JPS59230113A - 製品のサンプリング・デ−タ−を処理する装置 - Google Patents
製品のサンプリング・デ−タ−を処理する装置Info
- Publication number
- JPS59230113A JPS59230113A JP59055219A JP5521984A JPS59230113A JP S59230113 A JPS59230113 A JP S59230113A JP 59055219 A JP59055219 A JP 59055219A JP 5521984 A JP5521984 A JP 5521984A JP S59230113 A JPS59230113 A JP S59230113A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- display
- limits
- output
- microprocessor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Credit Cards Or The Like (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、生産されたバッチから抽出されたサンプルに
ついて測定して得られたデーターを処理する装置に関す
る。制御されるパラメーターはそれぞれ本装置に接続さ
れた測定装置により測定されたうえ、以下に詳細に説明
されているように、印刷によるかあるいは平均値又と範
囲Ｗを使用した目視可能なディスプレイによシコントロ
ール・チャートを自動的に作成する。従来公知の装置は
製作されたすべての部品について制御されるパラメータ
ーを完全あるいは１００パーセント制御する測定装置を
備えていて、前記パラメーターはビデオ・スクリーン上
で１つづつディスプレイサレル゛かあるいは紙の上に連
続的に印刷されるようになっている。
ついて測定して得られたデーターを処理する装置に関す
る。制御されるパラメーターはそれぞれ本装置に接続さ
れた測定装置により測定されたうえ、以下に詳細に説明
されているように、印刷によるかあるいは平均値又と範
囲Ｗを使用した目視可能なディスプレイによシコントロ
ール・チャートを自動的に作成する。従来公知の装置は
製作されたすべての部品について制御されるパラメータ
ーを完全あるいは１００パーセント制御する測定装置を
備えていて、前記パラメーターはビデオ・スクリーン上
で１つづつディスプレイサレル゛かあるいは紙の上に連
続的に印刷されるようになっている。
このタイプの測定を行なう装置の基本的な考え方は、制
御されるパラメーク−が許容されたエラー・リミットに
近い値となると、機械と生産プロセスに適切な是正を行
なうことにある。
御されるパラメーク−が許容されたエラー・リミットに
近い値となると、機械と生産プロセスに適切な是正を行
なうことにある。
制御されるパラメーターとしては、光面特性、マ１″法
ならびに部品の品質を決定するその他の特性を挙げるこ
とができる。
ならびに部品の品質を決定するその他の特性を挙げるこ
とができる。
しかし、このような従来の装置に付随する欠点ｄ：、エ
ラーが判定され、このため部品が不良品として認定され
たあとはじめて是正措置を講じなければならないことで
ある。さらに、現在採用されているコントロール・チャ
ートを作成する手順は手作業で実施されているので、必
然的にコントロール、チャー１・の有効性を損なうよう
なエラーの彩管をうけることになる。
ラーが判定され、このため部品が不良品として認定され
たあとはじめて是正措置を講じなければならないことで
ある。さらに、現在採用されているコントロール・チャ
ートを作成する手順は手作業で実施されているので、必
然的にコントロール、チャー１・の有効性を損なうよう
なエラーの彩管をうけることになる。
したがって、現在性なわれている手順は、２つのダイヤ
グラムを備えたコントロール・チャートを作成して生産
プロセスを統計的に制御する手順に取って代えられてい
る。
グラムを備えたコントロール・チャートを作成して生産
プロセスを統計的に制御する手順に取って代えられてい
る。
平均値Ｘを示す第１のダイアグラム上に中心線Ｘがトレ
ースされており、この中心線より上下に等距離へだてで
上部ＩＪ ミツト線ＬＳＸと下部リミット線ＬＩＸが制
御をうける部品の許容公差の関数としてトレースされて
いる。谷サンプルの測定値の平均値に等しい点がこのダ
イアグラムの上に指示される。
ースされており、この中心線より上下に等距離へだてで
上部ＩＪ ミツト線ＬＳＸと下部リミット線ＬＩＸが制
御をうける部品の許容公差の関数としてトレースされて
いる。谷サンプルの測定値の平均値に等しい点がこのダ
イアグラムの上に指示される。
範囲Ｗを示す第２のダイアグラム上に中心線Ｗがトレー
スされており、この中心線より上下に等距離へだてて上
部リミット線ＬＳＷと下部リミット線０が制御されてい
る部品の許容公差の関数としてトレースされている。
スされており、この中心線より上下に等距離へだてて上
部リミット線ＬＳＷと下部リミット線０が制御されてい
る部品の許容公差の関数としてトレースされている。
このダイアグラムは各測定サンプルの最大値と最小値の
間の差に相等した点を示す。
間の差に相等した点を示す。
コントロール・チャートがどのように作成されているか
をよシ明確に示すだめ、以下の実例にもとづいて説明す
る。直径が１０叫、許容公差がｈ５の部品は国際標準機
構が作成した表に示されている０から−０，００６４で
のインターバルに相当している。
をよシ明確に示すだめ、以下の実例にもとづいて説明す
る。直径が１０叫、許容公差がｈ５の部品は国際標準機
構が作成した表に示されている０から−０，００６４で
のインターバルに相当している。
この場合、生産に適用される統計的な制御については、
σ−ｇ−６＝１ミクロンであること６ はよく知られている。
