JPS5963583A - Ect用放射線検出器スキヤン方式 - Google Patents
Ect用放射線検出器スキヤン方式Info
- Publication number
- JPS5963583A JPS5963583A JP17509582A JP17509582A JPS5963583A JP S5963583 A JPS5963583 A JP S5963583A JP 17509582 A JP17509582 A JP 17509582A JP 17509582 A JP17509582 A JP 17509582A JP S5963583 A JPS5963583 A JP S5963583A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- controller
- motors
- motor
- scanner rotation
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明ハ、シングルフAトンエミy ’/ 9ン・コン
ピュータ・トモグラフィー(以下、単にF、 Ci”と
いう)における放射線検出器(以下、単に検出器という
フスキャン方式の改良に関するものである。
ピュータ・トモグラフィー(以下、単にF、 Ci”と
いう)における放射線検出器(以下、単に検出器という
フスキャン方式の改良に関するものである。
従来のE CTにおける検出器スキャン方式は、第1図
に示すように、検出器Aを被検体13の幅の広いところ
に回転径を合わせて、被検体13の中心0を中Iしにし
て回転させて言1測している。このために、被検体13
の幅の狭いところでは、検出器Aが被検体](から離れ
てしまう。その結果、第2図に示すように、被検体B中
のラジオアイソトープ(Itl)からの放射線がコリメ
ータCによってコリメートされず、ECi”像のM像度
が低下する欠点があった。
に示すように、検出器Aを被検体13の幅の広いところ
に回転径を合わせて、被検体13の中心0を中Iしにし
て回転させて言1測している。このために、被検体13
の幅の狭いところでは、検出器Aが被検体](から離れ
てしまう。その結果、第2図に示すように、被検体B中
のラジオアイソトープ(Itl)からの放射線がコリメ
ータCによってコリメートされず、ECi”像のM像度
が低下する欠点があった。
本発明の目的は、前記従来の走査方式の欠点を除去し、
IJ CT像の解像度を向上させる検出器スキャン方式
を提供することにある。
IJ CT像の解像度を向上させる検出器スキャン方式
を提供することにある。
本発明は、前記目的を達成するためになされたものであ
り、その特徴は、検出器を被検体に常に接近させて言1
測するようにしたことにある。
り、その特徴は、検出器を被検体に常に接近させて言1
測するようにしたことにある。
以下、実施例とともに本発明の詳細な説明する。
第3図は、本発明に係る検出器ガントリの構成を示す図
であり、1は検出器、2は検出器支持アーム、6は検出
器バランスウ、−イト、4は回転リング、5A、5Bは
検出器上下方向移動用モ〜り、6は摩擦車、7はスキャ
ナ回転用モータである。
であり、1は検出器、2は検出器支持アーム、6は検出
器バランスウ、−イト、4は回転リング、5A、5Bは
検出器上下方向移動用モ〜り、6は摩擦車、7はスキャ
ナ回転用モータである。
第4図(A)、([3)は、本発明の被検体接触検出器
の一実施例の構成を示す図であり、第4図(A)は平面
図、第4図(B)は第4図(A)の矢印方向からみた側
面図である。
の一実施例の構成を示す図であり、第4図(A)は平面
図、第4図(B)は第4図(A)の矢印方向からみた側
面図である。
第4図(A)、(Iにおいて、8は検出器1の容器、9
は接触検出バー、10は接触検出バー9の変位によって
オン又はオフする検出器上下方向移動制御用マイクロス
イ、チである。
は接触検出バー、10は接触検出バー9の変位によって
オン又はオフする検出器上下方向移動制御用マイクロス
イ、チである。
第5図は、本発明の検出器移動制御回路の一実施例の構
成を示す図であり、第3図及び第4図(A)、(+3)
と同一のものは同一記号を4=Jけ、その説明は省略す
る。
成を示す図であり、第3図及び第4図(A)、(+3)
と同一のものは同一記号を4=Jけ、その説明は省略す
る。
第5図において、11は検出器1のスキ、ナ回転及び」
二下方向移動コントローラであり、例えば、’I’ T
L論理回路、コンビーータ等を使用する。12は検出
器上下方向移動用モータ5A、51Jの電源、16はス
キャナ回転用モータ7の電源、14はスキャナ回転信号
入力端子、15は検出器上方向移動リミット信号入力端
