JPS5970022A - ダイナミツク型半導体装置 - Google Patents

ダイナミツク型半導体装置

Info

Publication number
JPS5970022A
JPS5970022A JP57181004A JP18100482A JPS5970022A JP S5970022 A JPS5970022 A JP S5970022A JP 57181004 A JP57181004 A JP 57181004A JP 18100482 A JP18100482 A JP 18100482A JP S5970022 A JPS5970022 A JP S5970022A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
precharge
semiconductor device
level
leak path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57181004A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyasu Fujishima
一康 藤島
Kazuhiro Shimotori
下酉 和博
Hideyuki Ozaki
尾崎 英之
Hideji Miyatake
秀司 宮武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP57181004A priority Critical patent/JPS5970022A/ja
Publication of JPS5970022A publication Critical patent/JPS5970022A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00369Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
    • H03K19/00384Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/096Synchronous circuits, i.e. using clock signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は使用電源電圧が変動した場合でも(ロ)路動
作が正常に行なわれることを可能にする半導体装置、特
にダイナ芝ツク集積回路装置に関するものである。
〔従来技術〕
プッシュプル型ダイナミック回路として従来から第1図
に示す回路が多用されている。図中(1)。
(2)はエンハンスメント型MO8)、ランジスタで、
プリチャージ期間中に≠p bS高レベル、通常は電源
電圧レベルVDDになりOUTがVDD−VTのレベル
にプリチャージされている。ここでVTはMOS )ラ
ンジスタのしきい値電圧である。回路動作が始まると。
INが高レベルに向けて立ち辷がり、 OUTのプリチ
ャージレベルをグラウンドのレベル(OV )にM2S
 トランジスタ(2)を介して放電し、このOUTの低
レベルを次段の回路が検出して信号が伝達されることに
なる。この従来の装置において、プリチャージ期間中に
電源電圧が一時的にL昇し再び下降し1回路動作が始ま
った場合は回路が正常に動作しない場合が、?)つた、
第2図の波形図をもとに説明する。電源電圧がVDD(
L)における正常動作では、φpが低レベルになった後
にINが立ちLがってからC)UTがプリチャージレベ
ルのVDD−VTからOVに達するまでにOUT端子の
浮遊容量とMOSトランジスタ(2)の電流駆動能力と
INの立tかり波形等で決まる一定の遅延時間t1を要
する。一方。
プリチャージ期間中に電源電圧がVDD(ハ)にt昇し
たとすると、φpのレベルがVDD(ハ)にt昇するの
でOUTのプリチャージレベルもVDD(II) −V
TからVDD(ロ)−VT までt昇する。その後、電
源電圧がVDD(ト)にもどり、φpのレベルがVDD
向にもどった場合でもC)UTのプリチャージレベルは
VDD(財)−VT のレベルに保持されている。つづ
いての回路動作において、INが立ちtかりOUTを放
電する詩、低いレベルVDD(L)で高いプリチャージ
レベルVDD (El)−VTを放電しなければならず
、第2図に示す様に正常動作時の11に比して大きな遅
延時間t!を要することになり回路動作が遅れる。
以を述べた様に、従来の回路ではプリチャージ期間中に
電源電圧のL昇があり、もとにもどった場合でも回路動
作が遅れるという欠点があった。
〔発明のm要〕
この発明はt記の様な従来のものの欠点を除去するため
になされたもので、 OUTの端子にリークパスを設け
ることでプリチャージレベルが電源電圧の変動に追随し
て変化し9回路動作時の電圧に応じたレベルを保つ様に
構成し、電源電圧に変動があった場合でも回路動作が過
度の遅延なく正常に行なわ1しる半導体装置を提供する
ことを目的としている。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第8図において、 (1) 、 (2)は第1図同様、
プッシュプル型のダイナミック回路を構成するエン/1
ンスメント型MO8)、ランジスタで、(1ω)はOU
Tの端子とグラウンド間に設けられたリークパス回路で
(3)はφpをゲートに印加するエン/1ンスメント型
Mos )ランジスタ、(4)はMos )、ランジス
タ(1)のオン抵抗に比して8倍程度以りの大きさを持
つ抵抗体である。
以下で第4図をもとに本発明の回路動作を説明する。こ
こでは、従来回路の説明と同様にプリチャージ期間中に
一度電源電圧のL昇があり再びもとにもどった場合の回
路動作を示している。第8図に示す回路では、プリチャ
ージ期間中にはMOSトランジスタ(3)は導通してお
り抵抗を介してのり−クパスが形成されているために、
−変電圧り昇があり、 C)UT端子のプリチャージレ
ベルがt昇しても、再び電圧がもとにもどればリークパ
ス(ロ))の働きで、その時の電圧に応じたプリチャー
ジレベルまでもどり、その後INが立ち虹がりOUTが
放電されるまでの時間はtlとなり、電圧変動がない場
合と等しくなる。
L記実施例では、リークパス回路αω)をエンハンスメ
ント型MOSトランジスタ(3〕と抵抗(4)で構成し
た例を示したが、第6図に示す様に、エンハンスメント
型MO8トランジスタ(3)とM08 )ランジスタ(
1)に比べて電流駆動能力が1/8程度以下のMOSト
ランジスタ(5)で構成してもよい。第6図では。
MOSトランジスタ(5)のゲートに電源電圧VDDを
与えている例を示しているが、(5)のトランジスタは
導通さえしていればよくそのゲートに加える電圧は任意
であることは言うまでもない。また、他の実施例として
は、第6図に示す様にMOS )ランジスタ(1)に比
して8倍程度以tのオン抵抗を持つ幼8トランジスタ(
6)のみで構成してもよく、第7図の様に抵抗体に)の
みで構成してもその効果は変わらない。
また1回路動作の詳細は省くがt記のリークパス回路0
■)を他め具体的なダイナミック回路に応用した例を第
8図、第9図、第10図に示す、(2()。
(2−2)、(7) 、(8) 、(9) 、(10、
(IJ 、OJ 、03 、Q4 、Qf9 、α力。
(至)、 Ql 、(1)はエンハンスメント型MO8
)うνジスタで、(至)、Qυは茹8容量である。
〔発明の効果〕
以tの様に、この発明によればプリチャージ期間中にプ
リチャージされる端子にリークパスを設けたことでプリ
チャージレベルが電源電圧の変動に追随して変化するこ
とを可能にするので、電源電圧の変動、特にプリチャー
ジ期間の一時的な電圧のt昇があった場合でも1回路動
作が過度に遅延することなく正常に行なわれる様になる
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のプッシュプル型ダイナミック回路、第2
図は電源電圧の変動があった場合の第1図に示した回路
の動作を説明する波形図、第8図は本発明の一実施例に
よるり−クパス回路を示す図、第4図は本発明の回路動
作を示す波形図、第5図、第6図、叱7図は本発明の他
の実施例を示す図、第8図、第9図、第10図は本発明
のリークパス回路をMOBダイナミック回路に応用した
例を示す図である。 (1)、 (2)I (2−1) 、 (2−2) 、
 (3)t (5)、 (6)、 (7L (8)。 (9) # (10eα])、 U、 (IL (14
,(IL (17)、 #、 (lie、 H−・・エ
ンハンスメント型MO8)ランジスタ* (4) e 
@・・・抵抗、(ト)、@心・・・MO8容量、(1■
)・・・リークパス回路化 理 人  葛  野  信
  − 第1図 第2図 123− 第3図 第5121 ”tXo−一一−″ 第4図 第7図 第8図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プリチャージ端子とグラウンド間にリークノ<ス
    回路を設けたことを特徴とするダイナミック型半導体装
    置。
  2. (2)リークパス回路がエンハンスメント型トランジス
    タと抵抗から構成されている特許請求の範囲、 第1項
    記載のダイナミック型半導体装置。
  3. (3)リークパス回路がエンハンスメント型トランジス
    タ1個で構成されている特許請求の範囲第1項記載のダ
    イナミック型半導体装置。
  4. (4)リークパス回路がエンハンスメント型トランジス
    タ複数個で構成されている特許請求の範囲第1項記載の
    ダイナミック型半導体装II。
  5. (5)リークパス回路が抵抗体のみで構成されて0る特
    許請求の範囲第1項記載のダイナミック半導体装置。
JP57181004A 1982-10-13 1982-10-13 ダイナミツク型半導体装置 Pending JPS5970022A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57181004A JPS5970022A (ja) 1982-10-13 1982-10-13 ダイナミツク型半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57181004A JPS5970022A (ja) 1982-10-13 1982-10-13 ダイナミツク型半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5970022A true JPS5970022A (ja) 1984-04-20