σ−ｇ−６＝１ミクロンであること６ はよく知られている。
中心線又は、ＦＦ容公ｆｆ１−’ ＝＝ ３に対応し
てい２ る。
てい２ る。
」二音［） ミ ノ １・ 線 ＬＳ）ζは、 Ｘ 十
Ａ σ＝−３＋１．５Ｘ１＝ −１，５（Ａ ＝ ４つ
の部品の各サンプルについて］５）に対応している。
Ａ σ＝−３＋１．５Ｘ１＝ −１，５（Ａ ＝ ４つ
の部品の各サンプルについて］５）に対応している。
下部リミノ １線ＬＩＸは、Ｘ十Ａσ”’−３−１．５
Ｘ１＝−４，５に対応している。
Ｘ１＝−４，５に対応している。
したがって、平均値Ｘのダイアグラムに関係した第１図
に示されている平行線又とＬＳＸとＬＩ又をトレースす
ることが可能である。
に示されている平行線又とＬＳＸとＬＩ又をトレースす
ることが可能である。
４つの部品より成る１３のサンプルそれぞれの測定値は
番号１から１３までと関連した線上に順々に表示されて
いる。
番号１から１３までと関連した線上に順々に表示されて
いる。
これらの線それぞれの右側にはこれらの値の平均値が欄
Ｘとダイアグラムの平均値Ｘ上に表示されている。
Ｘとダイアグラムの平均値Ｘ上に表示されている。
中心線Ｗがｄ２σ−２，０５９Ｘ１＝２．０５９ （４
つの部品の各サンプルについてｄ２＝２．０５９）に対
応していることはよく知られている。
つの部品の各サンプルについてｄ２＝２．０５９）に対
応していることはよく知られている。
上部リ ミノ １・線ＬＳＷは、Ｄσ＝＝４．６９８ｘ
ｌ＝４．６９８（４つの部材の各サンプルについてＤ＝
４．６９８）に対応している。
ｌ＝４．６９８（４つの部材の各サンプルについてＤ＝
４．６９８）に対応している。
下部リミットＭは、０に対応している。
したがって、範囲値Ｗのダイアグラムに関係した第１図
に示されている平行な線ＷとＬＳＷをトレースすること
が可能である。
に示されている平行な線ＷとＬＳＷをトレースすること
が可能である。
平均値マに関し右側には各測定されたサンプルの最大値
と最小値の間の差としての値が欄Ｗと範囲値Ｗのダイア
グラム上に表示されている。
と最小値の間の差としての値が欄Ｗと範囲値Ｗのダイア
グラム上に表示されている。
抽出されたサンプルそれぞれに対する平均値の変化と制
御されている部品の生産状態を上述の要領に従がって観
察することができ、前記のリミットは部品を製作する工
作機械に固有の許容公差の範囲内で許容可能なエラーの
領域をカバーしている。
御されている部品の生産状態を上述の要領に従がって観
察することができ、前記のリミットは部品を製作する工
作機械に固有の許容公差の範囲内で許容可能なエラーの
領域をカバーしている。
これと関連して、すべての工作機械がそれぞれ固有の工
作精度を備えていることはよく知られており、工作機械
の固有の許容公差は、どれだけ多くの部品を製作したあ
と、バッチがら抽出したサンプル部品についてチェック
を行なわなければならないかを指示している。この固有
の許容公差は、いわゆるサンプリング頻度とサンプルの
範囲、すなわち、製作された部品のバッチから採取すべ
きサンプルを構成する部品の数を決定するものである１
、／ことえば、−上述の実例では頻度は４０であって、
→ノ゛ンブルは４つの部品から構成され、バッチは５２
０の部品から４１４成されているので、製作された４０
０部品それぞれについて１つの頻度で１３のり”ンブル
が抽出されることになる。
作精度を備えていることはよく知られており、工作機械
の固有の許容公差は、どれだけ多くの部品を製作したあ
と、バッチがら抽出したサンプル部品についてチェック
を行なわなければならないかを指示している。この固有
の許容公差は、いわゆるサンプリング頻度とサンプルの
範囲、すなわち、製作された部品のバッチから採取すべ
きサンプルを構成する部品の数を決定するものである１
、／ことえば、−上述の実例では頻度は４０であって、
→ノ゛ンブルは４つの部品から構成され、バッチは５２
０の部品から４１４成されているので、製作された４０
０部品それぞれについて１つの頻度で１３のり”ンブル
が抽出されることになる。
このようにして工作機械の固有の許容公差を利用するこ
とにより、製作された部品を１００パーセノＩ・制御す
る代わシに、生産プロセスに銃創的な制御を採用するこ
とができる。
とにより、製作された部品を１００パーセノＩ・制御す
る代わシに、生産プロセスに銃創的な制御を採用するこ
とができる。
１００ バー十ント制御することとは異なり、コント［
」−ル・チャー１・を評価することにより生産プ「１セ
スを統創的に制御することによってもたらされる特長は
、製作された部品が不良品となるまえにエラーと生産プ
ロセスを是正することができることである。言い換えれ
ば、２つの連続したサンプリングの間に製作された部品
は、゛′良好な″部品から構成されているか、あるいは
少なくとも°′選択をうけるべき″部品から構成されて
いる。
」−ル・チャー１・を評価することにより生産プ「１セ
スを統創的に制御することによってもたらされる特長は
、製作された部品が不良品となるまえにエラーと生産プ
ロセスを是正することができることである。言い換えれ
ば、２つの連続したサンプリングの間に製作された部品
は、゛′良好な″部品から構成されているか、あるいは
少なくとも°′選択をうけるべき″部品から構成されて
いる。
しかし、コントロール・チャートを作成するには精度と
順序とノステムと統計的な手段を計算する能力が必要で
あシ、その結果、手作業による計算の場合と同様、作業
に長時間を要し、書類の信頼性が低いことが欠点である
。本発明装置によりもたらされるもっとも重要な特長は
、測、定装置が抽出されたサンプルを構成している製作
された部品をチェックしたときただちにコントロール・
チャートを自動的に印刷するかあるいはディスプレイす
ることができることである。
順序とノステムと統計的な手段を計算する能力が必要で
あシ、その結果、手作業による計算の場合と同様、作業
