JPS59202635A - エッチング装置 - Google Patents

エッチング装置

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JPS59202635A
JPS59202635A JP7742883A JP7742883A JPS59202635A JP S59202635 A JPS59202635 A JP S59202635A JP 7742883 A JP7742883 A JP 7742883A JP 7742883 A JP7742883 A JP 7742883A JP S59202635 A JPS59202635 A JP S59202635A
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JP
Japan
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plasma
discharge
insulator
sample
magnetic field
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JP7742883A
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Shigeru Nishimatsu
西松 茂
Keizo Suzuki
敬三 鈴木
Takeshi Ninomiya
健 二宮
Yoshihiro Yokota
横田 吉弘
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32623Mechanical discharge control means

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプラズマ処理装置に係り、とくに均一処理可能
な領域を拡大するのに好適な有磁場マイクロ波プラズマ
放電管の構造に関するものである。
〔発明の背景〕
従来のマイクロ波プラズマ処理装置の構成例を第1図お
よび第2図に示す。図において、1は放電管であり、石
英あるいはアルミナ等の絶縁物から成つそおシ、上端は
閉じられ、下端は試料7に向って開口されている。2は
マイクロ波導入用の導波管、3は磁場発生用のソレノイ
ドコイル、9は永久磁石である。放電管1内に適当な放
電用ガスを導入し、ソレノイドコイル3によって軸方向
磁場を印加した状態で、導波管2を介して該放電管1内
にマイクロ波電力を供給することによって、放電管1内
の主放電部4にマイクロ波放電プラズマが発生する。こ
のプラズマ中のイオンによって試料7の表面を処理(エ
ツチング、デポジション等)することが可能である。な
お、図中の5は処理室、6は排気口、8は試料台を示し
ている。第1図および第2図においては、上部のソレノ
イドコイル3と下部の永久磁石9により試料7の上下で
強くなったミラー磁場を形成している。これはプラズマ
が発散しないように閉じ込めるためと、特に放電管1の
上部が加熱きれないようにするたコイル めのものである。上部のソレノイド3の内部にとべ くに強い磁場が存在しており、マイクロ波は導波管2に
よシ上部から導入されるため、この部分4に一番密度の
高いプラズマが形成される。したがって、この部分4を
以下主放電部と呼ぶことにする。この主放電部4中に直
接試料を置くと試料の温度上昇が激しいので、通常第1
図や第2図のように主放電部4より下方に試料8を置く
。なお第1図や第2図の装置においては装置全体を横向
きにしても上下逆向きしても基本的な特性には変化はな
い。また図では放電のためのガス導入手段については図
示していないが、放電管1の上部から、横からあるいは
下側から放電用のガスを適宜導入しうるものである。
第1図に比べて、第2図では試料台8の近くまで放電管
1が下方に長くのばされているが、これは放電管1の下
端開口部(試料のすぐ上部)を扇形形状にして試料台(
この場合は回転テーブル)8上におかれた試料7の表面
が均一にエツチング処理されるよりにするためと、磁場
に拘束されない電気的に中性なラジカルが四方六方に飛
散して、エッチ速度やデポジション速匠が遅くなる等プ
ラズマ処理能力の低下をおさえるための役割全果してい
る。
ところで、プラズマエツチングやプラズマデボジショ/
等のプラズマ処理を行なわせる装置においては、試料表
面の均一処理という観点からは、プラズマ中のイオンお
よびラジカルが試料の表面に均一に照射されることが必
用である。!た、処理能力の面からすれば、できるだけ
大面積の試料をまたはできるだけ多数の試料を同時に処
理できることが望まれており、その意味でできるだけ広
い面積にわたって均一に分布したプラズマが得られるこ
とが望ましい。しかしながら、上述したような有@場マ
イクロ波放電プラズマを利用する場合には、消貴電力や
装置の大きさの問題からして、主放電部自体の面積(断
面績)を大きくすることには非常な困難が伴なう。とく
に、主放電部の大面積化に伴なうソレノイドコイルの大
型化は致命的な欠点となる。
〔発明の目的〕
しだ力・つて、本発明の目的は、有磁場マイクロ波プラ
ズマ処理装置において、主放電部自体を大面積化するこ
となく、試料表面に対してより広い均一処理領域を提供
すること〃・できるよう改良されたプラズマ処理装置を
提供することである。
〔発明の概要〕
そこで、本発明においては、主放電部自体の断面&全人
きくすることなく、該主放電部から被処理試料に向って
絶祿物工9なる放電管の断面積を拡けることVζより均
−処理司北な領域金波げてやることγ特徴としている。
〔発明の実施例〕
以下に本発明の実施例をめげて、本発明につき詳説する
まず、有磁場マイクロ波プラズマ発生装置の磁場の働き
について考察してみよう。
第3図に永久磁石9を設けない場合の試料台8の近傍に
おけるソレノイドコイル3による磁場の磁力線10の分
布を模式的に示した。このように永久磁石9がないと磁
力線10は図示のごとく急速に発散してしまう。1O−
3Torr以下圧力のもとてのマイクロ波放電では、プ
ラズマはこの磁力線に沿った形で分布することとなる。
第4図のように永久磁石9があると磁力線10は中ぶく
れの形となり、したがって肉眼で見ても明らかに中ぶく
れのプラズマ発光がみられるようになる。
第5図に示したように、直径が大きくかつやや弱い永久
