JPS59174766A - 周波数検出方法 - Google Patents
周波数検出方法Info
- Publication number
- JPS59174766A JPS59174766A JP4946483A JP4946483A JPS59174766A JP S59174766 A JPS59174766 A JP S59174766A JP 4946483 A JP4946483 A JP 4946483A JP 4946483 A JP4946483 A JP 4946483A JP S59174766 A JPS59174766 A JP S59174766A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- sampling
- phase difference
- value
- sampled
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- Granted
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- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、交流信号の周波数を検出する周波数検出方法
に係り、特に、交流信号を所定のサンプリング周波数で
サンプリングし、そのサンプリング値を用いて演算処理
することにより、交流信号の周波数を算出するディジタ
ル式の周波数検出方法に関する。
に係り、特に、交流信号を所定のサンプリング周波数で
サンプリングし、そのサンプリング値を用いて演算処理
することにより、交流信号の周波数を算出するディジタ
ル式の周波数検出方法に関する。
従来、ディジタル式の周波数検出方法としてパルスカウ
ンタ方式のものが広く知られている。この方式は交流入
力信号の半周期または7周期におけるノξルス発振器か
らの・ぞルス数を計数し、その計数値を周波数に変換し
て被測定交流信号の周波数を高精度に検出するものであ
る。
ンタ方式のものが広く知られている。この方式は交流入
力信号の半周期または7周期におけるノξルス発振器か
らの・ぞルス数を計数し、その計数値を周波数に変換し
て被測定交流信号の周波数を高精度に検出するものであ
る。
このような従来方法にあっては1周波数検出精度を上げ
ようとすれば、高繰返し周波数のパルス発振器と、交流
入力信号の特定の位相点0例えば零点を正確に検出する
手段とを必要とし、このため回路が複雑かつ高価になる
。
ようとすれば、高繰返し周波数のパルス発振器と、交流
入力信号の特定の位相点0例えば零点を正確に検出する
手段とを必要とし、このため回路が複雑かつ高価になる
。
この欠点を除去するために、本願出願人は光圧。
交流信号を所定のサンプリング周波数でサンシリングし
、その半周期のサンプリング値を用いて演算処理するこ
とにより、交流信号の周波数を算出するディジタル式の
周波数検出方法を提案した(未公知)。
、その半周期のサンプリング値を用いて演算処理するこ
とにより、交流信号の周波数を算出するディジタル式の
周波数検出方法を提案した(未公知)。
しかし、このような半周期の間のサンプリング値をもと
に周波数を求める方法では、交流信号である被測定波形
に直流分が重畳した場合、検出結果に誤差が生ずる恐れ
があった。
に周波数を求める方法では、交流信号である被測定波形
に直流分が重畳した場合、検出結果に誤差が生ずる恐れ
があった。
本発明は上記欠点を除去するためになされたもので、/
周期(3tro”)の間のサンプリング値をもとに、計
算機を用いた簡単な演算処理により、直流分の重畳の影
響を受けない高精度の周波数検出を行い得る周波数検出
方法を提供することを目的とする。
周期(3tro”)の間のサンプリング値をもとに、計
算機を用いた簡単な演算処理により、直流分の重畳の影
響を受けない高精度の周波数検出を行い得る周波数検出
方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明では、被測定周波数で
の交流信号を比較的低いサンプリング周波数feでサン
プリングし、その1周期(360つの間のサンプリング
値xo−x、・・・Xtn ’ X2!1+1を用いて
計算機による次のような簡単な演算処理を行なう。すな
わち、前記サンプリング値X。
の交流信号を比較的低いサンプリング周波数feでサン
プリングし、その1周期(360つの間のサンプリング
値xo−x、・・・Xtn ’ X2!1+1を用いて
計算機による次のような簡単な演算処理を行なう。すな
わち、前記サンプリング値X。
” ” ’xzn’ X2n−1−1と、被測定周波
