JPS5919660B2 - 交換システム試験方式 - Google Patents
交換システム試験方式Info
- Publication number
- JPS5919660B2 JPS5919660B2 JP11031378A JP11031378A JPS5919660B2 JP S5919660 B2 JPS5919660 B2 JP S5919660B2 JP 11031378 A JP11031378 A JP 11031378A JP 11031378 A JP11031378 A JP 11031378A JP S5919660 B2 JPS5919660 B2 JP S5919660B2
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- Japan
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- test
- switching
- equipment
- trunk
- testing
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- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、交換システム試験方式、特に交換装置と独立
に試験装置をもうけ、交換装置と試験装置とを通常の交
換局局間信号シーケンスでインタフェースをとヤながら
接続することによつて、交換装置内に試験制御機能を内
蔵することをさける ・と共に一般の交換動作によつて
交換装置を試験するようにした交換システム試験方式に
関するものである。
に試験装置をもうけ、交換装置と試験装置とを通常の交
換局局間信号シーケンスでインタフェースをとヤながら
接続することによつて、交換装置内に試験制御機能を内
蔵することをさける ・と共に一般の交換動作によつて
交換装置を試験するようにした交換システム試験方式に
関するものである。
従来交換システムにおいて回線またはトランクの試験を
行なう場合、交換装置内にいわゆる一般の交換動作を行
なう制御機能ど試験制御機能との両者を内蔵し、単一の
制御装置が両者の制御を行なうようにされα柘。
行なう場合、交換装置内にいわゆる一般の交換動作を行
なう制御機能ど試験制御機能との両者を内蔵し、単一の
制御装置が両者の制御を行なうようにされα柘。
しかし、この方式の場合、各交換装置毎に試験制御機能
を内蔵する必要が生ずる。本発明は上記の点を改善する
ことを目的としており、本発明の交換システム試験方式
は交換装置を含む交換システムを試験する交換システム
試験方式において、交換装置と独立に試験トランクと試
験制御機能を有する制御装置とをそなえた試験装置をも
うけ、上記試験トランクと上記交換装置とを通話路を介
して接続すると共に、上記制御装置と上記交換装置の中
央制御装置との間をプロセッサ・バスまたはデータ・チ
ャネルを介して接続し、上記試験時に上記試験装置は試
験対象となる装置に対し、試験前後処理としての閉塞解
除を含む装置制御情報を上記プロセッサ・バスまたはデ
ータ・チヤネルを介して行ない、試験開始要求や終丁要
求を含む試験処理情報は、上記試験トランクと上記交換
装置との間の通話路を介して通常の交換局局間信号シー
ケンスでインタフエースをとりながら行ない、上記交換
装置は上記試験装置を独立局とみなして交換処理を行な
いながら、上記試験装置を用いて交換システムを試験す
るようにしたことを特徴としている。以下図面を参照し
つつ説明する。第１図は従来公知の試験方式の一例を説
明する説明図、第２図は本発明の試験方式の一実施例。
を内蔵する必要が生ずる。本発明は上記の点を改善する
ことを目的としており、本発明の交換システム試験方式
は交換装置を含む交換システムを試験する交換システム
試験方式において、交換装置と独立に試験トランクと試
験制御機能を有する制御装置とをそなえた試験装置をも
うけ、上記試験トランクと上記交換装置とを通話路を介
して接続すると共に、上記制御装置と上記交換装置の中
央制御装置との間をプロセッサ・バスまたはデータ・チ
ャネルを介して接続し、上記試験時に上記試験装置は試
験対象となる装置に対し、試験前後処理としての閉塞解
除を含む装置制御情報を上記プロセッサ・バスまたはデ
ータ・チヤネルを介して行ない、試験開始要求や終丁要
