JPS59200930A - サ−モグラフイ装置 - Google Patents
サ−モグラフイ装置Info
- Publication number
- JPS59200930A JPS59200930A JP7542083A JP7542083A JPS59200930A JP S59200930 A JPS59200930 A JP S59200930A JP 7542083 A JP7542083 A JP 7542083A JP 7542083 A JP7542083 A JP 7542083A JP S59200930 A JPS59200930 A JP S59200930A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- memory
- difference
- temperature
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被写体表面の温度分布を可視像として表示す
るサーモグラフィ装置に関する。
るサーモグラフィ装置に関する。
サーモグラフィ装置においては、視野内の各点から発生
する赤外線を検出し、得られた赤外線映像信号を表示装
置へ送り、視野内の物体の湿度分布像を得ている。この
サーモグラフィ装置では、陰極線管上に黒から白までの
輝度を与えて表示する温度範囲を予め設定しなければな
らない。この温度範囲を広く設定すると、被写体全体の
温度分布形状を判別することはできるものの、像中の局
所的な比較的微小な温度差を判別することは困難となる
。そこで、比較的微小な温度差を明確に判別するｌ〔め
には、陰極線管に表示する温度−囲を ）狭くすれば
良いが、被写体の温度が場所によって大きく変化してい
る場合には、その極く一部しか表示されないことになり
、被写体全体にわたって温度分解能良く観察することは
できない。
する赤外線を検出し、得られた赤外線映像信号を表示装
置へ送り、視野内の物体の湿度分布像を得ている。この
サーモグラフィ装置では、陰極線管上に黒から白までの
輝度を与えて表示する温度範囲を予め設定しなければな
らない。この温度範囲を広く設定すると、被写体全体の
温度分布形状を判別することはできるものの、像中の局
所的な比較的微小な温度差を判別することは困難となる
。そこで、比較的微小な温度差を明確に判別するｌ〔め
には、陰極線管に表示する温度−囲を ）狭くすれば
良いが、被写体の温度が場所によって大きく変化してい
る場合には、その極く一部しか表示されないことになり
、被写体全体にわたって温度分解能良く観察することは
できない。
本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものであり、
被写体の温度が場所によって大きく変化している場合で
も、被写体全体にわたって比較的微小な温度差を判別す
ることのできるサーモグラフィ装置を提供りることを目
的としている。
被写体の温度が場所によって大きく変化している場合で
も、被写体全体にわたって比較的微小な温度差を判別す
ることのできるサーモグラフィ装置を提供りることを目
的としている。
本発明にＪ、るサーモグラフィ装置は、被写体がｂ’ｉ
、 ＱＪ シた赤外線を検出器るカメラ部と、該１３１
９部から得られた赤外線映像信号を処理する処理部と、
該伝り処理部の出力に基づき前記被写体の温度分布を表
示する表示部とを備えたサーモグラフィ装置においＣ１
前記信号処理部は、赤外線映像１８号をデジタル変換し
て視野を構成する画素データとしＣ記憶Ｊるメモリと、
メモリに格納された各画素についてその隣接画素のデー
タに基づいて平均化処理を行う平均化手段と、該平均化
手段から１９られる各画素についての平均化データと前
記メモリに格納されている各画素のオリジナルデータと
の差を求める引締手段とから成り、該差のデータを前記
表示手段へ送るＪ：うにしたことを特徴としＣいる。以
下、図面を用いて本発明を詳述する。
、 ＱＪ シた赤外線を検出器るカメラ部と、該１３１
９部から得られた赤外線映像信号を処理する処理部と、
該伝り処理部の出力に基づき前記被写体の温度分布を表
示する表示部とを備えたサーモグラフィ装置においＣ１
前記信号処理部は、赤外線映像１８号をデジタル変換し
て視野を構成する画素データとしＣ記憶Ｊるメモリと、
メモリに格納された各画素についてその隣接画素のデー
タに基づいて平均化処理を行う平均化手段と、該平均化
手段から１９られる各画素についての平均化データと前
記メモリに格納されている各画素のオリジナルデータと
の差を求める引締手段とから成り、該差のデータを前記
表示手段へ送るＪ：うにしたことを特徴としＣいる。以
下、図面を用いて本発明を詳述する。
第１図はオ（発明の一実施例の構成を示し、図において
１は赤外線検出器、２は該赤外線検出器の像スポット７
を視野内でラスタ走査するための走査光学系である。走
査に伴なって検出器から得られた赤外線映像信号は、リ
ニアライザ等を含む喚換回路３によって温度に対応する
