JPS59229783A - バイポ−ラ型ram - Google Patents

バイポ−ラ型ram

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Publication number
JPS59229783A
JPS59229783A JP58102568A JP10256883A JPS59229783A JP S59229783 A JPS59229783 A JP S59229783A JP 58102568 A JP58102568 A JP 58102568A JP 10256883 A JP10256883 A JP 10256883A JP S59229783 A JPS59229783 A JP S59229783A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
current
output
write
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP58102568A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyasu Akimoto
秋本 一泰
Tetsuo Nakano
哲夫 中野
Yukio Kato
行男 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58102568A priority Critical patent/JPS59229783A/ja
Publication of JPS59229783A publication Critical patent/JPS59229783A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、バイポーラ型トランジスタにより構成され
たRAM (ランダム・アクセス・メモリ)に適用して
有効な技術間するもので、例えば、高速バイポーラ型R
AMに使用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
第1図には、本願発明に先立って本発明者が考えた書込
回路WAの回路図が示されている。
この書込回路WAは、書込み動作モードにおいて内部ラ
イトイネーブル信号weがロウレベルにされるので、差
動トランジスタQ3がオフとなり、データ人力バッフ7
DIBからの書込みデータ信号d in、  d In
を受ける他の差動トランジスタQl。
Q2のうち一方がオン状態に、他方がオフ状態になる。
したがって、エミッタフォロワ出力トランジスタQ4.
Q5を通した出力電圧Vl、V2は、読み出しのための
基準電圧Vrefcに対して一方がロウレベルに、他方
がVrefcレベルになるという書込み信号である。こ
の出力電圧Vl、V2は、代表とし°C示されている相
補データ線り、 Dにエミッタがそれぞれ接続されたト
ランジスタQ6゜Q7のようなセンスゲートを構成する
トランジスタのベースに供給される。したがって、上記
ロウレベルの書込み信号を受けるトランジスタQ7 (
又はQ6)がオフ状態となってデータ線D(又はD)に
書込み電流が流れ、上記Vrefcレベルの書込み信号
を受けるトランジスタQ6 (又はQ7)がオン状態と
なってデータ線D(又はD)に書込み電流を流さないと
いう書込み動作を行う。
上記出力トランジスタQ5.Q4のエミッタは、同様な
他のデータ線のセンスゲートに対しても共通に接続され
るため、その寄生容量値が比較的大きな値になる。した
がって、ロウレベルの書込み信号の立ち下がりの速度を
速くするため、上記出力トランジスタQ4.Q5のエミ
ッタには、比較的大きな電流値の電流を流す必要がある
本願発明者は、上記出力トランジスタQ4. Q5のう
ち、一方のみがロウレベルの書込み信号を形成するもの
であることに着目して、その無効電流の削減を図ること
を考えた。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、低消費電力化を図ったバイポーラ型
RA Mを提供することにある。
この発明の他の目的は、高速書込み動作化を図ったバイ
ポーラ型RA Mを提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわぢ、書込み動作モードにおいて、書込み信号を形
成する一対の出力トランジスタに対して択一的にロウレ
ベルを形成する定電流を流すようにすることによって、