Family

ID=16093048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57181004A Pending JPS5970022A (ja) 1982-10-13 1982-10-13 ダイナミツク型半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5970022A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61136318A (ja) * 1984-12-04 1986-06-24 クセルト セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオーニ・エツセ・ピー・アー Mos集積部品用バス予備充電回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61136318A (ja) * 1984-12-04 1986-06-24 クセルト セントロ・ステユデイ・エ・ラボラトリ・テレコミニカチオーニ・エツセ・ピー・アー Mos集積部品用バス予備充電回路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0529995B2 (ja)
JPH041440B2 (ja)
US4346310A (en) Voltage booster circuit
EP0055601A2 (en) Buffer circuit
JPH035692B2 (ja)
US4725746A (en) MOSFET buffer circuit with an improved bootstrapping circuit
JPS58151124A (ja) レベル変換回路
JPH0158896B2 (ja)
JP3113853B2 (ja) データ出力バッファ回路
JPH0562491B2 (ja)
JPH0252889B2 (ja)
US4352996A (en) IGFET Clock generator circuit employing MOS boatstrap capacitive drive
US4004170A (en) MOSFET latching driver
JPH08172348A (ja) 出力バッファ回路
JPS5970022A (ja) ダイナミツク型半導体装置
US4525640A (en) High performance and gate having an "natural" or zero threshold transistor for providing a faster rise time for the output
US4546276A (en) Full output voltage driver circuit using bootstrap capacitor and controlled delay circuitry
US4529889A (en) Sense amplifier latch voltage waveform generator circuit
JP3025921B2 (ja) パワーオンリセット回路
JP2926921B2 (ja) パワーオンリセット回路
JPH07106933A (ja) 出力回路
JP2758735B2 (ja) 論理回路
JPS6120895B2 (ja)
JPH0344692B2 (ja)
JPH03179814A (ja) レベルシフト回路