JPS59184872A - 電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置 - Google Patents
電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置Info
- Publication number
- JPS59184872A JPS59184872A JP58058758A JP5875883A JPS59184872A JP S59184872 A JPS59184872 A JP S59184872A JP 58058758 A JP58058758 A JP 58058758A JP 5875883 A JP5875883 A JP 5875883A JP S59184872 A JPS59184872 A JP S59184872A
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- Japan
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- temperature tank
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は多量の電子部品の高温雰囲気中における長時間
の負荷試験を効率よく遂行し且つ試験設備占有面積の縮
小化を実現したものである。
の負荷試験を効率よく遂行し且つ試験設備占有面積の縮
小化を実現したものである。
近年、マイクロコンピュータが工場から家庭まで広く普
及し、マイクロコンピュータに組込まれる電子部品の信
頼性が強く要求され、従ってマイクロコンピュータに組
込む前に充分な検査と負荷試験とを行うことが不可欠で
あり、しかも、コンピュータの使用環境は千差万別であ
るので、負荷試験も高温雰囲気中において数時間から数
十時間の長時間に亘り連続して行わねばならない。
及し、マイクロコンピュータに組込まれる電子部品の信
頼性が強く要求され、従ってマイクロコンピュータに組
込む前に充分な検査と負荷試験とを行うことが不可欠で
あり、しかも、コンピュータの使用環境は千差万別であ
るので、負荷試験も高温雰囲気中において数時間から数
十時間の長時間に亘り連続して行わねばならない。
しかし、従来の負荷試験装置は次に列記する如き多くの
欠点を有している。
欠点を有している。
（１）バッチ式負荷試験装置
電子部品、例えばプリント配線盤をマガジンランク内に
挿入し、４０℃程度の負荷試験恒温室内を作業者が手作
業又は補助具を使用して運搬し、プリント配線盤に一定
時間通電して負荷試験を実施していた。
挿入し、４０℃程度の負荷試験恒温室内を作業者が手作
業又は補助具を使用して運搬し、プリント配線盤に一定
時間通電して負荷試験を実施していた。
このような試験装置では作業者の作業環境を悪化させな
いために室温を高めることができす、また長時間の負荷
試験は作業者の健康を損ね、しかも大量の電子部品を迅
速に処理することができない欠点を有している。
いために室温を高めることができす、また長時間の負荷
試験は作業者の健康を損ね、しかも大量の電子部品を迅
速に処理することができない欠点を有している。
（２） コンヘヤ式負荷試験装置
電子部品をマガジンラック内に挿入し、恒温室内、をコ
ンベヤでストレージ搬送しながらマガジンランク下面の
集電器より電子部品へ通電し、負荷試験を行うものであ
って、コンヘヤ駆−！ｉ！ｌｌＪ機構及びストレージ搬
送機構等が負＠試験恒温室の高温下に曝されるために機
器の信頼性が低下し保守管理も悪化するので、高温状態
での負荷試験装置として不適であるはかりでなく、滞留
中のマガジンラック内電子部品と搬送中のマガジンラッ
ク内電子部品とでは電子部品を包む空気の流動状態が異
なるため電子部品からの発熱による表面温度分布に差異
を生じ、均一な表面温度管理ができない等の欠点を有し
ている。
ンベヤでストレージ搬送しながらマガジンランク下面の
集電器より電子部品へ通電し、負荷試験を行うものであ
