JPS6184043A - プラグインパツケ−ジ - Google Patents
プラグインパツケ−ジInfo
- Publication number
- JPS6184043A JPS6184043A JP59205386A JP20538684A JPS6184043A JP S6184043 A JPS6184043 A JP S6184043A JP 59205386 A JP59205386 A JP 59205386A JP 20538684 A JP20538684 A JP 20538684A JP S6184043 A JPS6184043 A JP S6184043A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lsi chip
- window
- package
- flat sheet
- plug
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/053—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
- H01L23/057—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads being parallel to the base
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1515—Shape
- H01L2924/15153—Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/15165—Monolayer substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1517—Multilayer substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15312—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1532—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、主にプリント配線板に搭載して使用するプラ
グインパッケージに関するもので、特に冷却を必要とす
るICチップの発生する熱を効率よく外部に伝えること
のできるプラグインパッケージの構造に関するものであ
る。
グインパッケージに関するもので、特に冷却を必要とす
るICチップの発生する熱を効率よく外部に伝えること
のできるプラグインパッケージの構造に関するものであ
る。
従来の技術
近年コンピュータにおいては、装置の処理性能や信頼性
の向上のために、LSI化された半導体素子や、高密度
でかつ小形化されたLSIチップ搭載用の各種セラミッ
クパッケージが次第に採り入れられてくるようKなった
。半導体素子技術は微細加工技術の発達により、ゲート
当りの占有面積も次第に減少して来ている。このため半
導体チップは、ますます高集積化される傾向にある。
の向上のために、LSI化された半導体素子や、高密度
でかつ小形化されたLSIチップ搭載用の各種セラミッ
クパッケージが次第に採り入れられてくるようKなった
。半導体素子技術は微細加工技術の発達により、ゲート
当りの占有面積も次第に減少して来ている。このため半
導体チップは、ますます高集積化される傾向にある。
このように、高集積化の度合が大きくなると、チップ当
りの消費電力が増大することは周知の通りである。LS
Iチップは第3図の(a)ちるいは(b)に示すような
アルミナセラミ、り材料から成るプラグインパッケージ
に搭載し、さらにカードあるいはボードなどに実装する
方法が採用されている。
りの消費電力が増大することは周知の通りである。LS
Iチップは第3図の(a)ちるいは(b)に示すような
アルミナセラミ、り材料から成るプラグインパッケージ
に搭載し、さらにカードあるいはボードなどに実装する
方法が採用されている。
しか−己ながら放熱用ヒートシンクなしての冷却に対し
てはおのずと限界があった。
てはおのずと限界があった。
そこで前述の高集積化された消費電力の大きなLSIチ
ップからの放熱に対しては、冷却の観点から第4図に示
すようにLSIチップをフェースダウンの状態でアルミ
ナセラック材料から成る平板の凹部に収納接着し、LS
Iチップ搭載の反対の面にヒートシンクを固着して放熱
させる方法が採られている。
ップからの放熱に対しては、冷却の観点から第4図に示
すようにLSIチップをフェースダウンの状態でアルミ
ナセラック材料から成る平板の凹部に収納接着し、LS
Iチップ搭載の反対の面にヒートシンクを固着して放熱
させる方法が採られている。
第3図及び第4図において、1はアルミナセラミック平
