JPS5924578B2 - デ−タ伝送区間のル−プ試験装置 - Google Patents

デ−タ伝送区間のル−プ試験装置

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JPS5924578B2
JPS5924578B2 JP54113020A JP11302079A JPS5924578B2 JP S5924578 B2 JPS5924578 B2 JP S5924578B2 JP 54113020 A JP54113020 A JP 54113020A JP 11302079 A JP11302079 A JP 11302079A JP S5924578 B2 JPS5924578 B2 JP S5924578B2
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transmission
selection circuit
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エドガ−・バ−ダ−
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  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
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  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試験局から相手局に達する伝送チャネルが相
手局から試験局に達する伝送チャネルの・ 伝送速度の
p倍の伝送速度に構成されており、相手局への伝送が所
定のクロックパターンで同期的に行なわれ、相手局から
の伝送が非同期に行なわれるデータ伝送区間のループ試
験装置に関する。
かようなデータ伝送区間では、一方の伝送方向で)大き
い伝送速度により同期伝送が行なわれ、他方の伝送方向
で小さい伝送速度により非同期伝送が行なわれる。ルー
プ試験はデータ伝送区間の品質について検査する。全2
重のデータ伝送区間では、次のように試験0 伝送のた
めのループ回路が形成される;即ち試験局が所定の試験
信号を相手局に送出し、相手局の受信機出力側に生ずる
信号が相手局の送信機入力側にループ接続され、次いで
他方の伝送チャネルを介して試験局に返送される。
両伝送チャネルか”5 ら成る伝送区間の品質(例えば
誤り率)は、試験局の受信機出力側に生ずる信号と試験
局の送信機入力側の原試験信号とを比較することにより
確認することができる。しかしこのようなループ試験は
、両伝送チャネルの伝送速度が著しく相異なる場合には
、困難に逢着する。
例えば出方向が最大1200bit/sの高速チャネル
であり反対方向が最大75bit/sの低速チヤネルで
あるデータ伝送区間力ψ1jとしてあげられる。
この場合高速チヤネルを介する伝送は所定のクロツクパ
ターンで同期的に行なわれるか又は非同期に行なわれる
。このようなデータ伝送区間では、低速チャネルの小さ
い伝送速度に制限された伝送速度でのみループ試験を行
なわざるを得ない。しかしこれは、高速チャネルが実際
の条件の下で試験されないという欠点をもたらす。例え
ばこのような方法で試験する場合には、大きい伝送速度
でない限り生じない伝送誤りを確認することはできない
。本発明の基本的課題は、試験局から相手局に達する高
速チヤネルが反対方向の低速チャネルの伝送速度のp倍
の伝送速度に構成されているデータ伝送区間のループ試
験装置を提供することである。
但し高速チヤネルを介する伝送は所定のクロツクパター
ンで同期的に行なわれ、反対方向のチヤネルでは非同期
的に行なわれる。ルーブ試験装置は、できる限り簡単で
しかも両伝送チヤネルの試験ができる限り実動条件の下
で行なわれるように構成することが望ましい。本発明で
は、周期的な試験信号、例えば CCITT勧告V52により提案されている擬似ランダ
ムパターン等、を使用することにしている。
この擬似ランダムパターンの周期は511ステツプであ
る。本発明によればこの課題は次のようにして解決され
る。
即ち、試験局から相手局への試験信号の伝送を最大可能
伝送速度で行ない、相手局の受信機出力側により選択回
路の信号入力側を励振し、選択回路の出力側により相手
局の送信機入力側を励振し、選択回路が入力信号のp番
目毎のステツブのみ出力側に転送し、試験局に返送され
る選択回路の出力信号が、相手局から試験局に達する伝
送チヤネルの最大伝送速度に少なくとも近似的に 4相
応する最短のステツプ長を有するようにしたのである。
次に本発明を実施例につき図面により詳細に説明する。