無効電流の削減を達成するものである。
〔実施例〕
第2図には、この発明の一実施例の回路図が示されてい
る。同図のバイポーラ型RAMは、公知の半導体集積回
路の製造技術によって、1個のシリコンのような半導体
基板上において形成される。
端子XAOないしXAk、YAOないしYAI。
Dout 、Din、C3,WE、−Vee及びGND
は、その外部端子とされる。
メモリセルは、その1つが具体的回路として示されてい
るように、特に制限されないが、そのベース、コレクタ
間が互いに交差結線された駆動npn)ランジスタQ1
2.Q13と、そのコレクタにそれぞれ設けられた負荷
pnp)ランジスタQ14.Q15とで構成されたフリ
ップフロップが用いられている。上記駆動npnトラン
ジスタQ12.Q13は、特に制限されないが、マルチ
エミッタ構造とされる。そして、その一方のエミッタが
共通化され、他方のエミッタがメモリセルの入出力端子
とされ、代表として示されている一対の相補データ(又
はディジット)線DO,D。
゛にそれぞれ接続される。なお、上記駆動npn)ラン
ジスタQ12.Q13は、ベース及びコレクタがそれぞ
れ共通接続された2つのトランジスタにより、それぞれ
構成するものとしてもよい、また、上記負荷トランジス
タQ14.Q15は、並列形態にされた負荷抵抗とクラ
ンプダイオードとに置き換えるものであってもよい。
上記負荷トランジスタQ14.Q15の共通化されたエ
ミッタは、代表として示されているワード線WOに接続
される。
上記代表として示されているメモリセルを中心として、
横の行には同様なm個のメモリセルが配置され(同図で
は、ブラックボックスにて1個のみが示されている)、
上記ワード線WOに接続される。この横の行には、上記
ワード線WOに対応した保持電流線STOが設けられて
おり、メモリセルの駆動トランジスタQ12.Q13の
上記共通化された一方のエミッタが接続される。同様に
代表として示された他の行(ワード線W n 、保持電
流elA S T n )についても上記同様にメモリ
セルが接続される。これらの保持電流線STO,STn
には、メモリセルへの保持電流を形成する定電流源l5
t(図示せず)がそれぞれ設けられている。
また、縦の列には、上記同様なn個のメモリセルが配置
され、相補データ線Do、Doにその入出力端子が共通
に接続される。このよう行2列にm X n個のメモリ
セルが配置され、メモリアレイM−ARYが構成される
代表として示された上記ワード線WO,Wnは、アドレ
スデコード信号XO,Xnを受けるワード*g動トラン
ジスタQ16.Q17により、選択/非選択が行われる
。これらのアドレスデコード信号X O+ X nは、
XアドレスデコーダX−DCRによって形成される。
図示しない適当な回路装置から供給されるアドレス信号
は、外部端子XAOないしXAkを介してアドレスバッ
ファXABOないしXABkに入力される。これらのア
ドレスバッフ1XABOないしxAmkは、入力アドレ
ス信号に従った非反転アドレス信号2反転アドレス信号
を形成して上記XアドレスデコーダX−DCHに伝える
。これによりXアドレスデコーダX−DCRが1つのワ
ード線選択信号を形成するので、1つのワード線選択が
行われる。
代表として示された相補データ線DO,DOは、カラム
スイッチとしてのトランジスタQ1B、Q20を介して
、図示しない他の相補データ線に対しても設けられた定
電流源(rに接続される。
上記カラムスイッチとしてのトランジスタQ18゜Q2
0のベースには、YアドレスデコーダY−DCRで形成
されたアドレスデコード信号YOが印加される。
図示しない適当な回路装置から供給されたアドレス信号
は、外部端子YAOないしYAIを介してアドレスバッ
ファYABOないしYABIに入力される。これらのア
ドレスバッファYABOないしYAB 1は、入力アド
レス11号に従った非反転アドレス信号2反転アドレス
信号を形成して上記YアドレスデコーダY−DCRに伝
える。これによりYアドレスデコーダY−DCRが1つ
のデータ線選択信号を形成するので、上記一対のデータ
線選択が行われる。
この実施例では、特に制限されないが、非選択時のデー
タ線に所定のバイアス電圧を与えるために、次のバイア
ス回路が設けられる。
そのコレクタに回路の接地電位が与えられたトランジス
タQ21のベース、コレクタ間に直列形態とされたダイ
オードD3と抵抗R6が設けられる。そして、この直列
ダイオードD3と抵抗R6は、上記カラムスイッチトラ