板、2はLSIチップのリードを接着するための端子パ
ッド、3は入出力リードピン、6はLSIチップ、7は
チップ接着剤、8はボンディングワイヤ、9はヒートシ
ンク、10はヒートシンク接着剤である。
板、2はLSIチップのリードを接着するための端子パ
ッド、3は入出力リードピン、6はLSIチップ、7は
チップ接着剤、8はボンディングワイヤ、9はヒートシ
ンク、10はヒートシンク接着剤である。
この種の従来例としては、本出願人の出願にかかる特願
昭59−168940号に示されている。
昭59−168940号に示されている。
しかし、第4図においてLSIチップからの放熱を効率
良くヒートシンクに伝達するためには、LSIチップか
らヒートシンクまでの間の熱抵抗を極力低くおさえるこ
とが必要であり、そのためにLSIチップとヒートシン
ク間でのアルごナセラミック平板の厚さを極力薄く形成
する必要がある。しかしながら、このようにセラミック
基板を薄く形成すると、第1には広がり熱抵抗が増大す
るため、総合的には熱抵抗を下げることが困難となる。
良くヒートシンクに伝達するためには、LSIチップか
らヒートシンクまでの間の熱抵抗を極力低くおさえるこ
とが必要であり、そのためにLSIチップとヒートシン
ク間でのアルごナセラミック平板の厚さを極力薄く形成
する必要がある。しかしながら、このようにセラミック
基板を薄く形成すると、第1には広がり熱抵抗が増大す
るため、総合的には熱抵抗を下げることが困難となる。
したがってLSIチップの発熱量が増加すると、十分に
LSIチップを冷却できないという欠点があった。第2
には機械的強度が低下し熱ストレスに対して亀裂などの
破壊現象が発生し易いという欠点があった。更に第3に
はLSIチップ接着面に反りやうねりが発生し易く、寸
法精度が出しにくいばかりでなく作条性が低下するとい
う欠点があった。
LSIチップを冷却できないという欠点があった。第2
には機械的強度が低下し熱ストレスに対して亀裂などの
破壊現象が発生し易いという欠点があった。更に第3に
はLSIチップ接着面に反りやうねりが発生し易く、寸
法精度が出しにくいばかりでなく作条性が低下するとい
う欠点があった。
発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、上記の欠点すなわち高集積化され発熱
量の大きいLSIチップを搭載するセラミック基板の熱
抵抗が犬さいこと、機械的強度が不十分となること、寸
法精度が出しにくいことなどの問題点を解決したプラグ
インパッケージを提供することにある。
量の大きいLSIチップを搭載するセラミック基板の熱
抵抗が犬さいこと、機械的強度が不十分となること、寸
法精度が出しにくいことなどの問題点を解決したプラグ
インパッケージを提供することにある。
問題点を解決するための手段
本発明は上述の問題点を解決するために、セラミック平
板において、LSIチップ搭載部分に貫通窓を形成し、
その周囲の下面にLSIチップ端子と結線するための複
数個の端子パッドと、これらの端子パッドの外側に複数
個の入出カビ/をもうけ、かつその上面に金属板を密着
させた構成を採用するものである。
板において、LSIチップ搭載部分に貫通窓を形成し、
その周囲の下面にLSIチップ端子と結線するための複
数個の端子パッドと、これらの端子パッドの外側に複数
個の入出カビ/をもうけ、かつその上面に金属板を密着
させた構成を採用するものである。
さらに金属板として、セラミック平板と線膨張係数が等
しくかつ良熱伝導率を有する銅モリブデン合金材料より
なるものとした構成を採用するものである。
しくかつ良熱伝導率を有する銅モリブデン合金材料より
なるものとした構成を採用するものである。
作用
本発明は上述のように構成したので、LSIチップを搭
載する場合、セラミック平板の貫通窓と金属板とで形成
する窓部の金属板面上にLS、Iチップ本体が直接装着
され、貫通窓の周囲下部のパッドとLSIチップ端子と
がボンディングワイヤで電気的に接続され入出力ピンに
結ばれる。
載する場合、セラミック平板の貫通窓と金属板とで形成
する窓部の金属板面上にLS、Iチップ本体が直接装着
され、貫通窓の周囲下部のパッドとLSIチップ端子と
がボンディングワイヤで電気的に接続され入出力ピンに
結ばれる。
したがってこのLSIチップの発生する熱は直接金属板
に伝わり、熱伝導性のすぐれた金属板によって放熱され
る。さらに金属板の上面が平面をなしているので、−漸
動率のよいヒートシンクを取り付けることによって放熱
特性が大幅に改善する作用がある。
に伝わり、熱伝導性のすぐれた金属板によって放熱され
る。さらに金属板の上面が平面をなしているので、−漸
動率のよいヒートシンクを取り付けることによって放熱
特性が大幅に改善する作用がある。
実施例