求を含む試験処理情報は、上記試験トランクと上記交換
装置との間の通話路を介して通常の交換局局間信号シー
ケンスでインタフエースをとりながら行ない、上記交換
装置は上記試験装置を独立局とみなして交換処理を行な
いながら、上記試験装置を用いて交換システムを試験す
るようにしたことを特徴としている。以下図面を参照し
つつ説明する。第１図は従来公知の試験方式の一例を説
明する説明図、第２図は本発明の試験方式の一実施例。
第３図は第１図に示す方式における試験手順を説明する
説明図、第４図は本発明の試験方式における一実施例試
験手順を説明する説明図、第５図は本発明の試験方式の
他の一実施例を示す。第１図において、１−０，１−１
は夫々交換局、２−０，２−１は夫々交換装置、３−０
，３−１は夫々交換スイツチ網、４−０，４−１は夫々
中央制御装置、５−０，５−１は夫々試験装置、６は入
トランク、７は出トランクを表わしている。
説明図、第４図は本発明の試験方式における一実施例試
験手順を説明する説明図、第５図は本発明の試験方式の
他の一実施例を示す。第１図において、１−０，１−１
は夫々交換局、２−０，２−１は夫々交換装置、３−０
，３−１は夫々交換スイツチ網、４−０，４−１は夫々
中央制御装置、５−０，５−１は夫々試験装置、６は入
トランク、７は出トランクを表わしている。
従来公知の試験方式の場合、各交換装置２−１の中央制
御装置４−１の機能として、一般の交換動作を行なう制
御機能と試験制御機能との両者をもたせるようにしてい
る。そして、例えば第３図Ｂに示す如き手順によつて入
トランク６の正常性確認試験、が行なわれる。なお第３
図Ｂ中。印は一般交換動作に対応し、◎印は試験動作に
対応している。即ち、（１）相手局（前位局）側から後
位局（自局）を起動する。
御装置４−１の機能として、一般の交換動作を行なう制
御機能と試験制御機能との両者をもたせるようにしてい
る。そして、例えば第３図Ｂに示す如き手順によつて入
トランク６の正常性確認試験、が行なわれる。なお第３
図Ｂ中。印は一般交換動作に対応し、◎印は試験動作に
対応している。即ち、（１）相手局（前位局）側から後
位局（自局）を起動する。
自局（後位局）側では入トランクＩＣＴのＳＲ線によつ
て上記起動を受信する。（２）相手局側から数字送出を
行ない、ダイヤル信号の形で自局側に送信される。
て上記起動を受信する。（２）相手局側から数字送出を
行ない、ダイヤル信号の形で自局側に送信される。
（３）自局側で数字分析を行ない
（４）試験装置ＡＡＴを捕捉し接続する。
即ち試験装置ＡＡＴ５−０と入トランクＩＣＴ６とを接
続する。（５）そして試験装置ＡＡＴ５−０からリング
・バツク・トーン（ＲＢＴ音）を送出し、相手局側で該
トーンを例えば試験装置ＡＡＴ５−１に接続したイヤホ
ーンによつて確認する。
続する。（５）そして試験装置ＡＡＴ５−０からリング
・バツク・トーン（ＲＢＴ音）を送出し、相手局側で該
トーンを例えば試験装置ＡＡＴ５−１に接続したイヤホ
ーンによつて確認する。
（６） 一方リング・バック・トーンを１０秒間送出す
るようセツ，し、次いでリング・バツク・トーンの送出
を停止する。
るようセツ，し、次いでリング・バツク・トーンの送出
を停止する。
（７）次いで入トランク６のＳＳ線をオフすることによ
つて応答信号を送出する。
つて応答信号を送出する。
該応答信号は、相手局側で出トランク７のＳＲ線によつ
て受信される。（８）そしてダイヤル・トーン（ＤＴ音
）が送出され、相手局側で確認される。
て受信される。（８）そしてダイヤル・トーン（ＤＴ音
）が送出され、相手局側で確認される。
（９）以後自局側から課金パルスが送出され、相手局側
で計数される。
で計数される。
（至）次いで相手局側から出トランクＲｆ）Ｓｓ線をオ
ンすることによつて自局側に対して切断信号を送出し、
自局側では入トランク６のＳＲ線によつて上記切断信号
を受信する。
ンすることによつて自局側に対して切断信号を送出し、
自局側では入トランク６のＳＲ線によつて上記切断信号
を受信する。
（自）・ これにより、自局側では課金パルスを停止し
、（代）ダイヤル・トーン（ＤＴ音）を断し、リンクを
解放する。
、（代）ダイヤル・トーン（ＤＴ音）を断し、リンクを
解放する。
従来上記の如き処理によつて、入トランク６の正常性確
