JPS58218115A - 熱処理装置 - Google Patents

熱処理装置

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JPS58218115A
JPS58218115A JP57101552A JP10155282A JPS58218115A JP S58218115 A JPS58218115 A JP S58218115A JP 57101552 A JP57101552 A JP 57101552A JP 10155282 A JP10155282 A JP 10155282A JP S58218115 A JPS58218115 A JP S58218115A
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JP
Japan
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boat
wafer
cassette
wafers
pitch
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Application number
JP57101552A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Sugita
和弘 杉田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27BFURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B9/00Furnaces through which the charge is moved mechanically, e.g. of tunnel type; Similar furnaces in which the charge moves by gravity
    • F27B9/30Details, accessories, or equipment peculiar to furnaces of these types
    • F27B9/3077Arrangements for treating electronic components, e.g. semiconductors
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/137Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/14Wafer cassette transporting

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は熱処理装置の改良に係わる。
半導体素子の製造工程に於いては、熱拡散処理、CVD
(化学気相成長)処理あるいはアニール処理など所謂横
形加熱炉を用いた処理工程があυ、これらの処理工程で
は半導体ウェー71をカセットから取シ出し、一定間隔
をもって配列した状態で加熱炉に移送し、処理終了後に
再び元のカセットに戻すという一連の作業工程の自動化
が望まれている。従来の装置を用いた場合の斯種の作業
手順は、(1)カセットか虻ピンセットで半導体ウェー
ハを取シ出す、 (ii)このウェーハをピンセットで
所定ピッチをもってボートに並べる、(iii)該2−
トをセード受は台に乗せる、(iv)該セード受は台を
手に持って炉芯管内にデートを移す、(V)&−)にデ
ート挿入棒を引っかけてデートローダを作動させ、炉芯
管の中心部にセードを挿入する、(vi) z −トの
挿入で炉芯管内部の混層が下るので回復を待ってガスを
注入し、拡散又はCVDなどの処理を行う、(Vii)
処理が終了した後は上記と逆の順序で(V)〜(1)の
作業を行って処理されたウニ、−ハを元の同じカセット
に収納する、というものである。このよう々作業手順の
うち、(いの/−)ローダ作業から(■1)の炉内本処
理までが自動化されているだけで、他の作業は全て手作
業にたよっている。
そこで、先に本出願人は半導体素子の製造において、そ
の横形加熱炉を用いた処理工程の全自動化を可能ならし
めるようにした半導体製造装置を提案した。
以下に、図面を参照して、かかる半導体製造装置を説明
しよう。
