JPS59155809A - 自動焦点検出装置 - Google Patents

自動焦点検出装置

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JPS59155809A
JPS59155809A JP58028599A JP2859983A JPS59155809A JP S59155809 A JPS59155809 A JP S59155809A JP 58028599 A JP58028599 A JP 58028599A JP 2859983 A JP2859983 A JP 2859983A JP S59155809 A JPS59155809 A JP S59155809A
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Yoshiaki Horikawa
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Focusing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 点検出装置特に物体像を複数の素子から成る光電変換装
置で受けて各素子からその蛍光計を表わす出力信号を・
得、該出力信号に基づいて合焦検出を行う自動焦点検出
装置に関するものである。
この種従来の自dσl焦点検出装置として、例えば二像
合致方式のものには、三角測鰯を応用した距離計式のも
のや瞳を通る光束を分割して二つの像を得るT T L
方式のものがあり、いずれも二つの像の合致を検出する
のに二つの像についてデジタル的に相関を求め、その相
関値の極値をもって合致となし且つその合致丑で二つの
像の相対移動用をもって像の位相差量とするものであっ
た。
第]図はその一例を示しておシ、図示しないイメージセ
ンサ−により撮られた二つの像のデータA,Bはサンプ
ルホールド回路,A−D変換器(いずれも図示せず9等
を通ってリング状のシフトレジスタla,lbに夫々記
憶される。この例では画像データを128ビソト(苛成
としている。両画像データA,’Hが夫々シフトレジス
タ]a,lbに格納されると、続いて差の絶対値を求め
る回路2により各ビット毎の差の絶対値が求められ、更
に加算器3によってそれらの和が求められて二つの像の
相関値となる。次に、クロシンO Lがらのノゼルスに
よりシフトレジスタ1bの画像データBが1ビット分移
動されて再び回路2,加算器3によりn目関値が求めら
れる。このようにして、クロッりO’Lにより次々と一
方の画像データを移動させるたびに相関値が求められ、
更にピークディテクタ4によって相関値の極値が求めら
れ、極値を検出した位置が合焦位置となる。又、極値の
場合のクロック数がカウンタ5によって求められ、この
クロック数即ちシフトレジスタ11〕の画像データBの
移動−量が二つの画[象の位相差計となり、これからデ
フォーカスの方向と量を知ることが出来る。
ところが、この装置はイメージセンサ−で得り画像デー
タをその捷ま用いているので、光学系の偏芯や瞳の偏芯
等で二つの画像データの光量−が不均等になった場合や
、瞳分割器と瞳の位置かずれて二つの画像データの光計
分布が不均一になった場合に、誤った合焦が行われたり
更には合焦不能となるなどの問題があった。又、工作合
致方式のものに限らず、結像面の@稜に一対のイメージ
センサ−を配置して両センサーへの光附のツクランスを
検出することにより合焦を行う方式の自動焦点検出装置
も同じ問題点を有していた。
本発明は、上記問題点に鑑み、光電変換装置に一様な光
を当ててその際の出力信号の逆数を求める手段と、該逆
数を合焦検出のだめの出力信号に乗じて該出力信号を補
正する手段とを設けることにより、正確々合焦を行い得
るようにした自動焦点検出装置を提供せんとするもので
あるが、以下第2図乃至第111図に示した一実施例に
基づきこれを説明すれば、第2図は本実施例に用いられ
る11¥fi分割法の原理を示しており、(a)におい
て、6は結像レンズ、7は結像レンズ6の前用で瞳の近
鈎に配設された開ロアaを有する遮光板、8は像面であ
り、合焦時には像面8−ヒに像Qが結像されるが、非合
焦時には前ピン、後ピンに対応して像Qに関して各々光
軸Oに垂面な方向で反対方向にずれた位置にボ/、た像
Q+ 、 Q2 が像面8上に形成される。(b)は遮
光板7の開ロアaを光軸Oに関して反対fllljに移
動させた場合を示しており、合焦時には像面8上に像Q
′が結像されるが、非合焦時には各々前ピン、後ピンに
対応してボケた像Q+’ + Q2’が像面8」二に形
成される。従って、遮光板7の開ロアaを例えばfaJ
の位置から()〕)の位置へ移動させると、合焦時には
像Q及びQ′が同じ位置にあって移動しないが、前ピン
の場合には像はQ+からQ+’の位置へ移動し、捷だ後
ピンの場合にはQ2からQ2’の位置へ移動する。そし
て、8の像面上にいわゆるイメージセンサ−を設けるこ
とにより像の状態を測定できる。
以上のことから、前ピン、稜ヒ0ンの判別が可能となる
と共に、その時の非合焦の計を像の移動方向及び量(す
なわち位相差)から知ることができる。
第3図は上記原理を顕微鏡に用いた場合の実/lO)例
の全体図であり、51は光源、52はコンデンサーレン
ズである。53はステージで、この上に標本をのせて観
察を行なう。511は対物レンズ、55は焦点検出系へ
光を導くビームスプリッタ−156は接眼レンズに光の
一部を導くプリズム、57は接眼レンズである。58は
写爽用限眼レンズ、59はフィルムである。ここまでは
