JPS6057656A - パワ−モジユ−ル - Google Patents

パワ−モジユ−ル

Info

Publication number
JPS6057656A
JPS6057656A JP58164959A JP16495983A JPS6057656A JP S6057656 A JPS6057656 A JP S6057656A JP 58164959 A JP58164959 A JP 58164959A JP 16495983 A JP16495983 A JP 16495983A JP S6057656 A JPS6057656 A JP S6057656A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power module
substrate
ceramic substrate
heat dissipating
metallic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58164959A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Ishii
誠 石井
Tsutomu Ohara
大原 勤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58164959A priority Critical patent/JPS6057656A/ja
Publication of JPS6057656A publication Critical patent/JPS6057656A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/647Resistive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/35Mechanical effects
    • H01L2924/351Thermal stress
    • H01L2924/3511Warping

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利I11分野〕 本発明は、半導体装置に係り、特に半導体素子なとの発
熱素子か多数搭載された高集積高出力のパワ−モジュー
ルに関t ル。
〔従来技術〕
従来のパワーモジュールを第1図によって説明する。1
はシリコン等から成る半導体素子、2は金属酸化物から
成る抵抗体で、アルミナを主成分とするセラミック基板
3の」二に形成された金属導体4」二にはんだ等によっ
てta着されている。
該セラミック基板の裏面には、ニッケルおよびニッケル
合金等のメソキロが形成されており、金属放熱板7とは
んだ8で接合している。
かかる構造のパワーモジュールにおいて、前記セラミッ
ク基板と金属放熱板の接合には、熱伝導性を考1・放シ
て、はんだ付で行うことが一般的であるが、はんだ付工
程では最低230℃〜250℃の温度で処理し、はんだ
を溶融した後、急冷してセラミック基板3と金属放熱板
7を固?!させる。
その際、はんだが固まると上1:層の熱膨張系数の相違
から歪が生し、セラミック基板;3と金属放熱板7は第
2図に示す如く、凸状に変形する。
第3図はセラミック基板の4寸法とそり量dを実験的に
めたものであるが、基板−N1法が35 mmを越える
とそり量はQ、 5 mmに達っし、その現象がl:+
1著なものはセラミック基板が破壊して、パワーモジュ
ールの性能を損う他、信頼性的に著しい低ドを期たす。
従って上記手法でパワーモノニールを設計製作するため
には基板寸法tは20〜2.5 mm以下に規制する必
要があり、パワー素「・および抵抗体を多数個搭載した
高集積パワーモノニールの製作は困難であった。
〔発明の1−1的」 本発明の目的はセラミック基板と金属放熱板の接合に際
し、セラミック基板が破壊することなく、しかも高丈積
化が可能な構造を備えるパワーモジュールを提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
本発明はセラミック基板と金属放熱板の接合層として、
伸縮性に秀れ、且つ、熱伝導性の良好な熱硬化性樹脂を
使用して接合することにより、熱膨張系数の相違によっ
て生しだ熱歪を接合層で吸収し、破壊することを防止し
た高集積パワーモジュールを?4.r、るものである。
〔発明の実施例〕 以下、本発明を図示実施例を用いて説明する。
第4図は本発明の一実施例である1、 2 K Vl1
級パワーモジュールの断面構造を示すものである。
従来と同−符壮は同一物を示す。
1はシリコン等から成る半導体素T−,2は金属酸化物
から成る抵抗体で、アルミナを主成分とするセラミック
基板3の」二に選択的に形成された金属導体4とはんた
5て固着されている。
該セラミック基板の裏面と金属放熱板7とは樹脂接着剤
9を介して熱的、機械的に接合されている。
」1記実施例は341]l・ランンスタモノユールて、
I・ランジスタ素子はセラミック基板−にに6ケ載置さ
れており、この回路を形成するセラミック基板の外形寸
法は45 mm X 4.5 mmの大きさが必要にな
る。
この寸法で金属放熱板をはんだ付すると、セラミック基
板は約]、 mm、反りが生じ破壊するが、/リコーン
ゴト等の熱伝導性の秀れた接合剤を用いれば、」−下層
の熱歪は接合層に吸収され、セラミック基板の反り量は
Oになる。従ってセラ(ツク基板を破壊することなく、
金属放熱板を接合することができ、品質の安定した高集
積パワーモジュールを7!することが出来る。発明者等
が行った’1jJA度ザイクル試験の結果ては温度差]
、 00 degの条件で20にサイクルまで接合度の
剥離、クラックは見られず、放熱特性は初期と全く同等
であった。
また接合剤は樹脂であるため従来のはんだに比較すると
熱伝導出は小さく ]’ X J、 0−3d/cm℃
程度である。従って接合層の厚みを0.05〜0.1 
vanの範囲内にコントロールすることが、熱特性低下
を防止するうえて必要である。
〔発明の効果〕
以」一本発明によれば、セラミック基板の4寸法が20
咽以]−におよぶ、高集積パワーモジュールにおいて、
セラミック基板に破壊を期たすことなく製造できる他、
金属放熱板を接合する際に必要であった、セラミック基
板裏面のメタライズも不要になる。また繰返し温度サイ
クルに対しても半永久的な強度を有する等の効果があり
、安価がっ高信頼度な高集積パワーモジュールを得るこ
とが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のパワーモジュールの構造を示す側断面図
、第2図は従来のパワーモジュール反り方向を示す断面
図、第3図は基板寸法と反り量の関係を示す図、第4図
は本発明によるパワーモジュールの構造を示す側断面図
である。 ■・・・パワー素’r−12・・抵抗体、3・・セラミ
ック基板、5.8・・・はんだ、6・・+1ill而メ
タライス、7・・・金属放熱板、8・・・樹脂接合層。 代理人弁理士 高 橋 明 夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一・i/iiに抵抗体、導体、パワー素子なとを搭載し
    たセラミック基板の裏面に金属放熱板をとりつけた構造
    からなるパワーモノニールにおいて、該セラミック基板
    と該金属放熱板を熱伝導性樹脂で接合したことを4.l
    i徴とするパワーモジュール。
JP58164959A 1983-09-09 1983-09-09 パワ−モジユ−ル Pending JPS6057656A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58164959A JPS6057656A (ja) 1983-09-09 1983-09-09 パワ−モジユ−ル