第1図はこの半導体製造装置の全体を示すものである。
この半導体製造装置は、複数の被処理物即ち半導体ウェ
ーハを収納した収納器(カセ、ット)からウェーハを取
シ出し、これを一定間隔をもって配列支持して指定の加
熱炉に挿入して所定の処理(拡散、CVIJ、又はアニ
ールなどの処理)を行い、処理後のウェーハを再q元の
カセットに収納するという一連の作業をコンピュータ制
御によって自動的に行うように構成されるもので、図示
の如く、上記全ての作業工程をマイクロコンピュータに
よって自動制御する制御操作部(1)と、複数の半導体
ウェー・・(3)を収納し、:夫々コード番号を付され
た複数(本例では12個)の収納器即ちカセット(2)
 C(2A)、(2B)・・・・・・・・・(2L)〕
と、例えば垂直方向に配列された3つの加熱炉(4A)
、(4B) 、(40)を備えた処理装@(4)と、ウ
ェーハ(3)をカセット(2)と処理装置(4)との間
で移送する移送装置(5)とを有して成る。各カセット
(2)は相対向する一方の側面が開放されたような箱型
をなし、夫々に例えば10ット分25枚の半導体ウェー
ハ(3)が高さ方向に所定ピッチ(例えば4.7611
11ピツチ)をもって積層状に収納される。この複数の
カセット(2)は第2図に示すように2列に配列される
と共に、矢印a、b、c及びd方向に沿って1力セツト
分づつ間欠的に且つ循環的に移送するように表され、各
カセット(2)に付されたコード番号が位置Soに来た
ときにホトセンサ(IJ)によって認識され、選択され
る。このため各カセット(2)の横にはマイクロコンピ
ュータが確認できるような例えば4つの穴a〔を設け、
之に対応1尤て反射型発光ダイオード(Dl)、(D2
)、(Da) 、゛(D4)から々るホトセンサ(D)
によ::1 って反射する所と反射しない所とを読み分け、4ピツト
16進の信号を作シ出し力9セットのコード番号をデジ
タル化する。反射する所は金属の表面そのままとし、反
射しない所は発光ダイオードの赤外線光が・反射しない
黒いラノ々−が貼着される。
カセット(2)を循環的に移送する機構(6)は、カセ
ット(2)の2つの列の下方に夫々配される各カセット
(2)間に対応する位置に爪(7)を一体に有した1対
の送り爪部材(8A) (8B)と、列の両端に対応し
て設けられた1対のアーム(9A) (9B)とから構
される。
この場合には、送り爪部材(8A)がシリンダー(CY
2)により上昇した冬瓜(7)がカセット間に挿入され
て後シリンダー(CYI’)で矢印a方向に1力セツト
分移動されることによって一方の列のカ七ツ) (2A
)〜(2F)が冬瓜(7)に押されて1力セツト分だけ
移送され、カセツ)(2A)が位filt8oに持来さ
れる。次にシリンダー(CYs)によるアーム(9A)
の矢印す方向の移動で位置SOOカ七ツ) (2A)が
他の列側に移送され、又シリンダー(CY9)によるア
ーム(9B)の矢印d方向の移動でカセツ) (2G)
が一方の列側に移送される。
続いて送り爪部材(8B)がシリンダー(CYr)によ
り上昇し且つシリンダー(CY4)で矢印C方・ 向に
移動されることによって上記と同様に他方の列のカセッ
ト(2A)、  (2L)・・・・・・・・・(2H)
が1力セツト分だけ移送され、このようにして各カセッ
ト(2)は循環移送される。
一方、移送装置(5)は第3図に示す如くホトセンサ(
IJ)によって指定されたカセット(2)内のウェーハ
(3)を一旦カセット(2)と同一ピッチをもって移し
替えるピッチ変換用小ケース(121と、この小ケース
(1zからウェーハ(3)を1枚づつエアーベアリング
αJで移送し予め設定された所定ピッチをもって順次に
配列するピッチ変換用人ケースIが設けられる。
小ケース(12+は位fi8oに持来されたカセット(
2)と近接対向する位置に在り、エアーベアリング(1
31を跨いでパルスモータM1を含む上下移動手段αり
を介して1ピツチづつ垂直方向に上下移動可能に配され
る。なお、位置Soにおいて指定されたカセット(2)
と小ケース02間でのウエーノ5(3)の移し替えを行
うために、カセット(2)と小ケースC121間に渡る
上方には第2図で示すようにシリンダー(CY7)で上
下動する支持体(171と、この支持体Q′rlに保持
され夫々シリンダー(CYs )及び(CY6)にて互
に逆方向に駆動するアーム(16A)及び(16B)か