数の定格周波数で。及びサンプリング周波数fsから求
められる位相差θ。とに基づいてλサンプリング点間の
平均位相差θを演算し、とのθとこれを求めるのに用い
た前記θ。との差の絶対値1θ−θ11が許容偏差δ以
内か否かを判断し、1θ−θ、1がδよりも大きい時は
修正演算を行ない、前記1θ−θ11が許容偏差δ以下
になった時の位相差θと前記f。
数の定格周波数で。及びサンプリング周波数fsから求
められる位相差θ。とに基づいてλサンプリング点間の
平均位相差θを演算し、とのθとこれを求めるのに用い
た前記θ。との差の絶対値1θ−θ11が許容偏差δ以
内か否かを判断し、1θ−θ、1がδよりも大きい時は
修正演算を行ない、前記1θ−θ11が許容偏差δ以下
になった時の位相差θと前記f。
及びθ。とから被測定周波数fを求めることにより、高
精度の周波数検出を可能としたものである。
精度の周波数検出を可能としたものである。
以下、本発明の一実施例を添付図面を参照しつつ説明す
る。
る。
第7図は本発明を実施する周波数検出装置の構成例を示
すブロック線図である。この検出装置では、交流系統l
の正弦波電圧の周波数fを検出するものとし、その電圧
が計器用変圧器コによって信号レベルに下げられ、アナ
ログ入力カード3に入力されろうこの交流入力信号がア
ナログ入力カード3によって所定のサンプリング周波数
f8でサンプリングされると共に、アナログ値からディ
ジタル値にA−D変換される。アナログ入力カード3に
よるサンプリングデータはマイクロプロセラサケによっ
て演算処理され周波数fが求められ。
すブロック線図である。この検出装置では、交流系統l
の正弦波電圧の周波数fを検出するものとし、その電圧
が計器用変圧器コによって信号レベルに下げられ、アナ
ログ入力カード3に入力されろうこの交流入力信号がア
ナログ入力カード3によって所定のサンプリング周波数
f8でサンプリングされると共に、アナログ値からディ
ジタル値にA−D変換される。アナログ入力カード3に
よるサンプリングデータはマイクロプロセラサケによっ
て演算処理され周波数fが求められ。
ディジタル出力カードSに出力される。このディジタル
出力カーP5からの出力は表示器AKより数値表示され
る。
出力カーP5からの出力は表示器AKより数値表示され
る。
そして1本発明の特徴はアナログ入力カーP3及びマイ
クロプロセラサケの部分で行われる信号処理方式にあり
1次の基本原理によって周波数の検出を行なう。
クロプロセラサケの部分で行われる信号処理方式にあり
1次の基本原理によって周波数の検出を行なう。
所定のサンプリング周波数f6でサンプリングされる周
波数fの交流入力信号の隣り合うλつのサンプリング点
の間の位相差θは、交流入力信号の周波数fが変動する
とその変動量に比例して変化する。その値は次式のよう
になる。
波数fの交流入力信号の隣り合うλつのサンプリング点
の間の位相差θは、交流入力信号の周波数fが変動する
とその変動量に比例して変化する。その値は次式のよう
になる。
交流入力電圧の周波数fが定格周波数foである時の位
相差θをθ0とすれば1位相差θ0は次式で表わされる
。
相差θをθ0とすれば1位相差θ0は次式で表わされる
。
そして、上記(/1式と(コ)式から周波数fを求める
式として次式が導かれる。
式として次式が導かれる。
θ
、。 ・ °°°°°°(”)(3)
式において、θ0及びf。は予め知り得る既知量であり
、したがって隣接するλつのサンプリング点間の位相差
を高精度で求めることにより。
式において、θ0及びf。は予め知り得る既知量であり
、したがって隣接するλつのサンプリング点間の位相差
を高精度で求めることにより。
所望の周波数fを上記(3)式に基づいて算出できる。
また、1周期(3t、o’)のサンプリングデータな用
いることで、被測定周波数fに直流分が重畳し零点がず
れる場合でも、この影響が除かれ高精度な周波数の測定
が可能となる。以上が本発明の基本原理である。
いることで、被測定周波数fに直流分が重畳し零点がず
れる場合でも、この影響が除かれ高精度な周波数の測定
が可能となる。以上が本発明の基本原理である。
第2図は本発明に従って行われる交流入力信号のサンプ
リングの説明図、第3図は本発明に従りて行われる演算
処理の内容を示すフローチャートであり、第2図及び第
3図を参照して周波数検出方法をさらに詳説する。
リングの説明図、第3図は本発明に従りて行われる演算
処理の内容を示すフローチャートであり、第2図及び第
3図を参照して周波数検出方法をさらに詳説する。
交流入力信号は、第1図に示すアナログ入力カード3に
よりサンプリング周波数f8、つまり周期T s =’
/l: でサンプリングされ、サンプリングθ 値X。−x、・・・X2n ’ X2n+1が得られる
