JPS59229785A - バイポ−ラ型ram - Google Patents

バイポ−ラ型ram

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Publication number
JPS59229785A
JPS59229785A JP58102570A JP10257083A JPS59229785A JP S59229785 A JPS59229785 A JP S59229785A JP 58102570 A JP58102570 A JP 58102570A JP 10257083 A JP10257083 A JP 10257083A JP S59229785 A JPS59229785 A JP S59229785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
write
data
signal
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP58102570A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyasu Akimoto
秋元 一泰
Tetsuo Nakano
哲夫 中野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58102570A priority Critical patent/JPS59229785A/ja
Publication of JPS59229785A publication Critical patent/JPS59229785A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、バイポーラ型トランジスタにより構成され
たRAM (ランダム・アクセス・メモリ)に適用して
有効な技術に関するもので、例えば、高速バイポーラ型
RAMに使用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
第1図には、本M発切に先立って本発明者が考えた書込
回路WAの回路図が示されている。
この書込回路WAは、書込み動作モードにおいて内部ラ
イトイネーブル信号Wτがロウレベルにされるので、差
動トランジスタQ3がオフとなり、データ人力バッファ
DIBからの書込みデータ信号d in、  d ln
を受ける他の差動トランジスタQl。
Q2のうち一方がオン状態に、他方がオフ状態になる。
したがって、エミッタフォロワ出力トランジスタQ4.
Q5を通した出力電圧Vl、V2は、読み出しのための
基準電圧Vrefcに対して一方がロウレベルに、他方
がVrefcと同レベルになるという書込み信号である
。この出力電圧Vl、V2は、代表として示されている
相補データ線り、 Dにエミッタがそれぞれ接続された
トランジスタQ6、Q7のようなセンスゲートを構成す
るトランジスタのベースに供給される。したがって、上
記ロウレベルの書込み信号を受レノるトランジスタQ7
 (又はQ6)がオフ状態となってデータ線D(又は石
)に誓込み電流が流れ、上記Vrefcレベルの書込み
信号を受けるトランジスタQ6(又はQ7)がオン状態
となつてデータ線D(又はD)に書込み電流を流さない
という書込み動作を行う。
上記出力トランジスタQ4.Q5のエミ・ツタは、同様
な他のデータ線のセンスゲートに対しても共通に接続さ
れるため、その寄生容量値が比較的大きな値になる。し
たがって、ロウレベルの書込み信号の立ち下がりの速度
を速(するため、上記出力トランジスタQ4.Q5のエ
ミッタには、比較的大きな電流値の電流を流す必要があ
る。
本願発明者は、上記出力トランジスタQ4. Q5のう
ち、一方のみがロウレベルの書込み信号を形成するもの
であることに着目して、その無効電流の削減を図ること
を考えた。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、低消費電力化を図ったバイポーラ型
RAMを提供することにある。
この発明の他の目的は、高速書込み動作化を図ったバイ
ポーラ型RAMを提供することにある。
この発明の稍記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、書込み動作モードにおいて、書込み信号を形
成する一対の出力トランジスタに対して択一的にロウレ
ベルを形成する定電流を流すようにすることによって、
無効電流の削減を達成するものである。
〔実施例〕
第2図には、この発明の一実施例の回路図が示されてい
る。同図のバイポーラ型RAMは、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、1個のシリコンのような半導体
基板上において形成される。
