JPS5939060A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

Info

Publication number
JPS5939060A
JPS5939060A JP14756882A JP14756882A JPS5939060A JP S5939060 A JPS5939060 A JP S5939060A JP 14756882 A JP14756882 A JP 14756882A JP 14756882 A JP14756882 A JP 14756882A JP S5939060 A JPS5939060 A JP S5939060A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
emitter
collector
base
whose
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP14756882A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0546104B2 (ja
Inventor
Yoji Nishio
洋二 西尾
Shigeo Kuboki
茂雄 久保木
Masahiro Iwamura
将弘 岩村
Ikuro Masuda
郁朗 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP14756882A priority Critical patent/JPS5939060A/ja
Publication of JPS5939060A publication Critical patent/JPS5939060A/ja
Publication of JPH0546104B2 publication Critical patent/JPH0546104B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits
    • H01L27/11896Masterslice integrated circuits using combined field effect/bipolar technology

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体大規模集積回路に係り、特に、CMO8
)ランジスタ及びバイポーラトランジスタから成る高速
で低消費′電力のゲートアレイLSIに関する。
ゲートアレイLSIとは、LSIを製造する時に用いる
10数枚のホトマスクのうちで配線に相当するマスクの
みを開発品種に応じて作成して所望の電気回路動作を有
するLSIを製造するものである。このマスクスライス
方式の概念は1960年代からあると言われている。
ゲートアレイLSIの構成を第1図に示す。
LSIチッグ10はその外周にホンディングバンド及び
入出力回路領域14を持ち、内部にはトランジスタ等の
素子から成る基本セル11をX軸方向に配列した基本セ
ル列12を配線領域13を挾んで繰り返し配置した構成
を採っている。所望の電気回路動作を得るだめに、隣接
した基本セル11を1個あるいは数個結線してN A 
Ni)ゲートやフリップフロッグ等を形成する。そして
複数個の基本セル11で形成した各種論理ゲート間を論
理図に従って配線することによって1つのLSIを構成
する。
従来のCMOSゲートアレイLSIでは、基本セル11
はCMO8)ランジスタから構成されている。
CMO8回路は消費電力が小さいという特長を有してい
るが、MOSトランジスタの伝達コンダクタンスが小さ
いため、負荷容量が大きいとその充放電に時間がかかり
、スピードが遅くなる欠点があった。
また、従来のバイポーラゲートアレイLSIでは、基本
セル11はバイポーラトランジスタ及び抵抗などから構
成されている。バイポーラ回路は、バイポーラトランジ
スタの伝達コンダクタンスがMOSトランジスタに比し
て大きいために、負荷容量が大きくなってもスピードが
落ちにくいという特長を有しているが、大電流を低イン
ピーダンス回路に流し込んだり、流し出したりするので
消費電力が太きいという欠点があった。
本発明の目的は以上述べてきたMOSゲートアレイLS
I及びノくイポーラゲートアレイLSIの欠点を補い、
高速で低消費電力のゲートアレイLSIを提供すること
にある。
本発明は、0M08回路の低消費′電力特性及び・くイ
ボーラ回路の高スピード特性に着目し、両回路を組合わ
せだ複合回路を基本セルとして用い、高速で低消費電力
のゲートアレイLSIを得ようとするものである。
そのため、バイポーラトランジスタで出力段を構成し、
0M08回路で論理回路とノ〈イポーラトランジスタを
駆動する回路を構成した複合回路を基本セルとして目的
を達するものである。
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
第2図にトーテムポール出力形2人力NAND回路を示
す。
第2図に於いて、20は、コレクタが電源端子203に
、エミッタが出力端子202に接続される第1のNPN
トランジスタ(以下NPNと略す)、21は、コレクタ
が出力端子202に、エミッタが接地電位GNDである
固定電位端子に接続される第2ONPN、201は2個
