JPS59174081A - ディジタル サブトラクション装置 - Google Patents

ディジタル サブトラクション装置

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JPS59174081A
JPS59174081A JP58049573A JP4957383A JPS59174081A JP S59174081 A JPS59174081 A JP S59174081A JP 58049573 A JP58049573 A JP 58049573A JP 4957383 A JP4957383 A JP 4957383A JP S59174081 A JPS59174081 A JP S59174081A
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JP
Japan
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voltage
characteristic table
value
converter
test
Prior art date
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JP58049573A
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English (en)
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JPH0510875B2 (ja
Inventor
Kenji Shibata
芝田 健治
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
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Publication of JPS59174081A publication Critical patent/JPS59174081A/ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、X線テレビジョンに細別されるディジタル 
ザブI・ラクション 7ステムの分野で利用される。
本発明は、造影剤注入前後の、とくに血管なとにおける
差分画像(ザブトラクション像)か表示されるX線TV
装置のディジタル サブトラクション システムに関す
る。
(r+)  従来技術 ディジタル サブトラクション システム(D。
S、 S)においては、−撮影前に被検者個有の適正な
X線条件(螢光増倍管1.Iに対する入射線量を決めて
所望の画質を得る)ために、テスト曝射を行う必要があ
る。従来では、テスト曝射は検査員のかんに頼って試行
錯誤的に行なわれて込たのて、テスト曝射の回数増加を
招すた。
(ハ)   目   的 本発明の目・的は、撮影条件決定のためのテスト曝射が
1回で済み、従って被曝線量を大幅に減らすことができ
ると共に、より正確なX線条件、つ1すX線管電、圧の
設定が可能な、ディジクル サブトラクション ンステ
ムを提供することである。
←)構成 前記の目的は、ディジタル サブトラクンヨンシステム
におけるA/D変換器又はフレームメモリの出力データ
から、適用したX線管電圧KVに対する映像レベル電圧
ピーク値Vを検出する映像指圧ディジタル値検出手段と
、模擬ファントムをあらかじめ使用して、予想される最
小の被検者体厚から最大の体厚捷ての種々のサンプル値
りをパラメータにした管電圧KV−映像電圧Vの実験に
基づく測定値を入力して、補間演算により作られるKV
−V特性テーブル作成手段と、被検者を介したテスト曝
射によりその時のV電圧KVtestに対する映像電圧
Vtestを検出して、プロットと補間演算とにより作
られる’V−D特性テーブル作成手段と、そのV−D特
性テーブルからVtest をもとに被検者の体厚Do
bjを検出し、この場合、体厚Dobjがサンプル値D
Kなければ、DをパラメータにしたKV−V特性テーブ
ルからKVをパラメータにしたV−D特性テーブルを作
成し、検出されたDobjをもとにプロットと補間演算
とにより作られるK V −V特性テーブル作成手段と
具有して、このテーブルにより定格内最適の映像電圧V
optに対する最適の管電圧KVoptを検出し、モニ
ターに表示或いは管電圧の自動設定により達成できる。
(ホ)実施例 本発明の構成例を第1図に示す。
ここで、10はX線管、12はX線高電圧装置、14は
螢光増倍管(1,I)、16は絞り、18はTV右カメ
ラット、200″iカメラコントロール ユニット、2
1と22ハアンプであり、22の方がゲインが低い、ま
た24は対数増幅器、26はA/D変換器、28と30
はフレームメモリ、32は減算器、34i、1:エンハ
ンスメント、361dマイクロコンピユータ、38ハ入
力器である。なお、D/A変換器、モニタなとの図示は
省略されている。1だ、CLは制御信号のバスである。
テスト曝射で決める適正なX線条件とは、被検者に対し
て所定の画質のサブトラクション像を得るための管電圧
である。D、 S、 S、では、シリアル、の違いを管
電圧で調整する。D、 S、 S、  調4’jE ”
”lに他の方法により螢光増倍管14からA/D変換器
261てのル、゛1(整個ノシ1、例えば、1.1.視
野14、絞り18、C0C,U、 20のゲイン、対数
増幅器24のゲインなどは、すでにそれぞれ適正な値に
なるよう調整されているため、ある被検者に対する適正
管電圧は、例えば、A/D変換器26の入力映像信号レ
ベルVかA/D変換器26の入力レンジいっばいにV二
Voptに々る時の値である。従って、従来のテス) 
KG射によるX線条件決定は、■をシンクロスコープ丑
たはレベルインジケータなどで目視しなから、管電圧の
微調整を繰り返すことにより行なわれていた0 本発明では、テスト曝射時或いは実験時の管電圧は、手
動または自動設定されるが、この値はマイクロコンピュ
ータ36により読みとられ、捷だその都度、曝射により
、映像信号レベルけA/D変換されて、フレームメモリ
28或いハ30に格納されるか、A/D変換出力データ
またはフレームメモリの出力データについて、マイクロ
コンピュータ36によりその最大映像信号レベルを持つ
画素が検出さnlその値Vが読みとられることにより、
映像電圧ディジクル値検出手段を構成する。さらに、後
述するか、実験により求められたサンプルデータは、同
じマイクロコンピュータ36により直線補間或いは多項
式の最小2乗法あてはめにより連続曲線に変換される。
他方、模擬ファントムの種々の厚みDについて管■圧K
V−映像電圧V特性を実験的に求める。
