JPS5967447A - 分析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、必要に応じいくつかの測定原理を使用して
化学分析を遂行するだめの方法に関する。

この発明は医学で使用される分析を遂行するに特に適す
る。

この発明による方法に使用するに適し−た各種の測定原
理のおのおのは以下［記するような独押の欠点を有する
。

比ＩＩＩ計に含まれるすなわち光の散乱に基づく測定に
含まれる１つの問題点は、光の進行におそらくは影響を
与える塵の粒子およびその他の粒子が分析すべき溶液の
中でゆつくシと移動し、この粒子が抗原・抗体複合物よ
シも実質的に大きいということにある。粒子によって生
じる誤差を低減させる周知の方法は、成る時間に渉って
散乱光の強度を観測し７次いでこの時間中に現わｎ、た
最小の信号を測定結果として選択することにある。その
原理は、粒子が光の散乱を低減することは殆んどないが
その代シに適湧な位置で粒子がかなυの景の特別の散乱
をなし得るという観測に基づく。真の最小値は靴かに長
時間追跡を続けたときに得られるが、実開には測定過程
を遅延させないようにするために追跡時間の長さは制限
はｊ、なければならない。

別の問題点は測定系の光学軸に対するキュベツトの位置
に関する。キュベツトを繰返し同じ位置に記動すること
ができないとすると、キュベツトのわん曲面によって光
の屈折に差が生じこれに伴って最終結果に差が生じる。

烙らに、キュベツトの内側で光器が進行１−る距離が変
化し従ってキュベツトの中での光の吸収が変化するかも
知れない。

故に、態別のキュベツトを使用する自動分析ではキュベ
ツト搬送系の精度に特別の留意が払われなけ九はならな
い。

第３の問題点はキュベツトの表ｍ１における不純物およ
び掻き傷並びにこの表面の形状が対称から外れているこ
とにある。これによってキュベツトの間に差か生じるか
ら、キュベツトか最初に取る位置と最後に取る位置との
間に変化がないようにしなければならない。

最も精密な位置決めは、例えば測定系の光学軸に対して
しつかシと定置されかつキュベツトが密に嵌まるように
形成された穿孔を３１３定場所に設けて、こｎ、の中に
キュベツトを位置きせることによって達成される。この
ような移送ｔま自動化が困奸であり、これは引掻きを生
じるかも知れず、さらにキュベツトの方位を不変に保つ
ことは容易でない。一般にキュベツトは、分析に要する
時間の全体に渉ってまた測定時間中に保持体でキュベツ
トを保持できるような方法で、光を通すだめの開口部を
備えた金属の保持体の中に配宿される。かかる保有体は
その製造に大きな精度を要し故に高価なものになる。

この発明の目的は、構造が簡単で低廉であ如しかも使用
が極めて確実な装置を使用して、不動かつ１ｈＪ単な方
式で前述したような欠点を低減し７除去することにある
。この発明によれは１つの同じ分析装置でいくつかの異
なる測定原理を使用することも可能でるる。かくしてこ
の発明による方法は比濁計的な決定および螢光計重な決
定を行なうに使用できるばかシでなく、Ｐ光器か異なシ
信号の処理が異なるというような成る差異を除けば吸収
およびルミネセンスに基づく決定を行なうにも使用でき
る。検査すべき試料の要求に従って測定原理が選択でき
、これに加えて測定原理の変更が容易に自動的に達成で
きる。この発明による方法を使用するときにはキュベツ
トの位置は誤差の原因としてはもはや重要でないから、
分析装置のキュベツト移送系は従来の移送系よシも簡単
に股引できる。

系の上述した利点を達成するためこの発明によれば、光
源から放射される光を間欠的に遮断し、開口部を有する
不透明な壁を備えたスリーブ状部材の中に、試料を収容
したキュベツトを配ｔ：１’ｊ、　Ｌ、検出器によって
測定を遂行するようにした、キュベツトの中の試料に当
てた光に基づく？１ＬＩＩ足原理によって化学分析を遂
行するだめの方法において、抑］定時間の全体に渉って
スリーブ状）１１・材をその月１１１線の１わシで回転
させることによって光を間欠的に遮断し、測定光ｅこ対
してｉｇｏｏの角度とＩｇＯ６から外れた角度との双方
で測定を遂行することを動機とする分析方法が提供され
る。