の入力端子、22及び23は、各ゲートがそれぞれ異な
る入力端子201に、各ソース及び各ドレインが、第1
ONPN20のコレクタとベースとの藺に並列にそれぞ
れ接続されるPMO8,26及び27は、各ゲートがそ
れぞれ異なる入力端子201に、各ドレイン及び各ソー
スが第2のNPN21のコレクタとベースとの間に直列
にそれぞれ接続されるNMO8,210及び211は、
第1及び第2のNPN20及び21のベースとエミッタ
との間に設けられる抵抗である。
表1は本実施例の論理動作を示すものである。
表1 まず入力201のどちらかが″0″レベルの時、PMO
822,23のどちらかがオンとなり、NMO826,
27のどちらかがオフとなる。しだがって第1のNPN
20のベース電位が上昇し、第1のNPN20はオンと
なり、第2のNPN21は抵抗211を介してベース、
エミッタ間が短絡されオフとなるので第1のNPN20
のエミッタ電流は負荷を充電し出力202は”1″レベ
ルとなる。
入力201の両方が“0″レベルの時、PMO822,
23の両方がオンとなり、NMO826゜27の両方が
オフとなる。したがって動作は上記と同じで出力202
は1°″となる。
−万人力201の両方が”1゛ルベルの時、PMO82
2,23の両方がオフとなり、NMO826。
27の両方がオンとなる。しだがって第1のNPN20
はベース、エミッタ間が抵抗210を介して短絡されオ
フとなり、第2ONPN21のベース。
コレクタ間はNMO826,27を介して短絡されるの
で、第2のNPN21のベースには出力202から電流
が供給され、第2のNPN21はオンとなり、出力20
2は”0”レベルとなる。抵抗210.211はNPN
)ランジスタ・φぶオンになる時には、ベース電流を分
流するが、NPNトランジスタがオフに切換った時に蓄
積電荷を引き抜く働きをする。
本実施例によれば、0MO8と、バイポーラトランジス
タの最小構成で2人力NAND回路が実現できる。また
、本実施例によれば、高周波特性のすぐれたNPNバイ
ポーラトランジスタを使用するので、超高速動作が可能
である。
また、本実施例によれば、高入力インピーダンス、低出
力インピーダンス回路を実現でき、電源203から接地
までに導電バスを作ることはないので低消費電力特性を
実現できる。
このバイポーラ・CMO8複合回路を好適に構成できる
レイアウトパターンを第3図に示し、理解を助けるため
に縦構造を第4図に示す。第4図はインバータ回路を示
すが、共通概念は第3図と同じ符号で表わす。
第3図には簡潔のだめ第4図の埋込層227のパターン
等は省略している。アイソレーション212内にPMO
822,23、NPN20、抵抗210.211及びN
MO826,27を構成し、アイソレーション213内
にNPN21を構成スる。第3図のゲート電極220,
221上に第2図と対応したMOSトランジスタの番号
を示す。
P+領域219とゲート電極220,221からPM0
822,23が構成され、Pウェル214内のN+領域
223とゲート電極221,220からNMO826,
27が構成される。NPN20はP領域217をペース
とし、P領域217内のN+領域218をエミッタとし
、N+領域215をコレクタとしている。抵抗210,
211はそれぞれP領域216,222から構成される
。NPN21はアイツレ−/コン213内にあるP領域
225をベースとし、P領域225内のN+領域226
をエミッタとし N+領域224をコレクタとしている
次に各素子間の結線について説明する。NPN20のコ
レクタ215とPMO822,23のソースはAL配線
42によって電源に接続される。区部はAL配線と各素
子とのコンタクトを示す。
PMO822,23のドレインとNPN20のペースと
抵抗210の一端はAL配線228によって各々接続さ
れる。抵抗210の他の一端とNPN20のエミッタ2
18はAL配a1229にj−1)で接続される。NP
N21のエミッタ226と抵抗211の一端とPウェル
214はAL配線43によって接地電位に接続される。
抵抗211の他の一端とNMO827のソースとNPN
21のベースはAL配線230によって各々接続される
NMO826のドレインとNPN21のコレクタ224
はAL配線231によって接続される。図示していない
が、NPN20のエミッタ218とNPN21のコレク
タ224は2層目のAL配線によって接続する。
第3図に示したレイアウトパターンからAL配線とコン
タクトを除いたパターンを第5図に示す。
つまり、第5図のパターンに第3図のAL配線とコンタ
クトを施せば2人力NAND回路になり、他のAL配縁
とコンタクトを施せばインバータや2人力NOR回路を
構成することができる。更にフリラグフロップ等を構成
する場合には第5図のパターンを必要数構に並べて用い
れば良い。したがって、第5図を基本セルとして第1図
のように配置すれば、ゲートアレイの基本セル列を構成
することができる。本実施例によれば、バイポーラ・C
MO8複合論理回路を構成できる基本セルを有するゲー
トアレイLSIを実現できるので、高速。
低消費電力のゲートアレイLSIを得ることができる。
第6図はトーテムポール出力形2人力NAND回路の他
の実施例を示す。第2図の実施例に於ける抵抗210を
NMO8240とPMO8242に、抵抗211をNM
O8241に置き換えだ実施例である。NMO8240