ンジスタと同様なトランジスタQ19を介して上記同様
な定電流源■rに接続される。上記トランジスタQ21
は、特に制限されないが、マルヂエミッタ構造とされ、
それぞれ相補データ線DO,DOに接続される。
一方、この相補データ線Do、DOは、微小定電流源に
結合されている。すなわち、定電圧Via1をベースに
受け、エミッタに抵抗が設けられたトランジスタQ23
(Q24)により、常時微小定電流の吸い込みを行って
いる。
これにより、非選択時のデータ線電位は、約ダイオード
D3の順方向電圧とトランジスタQ21のベース、エミ
ッタ間電圧とを加えた電圧でバイアスされる。なお、相
補データ線DO,DOが選択された時には、定電流源1
rで形成した選択電流1rがトランジスタQ19を通し
て抵抗R6に流れるのでトランジスタQ21がオフして
、相補データ線DO,DOは選択されたメモリセルの記
憶情報に従つた電位にされる。
代表として一示された行のメモリセルの書込み/読み出
しのために、相補データ線DO,DOには、そのエミッ
タが結合された電流切り換えスイッチ(センスゲート)
 トランジスタQ7.Q6が設けられる。これらのトラ
ンジスタQ7.Q6のコレクタ出力は、センスアンプS
Aの入力に伝えられる。センスアンプSAは、その増幅
動作を行うとともに、E CL、 (Emltter 
 Coupled  Logic)で構成されたデータ
出力バッファDOBの入力レベルに合致さた出力信号を
形成する。
データ出力バッフ7DOBは、外部端子Doutから送
出する読み出し出力信号を形成する。
上記センスゲートトランジスタQ7.Q6のベースには
、書込回路WAの出力電圧Vl、V2が印加される。
この出力電圧Vl、V2を形成する書込回路WAは、差
動形態のトランジスタQ1〜Q3と、その共通エミッタ
に設けられた定電流源と、上記トランジスタQl、Q2
のコレクタにそれぞれ設けられた抵抗R1,R2と、こ
の抵抗R1,R2とトランジスタQ3のコレクタとの共
通接続点と、接地電位との間に設けられた抵抗R3とで
構成される。上記トランジスタQl、Q2のベースには
、後述するデータ人力バッファDIRからの書込みデー
タ信号d in、  d lnが印加され、トランジス
タQ3のベースには、後述する制御回路C0NTからの
内部ライトイネーブル信号;τが印加される。
この実施例では、上記書込回路WAの無効電流を削減す
るため、出力電圧V1.V2を形成するエミッタフォロ
ワ出力トランジスタQ4.Q5のエミッタに、差動トラ
ンジスタQ31.Q30で構成された電流切り換え回路
を介して定電流源■が設けられる。そして、上記一方の
差動トランジスタQ31のベースには、後述するデータ
人力バッファDIRで形成された非反転データ信号di
nが印加され、他方の差動トランジスタQ30のベース
には、反転データ信号dinが印加されることによって
、上記定電流源lの定電流が択一的に流れる。
上記データ人力バッファDIBは、次の回路構成とされ
る。外部端子Dinから供給された書込みデータ信号を
受けるトランジスタQBと、そのベースに入力信号を識
別するための基準電圧Vb2が印加されたトランジスタ
Q9とが差動形態にされる。この差動トランジスタQB
、Q9のコレクタにそれぞれ抵抗R4,R5が設けられ
る。そして、この差動トランジスタQB、Q9のコレク
タ出力は、エミッタフォロワトランジスタQ25.Q2
6のベースに印加され、これらのトランジスタQ25、
Q26のエミッタから上記書込回路WAに伝えられる相
補データ信号d in、  d inが出力される。
上記差動トランジスタQB、Q9の共通エミッタには、
差動トランジスタQIOのコレクタが接続される。この
トランジスタQIOのベースには、上記内部ライトイネ
ーブル信号讐1を識別するための基準電圧Vb3が印加
される。上記トランジスタQIOと差動形態にされたト
ランジスタQllのベースには、上記内部ライトイネー
ブル信号iiが印加さる。このトランジスタQllのコ
レクタは、ダイオードD1.D2を通して上記差動トラ
ンジスタQB、Q9のコレクタに接続される。
そし°ζ、この差動トランジスタQIO,Qllの共通
エミッタに定電流源が設けられる。
また、外部端子WE、C3から供給された制御信号を受
ける制御図flliCONTにより、上記データ出力バ
ッファDOBの動作制御信号と、上記書込回路WA及び
データ人力バッファDIBに供給される上記内部ライト
イネーブル信号7;が形成される。
この実施例回路の動作を次に説明する。
