JPH04230B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は多量の電子部品の高温雰囲気中におけ
る長時間の負荷試験を効率よく遂行し且つ試験設
備占有面積の縮小化を実現したものである。

近年、マイクロコンピユータが工場から家庭ま
で広く普及し、マイクロコンピユータに組込まれ
る電子部品の信頼性が強く要求され、従つてマイ
クロコンピユータに組込む前に充分な検査と負荷
試験とを行うことが不可欠であり、しかも、コン
ピユータの使用環境は千差万別であるので、負荷
試験も高温雰囲気中において数時間から数十時間
の長時間に亘り連続して行わねばならない。

しかし、従来の負荷試験装置は次に列記する如
き多くの欠点を有している。

(1) バツチ式負荷試験装置 電子部品、例えばプリント配線盤をマガジン
ラツク内に挿入し、40℃程度の負荷試験恒温室
内を作業者が手作業又は補助具を使用して運搬
し、プリント配線盤に一定時間通電して負荷試
験を実施していた。

このような試験装置では作業者の作業環境を
悪化させないために室温を高めることができ
ず、また長時間の負荷試験は作業者の健康を損
ね、しかも大量の電子部品を迅速に処理するこ
とができない欠点を有している。

(2) コンベヤ式負荷試験装置 電子部品をマガジンラツク内に挿入し、恒温
室内をコンベヤでストレージ搬送しながらマガ
ジンラツク下面の集電器より電子部品へ通電
し、負荷試験を行うものであつて、コンベヤ駆
動機構及びストレージ搬送機構等が負荷試験恒
温室の高温下に曝されるために機器の信頼性が
低下し保守管理も悪化するので、高温状態での
負荷試験装置として不適であるばかりでなく、
滞留中のマガジンラツク内電子部品と搬送中の
マガジンラツク内電子部品とでは電子部品を包
む空気の流動状態が異なるため電子部品からの
発熱による表面温度分布に差異を生じ、均一な
表面温度管理ができない等の欠点を有してい
る。

(3) 固定棚式負荷試験装置 高温室内に固定棚を設置し、スタツカクレー
ンで電子部品を挿入したマガジンラツクを搬
入、搬出させるものであつて、マガジンの棚へ
の移載時に、マガジンラツクと棚との間の給電
のオン−オフ操作が必要であり、またスタツカ
クレーンが高温室内で稼動するので機器の高温
による信頼度の低下及び機器保守管理の悪化を
来し、更にマガジンがある棚とない棚との分布
に不均衝状態が生じると、高温空気の還流状態
に差異を生じ、恒温室内を均一の温度にするこ
とが困難となり、電子部品のすべてを均等な温
度条件下で負荷試験することができないという
欠点を有している。

そこで、本発明は上記従来の負荷試験装置の欠
点を除去したもので、以下図面について説明する
と、 第１図は本発明の一部断面による斜視図であつ
て、電子部品を高温下において長時間に亘り負荷
試験を行う高温槽１内には水平無端状の上部案内
レール２が、高温槽外には下部案内レール２′が
夫々同心に配設され、これらの案内レール２及び
２′上を転勤する車輪３（第４図参照）を有する
堅型の棚枠４を多列に配置して、各棚枠４を互い
にチエーン等により連動連結し、前記高温槽１外
に位置する棚枠４の下端下面に垂設した駆動ピン
５（第４図参照）を駆動スプロケツト６（第４図
参照）に噛合させて水平無端状に各棚枠４を連動
回転させる。

各棚枠４には多数の電子部品を挿入したマガジ
ンラツク７を載置するフオーク状の棚８を多段に
設け、各棚８にはマガジンラツク７に挿入されて
いる多数の電子部品に直流電流を通電する給電用
接触子９が設けられると共に、各棚８の背面には
通気窓１０が設けられている。

高温槽１及び案内レール２，２′は床面上に立
設した複数の支柱１１及び１２によつて支持さ
れ、高温槽１の底板外側下面には交流電源に接続
された交流電流の給電レール１３が棚枠４の水平
回転経路に沿つて取付けられ、夫々の棚枠４の高
温槽１外に位置する部分には前記給電レール１３
に摺接移動する集電トロリー１４を有する整流器
１５を搭載し、該整流器１５により交流より直流
に変換された直流電流は前記夫々の棚８に設けら
れた給電接触子９に給電される。

高温槽１内上部には熱交換装置、還流装置を含
む空調設備１６が収納され、高温槽１内の温度の
均一化と恒温化をはかつている。

また、定置されている高温槽１と高温槽１内を
水平無端循環している多数の棚３を取付けた棚枠
４との間に生ずる遊隙１７には第４図に示す如
く、棚枠４の高温槽内の該遊隙１７近傍に遮熱板
１８を設け、高温槽１内の該遊隙１７近傍に該遮
熱板１８に摺接するシール部材１９と該遮熱板１
８の両側面を抱える覆板２０を設けて高温槽１内
に外熱が侵入して高温槽内の温度の均一化と恒温
化に支障を与えないように配慮され、その他、伝
動熱により高温槽１内の温度に影響を与えるおそ
れのある部材、例えば棚枠４及び支柱１１，１２
等には断熱材２１を介装又は被覆する。