に長時間を要し、書類の信頼性が低いことが欠点である
。本発明装置によりもたらされるもっとも重要な特長は
、測、定装置が抽出されたサンプルを構成している製作
された部品をチェックしたときただちにコントロール・
チャートを自動的に印刷するかあるいはディスプレイす
ることができることである。
本発明装置は測定された値または処理された値をビデオ
・スクリーン上に表示することができることのほか、測
定された値の平均値を表わすグラフィックな符号や数字
の形でこれらの値を印刷することができる。さらに、本
発明装置に採用される生産プロセスの形態にかかわシな
く、寸法２表面あらさ、平面度等を測定する装置のごと
き測定装置ｋを不発明装置に接続し、どのような工作機
械にも［車用することができる。
・スクリーン上に表示することができることのほか、測
定された値の平均値を表わすグラフィックな符号や数字
の形でこれらの値を印刷することができる。さらに、本
発明装置に採用される生産プロセスの形態にかかわシな
く、寸法２表面あらさ、平面度等を測定する装置のごと
き測定装置ｋを不発明装置に接続し、どのような工作機
械にも［車用することができる。
し／こがって、不発明の目的は、制御されるパラメータ
ーに合致した手段として平均値又と範囲Ｗをｌ車用し、
印刷された形態かつ／または目視可能にディスプレイさ
れる形態でコントロール・チャートを自動的に作成し、
検査対象のパラメーターの制ｉ印状態に関し、ただちに
指示を行なうことができる装置を提供することである。
ーに合致した手段として平均値又と範囲Ｗをｌ車用し、
印刷された形態かつ／または目視可能にディスプレイさ
れる形態でコントロール・チャートを自動的に作成し、
検査対象のパラメーターの制ｉ印状態に関し、ただちに
指示を行なうことができる装置を提供することである。
不発明の他の目的は、これらの値を連続的に紙の上に印
刷されるか、あるいは目視可能にディスプレイされるデ
ーターまたはグラフィックな記号に変換することにより
、制御操作の間に測定されたデーターを処理することが
できる小型の装置を提供することである。
刷されるか、あるいは目視可能にディスプレイされるデ
ーターまたはグラフィックな記号に変換することにより
、制御操作の間に測定されたデーターを処理することが
できる小型の装置を提供することである。
−１−記の目的を達成するため、制御されるパラメータ
ーそれぞれについて接続された測定装置により測定され
た各サンプルのデーターを処理する装置ｉ’ｊであって
、測定装置のプローブが各サンプルの個々の測定データ
ー項目についてトランスデユーサ−に接続されていて、
該トランスデ−ザーがマイクロプロセッサ−を介してア
ナログ−ディジタル・コンバーターに接続されており、
Ｘとｗのリミットが入力として前記マイクロプロセッサ
ーに供給され、印刷かつ／または目視可能なディスプレ
イによりコントロール・チャートのグラフが作成される
ことを特徴とする装置が本発明に従がって提案されたの
である。
ーそれぞれについて接続された測定装置により測定され
た各サンプルのデーターを処理する装置ｉ’ｊであって
、測定装置のプローブが各サンプルの個々の測定データ
ー項目についてトランスデユーサ−に接続されていて、
該トランスデ−ザーがマイクロプロセッサ−を介してア
ナログ−ディジタル・コンバーターに接続されており、
Ｘとｗのリミットが入力として前記マイクロプロセッサ
ーに供給され、印刷かつ／または目視可能なディスプレ
イによりコントロール・チャートのグラフが作成される
ことを特徴とする装置が本発明に従がって提案されたの
である。
以下、本発明を図解した添付図面を参照しながら本発明
の詳細な説明する。
の詳細な説明する。
制御されるパラメーターを測定するプローブ３を備えた
測定装置２により測定された各サンプルのデーターを処
理する装置１がケーブル３′をへて前記測定装置２に接
続されており、前記ケーブル３′は装置ｌの入口Ｅを通
って延設されている。プローブ３は各サンプル試料の測
定されたデーター項目にあわせて装置内部に設けられた
トランスデー−サー４に接続されており、該トランスデ
、−サー４はさらにアナログ−ディジタル・コンバータ
ー５に接続されている。°゛数値カウンター″′７また
は適当なキーボードにより下゛部リミットＬＩＸと」二
部リミノ トＬＳＸと上部範囲リミットＬＳＷ Ａｆ大
入力し−Ｃ供給されるマイクロプロセッサ−６によりコ
ントロール る。なお、印刷の代わシにグラフを目視可會Ｈにディス
プレイすることによりコントロール・チャー１・８を得
ることもできる。参照数字９，１０。
測定装置２により測定された各サンプルのデーターを処
理する装置１がケーブル３′をへて前記測定装置２に接
続されており、前記ケーブル３′は装置ｌの入口Ｅを通
って延設されている。プローブ３は各サンプル試料の測
定されたデーター項目にあわせて装置内部に設けられた
トランスデー−サー４に接続されており、該トランスデ
、−サー４はさらにアナログ−ディジタル・コンバータ
ー５に接続されている。°゛数値カウンター″′７また
は適当なキーボードにより下゛部リミットＬＩＸと」二
部リミノ トＬＳＸと上部範囲リミットＬＳＷ Ａｆ大
入力し−Ｃ供給されるマイクロプロセッサ−６によりコ
ントロール る。なお、印刷の代わシにグラフを目視可會Ｈにディス
プレイすることによりコントロール・チャー１・８を得
ることもできる。参照数字９，１０。
１１、１２はそれぞれランプを表わしており、これらの
ランプは、下部リミットＬＩＸと上ｓＩＪミツトＬＳＸ
と上部範囲リミットＬＳＷの入力を受イ言する用意がほ
ぼできあがったことを指示するとき、まだ、たまたまエ
ラーが生じたとき発光するようになっている。
ランプは、下部リミットＬＩＸと上ｓＩＪミツトＬＳＸ
と上部範囲リミットＬＳＷの入力を受イ言する用意がほ
ぼできあがったことを指示するとき、まだ、たまたまエ
ラーが生じたとき発光するようになっている。
参照符号Ｉは本装置のスイッチを表わしており、また参
