JPS5935858U - 螢光ｘ線分析装置 - Google Patents

螢光ｘ線分析装置

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JPS5935858U
JPS5935858U JP13289982U JP13289982U JPS5935858U JP S5935858 U JPS5935858 U JP S5935858U JP 13289982 U JP13289982 U JP 13289982U JP 13289982 U JP13289982 U JP 13289982U JP S5935858 U JPS5935858 U JP S5935858U
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JP
Japan
Prior art keywords
fluorescent
sample
ray analyzer
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ray
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Pending
Application number
JP13289982U
Other languages
English (en)
Inventor
良一 清水
Original Assignee
株式会社島津製作所
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の実施例の構成図、第２図は本考案の要
部である連続可変絞り装置の一部の分解　　　−斜視図
である。 １・・・試料、２・・・試料容器、４・・・マスク、７
・・・Ｘ線管、１３・・・検出器、１５・・・蛍光Ｘ線
通過窓、１６・・・連続可変絞り装置、１７・・・固定
輪、１８・・・絞り片、１９・・・回転輪、２０・・・
回転機構、２１・・・モータ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 分析位置にセットされた試料の表面にマスクをする蛍光
    Ｘ線分析装置において、前記試料と、試料からの蛍光Ｘ
    線を検出する位置にセットされた検出器との間の蛍光Ｘ
    線通路内に、試料の大きさに対応して蛍光Ｘ線通過窓の
    大きさを絞ることができる絞り手段を設けたことを特徴
    とする蛍光Ｘ線分析装置。
JP13289982U 1982-08-31 1982-08-31 螢光ｘ線分析装置 Pending JPS5935858U (ja)

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JP13289982U JPS5935858U (ja) 1982-08-31 1982-08-31 螢光ｘ線分析装置

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JPS5935858U true JPS5935858U (ja) 1984-03-06

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ID=30299970

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