のゲートは電源端子203に、ドレイン及びソースはそ
れぞれNPN20のベースとニーミッタに接続される。
NMO8241のゲートは電源端子203に、ドレイン
及びソースはそ乙ぞれNPN21のペースとエミッタに
接続す4シる。PMO8242のゲートは接地電位に、
ドレイン及びソースはそれぞれNPN20のエミッタと
ペースに接続される。第2図と同じ部品は同じ番号で示
す。第2図とほぼ同じ動作である。NMO8241は非
飽和領域で常に動作し、抵抗2110代用をしている。
PMO8242は入力201のどちらかが”0゛ルベル
の時に、出力202を電源電圧まで上げる働きをし、N
MO8240は出力202が”0”レベルの時、NPN
20のベース。
エミッタ間を短絡し、NPN20をオフにして、貫通電
流をなくシ、消費電力を減少させる働きをする。本実施
例によれば、抵抗の代わりに小さなチャネル幅を有する
MOSトランジスタを用いるので更に集積度の向上を図
ることができる。
このバイポーラ・CMO8複合回路を好適に構成できる
レイアウトパターンを第7図に示す。第7図には簡潔の
ため埋込層のパターン等は省略している。アイソレーシ
ョン243内にPMO822。
23.242、NPN20及びNMO826,27゜2
40.241を構成し、アイソレーション244内にN
PN21を構成する。ゲート電極253゜254.25
5,256上に第6図と対応したMOSトランジスタの
番号を示す。P+領域249とゲート電極253,25
4,255からPMO8242,23,22が構成され
、Pウェル245内のN+領域250とゲート電極25
4,255からNMO826,27が構成される。まだ
、Pウェル245内のN+領域251,252とゲート
電極256からNMO8240,241が構成される。
NPN20はP領域247をベースとし、P領域247
内のN+領域248をエミッタとし、N+領域246を
コレクタとしている。NPN21はアイソレーション2
44内にあるP領域258をベースとし、P領域258
内のN+領域259をエミッタとし、N+領域257を
コレクタとしている。
次に各素子間の結線について説明する。NPN20のコ
レクタ246とPMO822,23のソースとNM08
240,241のゲート256はAL配線42によって
電源に接続される。図中区部はAL配線と各素子とのコ
ンタクトを示す。PMO822,23(7)ドレインと
N P N 20 ty)ベース247とPMO824
2(7)7−、t、はAL配線26oによって各々接続
される。NPN20のエミッタ248とPMO8242
のドレインはAL配+1261によって接続される。P
MO8242のドレインとNMO826のドレインとN
MO8240117):/−、XはAL配線262によ
って接続され、る。NMO826のドレインとNPN2
1のコレク*−257はAL配線263によって接続さ
れる。NMO827のソースとNMO8241のドレイ
ンとNPN21のベース258はAL配#i!264に
よって各々接続される。NPN216i)ff−ミッタ
259とNMO8241のソースとPMO8242のゲ
ート253とPウェル245はAL配線43によって接
地電位に接続される。
第7図に示したレイアウトパターンがらAL配線とコン
タクトを除いたパターンを第8図に示す。
つまシ、第8図のパターンに第7図のAL配線とコンタ
クトを施せば、2人力NAND回路になり、他のAL配
線とコンタクトを施せばインバータや2人力NO几回路
を構成することができる。更にフリラグフロッグ等を構
成する場合には第8図のパターンを必要数構に並べて用
いれば良い。しだがって、第8図を基本セルとして第1
図のように配置すれば、ゲートアレイの基本セル列を構
成することができる。本実施例によれば、抵抗の代わり
に小さなチャネル幅を有するMOSトランジスタを用い
るので、更に高集積のゲートアレイLSIを得ることが
できる。
第6図の実施例においてはNPN20のベース。
エミッタ間にPMO8242を設置したが、このPMO
8242を設けなくても実動作には問題ない。
これによって更に高集積のゲートアレイLSIを得るこ
とができる。
第9図はトーテムポール形出力段を持つ2人力NAND
回路の他の実施例を示す。本NAND回路はNPN20
,21、PMO822,23、デグレノヨン形NMOS
トランジスタ(以下DNMO8と略す)24.25、N
MO826,27、デプレション形PMO8l−ランジ
スタ(以下DPMO8と略す)28゜29から成る。動
作を説明する。まず入力201のどちらかが”0”レベ
ルの時、PMO822゜23のどちらかがオンとなり、
NMO826,27のどちらかがオフとなり、I)PM
O828、29のどちらかのオン抵抗が小きくなる。し
たがってNPN20のベース電位が上昇し、NPN20
はオフとなり、NPN21はDPMO,S 28か29
を介してベース、エミッタ間が短絡されオフとなるので
NPN20のエミッタ電流は負荷を充電し出力202は
”1゛ルベルとなる。入力201の両方が”0°ルベル
の時、PMO822,23の両方がオンとなり、NMO
826,27の両方がオフとなり、1)PMO828、
29のオン抵抗が小さくなる。したがって動作は上記と
同じで出力202は”l ”レベルとなる。一方式力2
01の両方が”1″レベルの時、PMO822,23の