照数字１３，１４，１５．１６はランプを表わしていて
、これらのランプは第１と第２と第３と第４のザンプル
試第１の測定値を受信する用意がほぼできあがったこと
を指示するときに発光するようになっている。
照数字１３，１４，１５．１６はランプを表わしていて
、これらのランプは第１と第２と第３と第４のザンプル
試第１の測定値を受信する用意がほぼできあがったこと
を指示するときに発光するようになっている。
つナログーデイジタル・コンバーター５はまた、各サン
プルの個々のデーター項目を測定したとき、これらのデ
ーター項目をディスプレイする寸法指示器１７に接続さ
れている。
プルの個々のデーター項目を測定したとき、これらのデ
ーター項目をディスプレイする寸法指示器１７に接続さ
れている。
マイクロプロセッサ−６はまだ目視可能な指示装置１８
に接続されていて、入力されたリミットＸとＷに関する
データーの状態を指示するようになっている。この目視
可能な指示装置１８は緑色の光と黄色の光と赤色の光よ
り成る３つの信号１９と２０と２１を備えている。第１
の発光は測定されたデーターとサンプルに対応した生産
が設定されたリミットの範囲内にはいっていることを指
示し、第２の発光は少なくとも７つのデーター項目が平
均値から同じ方向にかたよっていることを指示し、第３
の発光はいずれかのデーター項目がリミットの一方から
外にはずれていることを指示する。かくして、現在制御
下にあるサンプル試料が第１図に表示されている手作業
で作成されたコントロール・チャートについては上述の
ものと同じものとみなすことができる。
に接続されていて、入力されたリミットＸとＷに関する
データーの状態を指示するようになっている。この目視
可能な指示装置１８は緑色の光と黄色の光と赤色の光よ
り成る３つの信号１９と２０と２１を備えている。第１
の発光は測定されたデーターとサンプルに対応した生産
が設定されたリミットの範囲内にはいっていることを指
示し、第２の発光は少なくとも７つのデーター項目が平
均値から同じ方向にかたよっていることを指示し、第３
の発光はいずれかのデーター項目がリミットの一方から
外にはずれていることを指示する。かくして、現在制御
下にあるサンプル試料が第１図に表示されている手作業
で作成されたコントロール・チャートについては上述の
ものと同じものとみなすことができる。
したがって、本装置によシ自動的に作成されたコン）・
ロール・チャート８の場合、第４図に示されているよう
に、コントロール・チャート８は、列の形で印刷されガ
から段階的に本装置から退出する１、コントＩフール・
チャー１・上のラインＬＩＸとＸとＬＳＸとＯとＷとＬ
ＳＷは（小さい矩形の）点と対応した数値を用いて印刷
されている。これらの数値は、第１図の欄又とＷ上に記
載されている値と同一である。これらの点はグラフでは
接合するどとができるが、リミノ トＬＩＸ、ＬＳＸま
たはＬＳＷはリミット線とに印刷され、数値に加えて、
第４図の基準部Ｐにより示されている特殊なり−インを
用いて表示されている。
ロール・チャート８の場合、第４図に示されているよう
に、コントロール・チャート８は、列の形で印刷されガ
から段階的に本装置から退出する１、コントＩフール・
チャー１・上のラインＬＩＸとＸとＬＳＸとＯとＷとＬ
ＳＷは（小さい矩形の）点と対応した数値を用いて印刷
されている。これらの数値は、第１図の欄又とＷ上に記
載されている値と同一である。これらの点はグラフでは
接合するどとができるが、リミノ トＬＩＸ、ＬＳＸま
たはＬＳＷはリミット線とに印刷され、数値に加えて、
第４図の基準部Ｐにより示されている特殊なり−インを
用いて表示されている。
コントロール・チャートラスクリーンの上でディスプレ
イする場合、デークーは、たとえば、１ノミノドの範囲
内にあるときは緑色で示され、リミットの；１リモ囲外
にあるときは赤色で示されるかあるいはこれらの状態を
指示する他の適当な差違を指示するザインにより示され
る。
イする場合、デークーは、たとえば、１ノミノドの範囲
内にあるときは緑色で示され、リミットの；１リモ囲外
にあるときは赤色で示されるかあるいはこれらの状態を
指示する他の適当な差違を指示するザインにより示され
る。
目視可能なディスプレイの場合、最後の結果を印刷する
ため、マイクロプロセツサ−６と接続されだプリンター
が設けられている。
ため、マイクロプロセツサ−６と接続されだプリンター
が設けられている。
別のグローブを用いて測定を行なうため、入口Ｅに隣接
された別の入口Ｅ′が設けられている。
された別の入口Ｅ′が設けられている。
いくつかのパラメーターを同時に開側１する場合、その
他の測定装置のいろいろなプローブに接続するため、別
の入口が設けられている。被制御パラメーターがいくつ
かある場合、前記パラメーターの数に等しい数のコント
ロール・チャー＋−カ用意されるかあるいは被制御パラ
メーターの数に等しい数のグラフを包有したチャー１・
が１枚だけ用意される。本発明の範囲を逸脱し々いかぎ
り、不発明にその他いろいろな変更を加えてもよい。
他の測定装置のいろいろなプローブに接続するため、別
の入口が設けられている。被制御パラメーターがいくつ
かある場合、前記パラメーターの数に等しい数のコント
ロール・チャー＋−カ用意されるかあるいは被制御パラ
メーターの数に等しい数のグラフを包有したチャー１・
が１枚だけ用意される。本発明の範囲を逸脱し々いかぎ
り、不発明にその他いろいろな変更を加えてもよい。
上述の装置を使用するにさいしては、まずスイッチＩが
’ＯＮ”の位置にセットされて、ケーブル３′をへて入
口Ｅを備えた測定装置２に接続される。次に、上述のコ
ントロール・チャートのマニュアル・コンパイルのルー
ルに従がってあらカシめ計算されているリミットＬＩＸ
とＬＳＸとＬＳＷがプツシ−・ボタンＴを押すことによ
りランプ９とｌＯと１１の点灯によシ示されたソーケン
スＫ Ｄｔかって不装置に入力され、数値カウンター７
