JPS608867U - 螢光ｘ線分析装置 - Google Patents

螢光ｘ線分析装置

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JPS608867U
JPS608867U JP10157683U JP10157683U JPS608867U JP S608867 U JPS608867 U JP S608867U JP 10157683 U JP10157683 U JP 10157683U JP 10157683 U JP10157683 U JP 10157683U JP S608867 U JPS608867 U JP S608867U
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JP
Japan
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fluorescent
ray
rays
ray analyzer
sample surface
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Pending
Application number
JP10157683U
Other languages
English (en)
Inventor
熊倉　孝一
細川　好則
Original Assignee
株式会社　堀場製作所
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はフィルター回転形式の螢光Ｘ線分析装置を示す
側面図、第２図はＸ線フィルターを備えた回転部材の正
面図である。第３図は本考案によるフィルタースライド
形式の螢光Ｘ線分析装置の側面図、第４図はＸ線フィル
ターをスライド方向に並設した板状部材の正面図である
。 １・・・・・・Ｘ線管、４・・・・・・板状部材、６・
・・・・・Ｘ線フィルター、Ａ・・・・・・−次Ｘ線、
Ｂ・・・・・・螢光Ｘ線。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料面に対して斜め方向から一次Ｘ線を照射するＸ線管
    と、前記−次Ｘ線の照射によって発生する試料からの螢
    光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを設けると共に、−次Ｘ
    線の光軸を横断しかつ試料面に沿う方向でスライド操作
    自在な板状部材に、特性の異なる複数個のＸ線フィルタ
    ーをスライド方向に並設したことを特徴とする螢光Ｘ線
    分析装置。
JP10157683U 1983-06-28 1983-06-28 螢光ｘ線分析装置 Pending JPS608867U (ja)

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JP10157683U JPS608867U (ja) 1983-06-28 1983-06-28 螢光ｘ線分析装置

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JPS608867U true JPS608867U (ja) 1985-01-22

Family

ID=30239811

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JP10157683U Pending JPS608867U (ja) 1983-06-28 1983-06-28 螢光ｘ線分析装置

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JP (1) JPS608867U (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4712954U (ja) * 1971-03-12 1972-10-16
JPS4840498A (ja) * 1971-09-22 1973-06-14
JPS5139580B2 (ja) * 1973-02-08 1976-10-28

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4712954U (ja) * 1971-03-12 1972-10-16
JPS4840498A (ja) * 1971-09-22 1973-06-14
JPS5139580B2 (ja) * 1973-02-08 1976-10-28

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