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例を断面図で示す第1図を参照すると、
■はアルミナセラミック平板、2はLSIチップのリー
ドを接着するだめの端子パッド、3は入出力ピン、4は
金属板、5は金属板接着剤である。
■はアルミナセラミック平板、2はLSIチップのリー
ドを接着するだめの端子パッド、3は入出力ピン、4は
金属板、5は金属板接着剤である。
アルミナセラミック平板1の中心付近にはLSIチップ
6を収納できる大きさの貫通窓が形成されており、その
周辺部の下面には、LSIの端子数に等しい複数個の端
子パッド2ならびにカードあるいはボードとの接続用の
複数個の入出力ピン3が形成されている。端子パッド2
と入出力ピン3とは、前記アルミナセラミック平板lの
表面あるいは内層を通して電気的接続がなされている。
6を収納できる大きさの貫通窓が形成されており、その
周辺部の下面には、LSIの端子数に等しい複数個の端
子パッド2ならびにカードあるいはボードとの接続用の
複数個の入出力ピン3が形成されている。端子パッド2
と入出力ピン3とは、前記アルミナセラミック平板lの
表面あるいは内層を通して電気的接続がなされている。
アルミナセラミ、り平板の上面には、アルミナセラミッ
ク平板1とほぼ同等の線膨張係数を有し良好な熱伝棉特
性をもつ銅モリブデン合金材料から成る金属板4が金属
板接着剤5により一体的に固着されている。固着方法は
ろう付けにより形成する場合が一般的に用いられる。す
なわちアルミナセラミ、り平板にあらかじめ形成された
下地金属(例えばタングステン)と前記金属板4とを周
知の銀あるいは銀銅から成るろう剤を使用して約900
℃前後の温度にてろう付けにて固着される。
ク平板1とほぼ同等の線膨張係数を有し良好な熱伝棉特
性をもつ銅モリブデン合金材料から成る金属板4が金属
板接着剤5により一体的に固着されている。固着方法は
ろう付けにより形成する場合が一般的に用いられる。す
なわちアルミナセラミ、り平板にあらかじめ形成された
下地金属(例えばタングステン)と前記金属板4とを周
知の銀あるいは銀銅から成るろう剤を使用して約900
℃前後の温度にてろう付けにて固着される。
また、良好な熱伝導性樹脂接着剤により接着することも
できる。例えば銀フィラー導伝性エポキシ系接着剤を使
用し、約150℃の温度を30分間印加して固化する。
できる。例えば銀フィラー導伝性エポキシ系接着剤を使
用し、約150℃の温度を30分間印加して固化する。
本実凡例に示している金属板4は、アルミナセラミック
平板と同サイズにて実現していりか、必ずしも一致する
大きさでなくてもよい。
平板と同サイズにて実現していりか、必ずしも一致する
大きさでなくてもよい。
LSIチップ搭載については、前記アルミナセラミック
平板と金属板との接合面におけるLSIチップ搭載部に
形成されて成る貫通窓部は、金属板4が露出されている
のでLSIチップ6金金属板4に直接接着することが可
能となる。
平板と金属板との接合面におけるLSIチップ搭載部に
形成されて成る貫通窓部は、金属板4が露出されている
のでLSIチップ6金金属板4に直接接着することが可
能となる。
第2図は本発明のプラグインパッケージにLSIチップ
6をフェースダウンの状態で貫通窓部の金属板4に収納
接着し、LSIチ、プ搭載の反対面に放熱用ヒートン/
り9を取り付けた状態を示す実施例の断面図である。図
において、6はLSIチップ、7はチップ接着剤、8は
ボンディングワイヤ、9はヒートシンク、10はヒート
シンク接着剤である。LSIチップ6は、フェースダウ
ンの状態で、貫通窓の前記鋼モリブデン合金材料から成
る金属板4に良好な熱伝導性材料からなる周知の半田付
けあるいは前記の尋電性接着剤7により固着されている
。窓部の周囲に形成された端子パッド2の各々とLSI
チップ6の端子の各々とはボンディングワイヤ8により
配線てれている。
6をフェースダウンの状態で貫通窓部の金属板4に収納
接着し、LSIチ、プ搭載の反対面に放熱用ヒートン/
り9を取り付けた状態を示す実施例の断面図である。図
において、6はLSIチップ、7はチップ接着剤、8は
ボンディングワイヤ、9はヒートシンク、10はヒート
シンク接着剤である。LSIチップ6は、フェースダウ
ンの状態で、貫通窓の前記鋼モリブデン合金材料から成
る金属板4に良好な熱伝導性材料からなる周知の半田付
けあるいは前記の尋電性接着剤7により固着されている
。窓部の周囲に形成された端子パッド2の各々とLSI
チップ6の端子の各々とはボンディングワイヤ8により
配線てれている。
ヒートシンク9はヒートシンク接着剤10にヨリ一体的
に固着されている。
に固着されている。
したがって本発明に係るプラグインパッケージは1発熱
量が大きく高集積化されたLSIチップの放熱特性を大
幅に改善することが可能となる。
量が大きく高集積化されたLSIチップの放熱特性を大
