JPS5954699A - 単結晶の製造方法 - Google Patents
単結晶の製造方法Info
- Publication number
- JPS5954699A JPS5954699A JP16402082A JP16402082A JPS5954699A JP S5954699 A JPS5954699 A JP S5954699A JP 16402082 A JP16402082 A JP 16402082A JP 16402082 A JP16402082 A JP 16402082A JP S5954699 A JPS5954699 A JP S5954699A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- single crystal
- evaporation
- compound
- producing
- high decomposition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/20—Controlling or regulating
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は高い分解圧を有する化合物の単結晶を製造する
方法に関する。 □ 〔従来技術とその問題点〕 GaAs+ InP、 GaPなどの高分解圧化合物の
単結晶の製造方法の一つとして、液体カプセル引上げ法
が知られ□ている。この方法は化合物の原料融液の表面
なり20sなどの不活性液体で快い、さちに上から化合
物の分解圧以上の不活性カスで加圧しながら単結晶の引
上げを行うものである。
方法に関する。 □ 〔従来技術とその問題点〕 GaAs+ InP、 GaPなどの高分解圧化合物の
単結晶の製造方法の一つとして、液体カプセル引上げ法
が知られ□ている。この方法は化合物の原料融液の表面
なり20sなどの不活性液体で快い、さちに上から化合
物の分解圧以上の不活性カスで加圧しながら単結晶の引
上げを行うものである。
また、ノ1:ヲ・近、高糾;度結晶のlL’4 ’11
.j t/) ’N点から、出発原料として高分解圧化
合物ではなく、前記高分解圧化合物な構成する元素を用
いて化合物の合成と114−結晶の引上げを連続して行
う、いわゆる肉、接合1戊引土は竹が、注目を浴びてい
る。
.j t/) ’N点から、出発原料として高分解圧化
合物ではなく、前記高分解圧化合物な構成する元素を用
いて化合物の合成と114−結晶の引上げを連続して行
う、いわゆる肉、接合1戊引土は竹が、注目を浴びてい
る。
ところで、化合物の合成および原料融液を作るべく温度
を上列させ□ていくど8203などのカプセル材が光全
に溶けず、、出、発原刺が十分カプセル層に被われてい
;/、I:い温1fL:和を城では出発ノ東オニ1中の
1”Ji ’;f’s t’l−成分の蒸発が起こ□る
tまた、出発原料が十分?l′F、4’!Aされたあと
ても、清1度の不均一によつ°C過加N′へが生じたり
Aるとやはり揮発イ′(成分の蒸発が起こる。このため
、摺られる珂j :’l’:i融液の組成は大きく変化
し7、再現性J゛1<一定組成の原オニl 1irl+
液を召口ことは稚己い。このことは61斗−けられた単
結晶の品質にも影騙り)仙−111、特t’hの−El
−ろ−)プ、す)う結晶をpJ現住良く”$8 y’q
J−ることを何4しくt、’tいる。
を上列させ□ていくど8203などのカプセル材が光全
に溶けず、、出、発原刺が十分カプセル層に被われてい
;/、I:い温1fL:和を城では出発ノ東オニ1中の
1”Ji ’;f’s t’l−成分の蒸発が起こ□る
tまた、出発原料が十分?l′F、4’!Aされたあと
ても、清1度の不均一によつ°C過加N′へが生じたり
Aるとやはり揮発イ′(成分の蒸発が起こる。このため
、摺られる珂j :’l’:i融液の組成は大きく変化
し7、再現性J゛1<一定組成の原オニl 1irl+
液を召口ことは稚己い。このことは61斗−けられた単
結晶の品質にも影騙り)仙−111、特t’hの−El