以下の実施例では、試験局から相手局ヘノの伝送が最大
可能速度1200bit/sで同期的に行なわれ、反対
方向の伝送が最大75bit/sで非同期に行なわれる
第1図は本発明のループ試験装置の説明に供する略図で
ある。
第1図において試験信号発生器9は試験局2の送信機入
力側1に矩形波試験信号を加える。試験局2はこの試験
信号をモデムを介して例えば1.1〜2.3KHzの高
速伝送チヤネル3を介して相手局4に送る。相手局4の
受信機出力側5には矩形波試験信号が生ずる。選択回路
10の信号入力側は受信機出力側5から励振される。相
手局4のクロツク出力側11は選択回路10のクロツク
入力側に接続されている。選択回路10の出力側から相
手局4の送信機入力側6が励振される。選択回路10は
、周期Taのリズムで、受信機出力側5・から供給され
る試験信号の信号ステツブを送信機入力側6に通過させ
る。そして選択回路10により通過された信号ステツプ
はそれぞれ周期Taの長さに延長される。周期Taは低
速チヤネル7の最大伝送速度に相応する。相手局4は、
選択回路10から供給される信号を、420Hz±37
.5Hzの周波数領域の伝送チヤネル7を介して、局2
に返送する。局2の受信機出力側8には返送された信号
が矩形波で生ずる。選択回路10は入力信号のp番目毎
の信号ステツプを出力側に通す。
値pは高速チヤネル3の最大伝送速度と低速チヤネル7
の最大伝送速度との比である。実施例では、伝送速度の
冒頭で記述した値の商としてp−16である。両伝送チ
ヤネルの最大伝送速度が整数比にならないデータ伝送区
間では、チャネル7の最大伝送速度ができる限り良好に
近似されるようにPf)値を選定する。
試験信号発生器9から送出される試験信号は実施例では
CCITT勧告V52により提案されている擬似ランダ
ムパターンに相当する。
この擬似ランダムパターンは、16番目毎のステツプの
列が元の列を再現するパターンになるように形成されて
いる。このような試験信号を使用すれば、局2の受信機
出力側8に生ずる信号のチエツクのため、上記CCIT
Tパターン用に設計された市販の機器を使用することが
できるので便利である。伝送チヤネル3が2400bi
t/sの伝送速度を有する場合も同様である。CCIT
Tパターンの32番目毎の列がやはり元の列を再現する
からである。第2図は第1図の選択回路10の実施例を
示す。第2図の実施例では選択回路10は双安定マルチ
バイブレータ12を有する。双安定マルチバイブレータ
12の準備入力側は選択回路10の信号入力側である。
双安定マルチバイブレータ12のクロツク入力側は分周
器13の出力側に接続されている。分周器13の入力側
は選択回路10のクロツク入力側である。双安定マルチ
バイブレータ12の出力側は選択回路10の出力側であ
る。既述のように本発明は、2つの方向にデータを伝送
できる全2重データ伝送区間の伝送品質(例えば誤り率
)を試験するためのものである。従来、このような伝送
区間における2つの伝送チャネルのデータ伝送速度が著
しく異なる場合、低速チヤネルの伝達速度でしかループ
試験を実施できず、従つて高速チヤネルは実際的条件下
では試験できなかつた。本発明はこの欠点を除去するも
のである。図示の実施例では、チャネル3が高速伝送チ
ヤネルであり、チヤネル7が低速チヤネルである。従つ
て、チヤネル3を介して相手局4へ伝送された試験信号
のステツプを抑圧し、抑圧された信号ステツプを低速チ
ヤネル7を介して試験局2へ返送できなければならない
。この信号ステツプの抑圧は選択回路10によつて行な
われる。次に第3図を参照しながらこの抑圧がどのよう
に行なわれるかを説明する。第3図は、第2図の選択装
置の動作を説明するためのプロツクダイャグラムである
第3図Aには、相手局4に受信される試験信号のステツ
プクロツクが図示されている。このステツプクロツクは
分周器13の入力側に加えられる。既述のように、高速
伝送チヤネル3と低速チヤネル7とのデータ伝送速度の
比はP−16なので、分周器13は入カステツプクロツ
クを分周比16で分周する。分周器13の出力信号は第
3図Bに示されている。この信号の周期はTaである。
第3図Cは局4の受信試験信号の一部を示している。試
験信号は双安定マルチバイブレータ12の準備入力側に
供給される。第3図B,Cから分るように、分周器13
の出力信号の周期Taは、クロツクAの1個分に相当す
る試験信号の持続時間と同じであ 。従つて、双安定マ
ルチバイブレータ12の準備入力側にクロツクAの16
個分に相当する試験信号が加わる度に、そのクロツク入
力側に分周器13のクロツクBの立上り縁が加えられる
。そのため、試験信号の(クロツク周期的に見て)16
番目毎の信号ステツプの2進値が、マルチバイブレータ