。これらのサンプリング値は第1図のマイクロプロセラ
サグにより交流入力信号の/、j周期にサンプリングの
/周期(360°)を加えた時間にわたって第3図に示
すよつに一時記憶される(ステップ10/)。
よりサンプリング周波数f8、つまり周期T s =’
/l: でサンプリングされ、サンプリングθ 値X。−x、・・・X2n ’ X2n+1が得られる
。これらのサンプリング値は第1図のマイクロプロセラ
サグにより交流入力信号の/、j周期にサンプリングの
/周期(360°)を加えた時間にわたって第3図に示
すよつに一時記憶される(ステップ10/)。
次にこれらの記憶されたサンプリング値を用いてマイナ
スからプラス、プラスからマイナスへの極性変化する時
の前後の各一対のサンプリング値(第2図の例ではx。
スからプラス、プラスからマイナスへの極性変化する時
の前後の各一対のサンプリング値(第2図の例ではx。
−x、及びx2n X2n41.)を2組検出する訳で
あるが、第1図のマイクロプロセラサグで次のような手
順で処理する。
あるが、第1図のマイクロプロセラサグで次のような手
順で処理する。
まず、第3図に示すように記憶されたサンプリング値x
0・X、・・Xn・X、n+、のうち、最初のデータが
プラスかどうか判断される(ステップ102)。ここで
判断結果が゛ゞイエス“すなわちプラスであれば、サン
プリング値かプラスからマイナスへと極性変化する時の
前後のプラスとマイナスの一対のサンプリング値X。−
X、を検出しくステップ/θ3)、さら九約/周期後の
同様の極性変化をする時の一対のサンプリング値X2n
・Xln−)1を検出する(ステップ1oti )。ま
た、上記の判断結果がゝノー“、すなわちマイナスであ
れば、サンプリング値がマイナスからプラスへと極性変
化する時の前後のマイナスとプラスの一対のサンプリン
グ値X0 ・Xl を検出しくステップIO!5)、
さらに約1周期後の同様の極性変化をする時の一対のサ
ンプリング値xtn ’Xtn+1を検出する(ステッ
プ10t)。以上の検出結果に基づいて、′イエス“、
9ノー“の場合についてサンプリング値X、からX、n
tでの同一極性にあるもののサンプリング数、2nを求
める(ステップ/θ7)。
0・X、・・Xn・X、n+、のうち、最初のデータが
プラスかどうか判断される(ステップ102)。ここで
判断結果が゛ゞイエス“すなわちプラスであれば、サン
プリング値かプラスからマイナスへと極性変化する時の
前後のプラスとマイナスの一対のサンプリング値X。−
X、を検出しくステップ/θ3)、さら九約/周期後の
同様の極性変化をする時の一対のサンプリング値X2n
・Xln−)1を検出する(ステップ1oti )。ま
た、上記の判断結果がゝノー“、すなわちマイナスであ
れば、サンプリング値がマイナスからプラスへと極性変
化する時の前後のマイナスとプラスの一対のサンプリン
グ値X0 ・Xl を検出しくステップIO!5)、
さらに約1周期後の同様の極性変化をする時の一対のサ
ンプリング値xtn ’Xtn+1を検出する(ステッ
プ10t)。以上の検出結果に基づいて、′イエス“、
9ノー“の場合についてサンプリング値X、からX、n
tでの同一極性にあるもののサンプリング数、2nを求
める(ステップ/θ7)。
次K、実際周波数fを定格周波数f0と仮定した時の位
相差θ、を上記(2)弐忙基づいて次式のように求める
(ステップ101r )。
相差θ、を上記(2)弐忙基づいて次式のように求める
(ステップ101r )。
そして被測定交流信号の7サンプリング時間に対応する
位相差θを交流入力信号の零点付近の直線性を利用して
次式より算出する(ステップ10り)。
位相差θを交流入力信号の零点付近の直線性を利用して
次式より算出する(ステップ10り)。
+2m−/
近似的に交流入力信号の零点からサンプリング値X、の
得られた点゛までの位相差に対応し右の項た点から零点
までの位相差に対応する。括弧的全体としては、被測定
周波数−周期の両端の隣接する異極性のサンプリング値
開の位相差の内、その−周期に含壕れる位相差に対応す
る。一方上記(9式によっ′″C得られた位相差θは被
測定周波数のザンプリング値開の平均位相差を表わす。
得られた点゛までの位相差に対応し右の項た点から零点
までの位相差に対応する。括弧的全体としては、被測定
周波数−周期の両端の隣接する異極性のサンプリング値
開の位相差の内、その−周期に含壕れる位相差に対応す
る。一方上記(9式によっ′″C得られた位相差θは被
測定周波数のザンプリング値開の平均位相差を表わす。
しかるにこのようにして求めた両位相差、すなわち(り
)式と(S)式の結果は本来等しくなければならず、こ