このようにして、高温槽１内温度の外熱による
影響を排除して槽内温度の均一化と恒温化を徹底
する。

そして、高温槽１内の棚８にマガジンラツク７
を供給し、又は負荷試験終了後のマガジンラツク
７を取出すために高温槽１に付設した移載室２２
に開口したマガジンラツク７の供給及び取出し口
にも必要時に開口し常時は閉鎖している開閉扉
（図示せず）が設けられ、厳密な温度管理が高温
槽内においてなされている。

マガジンラツク７の高温槽１内への供給及び該
槽外への取出しは、例えば第１図に示すマガジン
ラツク移載手段によつて行われる。

即ち、電子部品、例えば挿入位置イで複数のコ
ンピユータ用プリント基板をマガジンラツク７内
に挿入してコンベヤＣ上を待機位置ロまで矢印方
向に搬送し、空の棚４が移載室２２に面する移載
位置に到着すると、公知の検出信号により待機位
置ロにあるマガジンラツクが移載室２２の開閉扉
位置ハに搬送されると同時に、開閉扉が開き、移
載室２２内に設置した移載リフター２３が最下位
置に待機しているので、該移載リフター２３上に
送り込まれ、開閉扉は閉止する。

マガジンラツク７を搭載した移載リフター２３
は上昇して空の棚にマガジンラツク７を移載し、
再び下降して最下位置に待機し、開閉扉の開放に
伴つて前記同様の動作を行い、順次、空の棚にマ
ガジンラツク７を移載する。

空の棚に移載されたマガジンラツク７は既述し
た如く、給電用接触子９に接触し、マガジンラツ
ク内の複数の電子部品に同時に直流電流を通電す
る。

また、高温槽１内を水平に無端廻動して負荷試
験を完了した電子部品を挿入されているマガジン
ラツク７が移載室２２の移載位置に到着すると、
前述したマガジンラツク供給移載操作と逆の順序
で移載室の開閉扉外にマガジンラツクを取出し、
検査ステーシヨンT₁Tsの検査位置ニ又はホにお
いて検査を行い、再び挿入位置イにおいてマガジ
ンラツク７内から負荷試験完了済の電子部品を取
出し、新たな電子部品をマガジンラツク内に挿入
する。

棚は１つの棚枠に多数に複数の棚が取付けられ
ても或は１つの棚を取付けても差支えなく、ま
た、棚枠は１層に限らず、上下方向に多層に設け
て、夫々の棚枠がいずれの方向へも独立して水平
回動できるようにしてもよい。

以上の如く、高温槽１内へのマガジンラツクの
供給及び取出しは、移載室の開口に設けた熱遮断
扉の開閉操作により高温槽内の温度の恒常化及び
均等化に支障を与えないようにして遂行され、し
かも多数の棚上に通電状態で載置された多数の電
子部品は、高温槽内の空調設備１６により還流さ
れる高温空気が各棚の通気窓１０より循環して均
等に加熱され、且つ棚枠４と高温槽１の底板とは
シール部材１９等により外熱の侵入を防止される
と共に外部よりの熱伝導を遮断するため断熱材２
１等を用いて高温槽内の恒温化がはかられる中で
無端循環することにより、長時間の高温下での通
電負荷試験を均一に施されるから、電子部品の負
荷試験を行う高温槽内は外部よりの熱的悪影響を
受けることなくしかも高温槽内の温度分布は均一
であつて温度変化もなく高温状態を維持し、また
棚群を水平無端循環させることにより各棚に載置
された電子部品に対する受感温度の均一化を一層
増大させるので熱管理が容易であると共に、狭い
空間で多量の電子部品を長時間に亘つて微速搬送
の状態において負荷試験することができるので、
温度環境に対して弱いとされていたコンピユータ
も、それに組込まれる電子部品を長時間に亘り高
温下で効率的に負荷試験を行うことが本発明によ
り可能となり、コンピユータ機器の信頼性が増大
し、その効果は著大である。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例を示し、第１図は本発明
の一部透視による斜視図、第２図は棚群の正面
図、第３図は第２図のＸ−Ｘ線側断面図、第４図
は棚枠の高温槽外下方の要部拡大側面図である。 １……負荷試験高温槽、４……棚枠、７……マ
ガジンラツク、８……電子部品載置棚、９……給
電接触子、１３……交流給電レール、１５……整
流器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 棚枠に取付けた複数の電子部品載置棚の夫々
   に棚に載置した電子部品に直流電流を通電する給
   電接触子を設け、前記棚枠を多列無端状に連結し
   てすべての棚を負荷試験高温槽内に収納すると共
   に棚枠の水平循環駆動装置を前記高温槽外に断熱
   及びシール手段を介して設け、高温槽内に空調設
   備を取付けて各棚の背面に通風窓を設け、高温槽
   の電子部品搬出入開口に熱遮断扉を開閉可能に設
   けた電子部品負荷試験高温槽内の均熱化装置。