子、16は検出器下方向移動制御回路である。
二下方向移動コントローラであり、例えば、’I’ T
L論理回路、コンビーータ等を使用する。12は検出
器上下方向移動用モータ5A、51Jの電源、16はス
キャナ回転用モータ7の電源、14はスキャナ回転信号
入力端子、15は検出器上方向移動リミット信号入力端
子、16は検出器下方向移動制御回路である。
第6図は、第5図に示す検出器移動制御回路の動作を説
明するためのタイムチャートであり、(イ)はスキャナ
回転指示信号、(ロ)は検出器上方向移動時間信号、(
ハ)は検出器下方向移動時間信号、(ニ)はスキャナ回
転駆動時間信号、(ホ)は開側実行時間信号である。
明するためのタイムチャートであり、(イ)はスキャナ
回転指示信号、(ロ)は検出器上方向移動時間信号、(
ハ)は検出器下方向移動時間信号、(ニ)はスキャナ回
転駆動時間信号、(ホ)は開側実行時間信号である。
なお、前記コントローラ11は、第6図に示すタイムチ
ャートの機能を有するTi”L論理回路構成又はプログ
ラムになっている。
ャートの機能を有するTi”L論理回路構成又はプログ
ラムになっている。
次に、本実施例の動作を第3図〜第6図において説明す
る。
る。
い1、スキャナ回転指示信号(イ)がコントローラのス
キャナ回転信号入力端子14に入力すると、コントロー
ラ11を通して検出器上下方向移動用モータ5A、5B
が駆動して、検出器1は上方向に移動し検出器上方向移
動リミット信号が発生する。このリミット信号がコント
ローラ11の検出器上方向移動リミット信号入力端子1
5に入力して、検出器上下方向移動用モータ5A、5B
が停止する。検出器上下移動用モータ5A、5Bが停止
すると、スキャナ回転用モータ7が1ステップ回転し、
検出器1が下方向に移動する。そして検出器1に設けら
れている接触検出バー9が被検体に接触すると、検出器
上下方向移動制御用マイクロスイ、チ10がオフとなり
、検出器下方向移動制御回路16を開路する。これによ
りコントローラ11を通して検出器上下方向移動用モー
タ5A、513が停止する。検出器1を被検体に接近さ
せた位置に停止させて開側を行う。前記一連の動作を繰
り返して全削測を行う。
キャナ回転信号入力端子14に入力すると、コントロー
ラ11を通して検出器上下方向移動用モータ5A、5B
が駆動して、検出器1は上方向に移動し検出器上方向移
動リミット信号が発生する。このリミット信号がコント
ローラ11の検出器上方向移動リミット信号入力端子1
5に入力して、検出器上下方向移動用モータ5A、5B
が停止する。検出器上下移動用モータ5A、5Bが停止
すると、スキャナ回転用モータ7が1ステップ回転し、
検出器1が下方向に移動する。そして検出器1に設けら
れている接触検出バー9が被検体に接触すると、検出器
上下方向移動制御用マイクロスイ、チ10がオフとなり
、検出器下方向移動制御回路16を開路する。これによ
りコントローラ11を通して検出器上下方向移動用モー
タ5A、513が停止する。検出器1を被検体に接近さ
せた位置に停止させて開側を行う。前記一連の動作を繰
り返して全削測を行う。
以上説明したように、本発明によれば、常に検出器を被
検体に接近した位置に停止させて4測するようにしたの
で、ECT像の解像度を向上させることができる。
検体に接近した位置に停止させて4測するようにしたの
で、ECT像の解像度を向上させることができる。
第1図及び第2図は、E CTにおける検出器スキャン
方式の問題点を説明するための図、第3図は、本発明に
係る検出器ガントリの構成を示す図、第4図(A)、(
B)は、本発明の被検体接触検出器の一実施例の構成を
示す図、第5図は、本発明の検出器移動制御回路の一実
施例の構成を示す図、第6図は、第5図に示す検出器移
動制御回路の動作を説明するためのタイムチャートであ
る。 1 検出器、2 検出器支持アーム、6 検出器バラン
スウェイト、4 回転リング、5A、5]3 検出器上
下方向移動用モータ、6 摩擦車、7 スキャナ回転用
モータ、8 検出器容器、9接触検出バー、10 検出
器上下方向移動制(財)用マイクロスイッチ、11 ス
キャナ回転及び上下方向移動コントローラ、+2,13
モータの電源、14 スキャナ回転信号入力端子、1
5検出器上方向移動リミ、ト信号入力端子、16検出器
下方向移動制御回路。 代理人 弁理士 秋 1)収 喜 第4図(A) 第4図(B) 十Vcc 第5図 第6図 (ホ)
方式の問題点を説明するための図、第3図は、本発明に
係る検出器ガントリの構成を示す図、第4図(A)、(
B)は、本発明の被検体接触検出器の一実施例の構成を
示す図、第5図は、本発明の検出器移動制御回路の一実