両方がオフとなり、NMO826,27の両方がオンと
なり、DNMO824,25のオン抵抗が小さくなり、
DPMo、928.29のオン抵抗が犬きくなる。した
がってNPN20はベース、エミッタ間がDNMO82
4,25を介して短絡されオフとなり、NPN21のベ
ース、コレクタ間はNMOS 26 。
27を介して短絡されるので、NPN21のベースには
出力202から電流が供給され、NPN21はオンとな
り、出力202は゛0゛レベルとなる。
本実施例によればNPNをメツにするときには、そのN
PNのベース、エミッタ間のMOSのオン抵抗が小さく
なり蓄積電荷を高速に抜き、NPNがオンになる時には
そのベース、エミッタ間のMOSのオン抵抗が大きくな
り、ペース電流が分流しないので高速にオンとなる。し
たがってより高速動作が可能となる。
このバイポーラ・CMOS複合回路を好適に構成できる
レイアウトパターンを第10図に示し、理解を助けるた
めに縦構造を第11図に示す。第11図はインバータ回
路を示すが、共通概念は第10図と同じ符号で表わす。
第10図には簡潔のために第11図の埋込層50パター
ン等は省略している。アイソレーション30内にPMO
822,23、J、)NMOS 24 、25、及びN
PN20を構成し、アイソレーション44内にNM、0
826,27.1)PMO828,29及びNPN21
を構成する。
第1O図のゲート電極37.38上に第9図と対応した
MOSトランジスタの番号を示す。P+領域34とゲー
ト電極38.37からPMO822。
23が構成され、N+領域35とゲート電極38゜37
からNMOS26,27が構成され、それらの外側のP
MO8+1411にN+領域33とゲート電極37゜3
8からDNMO824、25カWt成され、NMOS側
にP+領域36とゲート電極37.38がらI)PMO
828、29が構成されている。NPN20はアイソレ
ーション3o内にあるN” 領域39をコレクタとして
、Pウェル31をベースとし、I)NMOS 25 ノ
ア −ス(第10図(7) コy p クト孔41があ
る所)をエミッタとしている。Pウェル31内にはl)
NMOS 24 、25が含まれテいるがPMO822
,23のドレイン領域の一部も含まれている。これはN
PN20のベース、!= PMO822,23のドレイ
ン間をAL配線を用いずに内部接続するためである。N
PN21はアイソレーション44内にあるN+領域4o
をエミッタとし、Pウェル32をベースとし、NMOS
26のドレインのPウェル32の外側45をコレクタと
している。Pウェル32はl)PMO828、29ノ;
/−スの一部を含んでいる。これはNPN21のベース
と1)PMO828,29のソース間をAL配線を用い
ずに内部接続するためである。またPウェル32はNM
OS 26のドレインの一部を含んでいない。
これはNPN 21のコレクタとNMOS 26のドレ
イン間をAL配線を用いずに内部接続するためである。
N PN 20(7):I レクタ39とPMO822
23のソースはVCC電源線42によって電源に接続き
れる。NPN2oのベースとDNMO824のドレイン
はAL配線46で接続される。NPN21のエミッタ4
0とDPMo828 、29(7) )−L’インはG
ND電源線43によってGNDに接続される。N P 
N 210ヘースとNMOS 27 (7) 7−、、
<はAL配線47で接続される。NPN20のエミッタ
(コンタクト孔41の箇所)とNPN21のコレクタ(
コンタクト孔48の箇所)を2層目のAL(図示せず)
で結線すればそこが出力202となる。入力201はゲ
ート電極37.38である。
第10図示しだレイアウトパターンを必要数用いてAL
配線層及びコンタクト層を論理ゲート毎ニ変えれば、イ
ンバータやNAND回路を構成することができる。した
がって第10図にAL配線層とコンタクト層を施してい
ないものを基本セルとして第1図のように配置すれば、
ゲートアレイの基本セル列となる。また、DNMO82
4,25のソース、ドレイン領域とAL配線を接続する
コンタクト孔と、PI)MOS 28 、29のソース
、ドレイン領域とAL配線を接続するコンタクト孔が、
基本セルの中心寄シに存在できるのL DNMO824
,25とDPMO828,29のソース、ドレイン領域
の外側の上をAL配線領域として用いることができる。
このことは配線領域の下に素子を埋め込んでいることに
相当し、面積効率が良くなる。本実施例によれば、バイ
ポーラ・CMO8複合論理回路を高密度に構成できるの
で、高速、低消費電力及び高集積のバイポーラ・CMO
8複合のゲートアレイLSIを得ることができる。
本発明の他の実施例を図面により説明する。第12図は
相補形出力段を持つ2人力NAND回路を示す。本NA
ND回路はi) N P トランジスタ(以下PNPと
略すJ 51.NPN21.PMO822゜23、DN
MO824,25,NMO826,27゜DPMO82
8,29から成る。第2図と同じ部品は同じ符号で示し
である。次に動作を説明する。
まず入力52のどちらかが°′0゛レベルの時、PMO
822,23のどちらかがオンとなり、NMO826,
27のどちらかがオフとなり、DPMO828,29の
どちらかのオン抵抗が小烙くなる。したがってPNP5
1のペース電位が下がり、PNP51はオンとなり、P