−ろ−)プ、す)う結晶をpJ現住良く”$8 y’q
J−ることを何4しくt、’tいる。
[う′l〉明のj1的〕 。
木忙明1;rこのような問題点&、 Ij、、、人す゛
るために蔵えl’tJしたt)ので、高分角゛Y月二化
合f吻の、単結晶を1、f’lt成’e !’1′J、
Ii (’:li 汽(1i4114i111 シー(
4p’j造橿る方法を4:I、l (Q4″6ものであ
る。
るために蔵えl’tJしたt)ので、高分角゛Y月二化
合f吻の、単結晶を1、f’lt成’e !’1′J、
Ii (’:li 汽(1i4114i111 シー(
4p’j造橿る方法を4:I、l (Q4″6ものであ
る。
[:発明の概要〕
本発明は」二記の目的を達成するため、lli発原料□
の合成および融解に当って、揮発性成分の蒸角4:を、
検知する手段を設け、これで検知した量に基づいて、原
料の合成および融解のための加□ 熱電力を制御しそ単
結晶をツ↓造すや方法である。
の合成および融解に当って、揮発性成分の蒸角4:を、
検知する手段を設け、これで検知した量に基づいて、原
料の合成および融解のための加□ 熱電力を制御しそ単
結晶をツ↓造すや方法である。
本発明は高分解圧化合物単結晶の引上げにおいて、原料
からの揮発イテ1:成分の蒸発を割病〕して一単結晶の
製造を行うため、原料融液の組成変動が少なくなり、特
性のそろ−)だ単結晶が再覗、性良く製造でき、その工
柴」二の効果は太きい。
からの揮発イテ1:成分の蒸発を割病〕して一単結晶の
製造を行うため、原料融液の組成変動が少なくなり、特
性のそろ−)だ単結晶が再覗、性良く製造でき、その工
柴」二の効果は太きい。
以下本発明を直1g合成引上げ法で半絶縁性GaAs単
結昂を作成するときの実施例をもとじ説明する。このG
aA、s短結晶を作成づるとき第1図に示すような製造
装置を用いている。すなわち高圧容器1内にるつIfi
:2を設置シフ、このルツボ2内に出発原料であるGa
とA8およびB、0.からなるカプセル拐を入れる。こ
のGaとAsはルツボ2を支持するザセプタ2′の外f
IQの加W:+(ヒータ5の温度制御によりG n A
Fl化合物さらに(、; A A sb!11!液3
となる。ソL、 −CコノG n A s Pii ’
lfV、〕J、: Lj、B2o、のρ(jブW物4で
覆われている7、このl:)に措171:: : 11
’l: ?Ip fQ ニr、; イTJ’ B20
g 融f’J’l ’i勿4をJiシ、 −r 1.’
A転泊具7に取((ijられた鍾結晶6を(ynΔS融
液3に1]2触さ1上回転させながら矢印1y +rj
+、に引F−け゛ることにょっ“CGaAs単結晶8′
が製造される。
結昂を作成するときの実施例をもとじ説明する。このG
aA、s短結晶を作成づるとき第1図に示すような製造
装置を用いている。すなわち高圧容器1内にるつIfi
:2を設置シフ、このルツボ2内に出発原料であるGa
とA8およびB、0.からなるカプセル拐を入れる。こ
のGaとAsはルツボ2を支持するザセプタ2′の外f
IQの加W:+(ヒータ5の温度制御によりG n A
Fl化合物さらに(、; A A sb!11!液3
となる。ソL、 −CコノG n A s Pii ’
lfV、〕J、: Lj、B2o、のρ(jブW物4で
覆われている7、このl:)に措171:: : 11
’l: ?Ip fQ ニr、; イTJ’ B20
g 融f’J’l ’i勿4をJiシ、 −r 1.’
A転泊具7に取((ijられた鍾結晶6を(ynΔS融
液3に1]2触さ1上回転させながら矢印1y +rj
+、に引F−け゛ることにょっ“CGaAs単結晶8′
が製造される。
なお高圧容器1内は不活6+:ガスが11,0. l’
(’!l解物4)−を3気圧以−1何二加圧するように
1千入、Cれてぃろ。このI法において高圧容器1内に
揮発性成分−の蒸発量をイ合出するために′nf1ノ学
i+ilJ定ト”39を設けである。膜/9測定器の方
式とし・”(’l+水晶橿動子?7: A’、るいはγ
11.気抵抗沙どちらでも良い。揮発性)成分の蒸発量
を膜Jiノ・?l!lI定R:;9・で()出し2ブこ