今、端子C8がロウレベルとされ、端子WEがねウレベ
ルとされる書込み動作モードにおいては、上記内部ライ
トイネーブル信号weが電圧Vb3より低くなワてデー
タ人力バッファDIBのトランジスタQllがオフ状態
となり、トランジスタQ10がオン状態となるので外部
端子Dinからの信号に従った相補データ信号d in
、  d inが書込回路WAに伝えられる。
書込回路WAのトランジスタQ3は、上記内部ライトイ
ネーブル信号weがロウレベルとなった時オフ状態にな
り、上記データ信号d in、  d inを受ける差
動トランジスタQl、Q2により、ハイレベル、ロウレ
ベルの書込み信号を形成する。
今、非反転データ信号dinがハイレベルで、反転デー
タ信号d1nがロウレベルなら、トランジスタQ31が
オン、Q30がオフ状態となるため、トランジスタQ4
にのみ定電流Iが流れ、トランジスタQ5にはほとんど
電流が流れずトランジスタQ6のベース電流のみ流れる
。その結果、出力電圧v1はロウレベルとなり、出力電
圧V2はQ5にはほとんど電流が流れないためハイレベ
ルとなる。このとき、上記非反転データ信号dinを受
ける差動トランジスタQ31がオン状態となるので、上
記出力電圧v1を形成するための定電流■を流すものと
なる。これにより、センスゲートトランジスタQ7がオ
フ状態となってデータ線DOが選択されたとき書込み電
流Jrを流すので、ワード線の選択動作によって選択さ
れたメモリセルへの書込みが行われる。このように本実
施例の書込回路WAは、トランジスタQ31又はQ30
のオン、オフ状態によりロウレベルの出力電圧v1又は
v2を形成する方の出方トランジスタ側にのみ上記定電
流Iを択一的に流すようにするものである。なお、上記
の電流がほとんど流れない出方トランジスタQ5 (又
はQ4)は、後述する基準電圧Vrefcより高いレベ
ルの出力電圧V2(又はVl)を形成することにより、
センスゲートトランジスタQ6(又はQ7)をオン状態
として、上記選択されたデータ線Do(又はDO)の書
込み電流1rを吸収してしまうものである。
上記データ出力バンフyDOBは、端子WEがハイレベ
ルとされ、端子csがロウレベルとすした時に動作状態
にされる。この時、データ人力バッファDIBは、端子
WEのハイレベルにより上記ライトイネーブル信号7τ
がハイレベルになっているため、トランジスタQIOが
オフし、トランジスタQllがオンしてダイオードD1
. D2を通して抵抗R4,R5に1/2づつの定電流
を流す。したがワて、外部端子Dinからの信号に無関
係にその出力レベルを中間レベルに固定する。
また、書込み回路WAは、上記ライトイネーブル信号W
τがハイレベルになっているため、トランジスタQl、
Q2がオフし、トランジスタQ3がオンして選択された
メモリセルの保持電圧の中間レベルに設定された読み出
し基準電圧Vrefcを形成して上記トランジスタQ6
.Q7のベースに伝える。そして、上記データ人力バッ
ファDIBの出力の中間レベルにより、上記差動トラン
ジスタQ30.Q31には、定電流Iが1/2づつ流れ
るので、上記基準電圧Vrefcを形成することができ
る。この実施例では、上記外部端子Dinからの信号が
変化してもデータ人力バッファDIHの出力が一定の固
定レベルになっているため、このような読み出し動作モ
ードにおいて、無意味な信号がトランジスタQ1.Q2
のベースに伝えられないから、そのベース、コレクタ間
の寄生容量を介して基準電圧Vrefcにノイズが発生
することを防止することもできる。
〔効 果〕
(1)書込回路WAにおいて、ロウレベルの書込み電圧
を形成するための定電流をその書込みデータ信号に従っ
て選択的に流すようにすることによって、必要な定電流
源の数を削減することができるという効果が得られる。
(2)上記(1)により、消費電流を削減することがで
きるから低消費電力化を達成することができるという効
果が得られる。ちなみに、上記定電流1の電流値は、高
速書込み動作化を達成するためには、約4mA程度と大
きな電流値に設定されるものであり、特に、×4ビット
のように複数ビットからなるデータ信号を並列的に書込
み/読み出しを行うバイポーラ型RAMにあっては、1
6mAもの消費電流の削減を図ることができるものであ
る。
(3)上記11)により、同じ消費電力とする場合には
、定電流Iの電流値を2倍に大きくできるから、その高
速書込み動作化を達成することができるという効果が得
られる。
(4)入力データバッファDIBに、読み出し動作にお
