JPS5947333B2 - 経時回路 - Google Patents
経時回路Info
- Publication number
- JPS5947333B2 JPS5947333B2 JP52127518A JP12751877A JPS5947333B2 JP S5947333 B2 JPS5947333 B2 JP S5947333B2 JP 52127518 A JP52127518 A JP 52127518A JP 12751877 A JP12751877 A JP 12751877A JP S5947333 B2 JPS5947333 B2 JP S5947333B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- misfet
- capacitor
- clock pulse
- transmission gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、オートクリア回路すなわち、経時回路に関
し、特に、MISFET(絶縁ゲート型電界効果トラン
ジスタ)で構成されたディジタル制御回路に用いられす
オートクリア回路を対象とする。
し、特に、MISFET(絶縁ゲート型電界効果トラン
ジスタ)で構成されたディジタル制御回路に用いられす
オートクリア回路を対象とする。
ディジタル制御回路は、各種記憶回路を含む論理回路で
構成され、その動作はクロックパルスに同期してなされ
る。
構成され、その動作はクロックパルスに同期してなされ
る。
電源投入時においては、上記記憶回路の情報が、いずれ
に安定するかは不定であるため、これを初期値に設定す
るクリア動作が必要となる。オートクリア回路は、これ
を電源投入時に自動的に行なおうとするものである。
に安定するかは不定であるため、これを初期値に設定す
るクリア動作が必要となる。オートクリア回路は、これ
を電源投入時に自動的に行なおうとするものである。
この発明は、MIS半導体集積回路に内蔵でき、かつ、
簡単な回路構成のオートクリア回路すなわち、経時回路
を提供しようとするものである。
簡単な回路構成のオートクリア回路すなわち、経時回路
を提供しようとするものである。
この発明は、所定のクロックパルスにより制御される伝
送ゲートMISFETを用い、容量比の異なるコンデン
サの蓄積レベルを順次移送することにより、電源投入後
、階段状に変化する電圧信号を形成し、これに基づいて
、クリア信号を形成しようとするものである。以下、実
施例により、この発明を具体的に説明する。
送ゲートMISFETを用い、容量比の異なるコンデン
サの蓄積レベルを順次移送することにより、電源投入後
、階段状に変化する電圧信号を形成し、これに基づいて
、クリア信号を形成しようとするものである。以下、実
施例により、この発明を具体的に説明する。
第1図は、この発明の一実施例を示す回路図である。
この回路は、C−MIS(相補型MIS)論理回路で構
成された電子式卓上計算機等のディジタル制御回路にお
けるオートクリア回路の一実施例を示すものである。
成された電子式卓上計算機等のディジタル制御回路にお
けるオートクリア回路の一実施例を示すものである。
この回路において、MISFET(Q1、Q2)は、n
型基板上に形成されたp型ウェル領域に構成されるnチ
ャンネル型の伝送ゲートMISFETである。
型基板上に形成されたp型ウェル領域に構成されるnチ
ャンネル型の伝送ゲートMISFETである。
このMISFET(Q1、Q2)を直列接続して、それ
ぞれの出力側に、容量(C1、C2)を設けるとともに
、クロックパルス(φ1、φ2)で制御する。このクロ
ックパルス(φ1、φ2)は、第2図示すように、互い
に位相が異なり、そのアクティブレベル(nチャンネル
型MISFETであるから、基準電位レベル)が重なり
合うことがないよう形成された2相のクロックパルスで
ある。上記伝送ゲートMISFET(Q1)の入力側に
は、電流制限用Pチヤンネル型MISFET(Q3)を
設け一これを介して電源電圧(−V,8)を印加するも
のとする。
ぞれの出力側に、容量(C1、C2)を設けるとともに
、クロックパルス(φ1、φ2)で制御する。このクロ
ックパルス(φ1、φ2)は、第2図示すように、互い