(1)ち、こILからの信号′り微分装(y口0で微分
し、て蒸発F(のIj、’?間亥化Mを示ず(F7−j
jとする□。この(ij号は加熱装置割部1回P?ll
lに入力される、lうにな−)cい゛C1加ハ装ri’
(+ 2によりカ1温ヒーク5に供給される小力にフィ
ードバックするよ)に!、「っている。
(’!l解物4)−を3気圧以−1何二加圧するように
1千入、Cれてぃろ。このI法において高圧容器1内に
揮発性成分−の蒸発量をイ合出するために′nf1ノ学
i+ilJ定ト”39を設けである。膜/9測定器の方
式とし・”(’l+水晶橿動子?7: A’、るいはγ
11.気抵抗沙どちらでも良い。揮発性)成分の蒸発量
を膜Jiノ・?l!lI定R:;9・で()出し2ブこ
(1)ち、こILからの信号′り微分装(y口0で微分
し、て蒸発F(のIj、’?間亥化Mを示ず(F7−j
jとする□。この(ij号は加熱装置割部1回P?ll
lに入力される、lうにな−)cい゛C1加ハ装ri’
(+ 2によりカ1温ヒーク5に供給される小力にフィ
ードバックするよ)に!、「っている。
ここで、第1図に示した装置により揮発性成分の蒸発量
を制御り“る動作について第2図により説明する。Ga
Asの合成それに引続いてGaAs融液を得るため温度
を上昇させていくと揮発性成分の蒸発が生じるが、蒸発
f4.の変動を示す信号の大きさにより昇温速度を小さ
くしたり、場合に□よっては温度をスデップ状に低下さ
せることにより蒸発を抑える。この温度ブログラノ、と
蒸発量の変動を示す信号の対応関係を第2図に示しであ
る。
を制御り“る動作について第2図により説明する。Ga
Asの合成それに引続いてGaAs融液を得るため温度
を上昇させていくと揮発性成分の蒸発が生じるが、蒸発
f4.の変動を示す信号の大きさにより昇温速度を小さ
くしたり、場合に□よっては温度をスデップ状に低下さ
せることにより蒸発を抑える。この温度ブログラノ、と
蒸発量の変動を示す信号の対応関係を第2図に示しであ
る。
このような方法により揮発性成分の蒸発量は再現′住良
く1%以下に抑えられ、インゴット全体が半絶縁性であ
る結晶が再W、住良く得られた〇三方、本発明のような
蒸発量の制御を行わない場合には、蒸発量は5〜10%
と多くかつ再現性に乏しいうえ、インボッ□)・全体が
半絶縁性とはならず必ず低抵抗領域が存在した。
く1%以下に抑えられ、インゴット全体が半絶縁性であ
る結晶が再W、住良く得られた〇三方、本発明のような
蒸発量の制御を行わない場合には、蒸発量は5〜10%
と多くかつ再現性に乏しいうえ、インボッ□)・全体が
半絶縁性とはならず必ず低抵抗領域が存在した。
なお、本発明の詳細な説明にあたっては、特にG a
A、s単結晶を直接合成用ゴーげを例にと−)で説明し
たが、出発原料と1〜て、ちらがじめ合成された多結晶
を月1いる。)4,5 、、/¥:r6よびInPやG
aPなど仙(,1)どんな品分解圧化合ji/++の結
晶の引上げ法に適用できく)ことはもちろんである。
A、s単結晶を直接合成用ゴーげを例にと−)で説明し
たが、出発原料と1〜て、ちらがじめ合成された多結晶
を月1いる。)4,5 、、/¥:r6よびInPやG
aPなど仙(,1)どんな品分解圧化合ji/++の結
晶の引上げ法に適用できく)ことはもちろんである。
第1し1は木・お明の単結晶の則(j;に方法を説明す
るな、1./)の9′1造装ff’fの:’lii面図
、第2図は木発明の製造))2)、を説明−、f 7.
ための揮発性成分の蒸発月と加熱温111ブロクラノ、
の[、+4係乙・示す図である。 図に・1いて、1は高1丁−容器、2は7・tツボ、2
′は一す −ヒ 、) タ 、 3 は GaA3
E′l!液、 4 はl J3,0. 己巾M”F
物、 5けヒータ、6は種結晶、7は回転治118
はGaAs学結晶、9は膜p?測宇器、10は微分装置
71′、11は加熱装は制御回路、]2は加熱装置;v
<、である。 代理人 弁理士 則 近 y′1 佑(1か1名)第
1図 第2図 時 間 −−−−−=
るな、1./)の9′1造装ff’fの:’lii面図
、第2図は木発明の製造))2)、を説明−、f 7.