らなる移し替え機構(至)が設けられる。この移し替え
機構(7)において、例えばカセット(2)から小ケー
ス狂zにウェーハ(3)を移すときはシリンダー(CY
y)によシ支持体aηが下げられて後シリンダー(C:
Ys )が作動してアーム(16A)が矢印H方向に動
き、このアーム(16A)によってカセット(2)内の
25枚のウェーハ(3)が一度に小ケースα2内に移し
替えられる。小ケース(1zからカセット(2)ヘウェ
ーハ(3)を移すときはシリンダー(eYs)によりア
ーム(16B)を矢印Y方向に動かして行われる。
ピッチ変換用人ケースf14は、小ケースα2と対向す
るようにエアーベアリング[131の他端にこれを跨ぎ
パルスモータM2を含む上下;移動手段Qを介してlピ
ッチづつ垂直方向に上下;移動可能に設けら:: れると共に、上シ切ったところ、4でモータM3によシ
水平に倒れるよう構成され、、j″′1′−この場合、
大ケースa船はウェーハ(3)が収容されるピッチが例
えば4、Qm+iピッチとなされ、4.0誌ピッチとし
たときには100枚(4力セツト分)のウェーハ(3)
が、8.01111ピツチとしたときには50枚(2力
セツト分)のウェーハ(3)が、12.01111ピツ
チとしたときには25枚(1力′セツト分)のウェーノ
ー (3) カ夫々収容される。小ケース(12+から
大ケースQ41へのウェーハ(3)の移送は、ウェーノ
(3)が収納された小ケ゛−ス(12)を1ピツチづつ
降下させ積層されたウェーノ1(3)を下から順次エア
ーシアリングα3に沿って大ケースa4側に送p、大ケ
ース0では小ケースQzの降下と同期してlピッチづつ
上昇させ上方から順次ウェーハ(3)を収容するように
行われる。大ケース<14) カら小ケース(121へ
のウェーノA(3)の移送は上記と逆に小ケース(1z
を下から1ピツチづつ上昇させ、大ケース(121を上
から1ピツチづつ降下させて行われる。ウェーハ(3)
が大ケースa4に移し終えた状態では各ウェーハ(3)
のファセット0υ(位置合せ用にウェーノ・の一部をに
水平に切断した部分)が揃って1:11.。
いない。従って、各ウェー/)(3)のファセット01
1を共に揃える手段Q81が大ケースα4の下部に設け
られ   。
る。この手段q8は例えば収容された全ウェーツバ3)
の周側に共通して転接しモータM4 Kて回転される棒
状回転体G33)にて構成され、この棒状回転体(至)
によって各ウェーハ(3)が回転されたときウエーノ翫
(3)のファセット01)の部分で棒状回転体田を離れ
、ウェーハ(3)の回転が停止されることによって各ウ
ェーハ(3)のファセツ) 011が揃えられる。又、
大ケースIの下部には、大ケースIに収容された全ウェ
ーハ(3)を大ケースα荀より上方に持上げるためのウ
ェーハリフトa9が配される。(CYlo)はウェーハ
リフ)Q9を上下動するためのシリンダーである。
さらに、移送装置(5)においては、第4図に示すよう
に大ケース(14)に収容されたウェーノ・(3)を一
括して保持し、指定の加熱炉(4) [(4A)、(4
B)、又は(4C) )のボート(2c上に移すウェー
ノ・チャック(211が設置される。このチャック(2
11は、]ぐルスモークM6を含む垂直移動手段(例え
ば送シネ、ジ機構等)(財)を介して垂直方向に移動可
能に配されると共に、モータM5を含む水平移動手段(
351を介して水平方向に移動可能に配される。(CY
I t )はチャック(2m)の開閉を行うためのシリ
ンダーである。又、3つの加熱炉(4A)、(4B)、
(4C)を備えた処理装置(4)においては、夫々加熱
炉(4A)、(4B)、(4C)に対応してyj?−)
(201が設けられ、このボート(2)は夫夫のポート
ローブアーム(36A)、(36B)% (36C)が
連結されボートローダ(37A)、(37B)、(37
C)によって炉に対して出入される。尚、各加熱炉(4
A)、(4B)、(4C)の外の入口近傍には夫々ボー
ト(20を受ける受台(至)が設けられ1.g−ト(イ
)が炉内に挿入された時点では夫々対応するシリンダー
(CYI2)、(CYI 3)、< cYt 4 )に
よシ横に移動され待機状態となされる。
次に、かかる構成の動作を説明する。
夫々例えば10ット分25枚の半導体ウェーノ・(3)
を収納した複数1本例では12個のカセット(2)が第
1図で示されるように所定位簡に送られると、以後コン