幅に改善することが可能となる。
発明の効果
以上に説明したように1本発明によれば、LSIチップ
をセラミック平板の貫通窓部において、熱伝導性の良好
な金属板に直接接着することにより、発熱量の大きいL
SIチップを破壊することなく搭載できるという効果が
ある。また従来のセラピック平板を薄くすることによる
破損およびそり、うねりも発生しなくなるという効果が
ある。
をセラミック平板の貫通窓部において、熱伝導性の良好
な金属板に直接接着することにより、発熱量の大きいL
SIチップを破壊することなく搭載できるという効果が
ある。また従来のセラピック平板を薄くすることによる
破損およびそり、うねりも発生しなくなるという効果が
ある。
第1図は本発明に係るプラグインパッケージの実施例の
断面図、第2図は第1図に消費電力の大きなLSIチッ
プを搭載し、上面にヒートシンクを取り付けた状態を示
す断面図、第3図は従来例のプラグインパッケージにL
SIチップを搭載した状態を示す断面図で、(a)はL
SIチップのフェースアップ、 (bLはフェースダウ
ンの状態図、第4図は消費電力の比較的大きなLSIチ
ップ宝フエフエースダウン態で搭載し、ヒートシンクを
取り付けた従来例のプラグインパッケージの断面図であ
る0 1・・・・・・アルミナセラミック平板、2・・・・・
・端子パッド、3・・・・・・入出力ピン、4・・・・
・・金属板、5・・・・・・金属板接着剤、6・・・・
・・LSIチップ、7・・・・・・チップ接着剤、8・
・・・・・ボンディングワイヤ、9・・・・・・ヒート
シンク、10°゛°°゛ヒ一トシンク接着剤。 二と三1 $ I 聞 茅2図 尊3図 茅4図
断面図、第2図は第1図に消費電力の大きなLSIチッ
プを搭載し、上面にヒートシンクを取り付けた状態を示
す断面図、第3図は従来例のプラグインパッケージにL
SIチップを搭載した状態を示す断面図で、(a)はL
SIチップのフェースアップ、 (bLはフェースダウ
ンの状態図、第4図は消費電力の比較的大きなLSIチ
ップ宝フエフエースダウン態で搭載し、ヒートシンクを
取り付けた従来例のプラグインパッケージの断面図であ
る0 1・・・・・・アルミナセラミック平板、2・・・・・
・端子パッド、3・・・・・・入出力ピン、4・・・・
・・金属板、5・・・・・・金属板接着剤、6・・・・
・・LSIチップ、7・・・・・・チップ接着剤、8・
・・・・・ボンディングワイヤ、9・・・・・・ヒート
シンク、10°゛°°゛ヒ一トシンク接着剤。 二と三1 $ I 聞 茅2図 尊3図 茅4図
Claims (2)
- (1)セラミック平板と、その面上に設けられたLSI
チップ搭載用の複数個の端子パッドと、前記端子パッド
の外側位置に設けられた複数個の入出力ピンとからなる
プラグインパッケージにおいて、前記セラミック平板の
LSIチップ搭載部分に貫通窓を形成し、セラミック平
板の前記のボンデングパッドと入出力ピンのある面と反
対側面に金属板を密着させ、この金属板の前記セラミッ
ク平板貫通窓部より露出する面上にLSIチップを固着
することを特徴とするプラグインパッケージ。 - (2)金属板に銅モリブデン合金材料を使用した特許請
求の範囲第1項記載のプラグインパッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59205386A JPS6184043A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | プラグインパツケ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59205386A JPS6184043A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | プラグインパツケ−ジ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6184043A true JPS6184043A (ja) | 1986-04-28 |
Family
ID=16505958
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59205386A Pending JPS6184043A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | プラグインパツケ−ジ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6184043A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6414127A (en) * | 1987-06-19 | 1989-01-18 | Heraeus Gmbh W C | Insulated metal composite body |