このような分析方法において、（１）１つの測定点から
別の測定点へＳ動する７つの検出器またｔま各測定点に
記動されるコつの検出器を使用し、て棋１１定を遂行す
ること、（２）２つの検出器を使用［７、測定結果を得
るために／方の信号を他力の（９号によって割シ算する
こと、並びに（３）測定結果を得るためめに、／ｇθ°
から外れた角度での測定によって得られた検出器信号を
、１ｇ００の角度での測定によって得られた検出器信号
によって割シ算ブることは、いずれもこの発明に包含さ
れる。

以下、図面を参照しながらこの発明の実施例について詳
述する。

装置を図解的に表わす第７図において、透明な材料で作
られた普通のキュベツトｌは開口部３を備えるスリーブ
状部（材ツの中に配置される。スリーブ状部利が図示の
位置に置かｎたときに光源ｉｉから放射されおそらくは
戸先器１２によって戸先された光６は１つの開口部３を
通シさらにキュベツトとこれに収容された測定すべき物
質を通過し、スリーブ状部材りを通った残シの光は別の
開口部３を通って最後に検出器ダに衝突する。同じ部分
の頂面図である第２図には別の検出器５および給コのｐ
光器／３が図示され、これらは例えば光乙のビームに対
し、てワθ０の角度に位置する。

生じた光ｇは１つの開口部３を通シおそらくはＦ光器／
、？を通って検出器Ｓへ向う。

キュベツトおよびそのスリーブ状部材コバそれらの垂直
中央ＩＦｌＩｌ線のすわシを回転させられる。このとき
にスリーブ壁の開口部３と開口部の間の不透８Ａな壁と
は、光源からキュベツトへの径路、キュヘットから検出
器弘への径路およびキュベツトから検出器５への径路を
、これらの光の径路のすべてが同時に開きまた同時に閉
じるような方式で交番式に開閉する。これによれば検出
器が受ける光は間欠光であシ、この場合に検出器は交流
または交番電圧の信号を生じる。回転運動は例えば電動
機１０によって達成され、その運動は均等でよいがその
必要はない。信号は例えば以下に記すような方式で処理
される。

当粟者に知られている電子技術が検出器１６号を増幅す
るに使用でき、この信号は増幅ののちに望ましくは回転
運動と同期して整流される。整流およびおそら＜ｉＪ：
ｐ波ののちに、検出器Ｓから得られる４１号は公知の方
法でアナログまたはディジタル形式で検出器グからの信
号で割シ針される。光源の強度の変動は各検出器に同じ
大きさの変化を生じるから、１つの信号を別の信号で割
シη、することによってかかる変動に帰因する１差は消
去される。さらに、光の進行をさまたげる何らかの掻き
傷またはごみがキュベツトの表面に存する場合には、そ
の効果はキュベツトの回転連座に囚って平均として各検
出器で同じ程度に観測される。これに加えて、回転は比
１１！ｉｎ測定に有利な効果を有し、キュベツトの中の
塵粒子は散乱の迅速な一時的なビークたけを生じそして
かかるピークの特性は平均信号では重要でなくなる。

七通の光度４川定も、キュベツトがスリーブ状部月２の
中に存するときの検出器ｔの信刊から被除数を形成しか
つキュベツトなしの場合の同じ検出器によって得られる
信号から除数を形成するような方式で、この発明による
方法の装置によって遂行できる。かくして、キュベツト
がスリーブ状部材の中に存して吸収が測定される際に起
る変化を除けば、光源の強度の変動が考慮されることに
なる。

発光測定の場合であっても、光の径路を間欠的に逼断す
れば拡散光の効果が消去でき、増幅−ｉＪ′−簡単に達
成でき、検出器のｌ／ｆ雑音の立場から有利であるよう
な周波数の範曲内で測定が遂行でき、さらに型幅器のゼ
ロクリープが消去できるから、かかる同人的糺断は有用
である。