温度信号に変換された後、Ａ−Ｄ変換器４を介して処理
部Ｎ５へ送られる。該処理装置５は、中央処理装置（Ｃ
ＰＵ）６と画像メモリ７．８．９から構成される。
１は赤外線検出器、２は該赤外線検出器の像スポット７
を視野内でラスタ走査するための走査光学系である。走
査に伴なって検出器から得られた赤外線映像信号は、リ
ニアライザ等を含む喚換回路３によって温度に対応する
温度信号に変換された後、Ａ−Ｄ変換器４を介して処理
部Ｎ５へ送られる。該処理装置５は、中央処理装置（Ｃ
ＰＵ）６と画像メモリ７．８．９から構成される。
表示用画像メモリ９には読み出し回路１０と表示装置１
１が接続され、テレビジョン速度で画像メモリ９内のデ
ータが読み出されて表示される。
１が接続され、テレビジョン速度で画像メモリ９内のデ
ータが読み出されて表示される。
上述の如き構成において、画像メモリ７．８゜９には例
えば第２図に示すように水平方向に２５６画素、垂直方
向に２４０ライン、そして深さ方向に適宜なビット数を
持つ記憶エリアが設定されており、検出器像を走査光学
系２によって水平及び垂直走査して得られた各画素の温
度データは、先ず最初に画像メモリ７の記憶エリア内の
対応する位置に格納される。ＣＰＬＩ６は、これをオリ
ジナルデータとし、以下に述べるような平均化処理を施
して平均化データを作成する。
えば第２図に示すように水平方向に２５６画素、垂直方
向に２４０ライン、そして深さ方向に適宜なビット数を
持つ記憶エリアが設定されており、検出器像を走査光学
系２によって水平及び垂直走査して得られた各画素の温
度データは、先ず最初に画像メモリ７の記憶エリア内の
対応する位置に格納される。ＣＰＬＩ６は、これをオリ
ジナルデータとし、以下に述べるような平均化処理を施
して平均化データを作成する。
この平均化処理とは、注目する画素の温度データをその
注目覆る画素に隣接づる画素の温度データの平均ｉＫ（
ぐ勾えようとするものであり、第３図におすｚ、黒丸Ｇ
１が注目画素、白丸がその周囲の画素とＪれば、ＣＰＬ
Ｉ６は注目画ＭＧ１に隣接する例えば破線の枠Ｗ１で囲
った範囲に含まれる画素（Ｇｌを含めても良いし含めな
くとも良い）の温度データを読み出し、その平均値を求
め、その平均１ｉｆｊを注目画素のデータとして画像メ
モリ８へ格納づる。そして、Ｇ１の隣の０２の場合には
、枠Ｗ２ぐ囲った範囲に含まれる画素の温度データの平
均値を求め、その平均値をＧ２のデータとして画像メモ
リ８へ格納する。このようにしてＣＰＵ６は、画面を構
成する全画素の温度データを、夫々の画素に隣接覆る画
素の温度データを平均することにより求め、求めた各画
素についての平均化データを画像メモリ８に格納づる。
注目覆る画素に隣接づる画素の温度データの平均ｉＫ（
ぐ勾えようとするものであり、第３図におすｚ、黒丸Ｇ
１が注目画素、白丸がその周囲の画素とＪれば、ＣＰＬ
Ｉ６は注目画ＭＧ１に隣接する例えば破線の枠Ｗ１で囲
った範囲に含まれる画素（Ｇｌを含めても良いし含めな
くとも良い）の温度データを読み出し、その平均値を求
め、その平均１ｉｆｊを注目画素のデータとして画像メ
モリ８へ格納づる。そして、Ｇ１の隣の０２の場合には
、枠Ｗ２ぐ囲った範囲に含まれる画素の温度データの平
均値を求め、その平均値をＧ２のデータとして画像メモ
リ８へ格納する。このようにしてＣＰＵ６は、画面を構
成する全画素の温度データを、夫々の画素に隣接覆る画
素の温度データを平均することにより求め、求めた各画
素についての平均化データを画像メモリ８に格納づる。
この画像メモリ８に格納された平均化データによって与
えられる画像は、被写体上の細かい温度変化が平均化に
より除去されるため、同じ位置の１ラインのデータにつ
いて、画像メモリ７に格納されているオリジナルの温度
データと比較覆ると、第４図のようになる。第４図（ａ
）は画像メモリ７に格納されているオリジナルのデータ
、（ｂ）は画像メモリ８に格納されている平均化された
データを夫々示し、（ｂ）には画面全体の大きな温度変
化が含まれているものの、局所的な微小温度変化は平均
化により除去されていることが分る。
えられる画像は、被写体上の細かい温度変化が平均化に
より除去されるため、同じ位置の１ラインのデータにつ
いて、画像メモリ７に格納されているオリジナルの温度
データと比較覆ると、第４図のようになる。第４図（ａ
）は画像メモリ７に格納されているオリジナルのデータ
、（ｂ）は画像メモリ８に格納されている平均化された
データを夫々示し、（ｂ）には画面全体の大きな温度変
化が含まれているものの、局所的な微小温度変化は平均
化により除去されていることが分る。
次にＣＰＬＪ６は、画像メモリ７と画像メモリ８に格納
されている２枚の画像゛の差を求め、求めた差のデータ
を画像メモリ９へ格納する。実際には、メモリ７．８か
ら順次同じ位置の画素の温度データを読み出し、その差
を求めてメモリ９の同じ位置に書込めば良い。このよう
にしてメモリ９に格納された差のデータによって表示装
置１１の画面に得られる画像は、第４図（ａ）と同図（
