JPS59184871A - 電子部品の負荷試験装置 - Google Patents
電子部品の負荷試験装置Info
- Publication number
- JPS59184871A JPS59184871A JP58058757A JP5875783A JPS59184871A JP S59184871 A JPS59184871 A JP S59184871A JP 58058757 A JP58058757 A JP 58058757A JP 5875783 A JP5875783 A JP 5875783A JP S59184871 A JPS59184871 A JP S59184871A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic parts
- high temperature
- tank
- shelf
- load test
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は多量の電子部品の高温雰囲気中における長時間
の負荷試験を効率よ(遂行し且つ試験設備占有面積の縮
小化を実現したものである。
の負荷試験を効率よ(遂行し且つ試験設備占有面積の縮
小化を実現したものである。
iJr年、マイクロコンピュータが工場から家庭まで広
く普及し、マイクロコンピュータに組込まれる電子部品
の信頼性が強く要求され、従ってマイクロコンピュータ
に組込む前に充分な検査と負荷試験とを行うことが不可
欠であり、しかも、コンピュータの使用環境は千差万別
であるので、負イEj試験も高温雰囲気中において数時
間から数十時間の長時間に亘り連続して行わねばならな
い。
く普及し、マイクロコンピュータに組込まれる電子部品
の信頼性が強く要求され、従ってマイクロコンピュータ
に組込む前に充分な検査と負荷試験とを行うことが不可
欠であり、しかも、コンピュータの使用環境は千差万別
であるので、負イEj試験も高温雰囲気中において数時
間から数十時間の長時間に亘り連続して行わねばならな
い。
しかし、従来の負荷試験装置は次に列記する如き多くの
欠点を有している。
欠点を有している。
(1)パンチ式負荷試験装置
電子部品、例えばプリント配線盤をマガジンランク内に
挿入し、40℃程度の負荷試験高温室内で作業者が手作
業又は補助具を使用してパッチ式で固定棚に載置し、プ
リント配線盤に一定時間通電して負荷試験を実施してい
た。
挿入し、40℃程度の負荷試験高温室内で作業者が手作
業又は補助具を使用してパッチ式で固定棚に載置し、プ
リント配線盤に一定時間通電して負荷試験を実施してい
た。
このような試験装置では作業者の作業環境を悪化させな
いために室温を高めることができず、また長時間の負荷
試験は作業者の健康を損ね、しかもハツチ式で高温室内
に電子部品を1般入、搬出するため大量の電子部品を迅
速に処理することができない欠点を有している。
いために室温を高めることができず、また長時間の負荷
試験は作業者の健康を損ね、しかもハツチ式で高温室内
に電子部品を1般入、搬出するため大量の電子部品を迅
速に処理することができない欠点を有している。
(2)固定棚式負荷試験装置
高温室内に固定棚を設置し、スタノカクレ−ンで電子部
品を挿入したマガジンラ・ツクをlid人、搬出させる
ものであって、マガジンの棚への移載時に、マガジンラ
ンクと棚との間の給電のオン−オフ操作が必要であり、
またスクソカクレーンが高温室内で稼動するので機器の
高温による信頼度の低下及び機器保守管理の悪化を来し
、更にマガジンがある棚とない棚との分布に不均衡状態
が生しると、高温空気の還流状態に差異を生し、恒温室
内を均一の温度にすることが困難となり、電子部品のす
べてを均等な温度条件下で負荷試験することができない
という欠点を有している。
品を挿入したマガジンラ・ツクをlid人、搬出させる
ものであって、マガジンの棚への移載時に、マガジンラ
ンクと棚との間の給電のオン−オフ操作が必要であり、
またスクソカクレーンが高温室内で稼動するので機器の
高温による信頼度の低下及び機器保守管理の悪化を来し
、更にマガジンがある棚とない棚との分布に不均衡状態
が生しると、高温空気の還流状態に差異を生し、恒温室
内を均一の温度にすることが困難となり、電子部品のす
べてを均等な温度条件下で負荷試験することができない
という欠点を有している。
そこで、本発明は上記従来の負荷試験装置の欠点を除去
したもので、以下図面について説明すると、 第1図は本発明の一部断面による斜視図であって、電子
部品を高温下において長時間に亘り負荷試験を行う高温
槽1内には水平無端状の」二部案内レール2が、高温槽
外には下部案内レール2′が夫々同心に配設され、これ
らの案内し一部2及び2′上を転動する車輪3を有する
竪型の棚枠4を多列に配置して、各棚枠4を互いにチェ
ーン等により連動連結し、前記高温槽1外に位置する棚
枠4の下端下面に垂設した駆動ピン5を駆動スプロケッ
ト6 (第4図参照)に噛合させて水平無端状に各棚枠
4を連動回転させる。