って、コンヘヤ駆−！ｉ！ｌｌＪ機構及びストレージ搬
送機構等が負＠試験恒温室の高温下に曝されるために機
器の信頼性が低下し保守管理も悪化するので、高温状態
での負荷試験装置として不適であるはかりでなく、滞留
中のマガジンラック内電子部品と搬送中のマガジンラッ
ク内電子部品とでは電子部品を包む空気の流動状態が異
なるため電子部品からの発熱による表面温度分布に差異
を生じ、均一な表面温度管理ができない等の欠点を有し
ている。
（３）固定棚式負荷試験装置
高温室内に固定棚を設置し、スタッカクレーンで電子部
品を挿入したーンカンンラ、７りを１般入、）絞出させ
るものであって、マカシンの棚への移載時に、マカシン
ラノクと棚との間。
品を挿入したーンカンンラ、７りを１般入、）絞出させ
るものであって、マカシンの棚への移載時に、マカシン
ラノクと棚との間。
の給電のオン−オフ操作が必要であり、またスタッカク
レーンが高温室内で稼動するので機器の高温による信頼
度の低下、及び機器保守管理の悪化を来し、更にマガジ
ンがある棚とない棚との分布に不拘１ｈ状態が生しると
、高温空気の還流状態に差異を生じ、恒温室内を均一の
温度にすることが困難となり、電子部品のすべてを均等
な温度条件下で負荷試験することができないという欠点
を有している。
レーンが高温室内で稼動するので機器の高温による信頼
度の低下、及び機器保守管理の悪化を来し、更にマガジ
ンがある棚とない棚との分布に不拘１ｈ状態が生しると
、高温空気の還流状態に差異を生じ、恒温室内を均一の
温度にすることが困難となり、電子部品のすべてを均等
な温度条件下で負荷試験することができないという欠点
を有している。
そこで、本発明は上記従来の負荷試験装置の欠点を除去
したもので、以下図面について説明すると、 第１図は本発明の一部断面による斜視図であって、電子
部品を高温下において長時間に亘り負荷試験を行う高温
槽１内には水平無端状の上部案内レール２が、高温槽外
には下部案内レール２′が夫々同心に配設され、これら
の案内レール２及び２′上を転動する車輪３ （第４図
参照）を有する竪型の棚枠４を多列に配置して、各棚枠
４を互いにチェーン等により連動連結し、前記高温槽１
外に位置する棚枠４の下端下面に垂設した駆動ピン５
（第４図参照）を駆動スプロケット６ （第４図参照）
に噛合させて水平無端状に各棚枠４を連動回転させる。
したもので、以下図面について説明すると、 第１図は本発明の一部断面による斜視図であって、電子
部品を高温下において長時間に亘り負荷試験を行う高温
槽１内には水平無端状の上部案内レール２が、高温槽外
には下部案内レール２′が夫々同心に配設され、これら
の案内レール２及び２′上を転動する車輪３ （第４図
参照）を有する竪型の棚枠４を多列に配置して、各棚枠
４を互いにチェーン等により連動連結し、前記高温槽１
外に位置する棚枠４の下端下面に垂設した駆動ピン５
（第４図参照）を駆動スプロケット６ （第４図参照）
に噛合させて水平無端状に各棚枠４を連動回転させる。
各棚枠４には多数の電子部品を挿入したマガジンラック
７を載置するフォーク状の棚８を多段に設け、各欄８に
はマガジンラック７に挿入されている多数の電子部品に
直流電流を通電する給電用接触子９か設けられると共に
、各欄８の背面には通気窓１０が設けられている。
７を載置するフォーク状の棚８を多段に設け、各欄８に
はマガジンラック７に挿入されている多数の電子部品に
直流電流を通電する給電用接触子９か設けられると共に
、各欄８の背面には通気窓１０が設けられている。
高温槽１及び案内レール２，２′は床面上に立設した複
数の支柱１１及び１２によって支持され、高温槽１の底
板外側下面には交流電源に接続された交流電流の給電レ
ール１３が棚枠４の水平回転経路に沿って取付けられ、
夫々の棚枠４の高温槽１外に位置する部分には前記給電
レール１３に摺接移動する集電トロリー１４を有する整
流器１５を搭載し、該整流器ＩＳにより交流より直流に
変換された直流電流は前記夫々の棚８に設げられた給電
接触子９に給電される。
数の支柱１１及び１２によって支持され、高温槽１の底