認試験が行なわれるが、各交換装置に夫夫試験制御機能
を内蔵させることが必要となる。
認試験が行なわれるが、各交換装置に夫夫試験制御機能
を内蔵させることが必要となる。
第２図は本発明の試験方式の一実施例を示しており、図
中の符号１−０，１−１，２−０，２一１，３−０，３
−１，４−０，４−１，５−０，５−１，６，７は第１
図に対応し、８，９は夫々出トランク、１０，１１は夫
々入トランク、１２一０，１２：１は夫々試験トランク
、１３−０，１３−１は夫々試験装置制御装置、１４−
０，１４−１は通信手段を表わしている。本発明の場合
、交換装置２−１と試験装置５一ｉとの間は通話路を介
して局間インタフエーズで接続される。
中の符号１−０，１−１，２−０，２一１，３−０，３
−１，４−０，４−１，５−０，５−１，６，７は第１
図に対応し、８，９は夫々出トランク、１０，１１は夫
々入トランク、１２一０，１２：１は夫々試験トランク
、１３−０，１３−１は夫々試験装置制御装置、１４−
０，１４−１は通信手段を表わしている。本発明の場合
、交換装置２−１と試験装置５一ｉとの間は通話路を介
して局間インタフエーズで接続される。
また交換装置２−ｊの中央制御装置４−１と試験装置５
−１の制御装置１３−１との間における情報転送に当つ
ては、プロセツサ・バスまたはデータ・チヤネルなどの
通信手段１４一ｉによつて行なわれる。そして、交換装
置２−１はあたかも上記試験装置を独立局とみなすよう
にする。これによつて、試験装置例えば５−１からの試
験開始要求や終了要求は、自局１−０側においてはあた
かも相手局からの呼の起動や呼の終了とみなされる。
−１の制御装置１３−１との間における情報転送に当つ
ては、プロセツサ・バスまたはデータ・チヤネルなどの
通信手段１４一ｉによつて行なわれる。そして、交換装
置２−１はあたかも上記試験装置を独立局とみなすよう
にする。これによつて、試験装置例えば５−１からの試
験開始要求や終了要求は、自局１−０側においてはあた
かも相手局からの呼の起動や呼の終了とみなされる。
そして交換装置２−０は一般の交換動作によつて試験対
象となる入トランク６や回線を組込むことが可能となる
。また試験装置側では、−連の交換動作シーケンスを擬
似し、試験対象となる入トランク６や回線の試験組み入
れを交換装置２−０に行なわせることによつて、試験組
み入れに至るまでの上記試験対象における動作の正常性
を確認することができる。そして、組入れの後に、両者
試験装置５−０と５−１とによ虱交換装置２−０や２−
１の交換動作と関係なく回線試験，などを行なうことが
できる。なお、上言Ｃ通信手段１４−１によつて転送さ
れる情報は、次の如きものと考えてよい。即ち、試験装
置５−１は試験対象となる装置に対して試験前後処理と
して装置の閉塞や閉塞解除などを行なうが、これらのた
めの情報と考えてよい。第４図は本発明の試験方式にお
ける一実施例試験手段を説明している。
象となる入トランク６や回線を組込むことが可能となる
。また試験装置側では、−連の交換動作シーケンスを擬
似し、試験対象となる入トランク６や回線の試験組み入
れを交換装置２−０に行なわせることによつて、試験組
み入れに至るまでの上記試験対象における動作の正常性
を確認することができる。そして、組入れの後に、両者
試験装置５−０と５−１とによ虱交換装置２−０や２−
１の交換動作と関係なく回線試験，などを行なうことが
できる。なお、上言Ｃ通信手段１４−１によつて転送さ
れる情報は、次の如きものと考えてよい。即ち、試験装
置５−１は試験対象となる装置に対して試験前後処理と
して装置の閉塞や閉塞解除などを行なうが、これらのた
めの情報と考えてよい。第４図は本発明の試験方式にお
ける一実施例試験手段を説明している。
即ち、例えば相手局側からの起動に対応して、交換装置
２−０は、試験装置５−０に対する出トランク８を決定
し、試験装置５−０を起動する。そして試験装置５−０
は、試験トランクＡＡＴを接続して該試験トランクＡＡ
Ｔから第３図図示の場合と同様にリング・バツク・トー
ン（ＲＢＴ音）を送出する。即ち、（自）自局１−０は
前位局からの起動を入トランク６のＳＲ線によつて受信
し、（１４）ダイヤル情報を受信し数字分析を行ない、
（自）試験装置５−０に対する出ルートとして出トラン
ク８を決定し、（自）出トランク８のＳＳ線をオフして
試験装置５一０に起動をかける。
