JPS6065665U - 放射線分析装置 - Google Patents

放射線分析装置

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Publication number
JPS6065665U
JPS6065665U JP15920683U JP15920683U JPS6065665U JP S6065665 U JPS6065665 U JP S6065665U JP 15920683 U JP15920683 U JP 15920683U JP 15920683 U JP15920683 U JP 15920683U JP S6065665 U JPS6065665 U JP S6065665U
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JP
Japan
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radiation
sample
detector
outer cylinder
detected
Prior art date
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Pending
Application number
JP15920683U
Other languages
English (en)
Inventor
裕三 杉原
Original Assignee
出光興産株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 出光興産株式会社 filed Critical 出光興産株式会社
Priority to JP15920683U priority Critical patent/JPS6065665U/ja
Publication of JPS6065665U publication Critical patent/JPS6065665U/ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の放射線分析装置の測定原理を示す図、第
２図は本考案の一実施例を示す断面図、第３図は試料容
器の一部を切欠いた斜視図である。 ２４・・・試料、２５・・・試料容器、３２・・・Ｘ線
発生器としてのＸ線管、３４・・・検出器としてのカウ
ンタ。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）放射線発生器からの一次放射線を試料容器内に収
    納された試料に照射し、この試料から放射される二次放
    射線を検出器で検出し、この検出器で検出された二次放
    射線中の所定波長の強度を予め標準試料によって得られ
    た検量線と比較し、試料中の所定元素の含有量を測定す
    る放射線分析装置において、前記試料容器の上面を開放
    し、かつ試料容器内に収納された試料の上方から一次放
    射線が照射されるように前記放射線発生器を配置したこ
    とを特徴とする放射線分析装置。
  2. （２）実用新案登録請求の範囲第１項において、前記試
    料容器は、上面を開口した有底筒状の外筒の内部に、そ
    の外筒の上端より低い高さの環状仕切筒が一体的に形成
    されて構成されていることを特徴とする放射線分析装置
    。
JP15920683U 1983-10-14 1983-10-14 放射線分析装置 Pending JPS6065665U (ja)

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JP15920683U JPS6065665U (ja) 1983-10-14 1983-10-14 放射線分析装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP15920683U JPS6065665U (ja) 1983-10-14 1983-10-14 放射線分析装置

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JPS6065665U true JPS6065665U (ja) 1985-05-09

Family

ID=30350528

Family Applications (1)

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JP15920683U Pending JPS6065665U (ja) 1983-10-14 1983-10-14 放射線分析装置

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JP (1) JPS6065665U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01105146A (ja) * 1987-10-19 1989-04-21 Sekiyu Sangyo Katsuseika Center けい光ｘ線分析装置の液体試料用容器
JP2001255289A (ja) * 2000-03-08 2001-09-21 Horiba Ltd 液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型ｘ線分析方法および装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49117089A (ja) * 1972-05-12 1974-11-08

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49117089A (ja) * 1972-05-12 1974-11-08

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01105146A (ja) * 1987-10-19 1989-04-21 Sekiyu Sangyo Katsuseika Center けい光ｘ線分析装置の液体試料用容器
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