板外側下面には交流電源に接続された交流電流の給電レ
ール１３が棚枠４の水平回転経路に沿って取付けられ、
夫々の棚枠４の高温槽１外に位置する部分には前記給電
レール１３に摺接移動する集電トロリー１４を有する整
流器１５を搭載し、該整流器ＩＳにより交流より直流に
変換された直流電流は前記夫々の棚８に設げられた給電
接触子９に給電される。
高温槽１内上部には熱交換装置、還流装置を含む空調設
備１６が収納され、高温槽１内の温度の均一化と恒温化
をはかっている。
備１６が収納され、高温槽１内の温度の均一化と恒温化
をはかっている。
また、定置されている高温槽１と高温槽１内を水平無端
循環している多数の棚３を取付けた棚枠４との間に生ず
る遊隙１７には第４図に示す如く、棚枠４の高？１ｊＬ
槽内の該遊隙１７近傍に遮熱板１８を設け、高温槽１内
の該遊隙１７近傍に該遮熱板１８に摺接するシール部材
１９と該遮熱板Ｉ８の両側面を抱える覆板２ｏを設けて
高温槽ｌ内に外熱が侵入して高温槽内の温度の均一化と
恒温化に支障を与えないように配慮され、その他、伝動
熱により高温槽１内の温度に影響を与えるおそれのある
部材、例えば棚枠４及び支柱１１．１２等には断熱材２
１を介装又は被覆する。
循環している多数の棚３を取付けた棚枠４との間に生ず
る遊隙１７には第４図に示す如く、棚枠４の高？１ｊＬ
槽内の該遊隙１７近傍に遮熱板１８を設け、高温槽１内
の該遊隙１７近傍に該遮熱板１８に摺接するシール部材
１９と該遮熱板Ｉ８の両側面を抱える覆板２ｏを設けて
高温槽ｌ内に外熱が侵入して高温槽内の温度の均一化と
恒温化に支障を与えないように配慮され、その他、伝動
熱により高温槽１内の温度に影響を与えるおそれのある
部材、例えば棚枠４及び支柱１１．１２等には断熱材２
１を介装又は被覆する。
このようにして、高温槽１内温度の外熱による影響を排
除して槽内温度の均一化と恒温化を徹底する。
除して槽内温度の均一化と恒温化を徹底する。
そして、高温槽１内の棚８にマガシンラソク７を供給し
、又は負荷試験終了後のマガジンラック７を取出すため
に高温槽ｌに付設した移載室２２に開口したマガジンラ
ック７の供給及び取出し口にも必要時に開口し常時は閉
鎖している開閉扉（図示せず）か設けられ、厳密な温度
管理が高温槽内乙こおいてなされている。
、又は負荷試験終了後のマガジンラック７を取出すため
に高温槽ｌに付設した移載室２２に開口したマガジンラ
ック７の供給及び取出し口にも必要時に開口し常時は閉
鎖している開閉扉（図示せず）か設けられ、厳密な温度
管理が高温槽内乙こおいてなされている。
マガジンラック７の高温槽１内への供給及び該槽外への
取出しは、例えば第１図に示すマガジンラック移載手段
によって行われる。
取出しは、例えば第１図に示すマガジンラック移載手段
によって行われる。
Ｐｌち、電子部品、例えば挿入位置イで複数のコンピュ
ータ用プリント基板をマガジンラック７内に挿入してコ
ンヘヤＣ上を待機位置口まで矢印方向に搬送し、空の棚
４が移載室２２に面する移載位置に到着すると、公知の
検出信号により待機位置口にあるマカシンラソクがｆ１
２室２２の開閉扉位置ハに搬送されると同時に、開閉扉
か開き、移載室２２内に設置した移載りフタ−２３か最
下位置に待機しているので、該移載リフター２３上に送
り込まれ、開閉扉は閉止する。
ータ用プリント基板をマガジンラック７内に挿入してコ
ンヘヤＣ上を待機位置口まで矢印方向に搬送し、空の棚
４が移載室２２に面する移載位置に到着すると、公知の
検出信号により待機位置口にあるマカシンラソクがｆ１
２室２２の開閉扉位置ハに搬送されると同時に、開閉扉
か開き、移載室２２内に設置した移載りフタ−２３か最
下位置に待機しているので、該移載リフター２３上に送
り込まれ、開閉扉は閉止する。
マガジンラック７を搭載した移載りフタ−２３は上昇し
て空の棚にマガジンランク７を移載し、再び下降して最
下位置に待機し、開閉扉の開放に伴って前記同様の動作
を行い、順次、空の棚にマガジンラック７を移載する。
て空の棚にマガジンランク７を移載し、再び下降して最
下位置に待機し、開閉扉の開放に伴って前記同様の動作