２−０は、試験装置５−０に対する出トランク８を決定
し、試験装置５−０を起動する。そして試験装置５−０
は、試験トランクＡＡＴを接続して該試験トランクＡＡ
Ｔから第３図図示の場合と同様にリング・バツク・トー
ン（ＲＢＴ音）を送出する。即ち、（自）自局１−０は
前位局からの起動を入トランク６のＳＲ線によつて受信
し、（１４）ダイヤル情報を受信し数字分析を行ない、
（自）試験装置５−０に対する出ルートとして出トラン
ク８を決定し、（自）出トランク８のＳＳ線をオフして
試験装置５一０に起動をかける。
試験装置５−０では入トランク１０のＳＲ線によつて上
記起動を受信する。０？）そして試験装置５−０は、数
字分析を行ない、試験トランクＡＡＴを接続する。
記起動を受信する。０？）そして試験装置５−０は、数
字分析を行ない、試験トランクＡＡＴを接続する。
（自）これにより試験トランクＡＡＴからリング・バツ
ク・トーン（ＲＢＴ音）を送出し、相手局１−１側で確
認する。
ク・トーン（ＲＢＴ音）を送出し、相手局１−１側で確
認する。
（自） リング・バツク・トーン（ＲＢＴ音）は例えば
１０秒間一出される。
１０秒間一出される。
そして、リング・バック・トーンの送出を停止し、入ト
ランク１０のＳＳ線をオフして応答信号を送出する。（
１）交換装置２−０は、出トランク８のＳＲ線によつて
上記応答信号を受信し、入トランク６のＳＳ線をオフし
て該応答信号を相手局１−１側に送出する。
ランク１０のＳＳ線をオフして応答信号を送出する。（
１）交換装置２−０は、出トランク８のＳＲ線によつて
上記応答信号を受信し、入トランク６のＳＳ線をオフし
て該応答信号を相手局１−１側に送出する。
（２１）そして相手局１−１側に課金パルスを送出す（
２２）試験装置５−０はダイヤル・トーン（ＤＴ音）を
送出し、相手局１−１側で確認する。
２２）試験装置５−０はダイヤル・トーン（ＤＴ音）を
送出し、相手局１−１側で確認する。
（２３）相手局１−１側で、出トランク７のＳＳ線をオ
ンすることによつて切断信号を送出すると、該切断信号
は交換装置２−０において入トランク６のＳＲ線によつ
て検出される。
ンすることによつて切断信号を送出すると、該切断信号
は交換装置２−０において入トランク６のＳＲ線によつ
て検出される。
３）交換装置２−０は、課金パルスを停止すると共に、
出トランク８のＳＳ線をオンすることによつて切断信号
を試験装置５−０に送出する。
出トランク８のＳＳ線をオンすることによつて切断信号
を試験装置５−０に送出する。
そして解放される。Ｃ２５）試験装置５−０は、入トラ
ンク１０のＳＲ線によつて上記切断信号を受信し、ダイ
ヤル・トーン（ＤＴ音）を断し、解放される。
ンク１０のＳＲ線によつて上記切断信号を受信し、ダイ
ヤル・トーン（ＤＴ音）を断し、解放される。
第５図は本発明の他の一実施例を示して（・る。
図中の符号２は交換装置（又は交換局）、４は中央制御
装置、５は試験装置、１３は制御装置、１４は通信手段
を表わしている。上述の如く、本発明の場合、各交換装
置２は，一般の交換動作を行なう制御機能のみをもてば
足りる。
装置、５は試験装置、１３は制御装置、１４は通信手段
を表わしている。上述の如く、本発明の場合、各交換装
置２は，一般の交換動作を行なう制御機能のみをもてば
足りる。
第５図図示の実施例の場合、上記の点に着目して試験装
置５を集中化し、１つまたは複数の交換装置２を経由せ
しめて試験を行なうようにしている。このとき、Ｇうま
でもなく、試験装置５の制御装置１３と各交換装置の中
央制御装置４との間で通信手段１４を介して情報転送を
行なうようにされる。以上説明した如く、本発明によれ
ば各交換装置には一般の交換動作を行なう制御機能をも
つだけで足シる。
置５を集中化し、１つまたは複数の交換装置２を経由せ
しめて試験を行なうようにしている。このとき、Ｇうま
でもなく、試験装置５の制御装置１３と各交換装置の中
央制御装置４との間で通信手段１４を介して情報転送を
行なうようにされる。以上説明した如く、本発明によれ
ば各交換装置には一般の交換動作を行なう制御機能をも
つだけで足シる。
このとき、あわせて試験組み入れに至るまでの動作の正
常性などを確認することが可能となる。
常性などを確認することが可能となる。
第１図は従来公知の試験方式の一例を説明する説明図、
第２図は本発明の試験方式の一実施例、第３図は第１図