に位相が異なり、そのアクティブレベル(nチャンネル
型MISFETであるから、基準電位レベル)が重なり
合うことがないよう形成された2相のクロックパルスで
ある。上記伝送ゲートMISFET(Q1)の入力側に
は、電流制限用Pチヤンネル型MISFET(Q3)を
設け一これを介して電源電圧(−V,8)を印加するも
のとする。
そして、上記nチヤンネル型MISFET(Ql,Q2
)が構成されるp型ウエル領域には、基準電位が印加さ
れるn型基板とを電気的に分離するためのバイアス電圧
として、上記電源電圧(−V8s)が印加されるもので
ある。
)が構成されるp型ウエル領域には、基準電位が印加さ
れるn型基板とを電気的に分離するためのバイアス電圧
として、上記電源電圧(−V8s)が印加されるもので
ある。
上記容量(Cl,C2)は、所定の容量比をもつて、C
2〉C1に選ぶよう設定する。
2〉C1に選ぶよう設定する。
これは、後述する動作説明より理解されよう。この容量
(C2)の蓄積電圧を入力とするインバータ回路(IN
)の出力をオートクリア信号(φACL)として用いる
。
(C2)の蓄積電圧を入力とするインバータ回路(IN
)の出力をオートクリア信号(φACL)として用いる
。
この回路により、オートクリア信号が形成できる理由は
、第2図に示す動作波形図を参照して、次に説明する。
、第2図に示す動作波形図を参照して、次に説明する。
まず、電源投入により、電源電圧(−V88)が、立ち
下る。
下る。
このとき、発振回路が発振動作を開始して、所定のレベ
ルのクロツクパルス(φ1,φ2)が形成されるまでの
間、伝送ゲートMSFET(Ql,Q2)がnチヤンネ
ル型MISFETであることより、両者共オン状態とな
るため、上記電源電圧(−V88)の立ち下りにより、
容量(Cl,C2)に光電がなされる。したがつて、こ
れを防止するために、電流制限用MlSFET(Q3)
を設けるものである。すなわち、このMISFET(Q
3)は、電源電圧(−Vss)が立ち下つても、そのゲ
ート電圧がしきい値電圧以上に大きくならないとオンせ
ず、この動作は、そのゲート容量と抵抗8の時定数で制
御できる。
ルのクロツクパルス(φ1,φ2)が形成されるまでの
間、伝送ゲートMSFET(Ql,Q2)がnチヤンネ
ル型MISFETであることより、両者共オン状態とな
るため、上記電源電圧(−V88)の立ち下りにより、
容量(Cl,C2)に光電がなされる。したがつて、こ
れを防止するために、電流制限用MlSFET(Q3)
を設けるものである。すなわち、このMISFET(Q
3)は、電源電圧(−Vss)が立ち下つても、そのゲ
ート電圧がしきい値電圧以上に大きくならないとオンせ
ず、この動作は、そのゲート容量と抵抗8の時定数で制
御できる。
この抵抗(8)は、またMISFET(Q3)のゲート
保護用としても作用する。これは、モノリシツク集積回
路の外は端子に直接ゲートが接続されるためである。し
たがつて、クロツクパルス(φ1,φ2)により伝送ゲ
ートMISFET(Ql,Q2)が正常のオン、オフ動
作をするまでの間、上記MISFET(Q3)により、
容量(Cl,C2)、特に出力側容量(C2)への光電
動作を阻止する。
保護用としても作用する。これは、モノリシツク集積回
路の外は端子に直接ゲートが接続されるためである。し
たがつて、クロツクパルス(φ1,φ2)により伝送ゲ
ートMISFET(Ql,Q2)が正常のオン、オフ動
作をするまでの間、上記MISFET(Q3)により、
容量(Cl,C2)、特に出力側容量(C2)への光電
動作を阻止する。
このため、インバータ回路(1N)の出力は、電源電圧
(−V,8)の立ち下りとともに、立ち下るクリア信号
(φACL)を形成する。
(−V,8)の立ち下りとともに、立ち下るクリア信号
(φACL)を形成する。
これにより、所定の記憶回路は、その電源電圧が所定の
動作電圧に達するとこのクリア信号(φACL)でクリ
ア動作をする。次に、クロツクパルス(φ1,φ2)に
より、伝送ゲートMTSFET(Ql,Q2)が交互に
オンするため、その度に、容量(C1)に蓄積された電
荷の容量(C2)への移送がなされ、徐々に容量(CΦ
の充電電圧レベルが大きくなる。
動作電圧に達するとこのクリア信号(φACL)でクリ
ア動作をする。次に、クロツクパルス(φ1,φ2)に