施例の構成を示す図、第6図は、第5図に示す検出器移
動制御回路の動作を説明するためのタイムチャートであ
る。 1 検出器、2 検出器支持アーム、6 検出器バラン
スウェイト、4 回転リング、5A、5]3 検出器上
下方向移動用モータ、6 摩擦車、7 スキャナ回転用
モータ、8 検出器容器、9接触検出バー、10 検出
器上下方向移動制(財)用マイクロスイッチ、11 ス
キャナ回転及び上下方向移動コントローラ、+2,13
モータの電源、14 スキャナ回転信号入力端子、1
5検出器上方向移動リミ、ト信号入力端子、16検出器
下方向移動制御回路。 代理人 弁理士 秋 1)収 喜 第4図(A) 第4図(B) 十Vcc 第5図 第6図 (ホ)
Claims (1)
- 放射線検出器の上下方向移動用モータ及びスキャナ回転
用モータを有するEOi’用放射線検出器スキャン方式
において、放射線検出器が被検体に接触したことを検出
する被検体接触検出手段と、該被検体接触検出手段の出
力によって前記放射線検出器の上下方向移動用モータを
制御する手段を備え、放射線検出器を常に被検体に接近
させて泪測するようにしたことを特徴とするIfl C
i”用放射線検出器スキャン方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17509582A JPS5963583A (ja) | 1982-10-04 | 1982-10-04 | Ect用放射線検出器スキヤン方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17509582A JPS5963583A (ja) | 1982-10-04 | 1982-10-04 | Ect用放射線検出器スキヤン方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5963583A true JPS5963583A (ja) | 1984-04-11 |
Family
ID=15990158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17509582A Pending JPS5963583A (ja) | 1982-10-04 | 1982-10-04 | Ect用放射線検出器スキヤン方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5963583A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6434580U (ja) * | 1987-08-26 | 1989-03-02 | ||
US5625191A (en) * | 1992-10-28 | 1997-04-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Scintillation camera and sensor for use therein |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5742873A (en) * | 1980-08-28 | 1982-03-10 | Toshiba Corp | Emission ct |
-
1982
- 1982-10-04 JP JP17509582A patent/JPS5963583A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5742873A (en) * | 1980-08-28 | 1982-03-10 | Toshiba Corp | Emission ct |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6434580U (ja) * | 1987-08-26 | 1989-03-02 | ||
US5625191A (en) * | 1992-10-28 | 1997-04-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Scintillation camera and sensor for use therein |
US5925882A (en) * | 1992-10-28 | 1999-07-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Scintillation camera and sensor for use therein |
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