ピュータ制御され、先づ12個のカセット(2)がカセ
ット移送機構(6[によって1力セツト分づつ順次間欠
的に且つ循環的に移送される。1番目のカセット(2人
)が位t8oに移送されるとホトセンサ(13)によっ
てカセツ、ト(2A)のコード番号が確認され、このカ
セツ) (2A)が指定されたものであると、第2図に
示す如くシリンダー(CYI)によって支持体住ηが降
下し、アーム(16A)がカセット(2人)の開放され
た側面に対向され、次にシリンダ(CYs)によってア
ーム(16A)がカセット(2人)内を通過する如く矢
印H方向に移動されることによってカセツ) (2A)
内の25枚のウェーハ(3)が全てピッチ変換用小ケー
スα2内に移し替えられる。次にエアーベアリングQ3
1が作動し、エアーベアリング(131と対向する最下
層のウェーハ(3)がエアーベアリング(131上を移
送し、ピッチ変換用人ケース0滲の最上部に収容され、
以後順次小ケース(12+が1ピツチづつ降下して下方
より1枚づつウェーハ(3)がエアーベアリング0を通
じて1ピツチづつ上昇する大ケースI内に例えば4 v
rmピッチで収容される。
(々お、大ケース(14)に収納するピッチは予めその
、: 大ケースIに間欠的に上昇1するピッチを指定する□。
ことによって4酩ピツチ、・’8’b、、川ピッチ、1
2mmピッチ等自由に選択できる。)1力セツト分のウ
ェーハ(3)の収容が終ると、次に同様にして第2、第
3、第4のカセット(2B)、(2C)、(21J)の
ウェーハ(3)が大ケースα滲の次の段から入υ、第5
図に示す如く、4つのカセット(2人)〜(2]J)の
計100枚のウェーハ(3)が大ケー′ス(141に収
容される。大ケースα4に指定されたカセット(2)の
ウェーハ(3)が全て収容されると、次に大ケースα4
はモータM3の駆動で第3図の鎖線で示す如く水平に倒
れる。続いて、モータM4によって棒状回転体(2)が
回転し、各ウェーハ(3)のファセットGυが揃えられ
て後、シリンダー(CYI o )によυウェーハリフ
) (19が上昇し、大ケース04)内の全ウェーハ(
3)が持上げられる。次に、第4図の位置834に待機
していたウェーハチャックQυが垂直移送手段(財)に
より位置831まで降下しシリンダー(CYo)をして
リフ)H上の全ウェーハ(3)をつかみ上げて後、指定
の加熱炉(炉芯管)、例えば第1の加□熱炉(4A)の
高さに対応する位置まで上昇し、そヤ′□後水平移送手
段C34)を介して矢印E方向に水平移動)れ、ウェー
ハ(3)が指定の加熱炉(4A)のセード■上に載置さ
れる。このときセード(21は受台(至)上に保持され
ている。ウエーノ・チャック(211はウェーハ(3)
をZ −ト(W上に載置した後は矢印H方向に水平移動
され、垂直方向の定位置834に復帰して待機される。
ボート(2υ)はウエーノ・(3)が載置された後、ポ
ートローダアーム(36A)及びセードローダ(37A
)を介して加熱炉(4A)に挿入される。このようにし
て指定された4力セツト分づつの半導体ウェーハ(3)
が夫々指定の加熱炉(4B)及び(4C)に挿入される
。そして加勢炉内に於て所要の処理(拡散、CVIJ、
アニール等の処理)が施される。
処理された後、各加熱炉(4A)、(4B)、(4C)
からウェーハ(3)を載置したセード■が夫々取出され
・以後は挿入時の動作と全く逆の順序で指定された元の
カセット(2)に夫りのウエーノ・(3)が収納される
即・ち、先づ、ウエーノ1チャックQυが動作して加熱
炉(4C)で処理されたウエーノ(31をつかんでピッ
チ変換用人ケース(14)内のウエーノ・リフ目9上に
載置する。リフト(19はシリンダー(CYlo)によ
り降下し、ウェーハ(3)は大ケース0め内に収容され
る。ウェーハチャックCυは元の位置834に復帰され
る。大ケース(14)はモータM3によりエアーベアリ
ング(131上に対向する如く起立し、続いてエアーベ
アリング(131の動作で大ケース(14)内のウェー
ハ(3)が1枚づつ小ケース(121内に収′納される
。このとき大ケースIは1ピツチづつ降下し、之に対応
して小ケースけ1ピツチづつ上昇する。一方、カセット
(2)側においては、カセット移送機構(6)によって
カセット(2)を移送させると共にホトセンサ(D)に
よって各カセット(2)のコード番号を確認し、指定の