端子XAOないしXAk、YAOないしYAI。
Dout +  Din、cs、WE、−Vee及びG
NDは、その外部端子とされる。
メモリセルは、その1つが具体的回路として示されてい
るように、特に制限されないが、そのベース、コレクタ
間が互いに交差結線された駆動npn)ランジスタQ1
2.Q13と、そのコレクタにそれぞれ設けられた負荷
pnp)ランジスタQ14.Q15とで構成されたフリ
ップフロップが用いられている。上記駆動n−pn)ラ
ンジスタQ12.Q13は、特に制限されないが、マル
チエミッタ構造とされる。そして、その一方のエミッタ
が共通化され、他方のエミッタがメモリセルの入出力端
子とされ、代表として示されている一対の相補データ(
又はディジット)線DO,D。
にそれぞれ接続される。なお、上記駆動npnトランジ
スタQ12.Q13は、ベース及びコレクタがそれぞれ
共通接続された2つのトランジスタにより、それぞれ構
成するものとしてもよい。また、上記負荷トランジスタ
Q14.Q15は、並列形態にされた負荷抵抗とクラン
プダイオードとに置き換えるものであってもよい。
上記負荷トランジスタQ14.Q15の共通化されたエ
ミッタは、代表として示されているワード線WOに接続
される。
上記代表として示されているメモリセルを中心として、
横の行には同様なm個のメモリセルが配置され(同図で
は、ブラックボックスにて1個のみが示されている)、
上記ワード線WOに接続される。この横の行には、上記
ワード線WOに対応した保持電流線STOが設けられて
おり、メモリセルの駆動トランジスタQ12.Q13の
上記共通化された一方のエミッタが接続される。同様に
代表として示された他の行(ワード線W n 、保持電
流tJI S T n )についても上記同様にメモリ
セルが接続される。これらの保持電流線STO,STn
には、メモリセルへの保持電流を形成する定電流源1s
t(図示せず)がそれぞれ設けられている。
また、縦の列には、上記同様なn個のメモリセルが配置
され、相補データ線DO,DOにその入出力端子が共通
に接続される。このよう行9列にm x n個のメモリ
セルが配置され、メモリアレイM−ARYが構成される
代表として示された上記ワード線WO,Wnは、アドレ
スデコード信号XO,Xnを受けるワード線駆動トラン
ジスタQI6.Q17により、選択/非選択が行われる
。これらのアドレスデコード信号X(L Xnは、Xア
ドレスデコーダX−DCRによって形成される。
図示しない適当な回路装置から供給されるアドレス信号
は、外部端子XAOないしXAkを介してアドレスバッ
ファXABOないしXABkに入力される。これらのア
ドレスバッファXABOないしXABkは、入力アドレ
ス信号に従った非反転アドレス信号1反転アドレス信号
を形成して上ExアドレスデコーダX−DCHに伝える
。これによりXアドレスデコーダX−DCRカ月つのワ
ード線選択信号を形成するので、1つのワード線選択が
行われる。
代表として示された相補データ線DO,DOは、カラム
スイッチとしてのトランジスタQ1B、Q20を介して
、図示しない他の相補データ線に対しても設けられた定
電流源Irに接続される。
上記カラムスイッチとしてのトランジスタQ18゜Q2
0のベー・スには、YアドレスデコーダY−DCRで形
成されたアドレスデコード信号YOが印加される。
図示しない適当な回路装置から供給されたアドレス信号
は、外部端子YAOないしYAIを介してアドレスバッ
ファYABOないしYAI31に入力される。これらの
アドレスバッファYへBOないしYABIは、入力アド
レス信号に従った非反転アドレス信号5反転アドレス信
号を形成して上記YアドレスデコーダY−DCHに伝え
る。これによりYアドレスデコーダY−DCRが1つの
データ線選択信号を形成するので、上記一対のデータ線
選択が行われる。
この実施例では、特に制限されないが、非選択時のデー
タ線に所定のバイアス電圧を与えるために、次のバイア
ス回路が設けられる。
そのコレクタに回路の接地電位が与えられたトランジス
タQ21のベース、コレクタ間に直列形態とされたダイ
オードD3と抵抗R6が設けられる。そして、この直列
ダイオードD3と抵抗R6は、上記カラムスイッチトラ
ンジスタと同様なトランジスタQ19を介して上記同様
な定電流源■rに接続される。上記トランジスタQ21
は、特に制限されないが、マルチエミッタ構造とされ、
それぞれ相補データ線Do、I)Qに接続される。
一方、この相補データ19tDo、r)Oには、微小定
電流源に結合されている。すなわち、定電圧Vb1をベ
ースに受け、エミッタに抵抗が設けられたトランジスタ
Q23 (Q24)により、常時微小定電流の吸い込み
を行っている。
これにより、非選択時のデータ線電位は、約ダイオード
D3の順方向電圧とトランジスタQ21のベース、エミ
