JPS59219717A - レ−ザビ−ム検出装置 - Google Patents

レ−ザビ−ム検出装置

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Publication number
JPS59219717A
JPS59219717A JP58093516A JP9351683A JPS59219717A JP S59219717 A JPS59219717 A JP S59219717A JP 58093516 A JP58093516 A JP 58093516A JP 9351683 A JP9351683 A JP 9351683A JP S59219717 A JPS59219717 A JP S59219717A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
diffusing
mask
optical glass
glass block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58093516A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Morihara
隆 森原
Fumitaka Abe
文隆 安部
Satoshi Itami
伊丹 敏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP58093516A priority Critical patent/JPS59219717A/ja
Publication of JPS59219717A publication Critical patent/JPS59219717A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (4)発明の技術分野 本発明はレーザプリンタ瞼レーザ作図機など。
レーザビームを走査する光学系を有する装置に備えられ
レーザビームの走査位置の検出に用いるレーザビーム検
出装置に関する。
(B)  技術の背景 第1図はレーザプリンタにおけるレーザビーム走立光学
系の一例であり、プリント情報によって変調され所要の
ビーム径に調整されたレーザビーム1は矢印Aのように
回転する回転多面鏡2によって反射され、走査集光レン
ズ3によって偲形成面4の上に集光され矢印Bのように
走査されるのであるが、回転多面鏡2および走介集光レ
ンズ3の工作誤差等のため走査が上の位置によって走査
速度が変動しプリント像に走査線方向の王が生ずるO したがってレーザプリンタ・レーザ作図機等においては
、前記プリントrρの否を補正する補正手段の設計に必
要なデータを得るため、走査^11上におけるレーザビ
ーム走査位置を検出するレーザビーム検出装置が利用さ
れている。
(Q 従来技術と問題点 前記のような用途に使用するレーザビーム検出装置とし
て、従来、レーザ光を透過する透過部とレーザ光を遮断
する遮断部とを交互に配列したマスク面と、前記各々の
透過部を透過したレーザを受光できるように各々の透過
部に設けられた光ファイバと、前記各々の光ファイバを
介して受光したレーザ光を一括して受光できるように各
々の光ファイバの他端側を束ねて接続する受光器とから
成るものが用いられていた。
しかしながら、このようなレーザビーム検出装置におい
ては、多数本の光ファイバを用いるため容積が増大し且
つ信頼性が劣るという欠点、あるいは透過部と光ファイ
バの接続泣訴の誤差が検出精度に影響を与えるなどの問
題があった。
υ)発明の目的 本発明の目的は、小形、高信頼性且つ高梢度のレーザビ
ーム検出装置を得ることにある。
(ト)発明の構成 本発明になるレーザビーム検出装置は、複数の面を有す
る光学ガラスブロック上の一面に設けられレーザビーム
を透過する透過部とレーザビームを遮断する遮断部とを
交互に配列したマスク面と、前記マスク面の透過部を透
過したレーザビームを直接もしくは内部反射によって透
過し得る前記光学ガラスブロック上の他の面に除けられ
た拡散面と、前記拡散面から拡散されたレーザビームを
受光できるように該拡散面に接近して設けられる受光器
とを構成要素とするものである。
0 発明の実施例 第2図は本発明の詳細な説明する図であり、1はレーザ
ビーム%5は光学ガラスブロック、6はレーザビーム1
を透過する透過部6−1とレーザビーム1を遮断する遮
断部6−2とをレーザビーム走査方向Bに交互に配置1
ルたマスク面、7はマスク面6の透過部を透過したレー
ザビームを拡散する拡散面、8は受光器として用いる半
導体受光素子である。
レーザビーム1が図示のように透過部6−1にあるとき
、透過部6−1を透過したレーザビーム1は拡散面7に
達し拡散光となって光学ガラスブロック5の外部に放射
される。
一般に、半導体受光素子8の受光面8−1は半導体受光
素子8の外形より小さく、シたがって。
半導体受光素子8を拡散面7に接近して走査方向Bに複
数個配列するとき、受光面8−1を相互に密接させるこ
とができず、したがって、図示のような配置の場合には
、レーザビーム1が直進したとすると半導体受光素子8
はレーザビーム1を受光できないのであるが、本発明に
よれば受光できるようになる。
すなわち、透過部6−1を透過したレーザビーム1は必
ず半導体受光素子8−1によって受光されて半導体受光
素子8は出力を発生し、一方、レーザビーム1が遮断部
6−2にあるときには半導体受光素子8は出力を発生し
ない〇 このように、半導体受光索子8の出力はレーザビームの
位置によって変化し、したがって、半導体受光素子8の
出力を監視することによってレーザビーム1がマスク面
6のどの部分にあるかを検出できるとともに、レーザビ
ーム1の走査速度を求めることもできる@ 第3図は本発明の第一の実施例の構成を斜視図(a)と
断面図(b)とによって示し、第2図と共通する符号は
