JPH0336915Y2 - - Google Patents

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JPH0336915Y2
JPH0336915Y2 JP1983077343U JP7734383U JPH0336915Y2 JP H0336915 Y2 JPH0336915 Y2 JP H0336915Y2 JP 1983077343 U JP1983077343 U JP 1983077343U JP 7734383 U JP7734383 U JP 7734383U JP H0336915 Y2 JPH0336915 Y2 JP H0336915Y2
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JP
Japan
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test piece
outlet
chamber
constant temperature
drying chamber
Prior art date
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JP1983077343U
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JPS59183649U (ja
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  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は環境試験装置の試験片結露防止装置に
関するものであり、詳しくは、試験片の冷却及び
性能試験を行なう恒温槽の出口に覆設した乾燥室
と、該乾燥室内を加温する加熱手段とにより、試
験片への結露を防止する試験片結露防止装置に関
する。
従来の技術 従来の環境試験装置として第1図に示すよう
に、電子部品を搭載したプリント基板等の試験片
を冷却及び性能試験を行なう恒温槽3内に、冷却
手段と送風手段とを有する恒温装置1をダクト等
の連結手段2を介して接続し、恒温槽3の入口4
から出口5に渡つて設けられた試験片の搬送手段
によつて試験片を自動搬送するものがある。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記従来の装置では、恒温槽3
内で試験片を冷却及び性能能試験を行なつた後、
搬送手段によつて出口5より搬出する際、試験片
が−30℃程度まで冷却されているため、恒温槽3
外の大気中に含まれる湿気が試験片表面に結露し
てしまい、次の加熱及び性能試験等の工程を行な
う場合には試験片の結露を除去してからでないと
次の工程に進めず、試験片の結露除去という余分
の工程を必要としていた。そのため、作業工程の
時間短縮を図ることの最大の障害となつており、
作業効率の向上を図ることが困難であつた。又結
露を防止するために、環境試験装置を収容する部
屋全体を乾燥状態に空調することが考えられる
が、そのために多大な設備投資を行なわなければ
ならない等の欠点があつた。
課題を解決するための手段 本考案は上記従来の欠点を解消するために企図
されたものであつて、第1出口と第2出口とを有
して恒温槽出口を覆う乾燥室と該乾燥室内を加温
する加熱手段とを設けると共に、前記恒温槽内の
搬送手段を第1出口へ延設し、前記延設した搬送
手段の途中に上又は下方向に試験片を移動させる
手段と、上又は下方向に移動された試験片を第2
出口から乾燥室外へ排出する搬送手段とを設けた
環境試験装置の試験片結露防止装置を提供しよう
とするものである。
作 用 本考案によると恒温槽内で冷却された試験片が
外気に接することなく乾燥室内で加温されるた
め、試験片の結露除去作業を要せずに次の工程に
進める。
さらに、乾燥室内で試験片を2種に分けそれぞ
れ別の出口から搬出するようにしているため、試
験の結果不良と判断された製品についても結露を
生じさせないものである。
実施例 以下に本考案の実施例を図面に従い詳細に説明
する。第2図は本考案の実施例を示すもので、5
は恒温槽3からの試験片の出口であり、恒温槽出
口5には、恒温槽3内の冷風が流出するのを防ぐ
ために、薄いゴム板等でできた幕が吊設されてい
る。14は、図示しない搬送手段により送られて
くる試験片を摺動自在に挟持する案内レールであ
り、恒温槽3内を恒温槽入口4から恒温槽出口5
を貫通して設けられている。6は恒温槽出口5を
覆うように設けられた乾燥室であり、乾燥室6内
を目視しうる透明な部材で形成されている。9は
試験片を乾燥室6から次の工程に送る場合の第1
出口であり、案内レール14が第1出口9を貫通
するように延長して設けられている。10は乾燥
室内に外気が流入しないように出口9に吊設され
た幕であり、幕11と同様な材質から成つてい
る。12は試験片を取り出す第2出口であり、幕
10と同様な幕が吊設されている。17は案内レ
ール14から第2出口12に向つて設けられた回
動自在のコロである。16は試験片を案内レール
から持ち上げる上下方向エアシリンダより成る昇
降手段であり、15は持ち上げられた試験片を第
2出口12の方向に押し出すエアーシリンダであ
る。7は送風機と加熱器とからなる加熱手段であ
り、ダクト等の連結手段8を介して乾燥室6に接
続されている。
次に上記構成による装置の作用を説明する。恒
温槽3内で冷却及び性能試験された試験片は案内
レール14に沿つて恒温槽出口5より搬出され、
次の加熱及び性能試験等の工程へ進む場合、案内
レール14に沿つて乾燥室6の第1出口9から搬
出される。又恒温槽3内での作業工程で終了とす
る場合及び恒温槽内での試験が不合格となつた不
良品の取り出し等の場合、試験片は昇降手段16
によつて案内レール14より持ち上げられ、その
後エアーシリンダ15によつて第2出口12の方
向へ押し出される。そして押し出された試験片は
コロ17上を移動し、第2出口12より取り出さ
れる。
一方、恒温槽3内で冷却された試験片がそのま
まの温度で出口9,12より搬出された場合外気