いて固定の中間レベルを出力する機能を付加することに
よって、その出力信号を差動電流切りえ回路に入力する
だけで書込み動作での択一的な電流供給と、読み出し動
作における基準電圧Vrefcを形成するためにほり等
しい1/2の電流を両出力トランジスタに供給するとい
う21M類の電流切り換え動作を簡単な回路により達成
できるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を進展しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、上記出方トラ
ンジスタ。4及び。
5は、ダーリントン形態のトランジスタにより構成する
ものであってもよい。また、書込回路WAは、2値(ロ
ウレベルと’Vrefc)により書込み!作を行うもの
であってもよい。
そして、バイポーラ型RAMを構成する他の1辺回路の
具体的回路構成も、種々の実施形態を。
ることができるものである。
〔利用分野〕
この発明は、バイポーラ型RAMに広く通用”ることが
できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本願発明に先立って考えた書込み回路の一例
を示す回路図、 第2図は、この発明の一実施例を示す回路図。 ある。 XABOないしXABk・・Xアドレスバラ。 ア、YABOないしYAB 1・・Yアドレスバ・ファ
、SA・・センスアンプ、WA・・書込回1DOB・・
データ出カバソファ、DIB・・デ・タムカバソファ、
C0NT・・制御回路、X−]CR・・Xアドレスデコ
ーダ、Y−DCR・パアドレスデコーダ 代理人弁理士 高欄 明夫 カ 昭            第  1  図ヒ 」 & 〕 ?

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、読み出し動作モードの制御信号に従って外部入力デ
    ータ信号を受けるトランジスタのスイッチング動作を禁
    止してその出力信号を一定の固定電位にする機能を持つ
    データ入カバソファと、一対のデータ線にエミッタがそ
    れぞれ接続されたセンスゲートを構成する一対のトラン
    ジスタのベースに書込み信号をそれぞれ供給するエミッ
    タフォロワ出力トランジスタ及び上記データ入カバソフ
    ァからの出力信号に従って上記出力トランジスタのエミ
    ッタに択一的な定電流又はほり等しい1/2の定電流を
    流す電流切り換え回路とを含む書込回路とを具備するこ
    とを特徴とするバイポーラ型RAM。 2、上記バイポーラ型RAMは、複数ビットのデータを
    並列的に書込み及び読み出しを行うものであることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載のバイポーラ型RA
    M。
JP58102568A 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram Pending JPS59229783A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58102568A JPS59229783A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58102568A JPS59229783A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 バイポ−ラ型ram

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JP (1) JPS59229783A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6464195A (en) * 1987-06-02 1989-03-10 Texas Instruments Inc Hybrid semiconductor memory

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6464195A (en) * 1987-06-02 1989-03-10 Texas Instruments Inc Hybrid semiconductor memory

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