上に表示される。
’ＯＮ”の位置にセットされて、ケーブル３′をへて入
口Ｅを備えた測定装置２に接続される。次に、上述のコ
ントロール・チャートのマニュアル・コンパイルのルー
ルに従がってあらカシめ計算されているリミットＬＩＸ
とＬＳＸとＬＳＷがプツシ−・ボタンＴを押すことによ
りランプ９とｌＯと１１の点灯によシ示されたソーケン
スＫ Ｄｔかって不装置に入力され、数値カウンター７
上に表示される。
もし、エラーがない場合、リミットＬＩＸとＸとｒ、ｓ
ｘとＱとＷとＬＳＷの最初の部分が第４図の基準部Ｆに
より示されているようにコントロール・チャー１・８上
に印刷される。マイクログロセノサーは最Ｗのサンプル
の４つの測定結果を受けとる用意がでている。
ｘとＱとＷとＬＳＷの最初の部分が第４図の基準部Ｆに
より示されているようにコントロール・チャー１・８上
に印刷される。マイクログロセノサーは最Ｗのサンプル
の４つの測定結果を受けとる用意がでている。
したがって、第１のサンプルを構成している４つの部品
が測定装置２によシ測定され、ランプ１３と１４と１５
と１６が点灯して、前記の測定結果を受信する用意がで
きおがっていることを示す。
が測定装置２によシ測定され、ランプ１３と１４と１５
と１６が点灯して、前記の測定結果を受信する用意がで
きおがっていることを示す。
マイクロプロ七ノサー６は、４番目の測定結果を受けと
ったあと、データーを倉入りに調べ、第１の４つの部品
に関し、第４図の基準部Ｆ′によシ示されている印刷ず
みの部分を作る。
ったあと、データーを倉入りに調べ、第１の４つの部品
に関し、第４図の基準部Ｆ′によシ示されている印刷ず
みの部分を作る。
そのあとのサンプルの部品について測定作業を行なった
あと、コントロール・チャート８の同じ印刷ずみ部分が
本装置から段階的に繰り出される。
あと、コントロール・チャート８の同じ印刷ずみ部分が
本装置から段階的に繰り出される。
サラニ、コントロール・チャー１・を監視することによ
９本装置１は生産プロセスを適切に評価することが可能
であシ、それぞれ異なった色の３つの信号１９と２０と
２１のうちの１つが点灯することにより生産プロセスの
状態が指示される。すなわち、緑色は生産プロセスが適
切に進行していることを示し、黄色は生産プロセスが制
御からはずれた部品を作る傾向があることを示し、赤色
は生産プロセスが制御からはずれていることを示す。
９本装置１は生産プロセスを適切に評価することが可能
であシ、それぞれ異なった色の３つの信号１９と２０と
２１のうちの１つが点灯することにより生産プロセスの
状態が指示される。すなわち、緑色は生産プロセスが適
切に進行していることを示し、黄色は生産プロセスが制
御からはずれた部品を作る傾向があることを示し、赤色
は生産プロセスが制御からはずれていることを示す。
この場合、最後の２つのサンプルで作られた部品にもと
づいて是正措置を講じることが必要である。
づいて是正措置を講じることが必要である。
コントロール・チャート８の線ＬＩＸ上にある小さい矩
形Ｐは対応した数値をもったその他の点と比較するだめ
のものである。
形Ｐは対応した数値をもったその他の点と比較するだめ
のものである。
第１図は、手作業で作成されたコントロール・チャート
の一例を示す表とダイアグラム、第２図は、測定装置に
接続された本発明に係る装置を図解した正面図と斜視図
。第３図は、不発明装置のブロック・ダイアグラム。第
４図は、本発明装置によシ印刷されたコントロール・チ
ャートの一例を示す部分図。 １・ ・・データー処理装置、２・・・・測定装置、３
・・ ・フｏ−フ、３’・・・・ケーブル、４・・・・
・トランスデユーサ−１５・・・・アナログ−ディジタ
ル・コンバーター、６・・・・マイクロプロセッサ−１
７・・・・・・数値カウンター、８・・・・・コントロ
ール・チャート、９．１０，１１，１２，１３，１４，
１５．１６・・・ランプ、１７・・・・寸法指示器、１
８・・・・・目視用能な指示装置’、１９，２０．２１
・・・・・・信号。 １ − ３．２ １＋ ２．１１ １− ２．ｇ ｌＩ ２．７１１− ２．５
１１ ２ｊ＋ １０１１１ン〉）０１ １ − ３．６ １１ ２．７ １１、、、．１．
、、、Ｉｌ。１．、、、＋０ １ １１０１
１１−５．９ １１ Ｏ，６１ １、、、，１，、、、Ｉｌ、、１．、、．１１０１１１
ン〉０１ １− ４．２ １＋ ２． １１、、、．１．
、、、Ｉｌ、、１．、、．１１．０．．１．、、．１１
．．１．、、．１１０１ 目〉０１１ １−４．３目１．２１
の一例を示す表とダイアグラム、第２図は、測定装置に
接続された本発明に係る装置を図解した正面図と斜視図
。第３図は、不発明装置のブロック・ダイアグラム。第
４図は、本発明装置によシ印刷されたコントロール・チ
ャートの一例を示す部分図。 １・ ・・データー処理装置、２・・・・測定装置、３
・・ ・フｏ−フ、３’・・・・ケーブル、４・・・・
・トランスデユーサ−１５・・・・アナログ−ディジタ
ル・コンバーター、６・・・・マイクロプロセッサ−１
７・・・・・・数値カウンター、８・・・・・コントロ
ール・チャート、９．１０，１１，１２，１３，１４，
１５．１６・・・ランプ、１７・・・・寸法指示器、１
８・・・・・目視用能な指示装置’、１９，２０．２１
・・・・・・信号。 １ − ３．２ １＋ ２．１１ １− ２．ｇ ｌＩ ２．７１１− ２．５
１１ ２ｊ＋ １０１１１ン〉）０１ １ − ３．６ １１ ２．７ １１、、、．１．
、、、Ｉｌ。１．、、、＋０ １ １１０１
１１−５．９ １１ Ｏ，６１ １、、、，１，、、、Ｉｌ、、１．、、．１１０１１１
ン〉０１ １− ４．２ １＋ ２． １１、、、．１．
、、、Ｉｌ、、１．、、．１１．０．．１．、、．１１
．．１．、、．１１０１ 目〉０１１ １−４．３目１．２１
Claims (7)
- （１） あらかじめ記憶された値のりミント・データ
ーと比較する検知装置から受けとった製品のサンプリン