中に含まれる湿気のために試験片に結露が生じ、
次の作業に進めなくなくなるため、加熱手段7に
よつて連結手段8を介して乾燥室6内に温風を循
環させることにより、恒温槽出口5より搬出され
た試験片を加熱し、試験片の外気との温度差を少
なくすることにより、出口9,12から搬出する
際の試験片の結露を防ぐものである。
以上説明したように、恒温槽出口5を覆う乾燥
室6を設けると共に、乾燥室6内を加温する加熱
手段7を設けたことにより恒温槽出口5より搬出
された試験片は乾燥室6内で加温され、外気との
温度差を少なくすることにより、試験片が出口
9,12より搬出される際の結露を防止すること
ができ、時間のロスなしに次の工程へ進むことが
でき、大幅な作業効率の向上を図ることができ
る。又、環境試験装置を収容する部屋を空調する
ような多大な設備費用を必要とせず、安価な装置
で試験片の結露を防止することができる。
なお、本考案の実施例では送風機と加熱器とか
ら成る加熱手段7を連結手段8を介して乾燥室6
に接続して温風を循環させるようにしたが、乾燥
室6内に加熱手段を設けてもよく、その場合でも
温風による加熱に限らず、輻射による加熱でもよ
いことは云うまでもないことである。
効 果 以上説明した本考案の環境試験装置の試験片結
露防止装置は、恒温槽出口と連続して乾燥室を設
けたため、試験片取出時に試験片に結露が生じる
ことがない。このため結露除去作業が不要とな
る。
さらに、乾燥室内で試験片を2種に分け、それ
ぞれ別の出口から搬出するようにしているため、
例えば試験の結果不良と判断された製品について
も結露を生じさせることがなく良品とは別に取り
出すことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の環境試験装置を示す概略図、第
2図は本考案の実施例を示す斜視図である。 1……恒温装置、2,8……連結手段、3……
恒温槽、4……恒温槽入口、5……恒温槽出口、
6……乾燥室、7……加熱手段、9……第1出
口、10,11,13……幕、12……第2出
口、14……案内レール、15……エアーシリン
ダ、16……昇降手段、17……コロ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 送風機と冷却手段とを有する恒温装置の空気循
    環流路中に、試験片の冷却及び性能試験を行なう
    恒温槽を配設し、該恒温槽内に、前記試験片の搬
    送手段を該恒温槽の入口から出口に渡つて設けた
    環境試験装置に於いて、第1出口と第2出口とを
    有して恒温槽出口を覆う乾燥室と該乾燥室内を加
    温する加熱手段とを設けると共に、前記恒温槽内
    の搬送手段を第1出口へ延設し、前記延設した搬
    送手段の途中に上又は下方向に試験片を移動させ
    る手段と、上又は下方向に移動された試験片を第
    2出口から乾燥室外へ排出する搬送手段とを設け
    たことを特徴とする環境試験装置の試験片結露防
    止装置。
JP7734383U 1983-05-23 1983-05-23 環境試験装置の試験片結露防止装置 Granted JPS59183649U (ja)

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JP7734383U JPS59183649U (ja) 1983-05-23 1983-05-23 環境試験装置の試験片結露防止装置

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JP7734383U JPS59183649U (ja) 1983-05-23 1983-05-23 環境試験装置の試験片結露防止装置

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Publication Number Publication Date
JPS59183649U JPS59183649U (ja) 1984-12-06
JPH0336915Y2 true JPH0336915Y2 (ja) 1991-08-05

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ID=30207374

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JP7734383U Granted JPS59183649U (ja) 1983-05-23 1983-05-23 環境試験装置の試験片結露防止装置

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2520558Y2 (ja) * 1990-06-29 1996-12-18 日立電子エンジニアリング株式会社 低温ハンドラ

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JPS54115189A (en) * 1978-02-28 1979-09-07 Toshiba Corp Low temperature conveyor unit
JPS54143668A (en) * 1978-04-28 1979-11-09 Toshiba Corp Continuous environment testing apparatus
JPS5761576B2 (ja) * 1978-12-30 1982-12-24 Mikihide Hirato

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54136959U (ja) * 1978-03-17 1979-09-22
JPS5761576U (ja) * 1980-09-19 1982-04-12

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JPS59183649U (ja) 1984-12-06

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