JPS59147278A - 電子部品の負荷試験装置 - Google Patents

電子部品の負荷試験装置

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JPS59147278A
JPS59147278A JP58021612A JP2161283A JPS59147278A JP S59147278 A JPS59147278 A JP S59147278A JP 58021612 A JP58021612 A JP 58021612A JP 2161283 A JP2161283 A JP 2161283A JP S59147278 A JPS59147278 A JP S59147278A
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JP
Japan
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high temperature
temperature tank
shelf
electronic components
temperature
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JP58021612A
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JPH0129426B2 (ja
Inventor
Satoru Yokoi
横井 哲
Hirokazu Kondo
近藤 博量
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Tsubakimoto Chain Co
Original Assignee
Tsubakimoto Chain Co
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は多量の電子部品の高温雰囲気中における長時間
の負荷試験を効率よく遂行し且つ試験設備占有面積の縮
小化を実現したものである。
近年、マイクロコンピュータが工場から家庭まで広く普
及し、マイクロコンピュータに組込まれる電子部品の信
頼性が強く要求され、従ってマイクロコンピュータに組
込む前に充分な検査と負荷試験とを行うことが不可欠で
あり、しかも、コンピュータの使用環境は千差万別であ
るので、負荷試験も高温雰囲気中において数時間から数
十時間の長時間に亘り連続して行わねばならない。
しかし、従来の負荷試験装置は次に列記する如き多くの
欠点を有している。
(1)ハツチ式負荷試験装置 電子部品、例えばプリント配線盤をマガジンランク内に
挿入し、40°C程度の負荷試験恒温室内を作業者が手
作業又は補助具を使用して運則し、プリント配線盤に一
定時間通電して負荷試験を実施していた。
このような試験装置では作業者の作業環境を悪化させな
いために室温を高めることかできず、また長時間の負荷
試験は作業者の健康を損ね、しかも大量の電子部品を迅
速に処理することができない欠点を有している。
(2)  コンヘヤ式負荷試験装置 電子部品をマガジンランク内に挿入し、恒温室内をコン
ベヤでストレージ搬送しながらマガジンラック下面の集
電器より電子部品へ通電し、負荷試験を行うものであっ
て、コンベヤ駆動機構及びストレージ搬送機構等が負荷
試験恒温室の高温下に曝されるために機器の信頼性が低
下し保守管理も悪化するので、高温状態での負荷試験装
置として不適であるばかりでなく、マガジンランクを載
せたパレットの乗継ぎ部において簗電子との間に瞬断に
よるスパーク現象が発生し安定した通電ができず、更に
滞留中のマガジンランク内電子部品と搬送中のマガジン
ランク内電子部品とでは電子部品を包む空気の流動状態
が異なるため電子部品からの発熱による表面温度分布に
差異を生じ、均一な表面温度管理ができない等の欠点を
有している。
(3)固定棚式負荷試験装置 高温室内に固定棚を設置し、スフツカクレーンで電子部
品を挿入したマガジンランクを1H人、tilt出させ
るものであって、マガジンの棚への移載時に、マガジン
ランクと棚との間の給電のオン−オフ操作が必要であり
、またスフツカクレーンが高温室内で稼動するので機器
の高温による信頼度の低下及び機器保守管理の悪化を来
し、更にマガジンがある棚とない棚との分布に不均衡状
態が生しると、高温空気の還流状態に差異を生じ、恒温
室内を均一の温度にすることが困難となり、電子部品の
すべてを均等な温度条件下で負荷試験することかできな
