下部に設けられた第
    1の保合部及び第10当接部から成る第1の装着部と、
    操作棒と、該操作棒の一端の夫々上部及び下部に設けら
    れ、上記第1の保合部及び上記第10当接部と夫々係合
    及び尚接する第2の保合部及び第20当接部から成る第
    2の装着部とを崩し、上記第1及び第2の装着部を連結
    した状態で上記操作棒を水平及び北直方向に移動させる
    ことにより上記ビートを上記管装置に挿入し及びこれか
    ら脱却させるようにしたことをlh徴とする熱処理装置
JP19559182A 1982-11-08 1982-11-08 熱処理装置 Pending JPS5984540A (ja)

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