NP21はDPMO828か29を介してベース、エミ
ッタ間が短絡されオフとなるのでPNP51のコレクタ
電流は負荷を充電し出力53は°′1゛ルベルとなる。
次に入力52の両方が”0°゛レベルの時、PMO82
2,23の両方がオンとなり、NMO826,27の両
方がオフとなり、DPMO828。
29のオン抵抗が小孕くなる。しだがって動作は上記と
同じで出力53は”1“ルベルとなる。一方人力52の
両方が”1”レベルの時、PMO822,23の両方が
オフとなり、NMO826゜27の両方がオンとなり、
I)NMO824、25のオン抵抗が小さくなり、1)
Pl’t40S 28 、29のオン抵抗が太きくなる
。したがってPNP51はベース、エミッタ間がDNM
O824,25を介して短絡されオフとなり、NPN2
1のベース、コレクタ間はNMO826,27を介して
短絡されるので、NPN21のベースには出力53から
電流が供給され、NPN21はオンとなシ、出力53は
”O″レベルなる。
このバイポーラ・CMO8複合回路を好適に構成できる
レイアウトパターンを第13図に示し、理解を助けるた
めに縦構造を第14図に示す。第14図はインバータ回
路を示すが、共通概念は第13図と同じ符号で示す。第
13図は簡単のため、第14図の埋込Jfii 50の
パターン等は省略している。
本例においてはPNPトランジスタ51は横形が用いら
れている。ゲート電極37.38の上に第12図と対応
したMOSトランジスタの番号を示す。MOSトランジ
スタ及びNPN21の構成は第10図と同じである。P
NP20は横形で、P+領域62をエミッタとし、アイ
ソレーション60内のN領域をベースとし、PMO82
2のドレイン(コンタクト孔63がある箇所)をコレク
タとしている。Pウェル61はDNMO824のソース
の一部を含んでいない。これはPNP51のベースとD
NMO824のソース間をAL配線を用いずに内部接続
するためである。PNP51のエミッタ62とDNMO
825のドレインはVCC電源線42によって電源に接
続される。DNMO824のソースとPMO822,2
3のソースはAL配#j164にヨッテ接続される。N
M0826,27、DPMO828,29、NPN21
(7)接続は第10図と同じであるので説明を省略する
。P N l) 51のコレクタ(コンタクト孔63の
筒所)とNPN21のコレクタ(コンタクト孔48の箇
所)を2層目の 、AL(図示せず)で結線すればそこ
が出力53となる。入力52はゲート電極37.38で
ある。
第13図に示したレイアウトパターンを必要数用いてA
L配#i!層及びコンタクト層を論理ゲート毎に変えれ
ばインバータやNANDu路を構成することができる。
しだがって第13図にAL配線層とコンタクト層を施し
ていないものを基本セルとして第1図のように配置すれ
ばゲートアレイの基本セル列となる。本実施例によって
も、高速、低消*電力及び高集積のバイポーラ・CMO
8複合のゲートアレイL S Iを得ることができる。
第15図に示した相補形出力段を持つ2人力NAND回
路を好適に構成できる本発明の他の実施例を第16図に
示し、理解を助けるために縦構造を第17図に示す。ま
ず第15図の動作を説明する。まず入力86のどちらか
が”0″レベルの時、PMO882,83のどちらがオ
ンとなり、NMO884.85のどちらかがオフとなる
。したがってNPN80とPNP81のベース電位が上
がりNPN80はオンになり、PNP8tはオフになる
のでNPN80のエミッタ電流は負荷を充電し出力87
は”1゛ルベルとなる。次に入力86の両方が”0”レ
ベルの時、PMO882,83の両方がオンとなり、N
MO884,85の両方がオフとなる。したがって動作
は上記と同じで出力87は°′1゛ルベルとなる。一方
、入力86の両方が”1“ルベルの時、PMO882,
83の両方がオフとなり、NMO884,85の両方が
オンとなる。
したがってNPN80とPN P 81のベース電位が
ドがり、NPN80はオフとなり、PNP81はオンと
なるので、出力87は”0゛ルベルとなる。第16図は
第15図を好適に構成できるレイアウトパターンを示し
、第17図はその縦構造である。第17図はインバータ
回路を示すが、共通概念は第16図と同じ符号で表わす
。第16図のゲート電極93.94上に第15図と対応
したMOS)ランジスタの番号を示す。ビ領域91とゲ
ート電極93.94からPMO883,82が構成され
、N+領域92とゲート電極93.94からNMO88
4,85が構成される。NPN80はN1領域96をエ
ミッタとし、P領域95をベースとし N +領域99
をコレクタとしている。
またE’NP81はP+領域98をエミッタとし、N領
域97をベースとし、P1領域100をコレクタとして
いる。PMO882,83のソースとNPN80のコレ
クタ99は■CC喧源線101で電源に接続される。P
MO882,83のドレイン、NPN80とPNP81
のベース95と97、NMO884のドレイン間はAL
配線102によって接続される。PNP81のコレクタ
100とNMO885のソースはGND電源線103で
GNDに接続される。NPN80のエミッタ96とPN
P81のエミッタ98間はAL配線104で接続され、
そこが出力87となる。人力86はゲート電極93.9
4である。
第16図に示したレイアウトパターンを必要数用いてA