れが等しくない時は当初用いた位相差θ1の値が適切で
なかったことを意味する。
)式と(S)式の結果は本来等しくなければならず、こ
れが等しくない時は当初用いた位相差θ1の値が適切で
なかったことを意味する。
そこで5上記のようにして求めた(マ)式の位相差θと
(fJ式の位相差θ1との差の絶対値1θ−011を予
め設定した許容偏差δと比較しくステップ//の。
(fJ式の位相差θ1との差の絶対値1θ−011を予
め設定した許容偏差δと比較しくステップ//の。
1θ−θ11〉δ
であれば、(j1式の位相差θlに(3)式の演算によ
って得た位相差θの値を代入しくステップ///)、再
び、隣接する−りのサンプリング間の新たな位相差θを
(j)式に従って演算して求める(ステップ/θq)。
って得た位相差θの値を代入しくステップ///)、再
び、隣接する−りのサンプリング間の新たな位相差θを
(j)式に従って演算して求める(ステップ/θq)。
この演算を
10〜θ11りδ
となるまで繰返し。
10−〇、1くδ
となれば−これはθ−θlとみなせ、この得られた位相
差θの値を用いて上記(3)式のf −−f。
差θの値を用いて上記(3)式のf −−f。
θ0
により、実際の周波数fを算出しくステップ//コ)。
その結果を第1図のディジタル出力カードSを介して表
示器乙に表示するうこれてより高精度の周波数検出が可
能となる。
示器乙に表示するうこれてより高精度の周波数検出が可
能となる。
ここで、上記実施例と、本願出願人が先に提案した半周
期の間のサンプリング値をもとに周波数を求める方法と
を、比較する。一般に、アナログ入力カード3にはオフ
セット(直流分)が存在する。そして被測定波形に直流
分が重畳していた時。
期の間のサンプリング値をもとに周波数を求める方法と
を、比較する。一般に、アナログ入力カード3にはオフ
セット(直流分)が存在する。そして被測定波形に直流
分が重畳していた時。
本願出願人が先に提案した方法では直流分の影響により
、計算結果が実際の値と異なってくる。すなわち計算例
を示すと次のようになる。
、計算結果が実際の値と異なってくる。すなわち計算例
を示すと次のようになる。
例えば、定格周波数!r0H2とし、波高値/1周波数
!0.40H2の正弦波を考え、これに波高値の±30
%、±Jチ、±10%、Oの直流分が重畳した場合の計
算結果なの半周期のサンプリング値で算出。
!0.40H2の正弦波を考え、これに波高値の±30
%、±Jチ、±10%、Oの直流分が重畳した場合の計
算結果なの半周期のサンプリング値で算出。
■/同周期サンプリング値で算出し、その結果は次表の
通りである。なお5位相差θの許容誤差はθ、l゛(す
なわち、Δf(0,,33I(2)とする。
通りである。なお5位相差θの許容誤差はθ、l゛(す
なわち、Δf(0,,33I(2)とする。
上記の表の、■から明らかなように1被測定波形に直流
分が重畳した場合、■の方法ではその影響を受けるため
に周波数検出値に誤差が生じるが。
分が重畳した場合、■の方法ではその影響を受けるため
に周波数検出値に誤差が生じるが。
■の方法では直流分の影響が除去されより正確な周波数
の検出が可能となる。
の検出が可能となる。
以上説明したように一本発明によれば、交流信号を比較
的低いサンプリング周波数でサンプリングし、そのサン
プリング値を用いて計算機(でよる簡単な演算処理を行
ない、隣接する一つのサンプリング点間の位相差を高精
度で求めて被測定周波数を算出するようにしたので、簡
易的確に高精度な周波数検出を行なうことができる。し
かも、/周期のサンプリングデータを用いているので、
たとえ被測定周波数に直流分が重畳し零点がずれる場合
でも、この影響を除去した高精度な周波数の測定が可能
である。
的低いサンプリング周波数でサンプリングし、そのサン
プリング値を用いて計算機(でよる簡単な演算処理を行
ない、隣接する一つのサンプリング点間の位相差を高精
度で求めて被測定周波数を算出するようにしたので、簡
易的確に高精度な周波数検出を行なうことができる。し
かも、/周期のサンプリングデータを用いているので、
たとえ被測定周波数に直流分が重畳し零点がずれる場合
でも、この影響を除去した高精度な周波数の測定が可能
である。
第7図は本発明を実施する周波数検出装置の−構成例を
示すブロック線図、第2図は本発明に彷って行われる交
流入力信号のサンプリングの説ツ図、第3図は本発明に
従って行なわれる演算処刑の内容を示すフローチャート
である。 /・・・交流系統、2・・・計器用変圧器、3・・アナ
ログ入力カード、q・・・マイクロプロセッサ、S・・
・ヅイジタル出力カード、t・・・表示器、Xo−X、
・・X、ゎ・x2n+、 ・・・サンプリング値、f