US5067007A (en) * | 1988-06-13 | 1991-11-19 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device having leads for mounting to a surface of a printed circuit board |
US5798566A (en) * | 1996-01-11 | 1998-08-25 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Ceramic IC package base and ceramic cover |
-
1984
- 1984-09-29 JP JP59205386A patent/JPS6184043A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6414127A (en) * | 1987-06-19 | 1989-01-18 | Heraeus Gmbh W C | Insulated metal composite body |
US5067007A (en) * | 1988-06-13 | 1991-11-19 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device having leads for mounting to a surface of a printed circuit board |
US5798566A (en) * | 1996-01-11 | 1998-08-25 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Ceramic IC package base and ceramic cover |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6330158B1 (en) | Semiconductor package having heat sinks and method of fabrication | |
US5471366A (en) | Multi-chip module having an improved heat dissipation efficiency | |
US6528882B2 (en) | Thermal enhanced ball grid array package | |
JP2974552B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH0883818A (ja) | 電子部品組立体 | |
JPH02276264A (ja) | ヒートシンク付セラミックパッケージ | |
US6784536B1 (en) | Symmetric stack up structure for organic BGA chip carriers | |
JPS6161449A (ja) | マルチチップ集積回路パッケ−ジ | |
JPH03174749A (ja) | 半導体装置 | |
JP2865496B2 (ja) | マルチチップモジュール | |
KR100220249B1 (ko) | 열방출 능력이 향상된 박막 볼 그리드 어레이 패키지 | |
JPS6184043A (ja) | プラグインパツケ−ジ | |
JP2891426B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH05206320A (ja) | マルチチップモジュール | |
JP3314574B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US6265769B1 (en) | Double-sided chip mount package | |
JPH07235633A (ja) | マルチチップモジュール | |
JP3022738B2 (ja) | マルチチップモジュール | |
JPS60226149A (ja) | ヒ−トシンク付セラミツクパツケ−ジ | |
JPH0574985A (ja) | 半導体素子の実装構造 | |
JP3127149B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS6116553A (ja) | プラグインパツケ−ジ | |
JPH0817974A (ja) | 放熱構造を持つbga型lsiパッケージ | |
JPH0878616A (ja) | マルチチップ・モジュール | |
JP2008300390A (ja) | 半導体装置 |