L配線層及びコンタクト層を論理ゲート毎に変えればイ
ンバータやNAND回路を構成することができる。した
がって第16図にAL配線層とコンタクト層を施してい
ないものを基本セルとして第1図のように配置すればゲ
ートアレイの基本セル列となる。本実施例によればアイ
リレーション領域が不要であるので、更に高集積のゲー
トアレイLSIを得ることができる。
本発明によれば、バイポーラトランジスタ回路の高駆動
能力とCMO8回路の低消費電力特性を兼ね備えだバイ
ポーラ・CMO8複合回路を構成できる基本セルを有す
るゲートアレイLSIを製造できるので、高速、低消費
電力のゲートアレイLSIを実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は゛ゲートアレイLSIのチップ図、第2図はバ
イポーラ・CMO8複合の2人力NAND回路図、第3
図は本発明の一実施例を示す基本セルで第2図の回路を
構成するパターン、第4図は第3図の縦構造図、第5図
は本発明の一実施例を示す基本セル、第6図はバイポー
ラ・CMO8複合の2入力NAND回路図、第7図は本
発明の一実施?lJ’に示す基本セルで第6図の回路を
構成するパターン、第8図は本発明の一実施例を示す基
本セル、第9図はバイポーラ・CMO8複合の2人力N
ANI)回路図、第10図は本発明の一実施例を示す基
本セルで第9図の回路を構成するパターン、゛第11図
は第10図の縦構造図、第12図はバイポーラ・CMO
8複合の2人力NANI)回路図、第13図は本発明の
一実施例を示す基本セルで第12図の回路を構成するパ
ターン、第14図は第13図の縦構造図、第15図はバ
イポーラ・CMO8複合の2人力NAND回路図、第1
6図は本発明の一実施例を示す基本セルで第15図の回
路を構成するパターン、第17図は第16図の縦構造図
である。 11・・・基本セル、2o・・・NPN)ランジスタ、
21・・・N P N )ランジスタ、51・・・P 
N P ’)ランジスp、22.23・=PMO8トラ
ンジスタ、24゜25・・・デグレノヨン形NMo5ト
ランジスタ、26゜27.240,241・ NMO8
トランジスタ、28.29・・・デプレション形PMO
8)ランジスタ、210、211・・・抵抗。 代理人弁理士高橋明夫 名8履 ど、)’/      Z、f8       1.5
Y  ど411−0 f)/〆霞

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 マスクスライス方式のゲートアレイLSIにおい
    て、各種論理ゲートを構成する基本セルが、論理ゲート
    の出力段を構成するバイポーラトランジスタとバイポー
    ラトランジスタを、駆動するとともに論理を採るCMO
    Sトランジスタから成ることを特徴とする半導体集積回
    路装置。 2、特許請求の範囲第1項に於いて、基本セルとして、
    コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接続され
    る第1のNPNバイポーラトランジスタと、コレクタが
    上記出力端子に、エミッタが固定電位端子に接続される
    第2のNPNバイポーラトランジスタと、ゲートが入力
    端子に、ノース及びドレインがそれぞれ上記第1のNP
    Nバイポーラトランジスタのコレクタとベースとに接続
    されるP型電界効果トランジスタと、ゲートが上記入力
    端子に、ドレイン及びノースがそれぞれ上記第2のNP
    Nバイポーラトランジスタのコレクタとベースとに接続
    されるN型電界効果トランジスタとを具備することを特
    徴とする半導体集積回路装置。 3、特許請求の範囲第1項または第2項に於いて、上記
    第1.第2のNPNバイポーラトランジスタのうチ少な
    くとも一方のベースとエミッタとの間に抵抗が接続され
    ることを特徴とする半導体集積回路。 4、特許請求の範囲第1項または第2項に於いて、ゲー
    トが上記電源端子に、ドレイン及びソースがそれぞれ上
    記第1のNPNバイポーラトランジスタのベースとエミ
    ッタとに接続される第2のN型電界効果トランジスタを
    具備することを特徴とする半導体集積回路装置。 5、特許請求の範囲第1項または第2項に於いて、ゲー
    トが上記電源端子に、ドレイン及びソースがそれぞれ上
    記第2のNPNバイポーラトランジスタのベースとエミ
    ッタとに接続される第3のN型電界効果トランジスタを
    具備することを特徴とする半導体集積回路装置。 6 %許請求の範囲第1項または第2項に於いて、ゲー
    トが上記入力端子に、ドレイン及びソースがそれぞれ上
    記第1のN P N ノ<イボーラトランジスタのベー
    スとエミッタとに接続される第4のN型効果トランジス
    タを具備子ることを特徴とする半導体集積回路装置。 7、  l¥f許請求の範囲第1項まだは第2項に於い
    て、ゲートが上記入力端子に、ドレイン及びソースがそ
    れぞれ上記第2のNPN・(イポーラトランジスタのエ
    ミッタとベースとに接続される第2のP型電界効果トラ
    ンジスタを具備することを特徴とする半導体集積回路―
    置。 8、特許請求の範囲第1項に於いて、基本セルとして、