12の出力側へ転送される。この出力信号は第3図Dに
示されている。当然のことだが、この信号のステツプ速
度は、高速チャネル3の伝送速度1200bit/sの
16分の1、つまり75bit/sなので、低速チャネ
ル7を介して試験局2へ返送することができる。(クロ
ツク周期的に見て)16番目毎の返送された信号は、試
験局2でループ試験のため原試験信号の(クロツク周期
的に見て)16番目毎の信号ステツプと比較される。既
述のようにこの試験信号は、その16番目毎のステツプ
の列が原信号を再現するように構成されている。従つて
、以上のようにして、高速チヤネル3と低速チヤネル7
の両方を、その伝送品質に関して、実際の条件下で試験
することができる。なお、クロツク出力側11から取出
されるステツプクロツクは、公知技術水準に従い、種々
の方法で得ることができる。
例えば、後置接続された周波数発振器を用いてこのよう
なステツプクロツクを供給することができる。従つて、
相手局4におけるクロツクの発生方法については特に説
明しない。本発明は、中央局から多数のデータ局を給電
し試験する場合に特に有効である。
かかる適用例として例えばスクリーンパターン・サービ
スがある。この場合テストパターンの発生及び誤り評価
のための装置類をすべて完全に中央局に設置する。本発
明では上記CCITTパターンの代わりに任意の周期的
テストパターンを使用することもできる。この場合局2
でテストパターンを所定の個所からスタートするように
しさえすればよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のループ試験装置の説明に供するブロツ
ク略図、第2図は選択回路の実施例のプロツク回路図、
第3図A−Dは第2図の選択回路の動作の説明に供する
パルスダイヤグラムである。 1,6・・・・・・送信機入力側、2・・・・・・試験
局、3・・・・・・高速伝送チヤネル、4・・・・・・
相手局、5,8・・・・・・受信機出力側、9・・・・
・・試験信号発生器、10・・・・・・選択回路、11
・・・・・・クロツク、12・・・・・・双安定マルチ
バィブレータ、13・・・・・・分周器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試験局から相手局に達する伝送チャネルが相手局か
    ら試験局に達する伝送チャネルの伝送速度のp倍の伝送
    速度に構成されており、相手局への伝送が所定のクロッ
    クパターンで同期的に行なわれ、相手局からの伝送が非
    同期に行なわれるデータ伝送区間のループ試験装置にお
    いて、試験局2から相手局4への試験信号の伝送を最大
    可能伝送速度で行ない、相手局4の受信機出力側5によ
    り選択回路10の信号入力側を励振し、選択回路10の
    出力側により相手局4の送信機入力側6を励振し、選択
    回路10が入力信号のp番目毎のステップのみ出力側に
    転送し、試験局2に返送される選択回路10の出力信号
    が、相手局4から試験局2に達する伝送チャネルの最大
    伝送速度に少なくとも近似的に相応する最短のステップ
    長を有するようにしたことを特徴とするデータ伝送区間
    のループ試験装置。 2 選択回路10に分周器13を設け、相手局4に受信
    される試験信号のステップクロックを分周器13の入力
    側に加え、双安定マルチバイブレータ12のクロック入
    力側を分周器13の出力側に接続し、双安定マルチバイ
    ブレータ12の準備入力側が選択回路10の信号入力側
    であり、双安定マルチバイブレータ12の出力側が選択
    回路10の出力側である特許請求の範囲第1項記載のデ
    ータ伝送区間のループ試験装置。
JP54113020A 1978-09-06 1979-09-05 デ−タ伝送区間のル−プ試験装置 Expired JPS5924578B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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DE19782838816 DE2838816A1 (de) 1978-09-06 1978-09-06 Schleifentest fuer datenuebertragungsstrecken
DE000P28388161 1978-09-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5538795A JPS5538795A (en) 1980-03-18
JPS5924578B2 true JPS5924578B2 (ja) 1984-06-11