カセット、この場合はカセット(2L)を選択して位置
Soに待機させる。1力セツト分(即ちカセット(2L
)に収納される分)の25枚のウエーノ・(3)が小ケ
ース[121に収納されると、シリンダ(CYI)が作
動して支持体Iが降下し、続いてシリンダ(CYe )
によりアーム(16B)が矢印Y方向に移動して小ケー
ス(121内の・ 全ウェーハ(3)が指定された元の
カ七ツ)(2L)に収納される。同様にして、大ケース
の次の25枚のウェーハ(3)が、カセツ) (2K)
に収納される等して順次対応するウエーノ・(3)がカ
セット(2J) 、(2I)に収納される。加熱炉(4
C)のウエーノ(3)の収納が終了した後は、上記と同
様の動作が繰返えされ、第2の加熱炉(4B)のウェー
、5(31及び第1の加熱炉(4A)のウェーツバ3)
が夫々対応する元のカセット(2)に収納される。
上述せる半導体製造装置によれは、半導体素子の製造に
際して、その横形加熱炉を用いた拡散、CVIJ、アニ
ール等の処理工程の全作業、即ち半導体ウェーハをカセ
ットから取出し一定間隔をもって配列した状態で加熱炉
に移送し、処理終了後に再び元の指定されたカセットに
戻すという一連の作業工程が自動的に行えるものである
。従って之により終夜無人稼動が可能になり、装置の稼
動率が向上すると共に、作業者の製減も計られる等の利
点がある。
ところで、かかる半導体製造装置では、ウェーハ(3)
を載置したa −ト(201を炒豆”□管(加熱炉)(
4A)、Vト・・ (4B)、(4C)内に出し入れす名゛際、シート(2
■を炉、□、、−いえ。。、λ):)、えい、やお、〜
1に付着していた不純物が舞い上り、これによりウェー
ハが汚染され、歩留シの低下につながるという欠点があ
った。
かかる点に鑑み、本発明はウェーハ等の被処理物の収納
されたぜ−ト等の収納体を炉芯管等の管装置の内面に滑
ら゛せることなく出し入れすることのできる熱処理装置
を提案せんとするものである。
本発明による熱処理装置は、管軸が水平方向で内部に被
処理物を収容して熱処理を行なう管装置と、複数の被処
理物を収納する収納体と、管装置の外部でその一端側に
位置する第1及び第2の支持装置と、第1の支持装置及
び収納体間を連結する第1の連結手段を備え、収納体を
水平方向に移動させる第1の作動手段と、第2の支持装
置に取付けられて収納体の保持部を軸回転により保持す
る第2の連結手i′を備え、収納体を水平及び垂直方向
に移動させる°”第2の作動手段とを有するものである
。    ”、↑ 以下に、第 :J::第8図を参照して、本発明による
熱処理装置  実施例を説明する。この熱処1:。
理装置は、上述した半導体製造装置に適用するものであ
る。(4Gは水平方向に配された石英から成る炉芯管を
示す。(41)は多数のウエーノ・の載置された石英か
ら成るダートである。先ず、この、R−ト(411につ
いて説明する。(4湯、(4りは逆台形状の端板で、こ
れらが夫々コ字形の把手(46)、(47)を有する横
板(49、(46)にて連結されることにより、平面が
矩形の枠組が構成される。端板(42)、(431間に
は2等辺3角形の頂点に配された3本のウエーノ・支持
棒(47)、(481、(49)が差し渡されて固定さ
れる。これら支持棒(47)、(48) 。
(49)にはウェーハ(3)を位置決め保持するノツチ
nが等間隔に多数形成されている。60)は、後述する
出入軸l!57)の連結部6υとピン(52を介して連
結される連結部である。これら連結部501、(511
’はビン(521を外すことにより、連結を解除するこ
とができる。
印、(56)は、夫々互いに平行な回転軸(ステンレス
M ) 63)、64)によって互いに反対方向に回転
せしめられるべく回転軸63)、う4)の端部に取付け
られた爪である。この爪65)、66)は把手(46)
、(4力と係合することによシ、$−) (41を持上
げる。回転軸t53)、(511!は支持台(581に
を付けられると共に、モータ(5旬によって互いに反対
方向に回転せしめられる。この支持合冊は、ガイドレー
ル[F]υ、鞄によって案内され、モータ關によって駆
動される送りねじ(60)によって移動せしめられる。
67)はボート(4IJを炉芯管(40に出入させるた
めの出入軸(石英製)である。この出入軸(57)は支
持台(6滲に取付けられる。支持台(64)は、ガイド