磁石9を用いるとさらに中ぶくれ傾向の強くなった磁力
線分布が得られ、試料部にほぼ均一な広いプラズマが形
成されることになる。また第6図のように下部永久磁石
9の代りにソレノイドコイル11を設置しても第5図の
場合と同様になる。この場合純鉄などの磁心12?ソレ
ノイドコイル11の中に置いても艮い。このようとする
とソレノイドコイル11の電流全調節することに工っで
磁力線の広が#)全制御することが容易となる。
上記の考察に基いて、第7図に示したように、磁力線の
形(第5図参照)に沿って絶縁物放電管1を試料7に向
けて1′のごとく末広がりに構成することにより、はぼ
均一でしかも面積の広いプラズマ処理全可能とすること
ができる。放電管1゜1′の材質はマイクロ波を通す石
英やアルミナ等の耐熱性絶縁物である必要があり、とく
にプラズマエツチングでは金属汚染を避けるために、プ
ラズマはこのような耐熱性の絶縁物で囲まれていること
が望ましい。最適位置の調整のためにソレノイドコイル
3を移動でせることはプラズマ状態を変化させてしまう
ので、最適位置の調整は試料台8あるいは永久磁石9を
上下させることにより行なうのが望ましい。
第7図に示したように放電管1の形状を磁力線に沿って
1′のごとく末広がりの形状にする代りに、第8図に示
すように不連続に拡げるようにしてもよい。とくにソレ
ノイドコイル11を用い、その電流fc変化烙せて磁場
を変えるような場合は、第8図に示したごとき構成とし
た方が実用的である。
なお、第10図は、放電管1の上方にも永久磁石14會
設け、その代りにソレノイドコイル3の電流を可調整と
した例である。絶縁性の艮好な永久磁石を用いれば、こ
のような構成も可能となる。
また第11図、第12図に示したように放電管1にフラ
ンジ15についていて、O−リング等のノ(ツキング1
6により真空シールする場合には第11図の末広が9の
構造では放電管1の交換等が困難となる。したがって、
この場合には、第12図示のごとく、放電管を1の部分
と1′の部分とで分離できる構造としておくのがよい。
さらに、第9図に示したように、試料7の位置にソレノ
イドコイル13金付加設置してそれに流す電流を変化さ
せて磁場の分布を制御することも可能である。
第7図、第8図で示した放電管の場合、第11図に示し
たごときフランジエ5を設けてゴムバッキング16を用
いて真空シールするためには、一体になった放電管では
、第11図に示したごとき構成にすることは困難である
。そこで第12図のように放電管を分けて作シその上部
1と下部拡張部1′とを何らかの方法で連結できるよう
にすれば良い。この場合部分lと1′の間に多少のすき
間があっても真空中であるから問題はない。
第13図に本発明によるマイクロ波プラズマ処理装置に
よる試料のエツチングの実行例を示す。
第1図に示した広が9のない石英製放電管(内径120
mm)と第12図に示した上下分離連結型の放電管(上
部内径120+++m、下部内径200 rrrm )
とを用いて、六フッ化硫黄(SF6 )ガスで2×1O
−3Torr のガス圧のもとてマイクロ波放電プラズ
マを発生させ、試料7としてシリコンウェハ全プラズマ
エツチングした場合のエツチング深さの半径方向分布が
それぞれ図中の曲線■と@である。こlよシ、エツチン
グの均一領域が面積で約2倍に広がっていることが分る
以上生として有磁場マイクロ波プラズマによるエツチン
グの例を示したが、導入ガスを変えること、さらには試
料温度を制御することにより1はぼ同様の構成の装置で
プラズマデポジションや、プラズマ酸化やプラズマ窒化
などの表面処理が可能となることはいうまでもない。
また、I Q−2Torr以上のガス圧で処理する場合
においても、ラジカルは末広が9の放電管の中で自由に
動き回るので均一領域拡大に効果がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、第13図の例からもわかるようにプラ
ズマによる均一処理の能力を容易に2倍以上に向上でき
る。したがって、半導体素子製造プロセスに利用してス
ループットの向上に寄与するところきわめて犬である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は従来の有磁場マイクロ波プラズマ処理
装置を示す概略図である。第3図、第4図、第5図、第
6図は本発明の概念を示すための図である。第7図、第
8図、第9図、第10図。 第12図は本発明の実施例を示す図である。第11図は
実施例のための参考図である。第13図は本発明を用い
た有磁場マイクロ波プラズマエツチング例全示すデータ
図である。 1,1′・・・放電管、2・・・マイクロ波導波管、3
・・・ソレノイドコイル、4・・・主放電部、訃・・処
理室、6・・・排気口、7・・・試料、8・・・試料台
、9・・・永久磁石、10・・・磁力線、11・・・ソ
レノイドコイル、12・・・磁心、13・・・ソレノイ
ドコイル、14・・・永久磁石、15・・・放電管のフ
ランジ部、16・・・ゴム”f、t  図 第3図 γ 5 図 第 2  図 ■ 4 図 「 Z 乙 図 茅 7 区 7 第 q 図 第 71 図 ■ 8 図 ’f3  lo  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、有磁場マイクロ波プラズマ放電を用いた処理装置に
    おいて、石英あるいはアルミナ等の絶縁物放電管がマイ
    クロ波導入口方向から試料方向に向かって主放電部より
    先の部分で広がった構造をもっていることを特徴とする
    プラズマ処理装置。 2 少くとも試料の上と下にソレノイドコイルあるいは
    永久磁石金偏えた有磁場マイクロ波放電を用いているこ
    と’に%徴とする特許請求範囲第1項記載のプラズマ処
    理装置。 3.2つ以上の絶縁物を適当に接続することによって放
    電管を形成することを特徴とする特許請求範囲第1項記
    載のプラズマ処理装置。
JP7742883A 1983-05-04 1983-05-04 エッチング装置 Granted JPS59202635A (ja)

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JPH0454967B2 JPH0454967B2 (ja) 1992-09-01

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