    エミッタが電源端子に、コレクタが出力端子に接続され
    る第1のP N P ”イボーラトランジスタと、コレ
    クタが上記出力端子に、エミツタ75X固定電位端子に
    接続される第3ON P N ”イボーラトランジスタ
    と、ゲートが入力端子に、ソース及びドレインがそれぞ
    れ上記第1のP N P ”イポーラトランジスタのベ
    ースとコレクタとに接続される第3のP型電界効果トラ
    ンジスタと、ゲートが上記入力端子に、ドレイン及びソ
    ースがそれぞれ上記第3のNPNバイポーラトランジス
    タのコレクタとベースとに接続される第5のN型電界効
    果トランジスタとを具備することを特徴とする半導体集
    積回路装置。 9、特許請求の範囲第1項に於いて、基本セルとして、
    コレクタが電源端子に、エミッタが出力端子に接続はれ
    る第4のNPNバイポーラトランジスタと、エミッタが
    上記出力端子に、コレクタが固足電位端子に接続される
    第2ONPNバイポーラトランジスタと、ゲートが入力
    端子に、ソース及びドレインがそれぞれ上記第4のNP
    Nバイポーラトランジスタのコレクタとベースとに接続
    される第4のP型電界効果トランジスタと、ゲートが入
    力端子に、ドレイン及びソースがそれぞれ上記第2のP
    NPバイポーラトランジスタのベースとコレクタとに接
    続される第6のN型電界効果トランジスタとを具備する
    ことを特徴とする半導体集積回路装置。
JP14756882A 1982-08-27 1982-08-27 半導体集積回路装置 Granted JPS5939060A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14756882A JPS5939060A (ja) 1982-08-27 1982-08-27 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14756882A JPS5939060A (ja) 1982-08-27 1982-08-27 半導体集積回路装置

Related Child Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25745391A Division JPH0666424B2 (ja) 1991-10-04 1991-10-04 半導体集積回路装置
JP3257455A Division JP2524028B2 (ja) 1991-10-04 1991-10-04 半導体集積回路装置
JP3257454A Division JP2524027B2 (ja) 1991-10-04 1991-10-04 半導体集積回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5939060A true JPS5939060A (ja) 1984-03-03
JPH0546104B2 JPH0546104B2 (ja) 1993-07-13

Family

ID=15433290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14756882A Granted JPS5939060A (ja) 1982-08-27 1982-08-27 半導体集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5939060A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59106143A (ja) * 1982-12-10 1984-06-19 Ricoh Co Ltd Bi−cmosゲ−トアレイ
JPS61171150A (ja) * 1985-01-25 1986-08-01 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPS62115843A (ja) * 1985-11-15 1987-05-27 Nec Corp Bi−cmosゲ−トアレイ
JPS6394666A (ja) * 1986-10-09 1988-04-25 Hitachi Ltd 半導体素子のレイアウト方式
JPH03114259A (ja) * 1990-08-31 1991-05-15 Ricoh Co Ltd Bi―CMOSゲートアレイ

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5226181A (en) * 1975-08-22 1977-02-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Semi-conductor integrated circuit unit
JPS5545207A (en) * 1978-09-26 1980-03-29 Oki Electric Ind Co Ltd Complementary mos inverter circuit unit and its production