ｂ）の差を示す同図（Ｃ）から分るように、被写体上の
大きな温度変化が消され、微小温度変化のみが現われた
像となる。従って、被写体全面にわたって微小な温度変
化を分解能良く観察することが出来ると同時に、装置自
身の走査特性等により、均一温度の被写体を観測した時
に不均一なムラのある像が得られるような場合が仮にあ
っても、そのようなムラは極めてなだらかな変化である
から併せて除去される。
されている２枚の画像゛の差を求め、求めた差のデータ
を画像メモリ９へ格納する。実際には、メモリ７．８か
ら順次同じ位置の画素の温度データを読み出し、その差
を求めてメモリ９の同じ位置に書込めば良い。このよう
にしてメモリ９に格納された差のデータによって表示装
置１１の画面に得られる画像は、第４図（ａ）と同図（
ｂ）の差を示す同図（Ｃ）から分るように、被写体上の
大きな温度変化が消され、微小温度変化のみが現われた
像となる。従って、被写体全面にわたって微小な温度変
化を分解能良く観察することが出来ると同時に、装置自
身の走査特性等により、均一温度の被写体を観測した時
に不均一なムラのある像が得られるような場合が仮にあ
っても、そのようなムラは極めてなだらかな変化である
から併せて除去される。
尚、像の周縁部の画素は平均するべき隣接する画素数が
少なくなってしまうため、中央部に比べて大きな温度変
化がうまく除去されないが、通常被写体は画面の中央部
に配置されるので問題はない。
少なくなってしまうため、中央部に比べて大きな温度変
化がうまく除去されないが、通常被写体は画面の中央部
に配置されるので問題はない。
ところで、上述した平均値を求める演紳は、１画素につ
き上記例で２５個のデータの読出しとその２５個のデー
タの加算と１回の割算が必要であり、全画素について行
うと膨大な計算量となる。
き上記例で２５個のデータの読出しとその２５個のデー
タの加算と１回の割算が必要であり、全画素について行
うと膨大な計算量となる。
１画素につき１００個のデータの平均をとるような場合
には更に膨大となってしまう。そこで、その計算を短時
間で行う方法として例えば以下の方法が考えられる。画
像メモリ７の記憶エリア中第５図に示すようなうインｎ
に属する画素について平均化処理を行うとする時、その
ラインｎを挾むラインｎ−２、ライン０−１．ラインｎ
ｆ１ 、ラインｎ十２のデータも併せて読出し、それを
縦に即ち列毎に加算した２５６個のデータ（第５図にお
けるＣＯ〜Ｃ２５５）をレジスタに格納しておけば、そ
の内のＣＯ〜Ｃ４を加算して平均をとれば第５図に示す
画素（３ｎ２の平均化処理した値が得られ、次に１列ず
らしてＣ１から０５を加算して平均をとれば画素Ｇｎ３
の平均化処理した値が得られ、以下同様に１列ずつずら
して行けば、ラインｎに属する全画素の平均化処理した
値が得られる。そして、次にラインｎ＋１に属する画素
について平均化処理を行う時には、１行下のラインｎヤ
３に属する画素のデータを読出し、各列の加算値ＣＯ〜
Ｃ２５５に夫々加算すると共に、不要となるラインｎ−
２に属する画素のデータを各列の加算値から差引いて新
しい加算値を作成し、その新しい加算値ＣＯ〜Ｃ２５５
に基づいて同様にラインｎ＋１に属する画素の平均化処
理した値を求めれば良く、更に同様の処理を順次１行ず
つ下げて行けば、全画素について平均化処理したデータ
を得ることが出来る。この方法によれば、隣接する画素
をニー々指定して読出して平均値を求めるのに比べ読出
し回数及び加算回数を減少させることが出来、特に平均
値を求めるのに沢山の隣接する画素のデータを使用する
場合には右利である。
には更に膨大となってしまう。そこで、その計算を短時
間で行う方法として例えば以下の方法が考えられる。画
像メモリ７の記憶エリア中第５図に示すようなうインｎ
に属する画素について平均化処理を行うとする時、その
ラインｎを挾むラインｎ−２、ライン０−１．ラインｎ
ｆ１ 、ラインｎ十２のデータも併せて読出し、それを
縦に即ち列毎に加算した２５６個のデータ（第５図にお
けるＣＯ〜Ｃ２５５）をレジスタに格納しておけば、そ
の内のＣＯ〜Ｃ４を加算して平均をとれば第５図に示す
画素（３ｎ２の平均化処理した値が得られ、次に１列ず
らしてＣ１から０５を加算して平均をとれば画素Ｇｎ３
の平均化処理した値が得られ、以下同様に１列ずつずら
して行けば、ラインｎに属する全画素の平均化処理した
値が得られる。そして、次にラインｎ＋１に属する画素
について平均化処理を行う時には、１行下のラインｎヤ
３に属する画素のデータを読出し、各列の加算値ＣＯ〜
Ｃ２５５に夫々加算すると共に、不要となるラインｎ−
２に属する画素のデータを各列の加算値から差引いて新
しい加算値を作成し、その新しい加算値ＣＯ〜Ｃ２５５
に基づいて同様にラインｎ＋１に属する画素の平均化処
理した値を求めれば良く、更に同様の処理を順次１行ず
つ下げて行けば、全画素について平均化処理したデータ
を得ることが出来る。この方法によれば、隣接する画素
をニー々指定して読出して平均値を求めるのに比べ読出
し回数及び加算回数を減少させることが出来、特に平均