同一対象物を指すほか、5aは三角柱状の光学ガラスブ
ロック、6aは°三角柱状の光学ガラスブロック5aの
一方の柱面に設けられたマスク面b7aは三角柱状のブ
C学ガラスブロック5aQ)他方の柱面に設けられた拡
散面、9は三角柱状のの柱面の内側に設けられマスク面
6aの透過部6−1を透過したレーザビーム1を拡散面
7aの方向に反射する反射面である。
マスク面6aの透過部6−1と遮断部6−2は三角柱の
高さ方向に交互に配列し、複数個の受光器8も三角柱の
高さ方向に配列するとともにすべての受光器8の出力の
和を得るように接続する。
以上のような構成によって、透過部6−1および遮断部
6−2の配列方向をレーザビーム1の走査方向に一致さ
せ、受光器8の出力の和を監視することによって、レー
ザビーム1の走査方向の位器および走査速度を求めるこ
とができる。
第4図は本発明第二の実施例の構成を斜視図によって示
し、第2図・第3図と共通する符号は同一対象物を指す
ほか、5bは対向する二つの而を備える光学カラスブロ
ック、6bは光学カラスブロック5bの一方の面に設け
られるマスク面、7bは光学ガラスブロック5bのマス
ク面6bに対向する他方の面に設けられる拡散面である
第二の実施例が第一の実施例と異なる点は、マスク面6
bO)透過部6−1を透過したレーザビー光を反射させ
ることなく直接に拡散面7bJこmG)でいることであ
り、第一の実施し11よりも小形化することができるO 第5図は本発明の第三の実施j?I)(1)構成を斜視
図によって示し、第2図・第3図・第4図と共i!、i
4する符号は同一対象物を指すほか、5Cは楔形υ)光
学ガラスブロック、6cは光学ガラスブロック5Cの楔
形を形成する一方の楔面に設けられるマスク面、7Cは
楔形の底面に設けられる拡散面、10は光学ガラスブロ
ック5c(7)楔形を形成する他方の楔面に設けられマ
スク面6Cのa;[tl 6−1を透過したレーザビー
ムを反射Cる反射面である0また、マスク面6が設けら
れている前記−万〇)楔面の裏面も反射面とすることに
よって、マスク面6Cの透過部6−1を透過したレーザ
ビームは反射−10とマスク面6Cの晟面との間で反射
を繰返しながら拡散面7Cに達し拡散1ηi7cにおい
て拡散し受光器8によって検出されるO第三の実施例は
縛−の実施例および第二〇)実施例に比して受光器8の
数が少なく、シたがって第一の実施例あるいは第二の実
施90よりも更に小形化することができる0 前記第三の実施例の変形例として、第6図に示すように
楔形の光学ガラスブロック5Cを2個組合わせたものを
得ることもできるO 上記実施例および変形例はいずれも光ファイ/く−を全
く便用せず、したがって従来例におけるような光ファイ
バの接続位置の誤差による検出精度の低下がなく、マた
、小形化・高信頼化を図ることができる0また。拡散面
7a・7b・7Cはすりガラス加工によって容易に得る
ことができる。
輌 発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、小形・高信頼性・
高稍波且つ安価なレーザビーム検出装置を得ることがで
きる0
【図面の簡単な説明】
鎮1図はレーザビーム走査光学系の説明図、第2図は本
発明の原理説明図、第3図は本発明の第一の実施例、第
4図は同第三の実施しu11b図は同第三の実施例、ま
た第6図は第三の実施例Q)変形例を示すOこれらの図
において、1はシー4ビーム、5・515b・5Cは光
学ガラスブロック。 6・6a・6b@6Cはマスク面、6−1は透過uls
、6−2は遮断部、7・7a・7b・7Cは拡散面。 8は受光器である0 本?【 i 娯3圀 夕θ 娯4閃 /4 第5町 C も を叫 C O/乙

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の面を有する光学ガラスブロック上の一面に
    設けられレーザビームを透過する透過部とレーザビーム
    をilrする遮断部とを交互に配列したマスク面と、前
    記マスク面の透過部を透過したレーザビームを直接もし
    くは内部反射によって透過し得る前記光学ガラスブロッ
    ク上の他の面に設けられた拡散面と、前記拡散面から拡
    散されたレーザビームを受光できるように該拡散面に接
    近して設けられる受光器とを備える事を特徴とするレー
    ザビーム検出装置。
  2. (2)光学ガラスブロックを三角柱とし該三角柱の一方
    の柱面にマスク面を設は他方の柱面に拡散面を設けたこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のレーザビー
    ム検出装置。
  3. (3)光学ガラスブロックを対向する二つの面を備える
    ものとし一方の面にマスク面を設は他方の面に拡散面を
    設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のレ
    ーザビーム検出装置!r:。
  4. (4)光学ガラスブロックを楔形とじ該横形を形成する
    一方の面をマスク面とすることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のレーザビーム少出装隨0
JP58093516A 1983-05-27 1983-05-27 レ−ザビ−ム検出装置 Pending JPS59219717A (ja)

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JPS59219717A true JPS59219717A (ja) 1984-12-11

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ID=14084501

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