を行い、順次、空の棚にマガジンラック７を移載する。
空の棚に移載されたマガジンラック７は既述した如く、
給電用接触子９に接触し、マガジンランク内の複数の電
子部品に同時に直流電流を通電する。
給電用接触子９に接触し、マガジンランク内の複数の電
子部品に同時に直流電流を通電する。
また、高温槽１内を水平に無端廻動して負荷試験を完了
した電子部品を挿入されているマガジンラック７が移載
室２２の移載位置に到着すると、前述したマガジンラン
ク供給移載操作と逆の順序で移載室の開閉扉外にマガジ
ンランクを取出し、検査ステーションＴ ＩＴ ｓの検
査位置二又はボにおいて検査を行い、再び挿入位置イに
おいてマガジンラックフ内がら負荷試験高温槽の電子部
品を取出し、新たな電子部品をマガジンラック内に挿入
する。
した電子部品を挿入されているマガジンラック７が移載
室２２の移載位置に到着すると、前述したマガジンラン
ク供給移載操作と逆の順序で移載室の開閉扉外にマガジ
ンランクを取出し、検査ステーションＴ ＩＴ ｓの検
査位置二又はボにおいて検査を行い、再び挿入位置イに
おいてマガジンラックフ内がら負荷試験高温槽の電子部
品を取出し、新たな電子部品をマガジンラック内に挿入
する。
棚は１つの棚枠に多数に複数の棚が取付けられても或は
１つの棚を取付けても差支えなく、また、棚枠は１層に
限らず、上下方向に多層に設けて、夫々の棚枠かいずれ
の方向へも独立して水平回動できるようにしてもよい。
１つの棚を取付けても差支えなく、また、棚枠は１層に
限らず、上下方向に多層に設けて、夫々の棚枠かいずれ
の方向へも独立して水平回動できるようにしてもよい。
以上の如く、高温槽１内へのマガジンラックの供給及び
取出しは、移載室の開口に設けた熱遮断扉の開閉操作に
より高温槽内の温度の恒常化及び均等化に支障を与えな
いようにして遂行され、しかも多数の棚上に通電状態で
載置された多数の電子部品は、高温槽内の空調設備１６
により還流される高温空気か各欄の通気窓１０より循環
して均等に加熱され、且つ棚枠４と高温槽１の底板とは
シール部材］９等により外熱の侵入を防止されると共に
外部よりの熱伝導を遮断するためＩ！ｆＴ熱材２１等を
用いて高温槽内の恒温化がはかられる中で無端循環する
ことにより、長時間の高温下での通電負荷試験を均一に
施されるから、電子部品の負荷試験を行う高温槽内は外
部よりの熱的悪影響を受けることなくしかも高温槽内の
温度分布は均一であって温度変化もなく高温状態を維持
し、また棚群を水平無端循環させることにより各欄に載
置された電子部品に対する受感温度の均一化を一層増大
させるので熱管理が容易であると共に、狭い空間で多量
の電子部品を長時間に亘って微速搬送の状態において負
荷試験することができるので、温度環境に対して弱いと
されていたコンピュータも、それに組込まれる電子部品
を長時間に亘の高温下で効率的に負荷試験を行うことが
本発明により可能となり、コンピュータ機器の信頼性が
増大し、その効果は著大である。
取出しは、移載室の開口に設けた熱遮断扉の開閉操作に
より高温槽内の温度の恒常化及び均等化に支障を与えな
いようにして遂行され、しかも多数の棚上に通電状態で
載置された多数の電子部品は、高温槽内の空調設備１６
により還流される高温空気か各欄の通気窓１０より循環
して均等に加熱され、且つ棚枠４と高温槽１の底板とは
シール部材］９等により外熱の侵入を防止されると共に
外部よりの熱伝導を遮断するためＩ！ｆＴ熱材２１等を
用いて高温槽内の恒温化がはかられる中で無端循環する
ことにより、長時間の高温下での通電負荷試験を均一に
施されるから、電子部品の負荷試験を行う高温槽内は外
部よりの熱的悪影響を受けることなくしかも高温槽内の
温度分布は均一であって温度変化もなく高温状態を維持
し、また棚群を水平無端循環させることにより各欄に載
置された電子部品に対する受感温度の均一化を一層増大
させるので熱管理が容易であると共に、狭い空間で多量
の電子部品を長時間に亘って微速搬送の状態において負
荷試験することができるので、温度環境に対して弱いと
されていたコンピュータも、それに組込まれる電子部品