グ・データーを処理し、サンプリングされた製品の物理
的な状態を指示する目視可能な出力を作る装置であって
、該装置が、 （ａ） 適当な測定装置によシ測定されたザンプルの
物理的なパラメーターを指示する信号を受信するトラン
スデユーサ−と、 （ｂ） 該トランスデユーサ−に接続されていて、ト
ランスデューサーからのアナログ出力を受は取り、アナ
ログ入力を測定されたパラメーターを表わすディジタル
出力に変挨するコンバーターと、（Ｃ） あらかじめ
記憶された値のリミット・データーを包有していて、前
記ディジタル・コンバーターからの出力を受けとって、
この出力をあらかじめ記憶された値のデーターと比較す
るようディジタル・コンバーターに接続されたマイクロ
プロセッサ−と、 （ｄ） あらかじめ記憶されたデーターとサンプリン
グされたデーターとの間の比較の結果を示す検査可能な
ディスプレイを作るよう前記マイクロプロセッサ−に接
続された手段と、 よシ成ることを特徴とする装置。 - （２）本装置がアナログ−ディジタル・コンバーターの
出力を受けとって、製品をサンプリングしたとき、各製
品の寸法をディスプレイするよう接続された手段を備え
ていることを特徴とする特許請求の範囲の第１項記載の
装置。 - （３）前記マイクロプロセッサーが比較された結果を目
視可能に指示する装置に接続されていることを特徴とす
る特許請求の範囲の第１項記載の装置。 - （４） あらかじめ記憶された値のリミットが独立し
たパルス入力手段によシ前記マイクロプロセッサ−に供
給されることを特徴とする特許請求の範囲の第１項記載
の装置。 - （５） 前記検査可能なディスプレイが本装置から段
階的に退出して、印刷された列として比較デークーを表
示するコントロール・チャートであって、該コントロー
ル・チャート上の点が数字的な平均１１ηＸと範囲値Ｗ
といっしょに印刷され、リミットの外側にはずれた点が
数字的な値に加えて特殊な符号により指示されることを
特徴とする特許請求の１匝囲の第１項記載の装置。 - （６） 比較デークーをスクリーン上にティスプレィ
する／こめにコントロール・チャートが用意されている
ことと、リミットの範囲内にある比較デークーとりミツ
トからはずれた比較デークーがそれぞれ異なった符号に
より示されることを特徴とする特許請求の範囲の第１項
記載の装置。 - （７） 比１奴データーを目視ｒ−Ｊ能に指示する装
置が緑色と黄色と赤色の光より成る３つの信号により１
１へ成されていて、第１の光の発光が測定されたデータ
ーとサンプリングされた製品に対応した生産がｉｆｕ定
されたリミットの範囲内にあることを表示し、第２の光
の発光がデーター項目のいずれかがリミットのうちの１
つからはずれていることを表示することを特徴とする特
許請求の範囲の第３項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT20207/83A IT1160818B (it) | 1983-03-22 | 1983-03-22 | Strumento di elaborazione dei dati man mano rilevati con esecuzione automatica della carta di controllo per media (x) ed escursione (w) |
| IT20207A/83 | 1983-03-22 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59230113A true JPS59230113A (ja) | 1984-12-24 |
Family
ID=11164764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59055219A Pending JPS59230113A (ja) | 1983-03-22 | 1984-03-22 | 製品のサンプリング・デ−タ−を処理する装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59230113A (ja) |
| DE (1) | DE3410572A1 (ja) |
| FR (1) | FR2543328A1 (ja) |
| GB (1) | GB2136997A (ja) |
| IT (1) | IT1160818B (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1196814B (it) * | 1986-12-03 | 1988-11-25 | Iveco Fiat | Metodo e apparecchiatura per il controllo dell'integrita dei rulli e dei controrulli impiegati per il trattamento simultaneo di rullatura su una pluralita di superfici anulari appartenenti a un unico solido di rotazione |
| US6415197B1 (en) | 1997-10-08 | 2002-07-02 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Method of displaying characteristic parameters in a tire manufacturing cell |
| EP1062084B1 (en) * | 1997-10-08 | 2003-01-02 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Method of displaying characteristic parameters in a tire manufacturing cell |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132860A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Checker for safety holder |