いという欠点を有している。
そこで、本発明は上記従来の負荷試験装置の欠点を除去
したもので、以下図面について説明すると、 第1図は本発明の一部断面による斜視図であって、電子
部品を高温下において長時間に亘り負荷試験を行う高温
槽1内には水平無端状の上部案内レール2が高温槽外に
は下部案内レール2′が同心に配設され、これらの案内
レール2及び2′上を転動する車輪3 (第4図参照)
を有する竪型の棚枠4を多列に配置して、各棚枠4を互
いに連動連結し、前記高温槽1外に位置する棚枠4の下
端下面に垂設した駆動ピン5 (第4図参照)を駆動ス
プロケット6 (第4図参照)に噛合させて水平無端状
に各棚枠4を連動回転させる。
各棚枠4には多数の電子部品を挿入したマガジンラック
7を載置するフォーク状の棚8を多段に設け、各欄8に
はマガジンラック7に挿入されている多数の電子部品に
直流電流を通電する給電用接触子9が設けられると共に
、各欄8の背面には通気窓10が設けられている。
高温槽1及び案内レール2,2′は床面上に立設した複
数の支柱11及び12によって支持され、高温槽1の底
板外側下面には交流電源に接続された交流電流の給電レ
ール13が棚枠4の水平回転経路に沿って取付けられ、
夫々の棚枠4の高温槽1外に位置する部分には前記給電
レール13に摺接移動する集電トロリー14を有する整
流器15を搭載し、該整流器15により交流より直流に
変換された直流電流は前記夫々の棚8に設けられた給電
接触子9に給電される。
高温槽1内上部には熱交換装置、還流装置を含む空調設
備16が収納され、高温槽l内の温度の均一化と恒温化
をはかっている。
従って、定置されている高温槽1と高温槽1内を水平無
端循環している多数の棚3を取付けた棚枠4との間に生
ずる遊隙17には第4図に示す如(、棚枠4の高温槽内
の該遊隙17近傍に遮熱Fj、18を設け、高温槽l内
の該遊隙17近傍に該遮熱板18に摺接するシール部材
19と該遮熱板18の両側面を抱える覆板20を設けて
高温槽1内に外熱が侵入して高温槽内の温度の均一化と
恒温化に支障を与えないように配慮され、その他、伝動
熱により高温槽l内の温度に影響を与えるおそれのある
部材、例えば棚枠4及び支柱11.12等にば断熱材2
1を介装又は被覆する。
このようにして、高温槽1内温度の外熱による影響を排
除して槽内温度の均一化と恒温化を徹底する。
従って、高温槽1内の棚8にマガジンラック7を供給し
、又は負荷試験終了後のマガジンラック7を取出すため
に高温槽1に付設した移載室22に開口したマガジンラ
ック7の供給及び取出し口にも必要時に開口し常時は閉
鎖している開閉扉(図示せず)が設けられ、厳密な温度
管理か高温槽内においてなされている。
マガジンラック7の高温槽1内への供給及び該槽外への
取出しは、例えば第1図に示すマガジンラック移載手段
によって行われる。
即ち、電子部品、例えば挿入位置■で複数のコンピュー
タ用プリント基板をマガジンラック7内に挿入してコン
ベヤC上を待機位置@まで矢印方向に搬送し、空の棚4
が移載室22に面する移載位置に到着すると、公知の検
出信号により待機位置@にあるマガジンランクが移載室
22の開閉扉位置○に搬送されると同時に、開閉扉が開
き、移載室22内に設置した移載りフタ−23か最下位
置に待機しているので、該移載リフクー23上に送り込
まれ、開閉扉は閉止する。
マガジンラック7を搭載した移載りフタ−23は上昇し
て空の棚にマガジンラック7を移載し、再び下降して最
下位置に待機し、開閉扉の開放に伴って前記同様の動作
を行い、順次、空の棚にマガジンラック7を移載する。
空の棚に移載されたマガジンラック7は既述した如く、
給電用接触子9に接触し、マガジンラック内の複数の電
子部品に同時に直流電流を通電する。
また、高温槽1内を水平に無端廻動して負荷試験を完了
した電子部品を挿入されているマガジンラック7が移載
室22の移載位置に到着すると、前述したマガジンラン
ク供給移載操作と逆の順序で移載室の開閉扉外にマガジ
ンラ・ツクを取出し、検査ステーションT I、 T 
sの検査位置6区は■において検査を行い、再び挿入位
置■においてマガジンラック7内から負荷試験終了後の
電子部品を取出し、新たな電子部品をマガジンランク内
に挿入する。
以上の如く、高温槽I内へのマガジンラックの供給及び
取出しは、移載室の開口に設けた熟遮断扉の開閉操作に
より高温槽内の温度の恒寓化及び均等化に支障を与えな
いようにして遂行され、しかも多列多段の多数の棚上に
通電状態で載置された多数の電子部品は、高温槽内の空