ための揮発性成分の蒸発月と加熱温111ブロクラノ、
の[、+4係乙・示す図である。 図に・1いて、1は高1丁−容器、2は7・tツボ、2
′は一す −ヒ 、) タ 、 3 は GaA3
E′l!液、 4 はl J3,0. 己巾M”F
物、 5けヒータ、6は種結晶、7は回転治118
はGaAs学結晶、9は膜p?測宇器、10は微分装置
71′、11は加熱装は制御回路、]2は加熱装置;v
<、である。 代理人 弁理士 則 近 y′1 佑(1か1名)第
1図 第2図 時 間 −−−−−=
Claims (4)
- (1)ルツボ内に高分解圧化合物を構成4−7)原料元
素を入れ、この原料十を不活性融液で4′f+、 l/
、、、この」−から不活性カスで加圧した状態で前記の
ルツホの温度を上荷、させて前記原料、元素を反応、さ
けることにより前記の高分解圧化合物の原Fl融液を作
t+、’v7 シ、それに引続き連続、して前記原イ′
く1融液に種子結晶を接触させ、この種子結晶を引」二
()゛てt′I(結晶を製造づる際、前記、高分毎月、
化合物の揮発1′1冒戊分の蒸発量を検知rる。手段を
、有し、かつ前記蒸発量検知手段で検知、シ、た性にJ
ilζづいて、原石の合成および融解のための、加熱T
:’、Eカを制御することを牛11gとする単結晶の製
造方法。 - (2)心分解圧化合物の揮発性成分の蒸発ト・)検知手
段どじで結晶製造容器内に膜厚測定器を設け、前記膜厚
測定器で検知した膜厚、から揮発性成分の?N発量を求
める。ことを特徴とする特81°請求の範囲第1項記載
の単結晶の製造:方法。 - (3)高分解圧化合物の原料tA’、ll液として、あ
らかじめ合成された前記の高分力11−化合物原料を、
I+>ツボ内に入れ′融解させたものをftlいる前記
特許請求の範囲第2項記載の単結・晶の製造方法。 - (4)高分解圧化合物がGLAs、 InP、 cip
である前記特許請求の範囲第2項記載の単結晶の製造方
法0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16402082A JPS5954699A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16402082A JPS5954699A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 単結晶の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5954699A true JPS5954699A (ja) | 1984-03-29 |
Family
ID=15785256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16402082A Pending JPS5954699A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5954699A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE39778E1 (en) | 1996-04-26 | 2007-08-21 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of preparing group III-V compound semiconductor crystal |
USRE40662E1 (en) | 1998-03-25 | 2009-03-17 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of preparing a compound semiconductor crystal |
-
1982
- 1982-09-22 JP JP16402082A patent/JPS5954699A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE39778E1 (en) | 1996-04-26 | 2007-08-21 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of preparing group III-V compound semiconductor crystal |
USRE41551E1 (en) | 1996-04-26 | 2010-08-24 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of preparing group III-V compound semiconductor crystal |
USRE40662E1 (en) | 1998-03-25 | 2009-03-17 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of preparing a compound semiconductor crystal |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5954699A (ja) | 単結晶の製造方法 | |
US3607752A (en) | Process for the culture of large monocrystals of lithium niobate | |
JPH05139886A (ja) | 砒素化合物単結晶の製造方法 | |
JPS60176995A (ja) | 単結晶の製造方法 | |
JPH06128096A (ja) | 化合物半導体多結晶の製造方法 | |
JPS6317291A (ja) | 結晶成長方法及びその装置 | |
JPS59174598A (ja) | 3−5族化合物半導体単結晶の製造法 | |
JPS6021900A (ja) | 化合物半導体単結晶製造装置 | |
JPH0471037B2 (ja) | ||
JPS63176397A (ja) | 3−5族化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS6111920B2 (ja) | ||
JPH0230696A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS6153186A (ja) | 抵抗加熱用ヒ−タ | |
JPS6065794A (ja) | 高品質ガリウム砒素単結晶の製造方法 | |
JPH0512310B2 (ja) | ||
CN117210940A (zh) | 一种反铁磁单晶的生长方法 | |
JPS62206824A (ja) | 気相成長装置 | |
JPS6251237B2 (ja) | ||
JPH0222200A (ja) | 3−5族化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS6027694A (ja) | 液体封止引き上げ法による化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS62230695A (ja) | 砒化物半導体単結晶の製造方法 | |
JPH0525834B2 (ja) | ||
JPS5935879B2 (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS62235297A (ja) | BaPb↓1↓−xBixO↓3単結晶の製造方法 | |
JPS63195194A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法及びその装置 |