レール(651、(66)によって案内され、モーター
によって駆動される送シねじ(6′Oによって移動せし
められる。
次に、第9図を本参照して、かかる熱処理装置の動作を
説明しよう。初めN −ト(41)は第9図に示す如く
炉芯管(41の外にあり、受は台(691上に載置され
ている。、f −ト(411上に、上述の半導体製造装
置と同様に、ウエーノ・(3)を並べる。モータ鏝の回
転によシ、ぼ−) (41)を第9図の爪r551の位
置まで移動させる。次に、モータ槌にて回転軸鰻、(5
4)を回転させることにより第7図のように爪69、(
56)をボート(4Dの把手(46)、(47)に係合
させてボード(41)を僅か(2〜3第3第冨程持上げ
る。次に、モータ轍、(至)を同期して回転させること
により、$−[41)を爪s51.stpで持上げた状
態で、出入軸67)によシセート(41)を押して第6
図に示す如(、N−[41)を炉芯管(40内にその内
面と接触し々いようにその中の所定位置まで押入する。
次に、回転軸(53!、641を上述とは反対方向に回
転して爪も5)、艶を、t −) 141>の把手から
外し、ダート+411を炉芯管t41内に静かに載置す
る。
次に、モーターを駆動して爪69.66)を炉芯管(4
Gの外へ引出す。そして、J −ト(411に載置され
たウェーハ(3)を1100〜1200℃程度の温度で
拡散処理する。
この拡散処理が終了したら、再ひ爪(i5)、66)を
炉芯管(4Q内に挿入してゼー)(411の把手(46
)、(4力と係合させてz −) (411を僅か持上
げる。次にモーター、鏝を同期して回転させることによ
り、ボート(4Dを爪印、(5eで持上げた状態で1.
出入軸印によりダー[411を引張って、N −) (
41)を炉芯管曲の内面と接触しないようにして炉芯管
(40の外の受台−の位置まで引出す。次に回転軸ω)
、64)′を上述とは反対方向・1.: に回転して爪651,66)を&7)、((・!)の把
手から外し、′1 yf−、)(4Bを受台(6!1上に静かに載置する。
次にセード(41)を更に引張って、第9図に示す受台
(6q上の位置まで持来す。次に、上述の半導体装置と
同様にウェーハ(3)をゼーH411から取出す。
上述せる本発明熱処理装置によれば、被処理物(ウェー
ハ)の収′納された収納体(、N−))を管装置(炉芯
管)の内面に滑らせることなく出し入れすることができ
る。従って、被処理物(ウェーハ)が汚染されて歩留り
が低下するのが有効に回避される。従って、本発明を冒
頭に述べた半導体製造装置に適用して頗る好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の半導体製造装置の全体を示す斜視図、第
2図はそのカセット部分を示す路線的配置図、第3図は
そのウエーノ・の移送装置の要部の路線的配置図、第4
図はその他の要部の路線的配置図、第5図は動作の説明
に供する図、第6図は本発明による熱処理装置の一実施
例を示す側面図、第7図はその断南図、第8図はそのセ
ードを示す斜視図、第9図1本発明による熱処理装置の
一実施例の動作状態゛を′県す側面図である。 (3) [ウェー ”、(404d 炉芯管、(41)
Fi、N−)、(4e、(4?)はその把手、6■、(
至)は爪、(53)、64)は回転軸、6ηは出入軸、
(63)、轍はモータである。 64

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 管軸が水平方向で内部に被処理物を収容して熱処理を行
    なう管装置と、複数の被処理物を収納する収納体と、上
    記管装置の外部でその一端側に位賀す手箱1及び第2の
    支持装置と、上記第1の支持装置及び上記収納体間を連
    結する第1の連結手段を備え、上記収納体を水平方向に
    移動させる第1の作動手段と、上記第2の支持装置に取
    付けられて上記収納体の保持部を軸回転により保持する
    第2の連結手段を備え、上記収納体を水平及び垂直方向
    に移動させる第2の作動手段とを有することを特許とす
    る熱処理装置。
JP57101552A 1982-06-14 1982-06-14 熱処理装置 Pending JPS58218115A (ja)

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