したもので、以下図面について説明すると、 第1図は本発明の一部断面による斜視図であって、電子
部品を高温下において長時間に亘り負荷試験を行う高温
槽1内には水平無端状の」二部案内レール2が、高温槽
外には下部案内レール2′が夫々同心に配設され、これ
らの案内し一部2及び2′上を転動する車輪3を有する
竪型の棚枠4を多列に配置して、各棚枠4を互いにチェ
ーン等により連動連結し、前記高温槽1外に位置する棚
枠4の下端下面に垂設した駆動ピン5を駆動スプロケッ
ト6 (第4図参照)に噛合させて水平無端状に各棚枠
4を連動回転させる。
各棚枠4には多数の電子部品を挿入したマガジンラック
7を載置するフォーク状の棚8を多段に設け、各欄8に
はマガジンラック7に挿入されている多数の電子部品に
直流電流を通電する給電用接触子9が設けられると共に
、各欄8の背面には通気窓10が設けられている。
7を載置するフォーク状の棚8を多段に設け、各欄8に
はマガジンラック7に挿入されている多数の電子部品に
直流電流を通電する給電用接触子9が設けられると共に
、各欄8の背面には通気窓10が設けられている。
高温槽1及び案内レール2.2′は床面上に立設した複
数の支柱11及び12によって支持され、高温槽1の底
板外側下面には交流電源に接続された交流電流の給電レ
ール13が棚枠4の水平回転経路に沿って取付4ノられ
、夫々の棚枠4の高温槽1外に位置する部分には前記給
電レール13に摺接移動する集電トロリー14を有する
整流器15を搭載し、該整流器15により交流より直流
に変換された直流電流は前記夫々の棚8に設けられた給
電接触子9に給電される。
数の支柱11及び12によって支持され、高温槽1の底
板外側下面には交流電源に接続された交流電流の給電レ
ール13が棚枠4の水平回転経路に沿って取付4ノられ
、夫々の棚枠4の高温槽1外に位置する部分には前記給
電レール13に摺接移動する集電トロリー14を有する
整流器15を搭載し、該整流器15により交流より直流
に変換された直流電流は前記夫々の棚8に設けられた給
電接触子9に給電される。
高温槽j向上部には熱交換装置、還流装置を含む空調設
備16が収納され、高温槽1内の温度の均一化と恒温化
をばかっている。
備16が収納され、高温槽1内の温度の均一化と恒温化
をばかっている。
また、定置されている高温槽1と高温槽1内を水平無端
循環している多数の棚3を取付けた棚枠4との間に生ず
る遊隙17には第4図に示ず如く、棚枠4の高温槽内の
該遊隙17近傍に遮熱板18を設け、高温槽1内の該遊
隙17近傍に該遮熱板18に摺接するシール部材19と
該遮熱板18の両側面を抱える覆板20を設けて高温槽
1内に外熱が侵入して高温槽内の温度の均一化と恒温化
に支障を与えないように配慮され、その他、伝動熱によ
り高温槽1内の温度に影響を与えるおそれのある部材、
例えば棚枠4及び支柱11.12等には断熱材21を介
装又は被覆する。
循環している多数の棚3を取付けた棚枠4との間に生ず
る遊隙17には第4図に示ず如く、棚枠4の高温槽内の
該遊隙17近傍に遮熱板18を設け、高温槽1内の該遊
隙17近傍に該遮熱板18に摺接するシール部材19と
該遮熱板18の両側面を抱える覆板20を設けて高温槽
1内に外熱が侵入して高温槽内の温度の均一化と恒温化
に支障を与えないように配慮され、その他、伝動熱によ
り高温槽1内の温度に影響を与えるおそれのある部材、
例えば棚枠4及び支柱11.12等には断熱材21を介
装又は被覆する。
このようにして、高温槽1内温度の外熱による影響を排
除して槽内温度の均一化と恒温化を徹底する。
除して槽内温度の均一化と恒温化を徹底する。
そして5、高温槽1内の棚8にマガジンラック7を供給
し又は負荷試験終了後のマガジンラ・ツク7を取出すた
めに、高温槽1に付設した移載室22に開口したマガジ
ンラック7の供給及び取出し口にも必要時に開口し常時
は閉鎖している開閉扉(図示せず)が設けられ、厳密な
温度管理が高温槽内においてなされている。
し又は負荷試験終了後のマガジンラ・ツク7を取出すた
めに、高温槽1に付設した移載室22に開口したマガジ
ンラック7の供給及び取出し口にも必要時に開口し常時
は閉鎖している開閉扉(図示せず)が設けられ、厳密な
温度管理が高温槽内においてなされている。
マガジンラック7の高温槽1内への供給及び該槽外への
取出しは、例えば第1図に示すマガジンラック移載手段
によって行われる。
取出しは、例えば第1図に示すマガジンラック移載手段
によって行われる。
即ち、電子部品、例えば挿入位置イで複数の□
コンピュータ用プリント基板をマガジンラ、り7内に挿
入してコンヘヤC上を待機位置口まで矢印方向に搬送し
、空の棚4が移載室22に面する移載位置に到着すると
、公知の検出信号により待機位置口にあるマガジンラッ
クか移載室22の開閉扉位置ハに搬送されると同時に、
開閉扉が開き、移載室22内に設置した移載りフタ−2
3が最下位置に待機しているので、該移載リフター23
上に送り込まれ、開閉扉は閉止する。
入してコンヘヤC上を待機位置口まで矢印方向に搬送し