ッタ間電圧とを加えた電圧でバイアスされる。なお、相
補データ線Do、Doが選択された時には、定電流源I
rで形成した選択電流1rがトランジスタQ19を通し
て抵抗R6に流れるのでトランジスタQ21がオフして
、相補データ線DO,DOは選択されたメモリセルの記
憶情報に従った電位にされる。
代表として示された行のメモリセルの書込み/読み出し
のために、相補データ線DO,DOには、そのエミッタ
が結合された電流切り換えスイッチ(センスゲート)ト
ランジスタQ7.Q6が設けられる。これらのトランジ
スタQ7.Q(iのコレクク出力は、センスアンプSA
の入力に伝えられる。センスアンプSΔは、その増幅動
作を行・)とともに、E CL (Emitter  
Coupled  Logic)で構成されたデータ出
力バッファDOBの入力レベルに合致さた出力信号を形
成する。
データ出力バッファDOBは、外部@ ′fD (IL
I tから送出する読み出し出力信号を形成する。
上記センスゲートトランジスタQ?、Q6のベースには
、書込回路WAの出力電圧Vl、V2が印加される。
この出力電圧Vl、V2を形成する書込回路WAは、差
動形態のトランジスタQ1〜Q3と、その共通エミッタ
に設けられた定電流源と、上記トランジスタQl、Q2
のコレクタにそれぞれ設けられた抵抗R1,R2と、こ
の抵抗R1,R2とトランジスタQ3のコレクタとの共
通接続点と、接地電位との間に設けられた抵抗R3とで
構成される。上記トランジスタQ1.Q2のベースには
、後述するデータ人力バッファDIBからの書込みデー
タ信号d in、  d inが印加され、トランジス
タQ3のベースには、後述する制御回路C0NTからの
内部ライトイネーブル信号W eが印加される。
この実施例では、上記書込回路WAの無効電流を削減す
るため、出力電圧Vl、V2を形成するエミッタフォロ
ワ出力トランジスタQ4.Q5のエミッタに、差動トラ
ンジスタQ31.Q30で構成された電流切り換え回路
を介して定電流源Iが設けられる。そして、上記一方の
差動トランジスタQ31のベースには、後述するデータ
入力バッファDIBで形成された非反転データ信号di
nが印加され、他方の差動トランジスタQ30のベース
には、反転データ信号dinが印加されることによって
、上記定電流源Iの定電流が択一的に流れる。
上記データ人力バッファDIBは、次の回路構成とされ
る。外部端子Dinから供給された書込みデータ信号を
受は益トランジスタQ8と、そのベースに入力信号を識
別するための基準電圧Vb2が印加されたトランジスタ
Q9とが差動形態にされる。この差動トランジスタQB
、Q9のコレクタにそれぞれ抵抗R4,R5が設けられ
る。そして、この差動トランジスタQB、Q9のコレク
タ出力は、エミッタフォロワトランジスタQ25.Q2
6のベースに印加され、これらのI−ランジスタQ25
、Q26のエミッタから上記書込回路WAに伝えられる
相補データ信号d in、  d inが出力される。
上記差動トランジスタQB、Q9の共通エミッタには、
差動トランジスタQIOのコレクタが接続される。この
トランジスタQIOのベースには、上記内部ライトイネ
ーブル信号;を識別するための基準電圧vb3が印加さ
れる。上記トランジスタQIOと差動形態にされたトラ
ンジスタQllのベースには、上記内部ライトイネーブ
ル信号;iが印加さる。このトランジスタQllのコL
/クタは、ダイオードDI、D2を通して上記差動トラ
ンジスタQ8.Q9のコレクタに接続される。
そしん、この差動トランジスタQ10.Qllの共通エ
ミッタに定電流源が設けられる。
また、外部端子WE、C3から供給された制御信号を受
ける制御回路C0NTにより、上記データ出力バッファ
DOBの動作制御信号と、上記書込回路WA及びデータ
人力バッファDIBに供給される上記内部ライトイネー
ブル信号7;が形成される。
この実施例回路の動作を次に説明する。
今、端子C8がロウレベルとされ、端子WEがロウレベ
ルとされる書込み動作モードにおいては、上記内部ライ
トイネーブル信号7;が電圧Vb3より低くなってデー
タ人力バッファDIBのトランジスタQllがオフ状態
となり、トランジスタQ10がオン状態となるので外部
端子Dinからの信号に従った相補データ信号d in
、  d inが書込回路WAに伝えられる。
書込回路WAのトランジスタQ3は、」ユ記内部ライト
イネーブル信号vi eがロウレベルとf、r−、た時
オフ状態になり、上記データ信号(’−1n、(’、 
filを受ける差動トランジスタQ1..に1.24m
より、ハイレベル、ロウレベルの書込め信号を形成する
今、非反転データ信号dinがハイL・ベルで、反転デ
ータ信号dinがロウレベルなら、トランジスタG)−
31がオン、Q30がオフ状態とf、f?7ため、トラ
ンジスタQ41にのみ定電流■が流れ、トランジスタQ