より、伝送ゲートMTSFET(Ql,Q2)が交互に
オンするため、その度に、容量(C1)に蓄積された電
荷の容量(C2)への移送がなされ、徐々に容量(CΦ
の充電電圧レベルが大きくなる。
これを定量的に説明すると、次のようになる。まず、説
明を簡単にするため、MISFET(Q1〜Q3)のし
きい値電圧による電圧ロスを省略して説明する。
明を簡単にするため、MISFET(Q1〜Q3)のし
きい値電圧による電圧ロスを省略して説明する。
MISFET(Q1)のオンにより容量(C1)への電
荷量(q1)は、式(1)で求められる。
荷量(q1)は、式(1)で求められる。
MISFET(Q2)のオンによる電荷移送による蓄積
レベルをVXlとすると次式(2)が求められる。
レベルをVXlとすると次式(2)が求められる。
次のクロツクパルス(φ1,φ2)による蓄積レベルを
VX2とすると、次式(3)が求められる。以下同様に
、n番目のクロツクパルス(φ1,φ2)による蓄積レ
ベルをVxとすると、次式(4)の関n係式が得られる
。
VX2とすると、次式(3)が求められる。以下同様に
、n番目のクロツクパルス(φ1,φ2)による蓄積レ
ベルをVxとすると、次式(4)の関n係式が得られる
。
\ν11VZノ▼X〜―【ノ
n
したがつて、o〉L(Lはインバータ回
n
路のロジツクスレツシヨルド電圧)のとき、インバータ
回路(IN)は、反転してクリア動作を解除する。
回路(IN)は、反転してクリア動作を解除する。
上記クロツクパルス(φ1,φ2)の周期を考慮して、
容量比(C,/C2)を適当に選ぶことにより、電源投
入時に所定の期間発生するクリア信号(φACL)を得
ることができる。
容量比(C,/C2)を適当に選ぶことにより、電源投
入時に所定の期間発生するクリア信号(φACL)を得
ることができる。
一般に、電子式卓上計算機等のデイジタル制御回路には
、クロツクパルスに従つて動作シーケンスを進めるもの
であるから、特別なりロツク発生回路を要せず、従つて
、オートクリア回路としては、第1図に示すように、伝
送ゲートMISFET(Q1−Q3)及び容量(C1〜
C2)並びにインバータ回路(N)で構成でき、極めて
簡単な回路となる。
、クロツクパルスに従つて動作シーケンスを進めるもの
であるから、特別なりロツク発生回路を要せず、従つて
、オートクリア回路としては、第1図に示すように、伝
送ゲートMISFET(Q1−Q3)及び容量(C1〜
C2)並びにインバータ回路(N)で構成でき、極めて
簡単な回路となる。
また、この実施例回路においては、伝送ゲートMISF
ET(Ql,Q2)をp型ウエル領域内に形成されたn
チヤンネル型MISFETを用いることにより、そのウ
エル領域と基板との間に介在するPn接合(D1〜D3
)を利用して、電源オフ時の上記容量(Cl,C2)の
放電経路が構成でき、回路の簡素化に役立たせている。
ET(Ql,Q2)をp型ウエル領域内に形成されたn
チヤンネル型MISFETを用いることにより、そのウ
エル領域と基板との間に介在するPn接合(D1〜D3
)を利用して、電源オフ時の上記容量(Cl,C2)の
放電経路が構成でき、回路の簡素化に役立たせている。
なお、電源投入とほぼ同時に、クロツクパルスが発生す
る場合、及び、例えば負の電源電圧に対するpチヤンネ
ルMISFETにより上記伝送ゲートMISFET(Q
l,Q2)を構成するときのように伝送ゲートMISF
ETのアクテイブレベルが電源電圧側レベルの場合には
、上記電流制限用MISFET(Q3)は不要となるが
、その代りに電源オフ時の放電用のダイオードを特別に
作成する必要がある。
る場合、及び、例えば負の電源電圧に対するpチヤンネ
ルMISFETにより上記伝送ゲートMISFET(Q
l,Q2)を構成するときのように伝送ゲートMISF
ETのアクテイブレベルが電源電圧側レベルの場合には
、上記電流制限用MISFET(Q3)は不要となるが
、その代りに電源オフ時の放電用のダイオードを特別に
作成する必要がある。
また、前記実施例において、容量(C2)の電荷をクロ
ツクパルス(φ1)で制御される伝送ゲートMISFE
Tを設け、3段にわたつて電荷を移送させるもの等、3
段以上による回路としてもよい。
ツクパルス(φ1)で制御される伝送ゲートMISFE