に示す方式における試験手順を説明する説明図、第４図
は本発明の試験方式における一実施例試験手順を説明す
る説明図、第５図は本発明の試験方式の他の一実施例を
示す。 図中１−０，１−１は夫々交換局、２−０，２一１は夫
々交換装置、４−０，４−１は夫々中央制御装置、５−
０，５−１は夫ｋ試験装置を表わす。
第２図は本発明の試験方式の一実施例、第３図は第１図
に示す方式における試験手順を説明する説明図、第４図
は本発明の試験方式における一実施例試験手順を説明す
る説明図、第５図は本発明の試験方式の他の一実施例を
示す。 図中１−０，１−１は夫々交換局、２−０，２一１は夫
々交換装置、４−０，４−１は夫々中央制御装置、５−
０，５−１は夫ｋ試験装置を表わす。
Claims (1)
- １ 交換装置を含む交換システムを試験する交換システ
ム試験方式において、交換装置と独立に試験トランクと
試験制御機能を有する制御装置とをそなえた試験装置を
もうけ、上記試験トランクと上記交換装置とを通話路を
介して接続すると共に、上記制御装置と上記交換装置の
中央制御装置との間をプロセッサ・バスまたはデータ・
チャネルを介して接続し、上記試験時に上記試験装置は
試験対象となる装置に対し、試験前後処理としての閉塞
解除を含む装置制御情報を上記プロセッサ・バスまたは
データ・チャネルを介して行ない、試験開始要求や終了
要求を含む試験処理情報は、上記試験トランクと上記交
換装置との間の通話路を介して通常の交換局局間信号シ
ーケンスでインタフェースをとりながら行ない、上記交
換装置は上記試験装置を独立局とみなして交換処理を行
ないながら、上記試験装置を用いて交換システムを試験
するようにしたことを特徴とする交換システム試験方式
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11031378A JPS5919660B2 (ja) | 1978-09-08 | 1978-09-08 | 交換システム試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11031378A JPS5919660B2 (ja) | 1978-09-08 | 1978-09-08 | 交換システム試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5537060A JPS5537060A (en) | 1980-03-14 |
| JPS5919660B2 true JPS5919660B2 (ja) | 1984-05-08 |
Family
ID=14532535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11031378A Expired JPS5919660B2 (ja) | 1978-09-08 | 1978-09-08 | 交換システム試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919660B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6197454U (ja) * | 1984-11-27 | 1986-06-23 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007087676A (ja) | 2005-09-21 | 2007-04-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 電界放出型電子銃およびそれを用いた電子ビーム装置 |
-
1978
- 1978-09-08 JP JP11031378A patent/JPS5919660B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6197454U (ja) * | 1984-11-27 | 1986-06-23 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5537060A (en) | 1980-03-14 |
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