5にはほとんど電流が泣第1ずトランジスタQ6のベー
ス電流のみ流れる。その結里、出力電圧■1はロウレベ
ルとなり、出力電圧■2はトランジスタQ5にほとんど
電流が流れないためハイレベルとなる。このとき、上記
非反転データ信号dinを受ける差動トランジスタQ3
1がオン状態となるので、上記出力電圧v1を形成する
ための定電流■を流すものとなる。これにより、センス
ゲートトランジスタQ7がオフ状態となってデータ線D
Oが選択されたとき書込みm流1rを流すので、ワード
線の選択動作によって選択されたメモリセルへの書込み
が行われる。このように本実施例の書込回路WAは、ト
ランジスタQ31又はQ30のオン、オフ状態によりロ
ウレベルの出力電圧V1又はv2を形成する方の出力ト
ランジスタ側にのみ上記定電流Iを択一的に流すように
するものである。なお、上記の電流がほとんど流れない
出力トランジスタQ5(又はQ/l)け、1!e述する
基f!fl圧Vrefcより高いレベルの出力電圧V2
(又はVl)を形成することにより、センスゲ−1・ト
ランジスタQ6 (又はQ 7 )をオン状態としζ、
上記選択されたデータ線DO(又はDO)の書込み電流
Irを吸収してしまうものである。本願においては、こ
のような書込み方式を3値書込みと定義するものである
上記データ出力バッファDOBは、端子WEがハイレベ
ルとされ、端子C8がロウレベルとされた時に動作状態
にされる。この時、データ入力バッファDIBは、端子
WEのハイレベルにより上記ライトイネーブル信号we
がハイレベルになっているため、トランジスタQIOが
オフし、トランジスタQllがオンしてダイオードDI
、D2を通して抵抗R4,R5に1/2づつの定電流を
流す。したがって、外部端子Dinからの信号に無関係
にその出力レベルを中間レベルに固定する。
また、書込み回路WAは、上記ライトイネーブル信号w
eがハイレベルになっているため、1〜ランジスタQl
、Q2がオフし、トランジスタQ3がオンして選択され
たメモリセルの保打電圧の中間レベルに設定された読み
出し基準電圧Vrefcを形成して上記トランジスタQ
6.Q7のベースに伝える。そして、上記データ入力バ
ッファDIBの出力の中間レベルにより、上記差動トラ
ンジスタQ30.Q31には、定電流■が1/2づつ流
れるので、上記基準電圧Vrefcを形成することがで
きる。この実施例では、上記外部端子Dinからの信号
が変化してもデータ入力バッファDIBの出力が一定の
固定レベルになっているため、このような読み出し動作
モードにおいて、無意味な信号がトランジスタQl、Q
2のベースに伝えられないから、そのベース、コレクタ
間の寄生容量を介して基準電圧Vrefcにノイズが発
生することを防止することもできる。
〔効 果〕
fil書込回路WAにおいて、ロウレベルの書込み電圧
を形成するための定電流をその書込みデータ信号に従っ
て選択的に流すようにすることによって、必要な定電流
源の数を削減することができるという効果が得られる。
(2)上記(11により、消費電流を削減することがで
きるから低消費電力化を達成することができるという効
果が得られる。らなみに、上記定電流■の電流値は、高
速書込み動作化を達成するためには、約4mA程度と大
きな電流値に設定されるものであり、特に、×4ビット
のように複数ビットからなるデータ信号を並列的に書込
み/読み出しを行うバイポーラ型RAMにあっては、1
6mAもの消費電流の削減を図ることができるものであ
る。
(3)上記(11により、同じ消費電力とする場合には
、定電流Iの電流値を2倍に大きくできるから、その高
速書込み動作化を達成することができるという効果か得
られる。
以上本発明考によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は」、記実施例に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない糺囲で種々変更
可能であることはいうまでもない。例えば、上記出力I
−ランジズタQ =1 及びQ5ば、ダーリンI・ン形
態のトランジスタにより構成するものであってもよい。
また、読み出し動作モードにおい°ζ、上記基準電圧■
r e f c’>、−形成するために、再出力トラン
ジスタQ4,0.5に高抵抗負荷等を設けるよ・)にす
るもってあってもよい。
この場合には、前記データ人カバノフ7・I) I P
、 C)中間し・−ルを形成する機能を省略する、〕と
がてきるものである。また、電流切り換え回路の具体的
U路構成は、種々の実施形態を採る1七ができるもので
ある。さらに、書込回路WAは、2値(ロウレベルとV
refc)により書込み動作を行うものであってもよい
そして、バイポーラ型RAMを構成する他の周辺回路の
置体的回路構成も、種々の実施形態をとることができる
ものである。
〔利用分野〕