すなわち、厚みD二D ’ (’−0%・・・)1)の
複写体につ層て、管電圧KVをX線管定格の範囲て種々
に変えて、D=D4につい1 ノKVj Vj (j=
o、 −221)を第3図のように×をプロットする。
マイクロコンピュータ36は、直線補間或いは多項式の
最小2乗法あてはめによって、これらのサンプリング点
から連続曲線を作成する。パラメータD =D、〜Dn
について得られたKV−V特性の例が第4図に示される
○ 次に、管電圧KV=KVt e s tに設定して、こ
の場合VかA/D変換器26の入力レンジを超えないよ
うにテスト曝射を行い、映像信号レベルVtestを得
ルO第4 図K オイテ、KVmK V t e s 
t D4jのvl、Di(6=o、・・−71)のデー
タをもとに第5図のようにプロット図を得る。同様に、
補間演算により、第6図のような連続曲線のV−D特性
図が得られる。このV−D特性図よりV=Vtest時
の体厚Dobjが求まる。Dobjが被検者の体と等価
なX線減衰を示す模擬ファントムの厚みである0 さらに、第4図より、Ky−=KVyyr (nr= 
o−a)をパラメータとしたV−D特性図を作成し、D
 =Do b jに対するVの値v′〃7を求め、得ら
れた蝮数点のKVm、vm(2n−o・a)をプロット
し、かつ補間演算によりKV−V特性図を第8図のよう
にして得る。そこで、V −= Vo p tを指定し
、曲線上の交点により適正管電圧KVoptが求まる。
なお、実験による測定値の採取には、撮影時に選択され
るアンプ21よりゲインの低しアンプ22が選択された
状態で行ない、撮影時にはスイッチSW2の(イ)側が
オンし、実験及びテスト曝射時は、スイッチSW2の(
ロ)側がオンする。才だ、スイッチSWIは、対数増幅
器24の選択用に使用さね、るが、′実験では、SWI
の(ロ)側がオンされる。しかしなから、スイッチSW
2に関しては、管電圧か十分低す値で適用される場合に
は、アンプ21を選んでもよい。
本発明を構成する機能実現手段からみたフローチャート
は、第9図に示される。ここで、1iは模擬ファントム
、11は被検者、381−1:入力手段、42ハ管電圧
及び映像電圧検出手段、44はKV−V(パラメータD
〕テーブル作成手段、46けv−、p(’パラメータK
V)テーブル作成手段、48はV−Dテーブル作成手段
、5oはKV−Vテーブル作成手段、52けCRTであ
る。なお、プロット値の入力手段38ハキーボードに限
らず、オンラインするためのインターフェースでもよい
(へ)効果 本発明は、1回のテスト曝射により正確なX線条件、つ
まりX線管電圧の設定値が求丑るという特有の効果を奏
する。
【図面の簡単な説明】
第1I図は本発明の構成例を示すブロック図、第2図は
映像電圧Vの波形図、第3図tfiKV−Vプロット図
、第4図はDをパラメータとしたKV−■特性図、?J
S5図tfiV −Dプロット図、第6図けV−Dプロ
ット図、第7図はKVをパラメータとしたV−D特性図
、第8図は被写体Dobjに刻するKV−V特性図、第
9図は本発明による機能実現手段のフローチャートであ
る。 26けA/D変換器、28と30はフレームメモリ1.
36はマイクロコンピュータ、38はキーボードである
。 第3図 第5図 第4図 D=D。 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ディジタル ザブトラクション システムにおけるA/
    D変換器又はフレームメモリの出力データから、適用し
    たX線管矩:正値K V K ’prする映像レベル電
    圧ピーク値Vを検出する映像電圧テイジタル値検出手段
    と;模擬ファントムをあらかしめ使用してそのザンプル
    値厚みDごとに雀電圧KVと映像電圧Vとの実験に基づ
    くが1]定値を入力できる入力手段と;該測定値間を補
    間演算して作し看る厚みDをパラメータにしたKV−V
    特性テーブル作成手段と;被検者を介したテスト曝射に
    よりその時の管電圧KVtestに対する映像電圧V 
    t e s tを検出して、K V −V特性テーブル
    からKVtestをもとにV−D値をプロットし、その
    プロット間を補間演算して作られるV−D特性テーブル
    作成手段と;そのV−D特性テーブルからVtest 
    をもとに被検者の体厚Dobjを検出し、他方厚みDを
    パラメータにしたK V −V特性テ・−プルからKV
    をパラメータにしたV−D特性テーブルを作成し、検出
    されたDobjをもとにKV−V値をプロットし、その
    プロット間を補間演算して定格内最適の映像電圧Vop
    tを指定してその対応する最適管電圧KVo p tを
    検出する手段とからなることを特徴とする、ディジタル
     ザブトラクション /ステム。
JP58049573A 1983-03-24 1983-03-24 ディジタル サブトラクション装置 Granted JPS59174081A (ja)

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JPH0510875B2 JPH0510875B2 (ja) 1993-02-10

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61288586A (ja) * 1985-06-15 1986-12-18 Toshiba Corp デイジタル・フルオログラフイ装置
JPS6243990A (ja) * 1985-08-14 1987-02-25 エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン X線撮像方法及び装置
JPS62248666A (ja) * 1986-04-22 1987-10-29 Konika Corp 記録濃度を一定にした感熱記録装置
JPS62255165A (ja) * 1986-04-28 1987-11-06 Konika Corp 記録パルスを演算する感熱記録装置
JP2019126709A (ja) * 2018-01-19 2019-08-01 コニカミノルタ株式会社 撮影制御装置、放射線撮影装置及び放射線撮影システム
US11504084B2 (en) 2018-01-19 2022-11-22 Konica Minolta, Inc. Radiographing control apparatus, radiographic imaging apparatus and radiographic imaging system

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