JPH0299342U - - Google Patents

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JPH0299342U
JPH0299342U JP868189U JP868189U JPH0299342U JP H0299342 U JPH0299342 U JP H0299342U JP 868189 U JP868189 U JP 868189U JP 868189 U JP868189 U JP 868189U JP H0299342 U JPH0299342 U JP H0299342U
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ray
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detectors
spectrometer
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

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【図面の簡単な説明】
図面は本考案の実施例を示すもので、第１図は
ＥＰＭＡに本発明の波長分散型のＸ線分光装置（
本例では特に結晶直進型のもの）を適用した場合
の構成を示す正面図、第２図は同装置の平面図、
第３図はＸ線検出器の検出出力の関係を示す特性
図である。 １……Ｘ線分光装置、２……試料（放射性物質
）、６……分光結晶、８ａ，８ｂ……Ｘ線検出器
、１２……引き算回路、Ｌ……分光光路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 分光結晶を有する波長分散型のＸ線分光装置に
    おいて、 ２台のＸ線検出器を並設し、各Ｘ線検出器は、
    試料配置位置から互いに等距離で、かつ、一方の
    Ｘ線検出器は前記分光結晶で分光されたＸ線の光
    路上に、他方のＸ線検出器はその光路から外れた
    位置にそれぞれ配置するとともに、両Ｘ線検出器
    の検出出力を引き算する引き算回路を備えること
    を特徴とするＸ線分光装置。
JP868189U 1989-01-27 1989-01-27 Pending JPH0299342U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017161276A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 株式会社リガク 多元素同時型蛍光ｘ線分析装置および多元素同時蛍光ｘ線分析方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017161276A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 株式会社リガク 多元素同時型蛍光ｘ線分析装置および多元素同時蛍光ｘ線分析方法
WO2017154505A1 (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 株式会社リガク 多元素同時型蛍光ｘ線分析装置および多元素同時蛍光ｘ線分析方法

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