JPS5953507B2 - 試験ピン - Google Patents
試験ピンInfo
- Publication number
- JPS5953507B2 JPS5953507B2 JP55148860A JP14886080A JPS5953507B2 JP S5953507 B2 JPS5953507 B2 JP S5953507B2 JP 55148860 A JP55148860 A JP 55148860A JP 14886080 A JP14886080 A JP 14886080A JP S5953507 B2 JPS5953507 B2 JP S5953507B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spring
- plunger
- test pin
- stud
- insert member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Springs (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、たとえば、印刷回路盤(PCB)の電気的特
性を試験する際に使用する試験ピンに係るものである。
性を試験する際に使用する試験ピンに係るものである。
ばね負荷された試験ピンが当業界に知られている。
米国特許第4105970号明細書にはPCB接触クラ
ウンが設けてある円筒形プランジャを有し、プランジャ
が管状ハウジング内に摺動可能に装着さればね負荷され
ている試験ピン組合わせ体が記載されている。このよう
な構造について認められた問題は時にはプランジャの下
部とハウジングとの間の接触力が不十分でPCBと分析
計器とが電気的に接触しなくなるということである。本
発明者にはプランジャを偏倚させそれによりプランジャ
とハウジングとの間を接触を良くする手段を含めること
により試験ピン組合わせ体の電気的接触を良くすること
ができると判つた。
ウンが設けてある円筒形プランジャを有し、プランジャ
が管状ハウジング内に摺動可能に装着さればね負荷され
ている試験ピン組合わせ体が記載されている。このよう
な構造について認められた問題は時にはプランジャの下
部とハウジングとの間の接触力が不十分でPCBと分析
計器とが電気的に接触しなくなるということである。本
発明者にはプランジャを偏倚させそれによりプランジャ
とハウジングとの間を接触を良くする手段を含めること
により試験ピン組合わせ体の電気的接触を良くすること
ができると判つた。
1つの好ましい具体例では、プランジャに係合するばね
の上部は試験ピンを組み立てる際にばねをプランジャに
接続する以前にある角度に傾けられ偏心される。
の上部は試験ピンを組み立てる際にばねをプランジャに
接続する以前にある角度に傾けられ偏心される。
以下に本発明の現在のところ好ましい具体例について説
明する。
明する。
第1図には参考として本発明に組み入れた米国フ特許第
4105970号明細書に記載したものに似ている試験
ピンの上部組合わせ体の一部分10が示してある。
4105970号明細書に記載したものに似ている試験
ピンの上部組合わせ体の一部分10が示してある。
管状ハウジング12が直径を縮少した縁部18を有して
いる差込み部材16に摩擦係合するくぼみ14を有して
いる。プランジャ20がそ5の上端部のとがつたクラウ
ン22と、大きい直径部分24と、ばね28により縁部
18に圧接するよう偏倚されているテーパ付き部分26
とを有している。ハウジング12と、差込み部材16と
プランジヤ20とはすべて最初はニツケルで次いで金で
鍍金した焼入れしてあるベリリウム銅で作られている。
ばね28は総数で31の回旋部を有する1000分の5
インチ直径のステンレス鋼で作られている。ばね28は
上端部に直径を縮少しプランジヤ20のスタツド32に
摩擦係合する2つの回旋部30を有している。差込み部
材16の左側がハウジング22の左側壁の内面に圧接せ
しめられていない点で第1図は略図であるが、実際には
、差込み部材16の左側はハウジングの左側壁の内面に
くぼみ14により圧接せしめられている。第1図では明
かでないが、上端の回旋部30はばね28の残部に対し
て45゜片向いていて(第2図)、それによりプランジ
ヤ20の大きい直径部分24を差込み部材16の右側壁
の内面に圧接させている。試験ピンの作用は当業界で良
く知られている。
いる差込み部材16に摩擦係合するくぼみ14を有して
いる。プランジャ20がそ5の上端部のとがつたクラウ
ン22と、大きい直径部分24と、ばね28により縁部
18に圧接するよう偏倚されているテーパ付き部分26
とを有している。ハウジング12と、差込み部材16と
プランジヤ20とはすべて最初はニツケルで次いで金で
鍍金した焼入れしてあるベリリウム銅で作られている。
ばね28は総数で31の回旋部を有する1000分の5
インチ直径のステンレス鋼で作られている。ばね28は
上端部に直径を縮少しプランジヤ20のスタツド32に
摩擦係合する2つの回旋部30を有している。差込み部
材16の左側がハウジング22の左側壁の内面に圧接せ
しめられていない点で第1図は略図であるが、実際には
、差込み部材16の左側はハウジングの左側壁の内面に
くぼみ14により圧接せしめられている。第1図では明
かでないが、上端の回旋部30はばね28の残部に対し
て45゜片向いていて(第2図)、それによりプランジ
ヤ20の大きい直径部分24を差込み部材16の右側壁
の内面に圧接させている。試験ピンの作用は当業界で良
く知られている。
本発明の試験ピンでは、試験ピンのクラウンへの回路が
不意に偶然開路するという望ましくない事態は防止され
る。接触が良くなるのはプランジヤの部分24を差込み
部材16に圧接させる結果によるばかりでなくまたスタ
ツド32を通る電路によりばねの小さい直径の回旋部が
スタツド32を把持しばねの大きい直径の回旋部が差込
み部材16に接触していることにもよるものである。
不意に偶然開路するという望ましくない事態は防止され
る。接触が良くなるのはプランジヤの部分24を差込み
部材16に圧接させる結果によるばかりでなくまたスタ
ツド32を通る電路によりばねの小さい直径の回旋部が
スタツド32を把持しばねの大きい直径の回旋部が差込
み部材16に接触していることにもよるものである。
別の具体例では、本発明のばねは1つの直線的軸線を中
心として対称的であるがスタツドの軸線はばねの軸線と
は同軸でない。
心として対称的であるがスタツドの軸線はばねの軸線と
は同軸でない。
第1図は一部分を切欠いて示した本発明の試験ピン組合
わせ体の一部分の垂直断面図、第2図は1つの好ましい