Tを設け、3段にわたつて電荷を移送させるもの等、3
段以上による回路としてもよい。
さらに、クロツクパルスを用いない電子式デイジタル時
計のように、発振回路及び分周回路を有するものにおい
ては、第3図に示すように、時間パルスを形成するため
の分周回路のうち、所定の分周出力(F4〜F6)を入
力とするゲート回路(Gl,G2)により、前記同様の
クロツクパルスを形成すればよい。すなわち、分周出力
(F4Q−F6Q)を入力とするNOR回路によるゲー
ト回路(G2)と、分周回力(F4Q,F5Q,F6Q
)を入力とするNAND回路によるゲート回路(G1)
及びその反転出力を得るためのインバータ回路(INl
)とにより、第4図に示すゲート出力(Gl,G2)を
得ることができる。
計のように、発振回路及び分周回路を有するものにおい
ては、第3図に示すように、時間パルスを形成するため
の分周回路のうち、所定の分周出力(F4〜F6)を入
力とするゲート回路(Gl,G2)により、前記同様の
クロツクパルスを形成すればよい。すなわち、分周出力
(F4Q−F6Q)を入力とするNOR回路によるゲー
ト回路(G2)と、分周回力(F4Q,F5Q,F6Q
)を入力とするNAND回路によるゲート回路(G1)
及びその反転出力を得るためのインバータ回路(INl
)とにより、第4図に示すゲート出力(Gl,G2)を
得ることができる。
また、この実施例においては、容量(C2)の蓄積レベ
ルをNOR回路(G3,G4)からなるラツチ回路に入
力し、電源投入時、第2図に示すような、ハイレベル(
111・・・正論理)信号(C)でもつて、ラツチ出力
Ωを″1″にセツトする。そして、上記信号(Oがロー
レベル(601)になつた後のキー入力信号で、ラツチ
回路(G3,G4)を反転させることにより、クリア動
作の解除を行なおうとするものである。時計の場合のク
リア動作は、各種カウンタをりセツトし、特定の時間、
例えばAMl2時00分ないし、O時00分とするよう
にするものである。
ルをNOR回路(G3,G4)からなるラツチ回路に入
力し、電源投入時、第2図に示すような、ハイレベル(
111・・・正論理)信号(C)でもつて、ラツチ出力
Ωを″1″にセツトする。そして、上記信号(Oがロー
レベル(601)になつた後のキー入力信号で、ラツチ
回路(G3,G4)を反転させることにより、クリア動
作の解除を行なおうとするものである。時計の場合のク
リア動作は、各種カウンタをりセツトし、特定の時間、
例えばAMl2時00分ないし、O時00分とするよう
にするものである。
このクリア解除を行なう回路は、キースイツチ入力端子
(MD,HM)と基準電圧端子(VDD)との間に設け
られたプルアツプ抵抗を構成するpチヤンネルMlSF
ET(Q4,Q5)と、これらのキー入力信号の波形整
形のためのインバータ回路(IN2〜IN5)と、これ
らの波形整形出力を入力とするラツチ回路(G5,G6
)と、これらのラツチ出力を入力とするNOR回路(G
7)と、その反転信号を形成するためのインバータ回路
とで構成される。上記ラツチ回路(G,,G6)は、チ
ヤタリング防止、並びにスイツチの二重押しを防止する
ためにある。上記いずれかのスイツチのオンにより入力
されたローレベル(−V58レベル)の信号により、上
記ラツチ回路(G5,G6)を介したNOR回路(G7
)の入力のいずれかカピl゛となつて、そのインバータ
回路(IN6)を介した出力6ビとなり、クリア出力を
保持しているラツチ回路(G3,G4)を反転させて、
クリア解除を行なう。
(MD,HM)と基準電圧端子(VDD)との間に設け
られたプルアツプ抵抗を構成するpチヤンネルMlSF
ET(Q4,Q5)と、これらのキー入力信号の波形整
形のためのインバータ回路(IN2〜IN5)と、これ
らの波形整形出力を入力とするラツチ回路(G5,G6
)と、これらのラツチ出力を入力とするNOR回路(G
7)と、その反転信号を形成するためのインバータ回路
とで構成される。上記ラツチ回路(G,,G6)は、チ
ヤタリング防止、並びにスイツチの二重押しを防止する
ためにある。上記いずれかのスイツチのオンにより入力
されたローレベル(−V58レベル)の信号により、上
記ラツチ回路(G5,G6)を介したNOR回路(G7
)の入力のいずれかカピl゛となつて、そのインバータ