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JP54113020A Expired JPS5924578B2 (ja) 1978-09-06 1979-09-05 デ−タ伝送区間のル−プ試験装置

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US (1) US4271514A (ja)
EP (1) EP0008608B2 (ja)
JP (1) JPS5924578B2 (ja)
AT (1) ATE788T1 (ja)
CA (1) CA1124872A (ja)
DE (2) DE2838816A1 (ja)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7137048B2 (en) * 2001-02-02 2006-11-14 Rambus Inc. Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system
NL7905052A (nl) * 1979-06-28 1980-12-30 Nederlanden Staat Stelsel voor het op een afstand beproeven van een modem met een van elkaar verschillende zend- en ontvangsnelheid.
NL180968C (nl) * 1980-07-14 1987-05-18 Nederlanden Staat Pulsconvertor voor in combinatie met een modem, waarvan de zend- en ontvangsnelheid onderling verschillend zijn, en dienende om deze modem vanuit een zich op afstand bevindende centrale post te kunnen beproeven.
US4630268A (en) * 1984-08-30 1986-12-16 Rockwell International Corporation Communication circuit loopback test apparatus
FR2576439B1 (fr) * 1985-01-21 1987-05-07 Sereg Soc Systeme securise d'impression a distance de donnees
JPS61169047A (ja) * 1985-01-22 1986-07-30 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光フアイバ伝送路の伝搬遅延時間変動量検出方式
US4665521A (en) * 1985-01-25 1987-05-12 Ncr Corporation Portable testing device for monitoring communication line activity
JPH0740702B2 (ja) * 1986-03-06 1995-05-01 日本電気株式会社 リモ−トテスト回路
DE3933262A1 (de) * 1989-10-05 1991-04-11 Bosch Gmbh Robert Verfahren und einrichtung zur bidirektionalen uebertragung von daten
DE4203968A1 (de) * 1992-02-11 1993-08-12 Siemens Ag Verfahren und schaltungsanordnung zur schleifenschaltung bei multiplex-systemen
JPH0795166A (ja) * 1993-09-20 1995-04-07 Fujitsu Ltd 伝送システムの試験装置
DE4437417A1 (de) * 1993-10-19 1995-04-20 Deutsche Bundespost Telekom Verfahren zur Überwachung von Digitalsignalverbindungen
US5612961A (en) * 1995-04-27 1997-03-18 International Business Machines Corporation Method and system for verification of the baud rate for an asynchronous serial device residing within a data processing system
US6069876A (en) * 1997-02-13 2000-05-30 Nortel Networks Corporation Performance monitoring of an ATM Network
DE19758274B4 (de) * 1997-12-31 2004-12-16 Deutsche Telekom Ag Vorrichtung zum Bilden einer Prüfschleife für eine Festverbindung mit So-Schnittstelle
US6667967B1 (en) 1999-05-14 2003-12-23 Omninet Capital, Llc High-speed network of independently linked nodes
US6931003B2 (en) * 2000-02-09 2005-08-16 Bookline Flolmstead Llc Packet prioritization protocol for a large-scale, high speed computer network
US6873939B1 (en) 2001-02-02 2005-03-29 Rambus Inc. Method and apparatus for evaluating and calibrating a signaling system
US7490275B2 (en) 2001-02-02 2009-02-10 Rambus Inc. Method and apparatus for evaluating and optimizing a signaling system
US8045565B1 (en) 2001-11-20 2011-10-25 Brookline Flolmstead Llc Method and apparatus for an environmentally hardened ethernet network system
US20040078483A1 (en) * 2002-10-16 2004-04-22 Raymond Simila System and method for implementing virtual loopbacks in ethernet switching elements
US7076377B2 (en) * 2003-02-11 2006-07-11 Rambus Inc. Circuit, apparatus and method for capturing a representation of a waveform from a clock-data recovery (CDR) unit
DE10324745A1 (de) * 2003-05-30 2004-12-30 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Testgerät zum Ermitteln einer Fehlerrate
WO2005094212A2 (en) 2004-03-09 2005-10-13 Thomson Licensing Verifying 22khz tone operation in a set-top box
US11228380B2 (en) * 2019-10-29 2022-01-18 Keysight Technologies, Inc. Bit error ratio (BER) measurement including forward error correction (FEC) on back channel

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE549048A (ja) * 1955-06-28
DE1168506B (de) * 1961-09-15 1964-04-23 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Pruefung von Zeichen-kanaelen in Fernmeldeanlagen
BE756930A (fr) * 1969-10-02 1971-03-16 Neumann Elektronik Gmbh Equipement pour surveiller des lignes de telecommunication et des radio-canaux a l'aide d'une frequence acoustique
US3743938A (en) * 1971-08-10 1973-07-03 Gen Datacomm Ind Inc Closed data loop test apparatus for data transmission modem
CH541265A (de) * 1972-02-29 1973-08-31 Generaldirektion Ptt Hasler Ag Verfahren zur Prüfung von Vierdrahtverbindungen zwischen zwei miteinander zu verbindenden Schaltstellen eines Fernmeldenetzes
US3937882A (en) * 1974-04-11 1976-02-10 Vadic Corporation Full-duplex communication system on a two wire line
FR2290804A1 (fr) * 1974-11-06 1976-06-04 Labo Cent Telecommunicat Dispositif de verification de la continuite du chemin de parole numerique et analogique entre des centres de commutation numeriques et a frequence vocale
US4034195A (en) * 1975-01-22 1977-07-05 Phillips Petroleum Company Test apparatus and method

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5538795A (en) 1980-03-18
DE2838816A1 (de) 1980-03-20
CA1124872A (en) 1982-06-01
EP0008608B2 (de) 1986-04-23
DE2962329D1 (en) 1982-04-29
EP0008608A1 (de) 1980-03-19
US4271514A (en) 1981-06-02
ATE788T1 (de) 1982-04-15
EP0008608B1 (de) 1982-03-24

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