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58164959A JPS6057656A (ja) 1983-09-09 1983-09-09 パワ−モジユ−ル

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6057656A true JPS6057656A (ja) 1985-04-03

Family

ID=15803111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58164959A Pending JPS6057656A (ja) 1983-09-09 1983-09-09 パワ−モジユ−ル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6057656A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100354462B1 (ko) * 1998-11-04 2002-09-30 가부시끼가이샤 도시바 모듈형 반도체 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100354462B1 (ko) * 1998-11-04 2002-09-30 가부시끼가이샤 도시바 모듈형 반도체 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20050142691A1 (en) Mounting structure of semiconductor chip, semiconductor device and method of making the semiconductor device
JP2006013080A (ja) 半導体モジュールおよびその製造方法
JP2002343911A (ja) 基 板
JPH10135386A (ja) 半導体ベアチップの製造方法
JPH11214448A (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2004327711A (ja) 半導体モジュール
JPS6057656A (ja) パワ−モジユ−ル
KR102039791B1 (ko) 반도체칩 실장방법 및 반도체칩 패키지
JP2919651B2 (ja) 混成集積回路
JPS59219942A (ja) チツプキヤリア
JP2847949B2 (ja) 半導体装置
US20050269689A1 (en) Conductor device and method of manufacturing thereof
JPS6159660B2 (ja)
JPS63190363A (ja) パワ−パツケ−ジ
JPH04287952A (ja) 複合絶縁基板およびそれを用いた半導体装置
JP2558574B2 (ja) 半導体装置
JPH08222670A (ja) 半導体素子搭載用パッケージ
JPH0558569B2 (ja)
JPH0537106A (ja) 混成集積回路
JPH05114665A (ja) 放熱性基板
JP2968704B2 (ja) 半導体装置
JPS6184043A (ja) プラグインパツケ−ジ
JPS60250655A (ja) 集積回路パツケ−ジ
JPH09331150A (ja) 半導体装置
JPH1154665A (ja) 複合パッケージ