JPS5972750A - 半導体収納容器および半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体収納容器および半導体装置の製造方法

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JPS5972750A
JPS5972750A JP57183982A JP18398282A JPS5972750A JP S5972750 A JPS5972750 A JP S5972750A JP 57183982 A JP57183982 A JP 57183982A JP 18398282 A JP18398282 A JP 18398282A JP S5972750 A JPS5972750 A JP S5972750A
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semiconductor
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resistance heating
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Isamu Kitahiro
北広 勇
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体素子の収納容器および半導体装置の製造
方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 半導体装置は近年、ますます高密度・高集積化してきて
おり、その機能も複雑化している。
また、高密度化・微細化が進んでいる一方、チップの大
面積化が進み、10 t+++n角程度のLSIが出現
している。かように、大面積化が進展すると収納容器へ
の半導体素子取付工程が一つの問題となって来る。即ち
、半導体素子と収納容器の熱膨張係数の差が問題となり
、チップ割れ等を引きおこす。
以丁に従来の半導体素子収納容器と、その収納容器への
半導体素子の固定法について第1図、第2図とともに説
明する。第1図人は従来の一例としてセラミックパッケ
ージの外観図で、1はセラミックパッケージ、2けリー
ド、3け半導体装置31  ″ を収納するところで通常ダイアタッチ部と呼ばれている
。第1図BはAのX−Y断面図である。第2図は第1図
に示す従来のセラミックパッケージに半導体素子を接着
固定する工程を示し、1,2゜3け第1図と同じもので
、11はヒートコラム、12けヒータ、13け半導体素
子、14け素子吸着コレット、15は真空吸引孔である
従来の例では収納容器自体には発熱源を持たないため、
第2図の如く大きいヒートコラムを用いて全体を加熱し
なければならない。
さらには、半導体素子を徐冷するに際して第2図11.
12で示されるヒートコラムを長(しなければならず、
電力使用量、ヒートコラム構造からして問題があった。
発明の目的 本発明はこのような従来の問題に鑑み、半導体素子の収
納容器への組込み時、即ち、グイボンディング時、ワイ
ヤボンディング時、半導体素子の加熱昇温及び徐冷を容
易に実現し得る半導体収納容器および半導体装置の製造
方法を提供することを目的さする。
発明の構成 本発明は半導体素子の収納容器、特には半導体素子載置
領域直丁を含んで抵抗発熱体を形成し、この抵抗発熱体
に通電することにより半導体素子と載置領域を加熱昇温
せしめ、組立工程を容易ならしめるものである。
実施例の説明 第3図は本発明の一実施例におけるセラミック・パッケ
ージの断面構造を示したものであるが、従来例と共通の
構成要素の番号は第1図と同じにしている。また、第3
図に断面構造を示した収納容器の外観は第1図と同じで
ある。4け半導体素子を載置すべき領域3の直Fに形成
された抵抗発熱体である。現在使用されているセラミッ
ク・パッケージは多層構造になっており、第3図の6で
示す点線部は重ね合わせの部分を示している。この抵抗
発熱体4けセラミック・パッケージの製造工程に耐える
ものであれば何でも良い。さらに抵抗発熱体の端子を外
部リード2のどれかに接続し51− ソ ておくこ々により、さらに使用が容易となる。
第4図は本発明の第2の実施例におけるプラスチックパ
ッケージの断面構造を示した。説明を容易にするため、
はぼ最終形状に近い状態を示した。
41け樹脂、42け外部リード、43け金属細線、44
け半導体素子載置領域、46け半導体素子、46け抵抗
発熱体但し42.43で金属リードフレームを形づくっ
ているため、46は絶縁体で保護しておく必要がある。
本発明によればまず最初に42.44で構成されるリー
ドフレームに抵抗発熱体(例えばニクロム線をセラミッ
ク板でサンドイッチ構造にしだもの)を接着し、その後
は通常の組立工程を通すのであるが、必要に応じて抵抗
発熱体に通電し加熱すれば良い。
以上、セラミックパッケージ、プラスチックパッケージ
について説明したが、本発明はその他のパッケージに対
しても応用できる。
以り述べた収納容器を用いた組立工程は、丁記の如くに
なる。まず、半導体素子をグイボンディングするに際し
ては、抵抗発熱体に通電し所定の6t′−m:′ 温度にまで加熱する。その際、小さいパッケージでは抵
抗発熱体のみで昇温できるが外部熱源との併用も考えら
れる。半導体素子のグイボンディングは従来法と全く同
じで良い。次にワイヤボンディングの工程であるが必要
ならば、前記ダイボンディング工程と全く同様に昇温す
れば良い。さらに、特性測定・検査において、高温特性
、温度依存性を測定する必要がでてくるが、外部リード
を介して抵抗発熱体に電力供給が可能であるたy)、装
置が単純である上、制御性がよくなる。
発明の効用 以上のように本発明は半導体素子収納容器に抵抗発熱体
を内蔵させることにより、組立・検査工程の設備の簡素
化を可能ならしめ、半導体装置の製造に大きく寄与する
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図人は従来例のセラミックパッケージの外観図、同
Bけ同人のx−y線断面構造図、第2図は半導体素子と
ダイボンディングする際の従来の断面図、第3図は本発
明の一実施例のセラミック7 ・−′ パッケージの断面図、第4図は本発明の他の実施例のプ
ラスチックパッケージの断面図である。 1・・・・・・パッケージ、2・・・・・・外部リード
、3・・・・・・、u納領域、11・・・・・ヒートコ
ラム、12・・・・・・ヒーター、13・・・・・・半
導体素子、4,46・・・・・・抵抗発熱体。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 9 綜 aつ 味

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)半導体素子を載置すべき領域直Fを含んで抵抗発
    熱体が形成されてなる半導体収納容器。 (2)抵抗発熱体に通電し半導体素子を載置すべき領域
    を加熱昇温しで、金−シリコン 晶法又は半田法又は樹
    脂接着法で半導体素子を接着・固定することを特徴とす
    る半導体装置の製造方法。 (3)半導体素子を接着した後、抵抗発熱体への電流を
    徐々に減じて半導体素子を徐冷することを特徴とする特
    許請求の範囲第2項記載の半導体装置の製造方法。 (4)抵抗発熱体に通電し半導体素子を加熱昇温しで、
    半導体素子上電極と外部リードとを金属細線にて接続す
    ることを特徴とする半導体装置の製造方法。 (6)抵抗発熱体に通電し半導体素子を加熱昇温しで、
    半導体素子の特性を測定・検査することを2 j  ′ 特徴とする半導体装置の製造方法。
JP57183982A 1982-10-19 1982-10-19 半導体収納容器および半導体装置の製造方法 Pending JPS5972750A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997044819A1 (de) * 1996-05-18 1997-11-27 Robert Bosch Gmbh Verfahren und vorrichtung zur befestigung von bonddrähten auf bondlands einer hybridschaltung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51144182A (en) * 1975-06-05 1976-12-10 Mitsubishi Electric Corp Indirectly heated semiconductor unit
JPS54137660A (en) * 1978-04-17 1979-10-25 Kyoto Ceramic Ceramic printed board for integrated circuit

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