を長時間に亘の高温下で効率的に負荷試験を行うことが
本発明により可能となり、コンピュータ機器の信頼性が
増大し、その効果は著大である。
図面は本発明の実施例を示し、第１図は本発明の一部透
視による斜視図、第２図は棚群の正面図、第３図は第２
図のＸ−Ｘ線側断面図、第４図は棚枠の高温槽外下方の
要部拡大側面図である。 １・・・負荷試験高温槽 ４・・・棚枠 ７・・・マガ
ジンラック ８・・・電子部品載置棚 ９・・・給電接
触子１３・・・交流給電レール １５・・・整流器代理
人 弁理士 祐用尉−外１名
視による斜視図、第２図は棚群の正面図、第３図は第２
図のＸ−Ｘ線側断面図、第４図は棚枠の高温槽外下方の
要部拡大側面図である。 １・・・負荷試験高温槽 ４・・・棚枠 ７・・・マガ
ジンラック ８・・・電子部品載置棚 ９・・・給電接
触子１３・・・交流給電レール １５・・・整流器代理
人 弁理士 祐用尉−外１名
Claims (1)
- 棚枠に取付けた複数の電子部品載置棚の夫々に棚に載置
した電子部品に直流電流を通電する給電接触子を設け、
前記棚枠を多列無端状に連結してすべての棚を負荷試験
高温槽内に収納すると共に棚枠の水平循環駆動装置を前
記高温槽外に断熱及びシール手段を介して設け、高温槽
内に空調設備を取付けて各欄の背面に通風窓を設け、高
温槽の電子部品搬出入開口に熱遮断扉を開閉可能に設け
た電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58058758A JPS59184872A (ja) | 1983-04-05 | 1983-04-05 | 電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58058758A JPS59184872A (ja) | 1983-04-05 | 1983-04-05 | 電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59184872A true JPS59184872A (ja) | 1984-10-20 |
| JPH04230B2 JPH04230B2 (ja) | 1992-01-06 |
Family
ID=13093432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58058758A Granted JPS59184872A (ja) | 1983-04-05 | 1983-04-05 | 電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59184872A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5397998A (en) * | 1991-07-22 | 1995-03-14 | Fujitsu Limited | Burn-in apparatus |
| JP2016016964A (ja) * | 2014-07-10 | 2016-02-01 | 株式会社岡村製作所 | 自動倉庫における物品入出庫装置 |
-
1983
- 1983-04-05 JP JP58058758A patent/JPS59184872A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5397998A (en) * | 1991-07-22 | 1995-03-14 | Fujitsu Limited | Burn-in apparatus |
| JP2016016964A (ja) * | 2014-07-10 | 2016-02-01 | 株式会社岡村製作所 | 自動倉庫における物品入出庫装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04230B2 (ja) | 1992-01-06 |
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