以上に列挙した利点はスリーブ状部拐コの中のキュベツ
トｌを回転させる簡単な方式でこの発す１に従って得ら
れる。いくつかの相異なる泊１ｊ定原理が１／ｉｊ単な
一体のユニットを形成する同じ装置１１′の中で糺合わ
され、きらにずべ１の６１す定力法のＮ　ｍｌをこの冗
す−（に従って改善することも同時に可能である。

この発明による装置は、検出器ｑおよびＳを使用する代
シに例えは弧状の８路に沿って検出器グの位置と検出器
５の位置とに交番的に移動できる７個だけの検出器を使
用するようにすれば、＋１ｉｊ述した実施例よシも簡単
に形成できる。この場合に１つだけの信号処理連鎖が必
要であシ、測定定１子技術ＴＩｉ従来よシ経済的になる
。信号の割り算によって検出器および増幅器Ｖこおける
増幅器の変化が完全に除去されるから、ｄｉｌＪ定系の
安定度は原理的に改善される。

装置によって螢光測定または比論測定を遂行しようとし
ない場合には、検出器Ｓはもちろん全体として除去でき
る。

以上においてキュベツトは円形であるとしてだけ説明し
たけれども、成るその他の対称な形状例えば正多角彰の
形状も可能である。開口部Ｊの個数は上述したように９
でよいが、弘以上の偶数にもできる。多くの開口部か使
用されるときに検出器５Ｌｒｉｑｏ°以外の成る別な角
度に位置することもできる。レーザ比朧計の場合に７２
の開口部を持つスリーブ状部材を採用したときには、検
出器はこれに関して最も一般に使用される角度に極めて
近い１５θ０ｒＣ角度に位置できる。ざらに、お３２明
を簡単にするために光のビームを形成し指向させるに必
要な光学系について５Ｃ：載しなかったけれども、この
ような光学系は一般に知られていてさらにこの種の装置
の多（ＰＣ付属される。

さらに、間欠光を生成させる方法としてスリーブ状部材
およびキュベツトの回転だけについて上述したけれども
、この組合せを定置させかつ例えば光源および検出器の
ような包囲部材を回転させるようにし、ても同じ結果が
得られる。この場合には例えば電気的結線が困難である
から、上述した構成はこむ、が採用できるとしてもおそ
らくは極めて少数の船別の応用面に限定されるであろう
。

【図面の簡単な説明】

槙１図はこの発明による方法に使用される装置の例の簡
単な０ＩｌＩ面図、８１ｉ＝図−ｆａ：１図の■−■線
に沿う上方から見た断面図および平面図である。 図面において、ｌＴＩ′ｉキュベツト、コはスリーブ状
部材、３は開口部、弘およびＳｒｉ検出器、６目光、７
はその残シ、ざは散乱された光など、ＩＯはＢｉ動機、
／／は光源、１２および１３ｉ１１．ｐ光器を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｌ　光臨から放射される光を間欠的に辿回し、開口部を
   有する不透明な壁を備えたスリーブ状部材の中に、試料
   を収容したキュベツトを配植し、検出器によって測定を
   遂行するようにした、キュベツトの中の試料に描てた光
   に基づく測定原理によって化♀分析を遂行するだめの方
   法において、測定時間の全体に渉ってスリーブ状部材を
   その軸線のまわシで回転さぜることによって光を間欠的
   に遮断し、測定光に対して／ｇＯ°の角度と／ｇＯ６か
   ら外れた角度との双方で測定を遂行することを特徴とす
   る分析方法。 ２１つの測定点から別の測定点へ移動する１つの検出器
   または各測定点に配置される２つの検出器を使用して測
   定を遂行する特許請求のね四組１項に記載の分析方法。 ３．２つの検出器を使用し、測定結果を得るために／方
   の信号を他方の信号によって割シ多マする特許請求の範
   ｔｊｉｌ　Ｎ￥１項まだはｕｌ、コ項に記載の分析方法
   。 ク　測定結果を得るために、／ｇＯ°から外わた角度で
   のＢ１１１定によって得られた検出器信号を、／ｇＯ°
   の角度での測定によって得られた検出器信号によって割
   シ算する特許請求の範囲へ１２３項に記載の分セ１方法
   。