、空の棚4が移載室22に面する移載位置に到着すると
、公知の検出信号により待機位置口にあるマガジンラッ
クか移載室22の開閉扉位置ハに搬送されると同時に、
開閉扉が開き、移載室22内に設置した移載りフタ−2
3が最下位置に待機しているので、該移載リフター23
上に送り込まれ、開閉扉は閉止する。
マガジンラック7を搭載した移載りフタ−23は上昇し
て空の棚にマガジンラック7を移載し、再び下降して最
下位置に待機し、開閉扉の開放に伴って前記同様の動作
を行い、順次、空の棚にマガジンラック7を移載する。
て空の棚にマガジンラック7を移載し、再び下降して最
下位置に待機し、開閉扉の開放に伴って前記同様の動作
を行い、順次、空の棚にマガジンラック7を移載する。
空の棚に移載されたマガジンラ、り7は既述した如く、
給電用接触子9に接触し、マガジンラック内の複数の電
子部品に同時に直流電流を通電する。
給電用接触子9に接触し、マガジンラック内の複数の電
子部品に同時に直流電流を通電する。
また、高温槽1内を水平に無端廻動して負荷試験を完了
した電子部品を挿入されているマガジンラック7が移載
室22の移載位置に到着すると、前述したマガジンラ・
7り供給移載操作と逆の順序で移載室の開閉扉外にマガ
ジンラックを取出し、検査ステーションT l ”V
aの検査位置二又はホにおいて検査を行い、再び挿入位
置イにおいてマガジンラック7内から負荷試験高温槽の
電子部品を取出し、新たな電子部品をマガジンランク内
に挿入する。
した電子部品を挿入されているマガジンラック7が移載
室22の移載位置に到着すると、前述したマガジンラ・
7り供給移載操作と逆の順序で移載室の開閉扉外にマガ
ジンラックを取出し、検査ステーションT l ”V
aの検査位置二又はホにおいて検査を行い、再び挿入位
置イにおいてマガジンラック7内から負荷試験高温槽の
電子部品を取出し、新たな電子部品をマガジンランク内
に挿入する。
上記実施例における棚は1つの棚枠に多段に複数の棚が
取付けられているが、1つの棚枠に1つの棚を取付けて
も差支えなく、また複数の棚枠を上下方向に多層に配設
し、夫々の層の棚枠を独立して同方向又は互に正逆方向
に水平回動することも本発明の実施例に含まれる。
取付けられているが、1つの棚枠に1つの棚を取付けて
も差支えなく、また複数の棚枠を上下方向に多層に配設
し、夫々の層の棚枠を独立して同方向又は互に正逆方向
に水平回動することも本発明の実施例に含まれる。
従って、高温槽1内へのマガジンランクの供給及び取出
しは、移載室の開口に設けた熱遮断扉の開閉操作により
高温槽内の温度の恒常化及び均等化に支障を与えないよ
うにして遂行され、しかも多数の棚上に通電状態で載置
された多数の電子部品は、高温槽内の空調設備16によ
り還流される高温空気が各欄の通気窓1oより循環して
均等に加熱され、且っ棚枠4と高温槽1の底板とは、シ
ール部材19等により外熱の侵入を防止されると共に外
部よりの熱伝導を遮断するため断熱材21等を用いて高
温槽内の恒温化がはかられる中で無端i盾環することに
より、長時間の高温下での通電負荷試験を均一に施され
る。
しは、移載室の開口に設けた熱遮断扉の開閉操作により
高温槽内の温度の恒常化及び均等化に支障を与えないよ
うにして遂行され、しかも多数の棚上に通電状態で載置
された多数の電子部品は、高温槽内の空調設備16によ
り還流される高温空気が各欄の通気窓1oより循環して
均等に加熱され、且っ棚枠4と高温槽1の底板とは、シ
ール部材19等により外熱の侵入を防止されると共に外
部よりの熱伝導を遮断するため断熱材21等を用いて高
温槽内の恒温化がはかられる中で無端i盾環することに
より、長時間の高温下での通電負荷試験を均一に施され
る。
本発明は上述の如き構成を有するから、電子部品の負荷
試験を行う高温槽内は外部よりの熱的悪影響を受けるこ
となく、しかも高温槽内の温度分布は均一であって温度
変化もなく高温状態を維持し、また棚群を水平無端循環
させることにより各欄に載置された電子部品に対する受
感温度の均一化を一層増大させるので熱管理が容易であ
ると共に、狭い空間で多量の電子部品を長時間に亘って
微速搬送の状態において負荷試験することができるので
、温度環境に対して弱いとされていたコンピュータも、
それに組込まれる電子部品を長時間に亘り高温下で効率
的に負荷試験を行うことが本発明により可能となり、コ
ンピュータ機器の信頼性が増大し、その効果は若人であ
る。
試験を行う高温槽内は外部よりの熱的悪影響を受けるこ
となく、しかも高温槽内の温度分布は均一であって温度
変化もなく高温状態を維持し、また棚群を水平無端循環
させることにより各欄に載置された電子部品に対する受
感温度の均一化を一層増大させるので熱管理が容易であ
ると共に、狭い空間で多量の電子部品を長時間に亘って
微速搬送の状態において負荷試験することができるので
、温度環境に対して弱いとされていたコンピュータも、
それに組込まれる電子部品を長時間に亘り高温下で効率
的に負荷試験を行うことが本発明により可能となり、コ