調設備16により還流される高温空気が各欄の通気窓1
0より循環して均等に加熱され、且つ棚枠4と高温槽1
の底板とはシール部材19等により外熱の侵入を防止さ
れると共に外部よりの熱伝導を遮断するため断熱材21
等を用いて高温槽内の恒温化がはかられる中で無端循環
することにより、長時間の高温下での通電負荷試験を均
一に施される。
また、マガジンランクを棚へ移載するとき、又は棚から
取出すときに、棚の給電用接触子9とマガジンラック7
の通電端子との間に放電が起って給電用接触子9及びマ
ガジンランクの端子を損耗することを防止するため、棚
8のマガジンラック移載位置における交流電流給電レー
ル13の一定区間をマグネットスイッチ(図示せず)等
のオン−オフにより通電又は遮断するように配線し、該
マグネットスイッチは移載りフタ−23が棚8に接近す
ることにより自動的にオフに切換え操作され、棚8より
遠ざかることにより自動的にオンに切換え操作されるも
のであるから、移載りフタ−23によりマガジンラック
7を棚8へ載置するとき、或は棚8からマガジンラック
7を取出すときは、いずれもマガジンラック移載位置に
おける交流電流給電レール13の一定区間には通電され
ておらす、従って、マガジンランクの端子と棚の給電用
接触子′との間に放電が生ずることがないので、マガジ
ンランク端子と給電用接触子との間に放電による損耗が
発生しない。
本発明は上述の如き構成を有するから、電子部品の負荷
試験を行う高温槽内は外部よりの熱的悪影響を受けるこ
となく、しかも高温槽内の温度分布は均一であって温度
変化もなく高温状態を維持し、また多列多段の棚群を水
平無端循環させることにより受載温度の均一化を一層増
大させるので熱管理が容易であると共に、狭い空間で多
量の電子部品を長時間に亘って微速搬送の状態において
負荷試験することか可能となる。更にまた、夫々の棚」
二の電子部品には交流を変換した直流電流が通電される
から、通電の瞬断及び電圧降下もなく負荷電圧を安定供
給して負荷試験性能を一層向上させることができ、棚に
対してマガジンランクを供給又は取出しする際に移載り
フタ−の接近により作動するマグネットスイッチにより
棚に設けた給電用接触子への給電を遮断して該接触子と
マガジンラック端子との間に生ずるおそれのある放電の
発生を未然に防止して両者の放電による損耗を防ぎ、耐
用度を向上させることができる等、温度環境に隘寸して
弱いとされていたコンピュータも、それに組込まれる電
子部品を長時間に亘り高温下で負荷試験を行うことが本
発明により可能となり、コンピュータ機器の信頼性か増
大し、その効果は著大である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実hiE例を示し、第1図は本発明の一
部遇視による斜視図、第2図は棚群の正面図、第3図は
第2図のX−X線側断面図、第4図は棚枠の高温槽外下
方の要部拡大側面図である。 1・・・負荷試験高温槽  4・・・棚枠7・・・マガ
ジンラック  8・・・電子部品載置棚9・・・給電接
触子    13・・・交流給電レール15・・・整流
器 代理人 弁理士 祐用尉−外1名

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 棚枠に多段に取付けた複数の電子部品載置棚の夫々に棚
    に載置した電子部品に直流電流を通電する給電接触子を
    設け、前記棚枠を多列無端状に連結してすべての棚を負
    荷試験高温槽内に収納すると共に棚枠の水平循環駆動装
    置を前記高温槽外に設け、高温槽外に位置する夫々の棚
    枠部分には交流給電レールに摺接する集電トロリーを有
    し前記給電接触子に直流給電する整流器を搭載した電子
    部品の負荷試験装置。
JP58021612A 1983-02-14 1983-02-14 電子部品の負荷試験装置 Granted JPS59147278A (ja)

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JP58021612A JPS59147278A (ja) 1983-02-14 1983-02-14 電子部品の負荷試験装置

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JPH0129426B2 JPH0129426B2 (ja) 1989-06-09

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