具体例のばねの側面図である。 10・・・・・・試験ピン、12・・・・・・ハウジン
グ、20・・・・・・プランジヤ、28・・・・・・ば
ね、30・・・・・・片寄らせ手段として回旋部、16
・・・・・・差込み部材。
わせ体の一部分の垂直断面図、第2図は1つの好ましい
具体例のばねの側面図である。 10・・・・・・試験ピン、12・・・・・・ハウジン
グ、20・・・・・・プランジヤ、28・・・・・・ば
ね、30・・・・・・片寄らせ手段として回旋部、16
・・・・・・差込み部材。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 管状ハウジングと、差込み部材と、該差込み部材内
を該差込み部材の長軸方向に本体部分が摺動可能に装着
されるとともに接触端部を有するプランジャと、該プラ
ンジャの他端にあつて前記長軸方向に交差した方向の幅
が前記本体部分の幅より狭いスタッドと、前記差込み部
材内にあつて該差込み部材に対して前記長軸方向に前記
プランジャを弾定しているとともに一端部に前記スタッ
ドを把持する回旋部を有しているばねと、を具備して成
り、前記ばねの回旋部が前記ばねにかかる力が解除され
ると前記プランジャを前記差込み部材の一方の側に向け
て片寄らせるように前記ばねの長軸方向に角度をなした
軸線を有し、それによつて前記プランジャと前記差込み
部材との間の電気的接触を良くすることを特徴とする試
験ピン。 2 特許請求の範囲第1項記載の試験ピンにおいて、前
記ばねが前記スタッドを把持する複数の回旋部を有して
成ること。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10702779A | 1979-12-26 | 1979-12-26 | |
US107027 | 1987-10-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5694272A JPS5694272A (en) | 1981-07-30 |
JPS5953507B2 true JPS5953507B2 (ja) | 1984-12-25 |
Family
ID=22314479
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55148860A Expired JPS5953507B2 (ja) | 1979-12-26 | 1980-10-23 | 試験ピン |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5953507B2 (ja) |
CA (1) | CA1162243A (ja) |
DE (1) | DE3038937A1 (ja) |
FR (1) | FR2472773B1 (ja) |
GB (1) | GB2066590B (ja) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3225907A1 (de) * | 1982-07-10 | 1984-01-12 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Federnder kontaktbaustein fuer mess- und pruefzwecke |
DE3410093A1 (de) * | 1984-03-20 | 1985-10-03 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Federkontaktstift und verfahren zu seiner herstellung |
DE3424210A1 (de) * | 1984-06-30 | 1986-01-09 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Kontaktelement fuer einen pruefadapter |
JPS6179273U (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-27 | ||
GB2166913A (en) * | 1984-11-13 | 1986-05-14 | Tektronix Inc | Impedance matched test probe |
DE3441480A1 (de) * | 1984-11-13 | 1986-05-15 | MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH, 6384 Schmitten | Kontaktstift |
US4740746A (en) * | 1984-11-13 | 1988-04-26 | Tektronix, Inc. | Controlled impedance microcircuit probe |
DE3500227A1 (de) * | 1985-01-05 | 1986-07-10 | Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt | Tastnadel |
US4884024A (en) * | 1985-11-19 | 1989-11-28 | Teradyne, Inc. | Test pin assembly for circuit board tester |
EP0292590A1 (de) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung | Kontaktiervorrichtung für Prüfvorrichtungen |
DE3832410C2 (de) * | 1987-10-09 | 1994-07-28 | Feinmetall Gmbh | Kontaktvorrichtung |
DE3920850A1 (de) * | 1989-06-24 | 1991-01-10 | Feinmetall Gmbh | Federkontaktstift |
JPH0782028B2 (ja) * | 1990-07-30 | 1995-09-06 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子 |
US5189364A (en) * | 1990-07-30 | 1993-02-23 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact probe |