JPS56100461A (en) * 1980-01-17 1981-08-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Semiconductor ic device
JPS57181152A (en) * 1981-04-30 1982-11-08 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit device
JPS57186833A (en) * 1981-05-13 1982-11-17 Hitachi Ltd Switching element

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5226181A (en) * 1975-08-22 1977-02-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Semi-conductor integrated circuit unit
JPS5545207A (en) * 1978-09-26 1980-03-29 Oki Electric Ind Co Ltd Complementary mos inverter circuit unit and its production
JPS56100461A (en) * 1980-01-17 1981-08-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Semiconductor ic device
JPS57181152A (en) * 1981-04-30 1982-11-08 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit device
JPS57186833A (en) * 1981-05-13 1982-11-17 Hitachi Ltd Switching element

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59106143A (ja) * 1982-12-10 1984-06-19 Ricoh Co Ltd Bi−cmosゲ−トアレイ
JPH0578189B2 (ja) * 1982-12-10 1993-10-28 Ricoh Kk
JPS61171150A (ja) * 1985-01-25 1986-08-01 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPS62115843A (ja) * 1985-11-15 1987-05-27 Nec Corp Bi−cmosゲ−トアレイ
JPS6394666A (ja) * 1986-10-09 1988-04-25 Hitachi Ltd 半導体素子のレイアウト方式
JPH03114259A (ja) * 1990-08-31 1991-05-15 Ricoh Co Ltd Bi―CMOSゲートアレイ

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0546104B2 (ja) 1993-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8533641B2 (en) Gate array architecture with multiple programmable regions
JPH11214662A (ja) 半導体装置
EP0290672B1 (en) A semiconductor integrated circuit device
US8788984B2 (en) Gate array architecture with multiple programmable regions
JP2822781B2 (ja) マスタスライス方式半導体集積回路装置
JP2632420B2 (ja) 半導体集積回路
JPS5939060A (ja) 半導体集積回路装置
KR100745570B1 (ko) 유기 전계 효과 트랜지스터 및 집적회로
JP2524027B2 (ja) 半導体集積回路装置
US5856218A (en) Bipolar transistor formed by a high energy ion implantation method
JPH04355956A (ja) 半導体集積回路装置
JPS59177945A (ja) 半導体集積回路装置
JP2609746B2 (ja) 半導体装置
JPS6092653A (ja) 半導体集積回路装置
CA2046832A1 (en) Compound semiconductor integrated circuit device
JP3080800B2 (ja) 半導体装置
JPS61280650A (ja) 入力回路
JPS63150935A (ja) 半導体集積回路装置
JP2901542B2 (ja) 半導体集積回路
JPH04355957A (ja) 半導体集積回路装置
JPH04306876A (ja) ゲートアレイ集積回路
JPS5940565A (ja) 半導体集積回路装置
JPS59165448A (ja) 相補型半導体集積回路装置
JPS61150264A (ja) 半導体装置
JPH03231462A (ja) 半導体集積回路