・被測定周波数。 出願人代理人 猪 股 清1
児1図 □ 第2閃
示すブロック線図、第2図は本発明に彷って行われる交
流入力信号のサンプリングの説ツ図、第3図は本発明に
従って行なわれる演算処刑の内容を示すフローチャート
である。 /・・・交流系統、2・・・計器用変圧器、3・・アナ
ログ入力カード、q・・・マイクロプロセッサ、S・・
・ヅイジタル出力カード、t・・・表示器、Xo−X、
・・X、ゎ・x2n+、 ・・・サンプリング値、f
・被測定周波数。 出願人代理人 猪 股 清1
児1図 □ 第2閃
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定周波数fの交流信号をより高いサンプリング周波
数fBでサンプリングし、そのサンプリング値のうちマ
イナスからプラス、プラスからマイナスへと極性変化す
る隣接するλつのサンプリング値X。、xl と、被測
定交流信号でほぼ/周期後に現れる前記と同様の極性変
化する隣接するλつのサンプリング値X2ゎ、X!n+
1と、サンプリング値X、からX2nまでのサンプリン
グ数2nとから、隣接するλつのサンプリング点間の被
測定交流信号基準の位相差に関する変数を01 とする
下記(1)弐において、まず位相差θ1として前記被測
定周波数fの定格周波数f。とサンプリング周波数で8
とから下記(,2)式によって求められる位相差θ。を
用いてサンプリング値X、からXtn’Jでのサンプリ
ング期間におけるコサンプリング点間の平均位相差θを
求め、この平均位相差θとこれを求めるのに用いた前記
位相差θ。どの差の絶対値1θ−θ11が所定の許容偏
差δ以下か否かを判断し、絶対値1θ−0,1が許容偏
差δよりも大きい時は下記(1)式によって求めた位相
差θの値を前記θ、の値として代入して新たな位相差θ
を繰返し演算して求め、前記1θ−θ11が許容偏差δ
以下になった時の位相差θを用い、下記(3)式により
被測定周波数fを求めるようにしたことを特徴とする周
波数検出方法。 2n−/ ・・・ (1) ′0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4946483A JPS59174766A (ja) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | 周波数検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4946483A JPS59174766A (ja) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | 周波数検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59174766A true JPS59174766A (ja) | 1984-10-03 |
JPH0436345B2 JPH0436345B2 (ja) | 1992-06-15 |
Family
ID=12831859
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4946483A Granted JPS59174766A (ja) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | 周波数検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59174766A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104076200A (zh) * | 2014-04-23 | 2014-10-01 | 天津大学 | 一种双子段相位差频率估计方法及其装置 |
-
1983
- 1983-03-24 JP JP4946483A patent/JPS59174766A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104076200A (zh) * | 2014-04-23 | 2014-10-01 | 天津大学 | 一种双子段相位差频率估计方法及其装置 |
CN104076200B (zh) * | 2014-04-23 | 2017-01-04 | 天津大学 | 一种双子段相位差频率估计方法及其装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0436345B2 (ja) | 1992-06-15 |
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