、二の発明は、バイポーラ型RAMに広く適用すること
ができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本願発明に先立って考えた書込み回路の一例
を示す回路図、 第2図は、この発明の一実施例を示す回路図である。 XABOないしXABk・・Xア1ルスバッファ、YA
BOないしYAB 1・・Yアドレスバッファ、SA・
・センスアンプ、WA・・書込回路。 DOB・・データ出力バンファ、DIB・・テータ入カ
バソファ、C0NT・・制御回路、 X−DCR・・X
アドレスデコーダ、Y−DCR・・Yアドレスデコーダ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一対のデータ線にエミッタがそれぞれ接続されたセ
    ンスゲートを構成する一対のトランジスタのベースに書
    込み信号をそれぞれ供給するエミッタフォロワ出力トラ
    ンジスタと、データ人力バッファからの書込みデータ信
    号に従って上記出力トランジスタのエミッタに択一的な
    定電流を流す電流切り換え回路とを含む書込回路を具備
    することを特徴とするバイポーラ型RAM。 2、上記バイポーラ型RAMは、複数ビットのデータを
    並列的に書込み及び読み出しを行うものであることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載のバイポーラ型RA
    M。 3、上記書込回路は、3値書込み方式により書込み信号
    を形成するものであることを特徴とする特許請求の範囲
    第1又は第2項記載のバイポーラ型RAM、。
JP58102570A 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram Pending JPS59229785A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58102570A JPS59229785A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram

Applications Claiming Priority (1)

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JP58102570A JPS59229785A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram

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JPS59229785A true JPS59229785A (ja) 1984-12-24

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JP58102570A Pending JPS59229785A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram

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JP (1) JPS59229785A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4730275A (en) * 1985-11-22 1988-03-08 Motorola, Inc. Circuit for reducing the row select voltage swing in a memory array
US4751683A (en) * 1984-10-22 1988-06-14 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Static semiconductor memory device comprising word lines each operating at three different voltage levels

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4751683A (en) * 1984-10-22 1988-06-14 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Static semiconductor memory device comprising word lines each operating at three different voltage levels
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