JPH0531656U (ja) * | 1991-10-14 | 1993-04-27 | フランスベツド株式会社 | ベツド装置 |
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US5528158A (en) * | 1994-04-11 | 1996-06-18 | Xandex, Inc. | Probe card changer system and method |
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DE19811795C1 (de) * | 1998-03-18 | 1999-09-02 | Atg Test Systems Gmbh | Nadel für einen Prüfadapter |
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JP5486760B2 (ja) * | 2006-07-04 | 2014-05-07 | 株式会社エンプラス | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
DE102012101929B4 (de) * | 2012-03-07 | 2015-02-19 | Federnfabrik Dietz Gmbh | Federhülse, Federstift und Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Federhülse und eines Federstifts |
JP6201138B2 (ja) | 2013-07-18 | 2017-09-27 | 株式会社トキワ | 化粧料容器 |
US9568388B2 (en) * | 2014-08-05 | 2017-02-14 | Sensata Technologies, Inc. | Small form factor pressure sensor |
CN107290099B (zh) | 2016-04-11 | 2021-06-08 | 森萨塔科技公司 | 压力传感器、用于压力传感器的插塞件和制造插塞件的方法 |
EP3236226B1 (en) | 2016-04-20 | 2019-07-24 | Sensata Technologies, Inc. | Method of manufacturing a pressure sensor |
US10545064B2 (en) | 2017-05-04 | 2020-01-28 | Sensata Technologies, Inc. | Integrated pressure and temperature sensor |
US10323998B2 (en) | 2017-06-30 | 2019-06-18 | Sensata Technologies, Inc. | Fluid pressure sensor |
US10724907B2 (en) | 2017-07-12 | 2020-07-28 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor element with glass barrier material configured for increased capacitive response |
US10557770B2 (en) | 2017-09-14 | 2020-02-11 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor with improved strain gauge |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3435168A (en) * | 1968-03-28 | 1969-03-25 | Pylon Co Inc | Electrical contact |
DE1765461B2 (de) * | 1968-05-22 | 1976-12-16 | Bossert, Anneliese, 7530 Pforzheim | Federkontakt |
CH589947A5 (en) * | 1974-02-13 | 1977-07-29 | Ingun Ag | Test pin for printed circuit boards - with spring loaded shank in barrel and test end with conical hollow for boards test point |
US4050762A (en) * | 1976-11-10 | 1977-09-27 | Everett/Charles, Inc. | Telescoping spring probe having separate wiper contact member |
US4105970A (en) * | 1976-12-27 | 1978-08-08 | Teradyne, Inc. | Test pin |
-
1980
- 1980-08-25 CA CA000358924A patent/CA1162243A/en not_active Expired
- 1980-10-15 DE DE19803038937 patent/DE3038937A1/de not_active Withdrawn
- 1980-10-23 JP JP55148860A patent/JPS5953507B2/ja not_active Expired
- 1980-11-03 GB GB8035306A patent/GB2066590B/en not_active Expired
- 1980-12-04 FR FR8025776A patent/FR2472773B1/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5694272A (en) | 1981-07-30 |
GB2066590B (en) | 1984-02-15 |
FR2472773A1 (fr) | 1981-07-03 |
FR2472773B1 (fr) | 1985-07-19 |
GB2066590A (en) | 1981-07-08 |
DE3038937A1 (de) | 1981-07-02 |
CA1162243A (en) | 1984-02-14 |
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