ンピュータ機器の信頼性が増大し、その効果は若人であ
る。
4 図面の’Fi?i +4!な説明
図面ば本発明の実施例を示し、第1図は本発明の一部透
視による斜視図、第2図は棚群の正面図、第3図は第2
図のX−X線側断面図、第4図は棚枠の高温槽外下方の
要部拡大側面図である。
視による斜視図、第2図は棚群の正面図、第3図は第2
図のX−X線側断面図、第4図は棚枠の高温槽外下方の
要部拡大側面図である。
1・・・負荷試験高温槽 4・・・棚枠7・・・マガ
ジンラック 8・・・電子部品載置棚9・・・給電接
触子 13・・・交流給電レール15・・・整流
器 代理人 弁理士 祐用尉−外1名
ジンラック 8・・・電子部品載置棚9・・・給電接
触子 13・・・交流給電レール15・・・整流
器 代理人 弁理士 祐用尉−外1名
Claims (1)
- 環状案内レール上を走行する複数の電子部品載置棚の夫
々に、棚に載置した電子部品に直流電流を通電する給電
接触子を設け、前記棚を無端状に連動連結してすべての
棚を負荷試験高温槽内に収納した電子部品の負荷試験装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58058757A JPS59184871A (ja) | 1983-04-05 | 1983-04-05 | 電子部品の負荷試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58058757A JPS59184871A (ja) | 1983-04-05 | 1983-04-05 | 電子部品の負荷試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59184871A true JPS59184871A (ja) | 1984-10-20 |
JPH0544629B2 JPH0544629B2 (ja) | 1993-07-06 |
Family
ID=13093403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58058757A Granted JPS59184871A (ja) | 1983-04-05 | 1983-04-05 | 電子部品の負荷試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59184871A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6220386U (ja) * | 1985-07-19 | 1987-02-06 | ||
US5133254A (en) * | 1990-11-29 | 1992-07-28 | Kirkwood Christine A | Quilt guide stamp kit apparatus |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0580827U (ja) * | 1992-04-06 | 1993-11-02 | 関東自動車工業株式会社 | 自動車用ドア |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55101062A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-01 | Toshiba Corp | Method and device for testing environment of electronic equipment |
-
1983
- 1983-04-05 JP JP58058757A patent/JPS59184871A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55101062A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-01 | Toshiba Corp | Method and device for testing environment of electronic equipment |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6220386U (ja) * | 1985-07-19 | 1987-02-06 | ||
JPH0539500Y2 (ja) * | 1985-07-19 | 1993-10-06 | ||
US5133254A (en) * | 1990-11-29 | 1992-07-28 | Kirkwood Christine A | Quilt guide stamp kit apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0544629B2 (ja) | 1993-07-06 |
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