JPH02144757U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH02144757U JPH02144757U JP5242089U JP5242089U JPH02144757U JP H02144757 U JPH02144757 U JP H02144757U JP 5242089 U JP5242089 U JP 5242089U JP 5242089 U JP5242089 U JP 5242089U JP H02144757 U JPH02144757 U JP H02144757U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- rays
- ray
- fluorescent
- linear
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
第１図は本考案実施例の平面図、第２図はその
縦断面図、また第３図は他の実施例における一部
の斜視図である。 なお図において、１……Ｘ線管、２……ターゲ
ツト、３……Ｘ線窓、４……スリツト、５，５′
……試料保持台、６，６′……試料、７……Ｘ線
検出器である。
縦断面図、また第３図は他の実施例における一部
の斜視図である。 なお図において、１……Ｘ線管、２……ターゲ
ツト、３……Ｘ線窓、４……スリツト、５，５′
……試料保持台、６，６′……試料、７……Ｘ線
検出器である。
Claims (1)
- 線状をなした試料の両端部を保持する２つの平
行な試料保持台と、上記線状試料にこれと直角に
入射してこの試料を励起することによりその蛍光
Ｘ線を発生させる一次Ｘ線の発生源と、上記一次
Ｘ線の通路上に配置されて試料の励起に寄与しな
いＸ線を遮断するスリツトと、上記試料の側部に
配置されて試料から発生する蛍光Ｘ線を検出する
Ｘ線検出器とよりなる線状試料蛍光Ｘ線分析装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5242089U JPH02144757U (ja) | 1989-05-08 | 1989-05-08 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5242089U JPH02144757U (ja) | 1989-05-08 | 1989-05-08 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02144757U true JPH02144757U (ja) | 1990-12-07 |
Family
ID=31572708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5242089U Pending JPH02144757U (ja) | 1989-05-08 | 1989-05-08 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02144757U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013170880A (ja) * | 2012-02-20 | 2013-09-02 | Hamamatsu Photonics Kk | Ｘ線分析装置 |
-
1989
- 1989-05-08 JP JP5242089U patent/JPH02144757U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013170880A (ja) * | 2012-02-20 | 2013-09-02 | Hamamatsu Photonics Kk | Ｘ線分析装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH02144757U (ja) | ||
| JPH0362340U (ja) | ||
| JPH0330856U (ja) | ||
| JPH01142850U (ja) | ||
| JPH03106451U (ja) | ||
| JPS6312153U (ja) | ||
| JPH03712U (ja) | ||
| JPS6065665U (ja) | 放射線分析装置 | |
| JPS5935858U (ja) | 螢光ｘ線分析装置 | |
| JPS62199666U (ja) | ||
| JPS6354058U (ja) | ||
| JPS6220365U (ja) | ||
| JPS6218654U (ja) | ||
| JPS637350U (ja) | ||
| JPS6385860U (ja) | ||
| JPS58112906U (ja) | Ｘ線膜厚装置 | |
| JPS6383648U (ja) | ||
| JPH0461040U (ja) | ||
| JPS59109947U (ja) | 水平型熱天秤装置 | |
| JPH0281488U (ja) | ||
| JPH01130252U (ja) | ||
| JPS6356556U (ja) | ||
| JPH0269751U (ja) | ||
| JPS6132984U (ja) | Ｅｃｔ用放射線検出器 | |
| JPS629135U (ja) |