値を求めるのに沢山の隣接する画素のデータを使用する
場合には右利である。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図、第２図乃至
第４図はその動作を説明するための図、第５図は平均化
処理を？°ｆ、速化する方法を説明するだめの図である
。 １：赤外線検出器、２：走査光学系、 ３：変換回路、４：Ａ−Ｄ変換器、５：処理装置、（３
：ＣＰＵ、７，８．９：両像メモリ、１０：読出し回路
、１１：表示部首。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 イン＋ｇ −夫
第４図はその動作を説明するための図、第５図は平均化
処理を？°ｆ、速化する方法を説明するだめの図である
。 １：赤外線検出器、２：走査光学系、 ３：変換回路、４：Ａ−Ｄ変換器、５：処理装置、（３
：ＣＰＵ、７，８．９：両像メモリ、１０：読出し回路
、１１：表示部首。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 イン＋ｇ −夫
Claims (1)
- 被写体が成用した赤外線を検出するカメラ部と、該カメ
ラ部から１９られた赤外線映像信号を処理する処理部と
、該信号処理部の出力に基づき前記被写体の温度分布を
表示する表示部とを備えたサーモグラフィ装置において
、前記信号処理部は、赤外線映像信号をデジタル変換し
て視野を構成する画素データとして記憶するメモリと、
メモリに格納された各画素についてその隣接画素のデー
タに基づいて平均化処理を行う平均化手段と、該平均化
手段から得られる各画素についての平均化データと前記
メモリに格納されている各画素のオリジナルデータとの
差を求める引算手段とから成り、該差のデータを前記表
示手段へ送るようにしたサーモグラフィ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7542083A JPS59200930A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | サ−モグラフイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7542083A JPS59200930A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | サ−モグラフイ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59200930A true JPS59200930A (ja) | 1984-11-14 |
| JPH0224453B2 JPH0224453B2 (ja) | 1990-05-29 |
Family
ID=13575676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7542083A Granted JPS59200930A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | サ−モグラフイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59200930A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011179897A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | Fujitsu Ltd | 画像処理装置、及び画像処理プログラム |
| CN111366245A (zh) * | 2020-03-12 | 2020-07-03 | 深圳达温技术服务有限公司 | 提升红外测温对异常发热检出能力的方法 |
-
1983
- 1983-04-28 JP JP7542083A patent/JPS59200930A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011179897A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | Fujitsu Ltd | 画像処理装置、及び画像処理プログラム |
| CN111366245A (zh) * | 2020-03-12 | 2020-07-03 | 深圳达温技术服务有限公司 | 提升红外测温对异常发热检出能力的方法 |
| CN111366245B (zh) * | 2020-03-12 | 2023-08-11 | 深圳达温技术服务有限公司 | 提升红外测温对异常发热检出能力的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0224453B2 (ja) | 1990-05-29 |
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