回路(IN6)を介した出力6ビとなり、クリア出力を
保持しているラツチ回路(G3,G4)を反転させて、
クリア解除を行なう。
なお、これらのキー入力回路は、このクリア動作解除用
のためだけにあるのではなく、むしろそれぞれのキース
イツチに対応させたシステム制御のためにあり、それを
クリア解除回路に利用したものである。
のためだけにあるのではなく、むしろそれぞれのキース
イツチに対応させたシステム制御のためにあり、それを
クリア解除回路に利用したものである。
この発明は、前記実施例に限定されず、C一MIS回路
の他、pチヤンネルMISFET又はnチヤンネルMl
SFETによる単一チヤンネルのMISFETで構成さ
れたモノリシツク集積回路に組み込むものとしてもよい
。
の他、pチヤンネルMISFET又はnチヤンネルMl
SFETによる単一チヤンネルのMISFETで構成さ
れたモノリシツク集積回路に組み込むものとしてもよい
。
第1図は、この発明の一実施例を示す回路図、第2図は
、その動作波形図、第3図は、この発明の他の一実施例
を示す回路図、第4図は、その一部の動作を示す波形図
である。
、その動作波形図、第3図は、この発明の他の一実施例
を示す回路図、第4図は、その一部の動作を示す波形図
である。
Claims (1)
- 1 一端が電源電圧端子に接続され、他端と基準電位端
子との間に第1の容量手段が接続され、第1のクロック
パルスで制御される第1の伝送ゲートMISFETと、
一端が上記第1の伝送ゲートMISFETの他端に接続
され、他端と基準電位端子との間に上記第1の容量手段
より大きな容量値を有する第2の容量手段が接続され、
上記第1のクロックパルスと互いに位相が異なり、その
アクティブレベルが重なり合うことのない第2のクロッ
クパルスで制御される第2の伝送ゲートMISFETと
、上記第2の容量手段の蓄積レベルを入力とする論理回
路で、所望の信号を出力するものとを具備することを特
徴とする経時回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52127518A JPS5947333B2 (ja) | 1977-10-26 | 1977-10-26 | 経時回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52127518A JPS5947333B2 (ja) | 1977-10-26 | 1977-10-26 | 経時回路 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59054214A Division JPS6022368B2 (ja) | 1984-03-23 | 1984-03-23 | スイツチ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5461432A JPS5461432A (en) | 1979-05-17 |
JPS5947333B2 true JPS5947333B2 (ja) | 1984-11-19 |
Family
ID=14961987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52127518A Expired JPS5947333B2 (ja) | 1977-10-26 | 1977-10-26 | 経時回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5947333B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58116816A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Tamura Electric Works Ltd | リセツト回路 |
-
1977
- 1977-10-26 JP JP52127518A patent/JPS5947333B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5461432A (en) | 1979-05-17 |
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