| JPS5593012A (en) * | 1978-12-30 | 1980-07-15 | Minolta Camera Co Ltd | Digital recorder |
| JPS5611309A (en) * | 1979-07-11 | 1981-02-04 | Daicel Chem Ind Ltd | Processing method of measured value |
| JPS5740782U (ja) * | 1980-08-19 | 1982-03-05 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB991791A (en) * | 1961-06-05 | 1965-05-12 | George William Dimmick | Variable monitoring and recording apparatus |
| GB991363A (en) * | 1961-08-04 | 1965-05-05 | Information Systems Inc | Variable monitoring and recording apparatus |
| DE1498062A1 (de) * | 1964-12-07 | 1968-12-12 | Processor Ab | Verfahren und Einrichtung zur automatischen Auswertung von durch regelmaessiges,klassenweises Pruefen eines schwankenden Vorganges erhaltenen Pruefwerten |
| US3704362A (en) * | 1971-06-03 | 1972-11-28 | Bio Medical Sciences Inc | Quality control system |
| US3855456A (en) * | 1972-11-22 | 1974-12-17 | Ebasco Serv | Monitor and results computer system |
| DE2358796A1 (de) * | 1973-11-26 | 1975-05-28 | Rolo Electronic Gmbh | Vorrichtung zur digitlen ueberwachung von messwertenphysikalischer groessen |
| GB1495282A (en) * | 1974-11-29 | 1977-12-14 | Hansmann G | Digital decadic indicating apparatus for measured values |
| GB1504162A (en) * | 1975-03-24 | 1978-03-15 | Iws Nominee Co Ltd | Derivation of characteristics of textile fibres |
| GB1578535A (en) * | 1976-06-24 | 1980-11-05 | Smiths Industries Ltd | Display systems for displaying measurements |
| GB1580441A (en) * | 1976-08-19 | 1980-12-03 | Ass Eng Ltd | Data processing |
| GB1578558A (en) * | 1977-05-19 | 1980-11-05 | Standard Telephones Cables Ltd | Apparatus for manufacturing and testing discrete artifacts |
| DE2820097C3 (de) * | 1977-05-23 | 1980-02-28 | Gebrueder Loepfe Ag, Wetzikon (Schweiz) | Verfahren zur Bestimmung der Häufigkeit von Garnfehlern |
| CH618508A5 (ja) * | 1977-08-26 | 1980-07-31 | Mettler Instrumente Ag | |
| US4184205A (en) * | 1977-11-25 | 1980-01-15 | Ird Mechanalysis, Inc. | Data acquisition system |
| GB2020432B (en) * | 1978-05-06 | 1982-07-28 | Arcubos Ltd | Strain detecting devices |
| CH640433A5 (de) * | 1979-03-16 | 1984-01-13 | Sodeco Compteurs De Geneve | Vorrichtung zur unterscheidung von pruefobjekten. |
| DE2929673A1 (de) * | 1979-07-21 | 1981-02-12 | Pegard S A | Bearbeitungszentrum |
| GB2055194B (en) * | 1979-08-04 | 1983-07-27 | Wilson & Sons Ltd Edward | Skin categorising apparatus |
| US4320463A (en) * | 1980-02-25 | 1982-03-16 | S. Himmelstein And Company | Production control system |
| US4434652A (en) * | 1982-01-18 | 1984-03-06 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Automated tire measurement techniques |
-
1983
- 1983-03-22 IT IT20207/83A patent/IT1160818B/it active
-
1984
- 1984-03-16 FR FR8404076A patent/FR2543328A1/fr active Pending
- 1984-03-21 GB GB08407338A patent/GB2136997A/en not_active Withdrawn
- 1984-03-22 JP JP59055219A patent/JPS59230113A/ja active Pending
- 1984-03-22 DE DE19843410572 patent/DE3410572A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132860A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Checker for safety holder |
| JPS5593012A (en) * | 1978-12-30 | 1980-07-15 | Minolta Camera Co Ltd | Digital recorder |
| JPS5611309A (en) * | 1979-07-11 | 1981-02-04 | Daicel Chem Ind Ltd | Processing method of measured value |
| JPS5740782U (ja) * | 1980-08-19 | 1982-03-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3410572A1 (de) | 1984-09-27 |
| IT8320207A0 (it) | 1983-03-22 |
| GB8407338D0 (en) | 1984-04-26 |
| IT1160818B (it) | 1987-03-11 |
| GB2136997A (en) | 1984-09-26 |
| IT8320207A1 (it) | 1984-09-22 |
| FR2543328A1 (fr) | 1984-09-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4654794A (en) | Methods for determining the proper coloring for a tooth replica | |
| US4894790A (en) | Input method for reference printed circuit board assembly data to an image processing printed circuit board assembly automatic inspection apparatus | |
| US3889053A (en) | Contactless test system | |
| US4656600A (en) | Mixing of printing inks | |
| US3210552A (en) | Apparatus for indicating presence of predetermined color in sample | |
| DE2351339A1 (de) | Digital-spektrofotometer | |
| JPS59230113A (ja) | 製品のサンプリング・デ−タ−を処理する装置 | |
| EP0207498A2 (en) | Spectrophotometer | |
| US3733704A (en) | Method and apparatus for determining contours of objects, especially of glass | |
| EP0086059A2 (en) | Improvements in or relating to computers for use in sampling procedures | |
| KR910000817B1 (ko) | 측정데이터 집계 시스템 | |
| JPH10305562A (ja) | 印刷物評価装置 | |
| DE2929123A1 (de) | Fehlerermittlung von elektrischen flachbaugruppen | |
| JP3264020B2 (ja) | 検査用データ作成方法および実装部品検査装置 | |
| JPS63163219A (ja) | 色識別基準作成装置 | |
| JPH01300384A (ja) | 品質管理装置 | |
| JPS6319811Y2 (ja) | ||
| JPS60178322A (ja) | 色識別の基準となるデ−タの作成方法 | |
| JPH04348210A (ja) | プリント実装基板検査装置 | |
| JPH0852863A (ja) | 印刷物の調子検査装置 | |
| JPS6328423Y2 (ja) | ||
| JP2980695B2 (ja) | 測定装置における検査データの印字方法 | |
| JP2000022385A (ja) | 実装方法及び検査方法 | |
| KR910008018B1 (ko) | 음극선관용 포커스팩 테스트 판정장치 | |
| JPH0376679A (ja) | 印刷確認装置 |