、普通の顕微鏡と何ら異なるところは無い光学系である
、60は♂−ムスプリンター55からの光を検出光学系
に導くリレーレンズ、61け瞳をつくるレンズ、62は
レンズ61によってつくられた瞳の位置におかれる瞳分
割器である。63は結像レンズで、これを辿る光をフィ
ルター6・1を介してイメージセンサ−65上に結像さ
せる。66は瞳分割器、:駆jpH回路、67はステー
ジj、@動回路であり、それぞれマイクロコンピュータ
70によって制御される。
68はイメージセンサー、(枢動回路、69はイメージ
センサ−65からの画(’Rデータをマイクロコンピュ
ータ7oに入力するインターンェイス回路である。71
は自動焦点動作を行なったり、合焦表示や不可能表示を
行なうコンソールである。相関のl寅3つ−や合焦の′
1′−1l定等は全てマイクロコンピュータ70が所々
っている。相関の演算+d i近開発され市場に出てい
る計算専用L S 1を用いると良い。
次に各部分の動作について詳述する。箪4図は二つの像
を形成する為に瞳を通る光栄を分割する瞳分割器の具体
的な二つの例を示しており、(a)はガラス基イJiに
遮光部分(斜線部)を設は且っ軸0を中心に回転させる
ことにより11M79を半分ずつ交互に開閉するように
したものであり、(b)は開口部10を有した扇形のも
ので軸Oを中心に左右に回転させることにより瞳9を半
分ずつ交互に開閉するようになっている。(a)の場合
は、1)Cモータ等によって回転させつつ回転する瞳分
割器による同期信号に応じてイメージセンザーで撮像す
る方法に適している。(1つ)はマイクロコンピュータ
等の制御装置に従って瞳分割器を動かしながらそれと同
期してイメージセンザーで撮像する方法に適している。
かくして、以上の様な瞳分割器によって第3図における
(a) 、 (b)の状態を作り出し、その(a)。
(1))の状態それぞれの場合の両区データをイメージ
センサーによって得ることが可能となる。
又、一般に合焦の対象となる被写体や標本は視野の中心
にあるとは限らないので、イメージセンザーは視野の中
心だけでなくなるべく広範囲にわたっていることが望ま
しい。しかし、視野全体をカバーしようとするとイメー
ジセンザーの素子数を増やす心安がある。これは合焦精
度を一定に保つためには素子のピッチをある程・度の大
きさにしなければならないところからくる。
この点について以下説明する。第5図は二つの像の位相
差量とデフォーカス量との関係を示す図である。こ\で
は、説明を簡単にする為に点像を考える。13は光学系
の光重11であり、後側開口数がN A′の光学系によ
って点像11が形成されているとする。今ガフオーカス
量δdの位置にイメージセンサ−12があるとすると、
二つの像11A。
]、 I Bはspだけ位相差をもって形成されるから
、δd、!:Spの関係は となる。今10×の対物レンズを用いた場合の合焦精度
を考える。10×対物レンズのNAをO6I Oとする
とN A′は0011となり、(1)式からδd  =
  258p           (2)か導かれる
。一方、]’OX対物レンズの焦点深度tは N A’            (3)で表わされる
(εは最小錯乱円である)から、ε−0,05+mn 
(20本/陥の分解能に相当)とすれば、 t = 1.25渭m(4) となる。この焦点深度以内の合焦検出精度が必要である
から、 δd = −(5) として δd=0.625祁         (6)よって 5p=25 μm(7) となる。この程度の像の位相差量をh度良く求めるには
、イメージセンサ−12のダイオードアレイのピッチが
やはり25 ltm程度である必要かある。以上の様に
合焦精度の要求からイメージ七ンザー12のピッチが決
定される。この場合板に128個のダイオードアレイを
有するイメージセンサ−を用いたとすると、イメージセ
ンサ−がカッ々−する範囲は128XOO25=32咽
となり、これは視冊数21(視野が直径21扉)に比べ
て非常に小さく、合焦の対象と々る被写体をイメージセ
ンサ−の位W(一般的には中心)に移脂1させて合焦を
行う必要が生じる。
第6図は本実施例に使用したイメージセンザーとそこに
おける処理方法を示したものである。本実施例は512
個のフォトダイオードアレイを有するイメージセンサ−
を使用しているが、このイメージセンサ−によると51
2 ×0.025=12.8mmとなり、視野のか々り
の部分をカバーすることができる。しかし、全てのビッ
ト(ダイオードアレイ)を用いて相関演算すると非常に
演算時間が長くなるし、意味も無い。そこで512ビッ
トを128ビツトの71゜つのブロックa −dに分け
、その白華もコントラストの高いブロックで相関の演算
を行なう。
ここで、コントラスト計算方法の一例について説明する
。一般にコントラスト評価の評価関数として[、Nx1
eセンサーのXビット目の出力とした場合 〇−ΣIf(xl  f (x+1 ) l又は、 C22(f(x)  f (x+1 ) )’となるこ
とが知られている。本実施例の場合、コントラストの変
化を精度良く知る必要のあるコントラスト法による焦点
合わせとは異なり、各ブロック間の相対的コントラスト
強度を知れば良いから、必ずしも隣りのビットの差を計
算する必要はない。例えば C−Σ′1f(x)  f (x+5) lとする(Σ
′はXを4つおきに計算するという意味でアル、)と、
例えばAブロックの計、)H−I= l f (611
) −f(69)l+・・・・+l f(184)−f
(188)1となり、差の絶対値を31回計算しながら
加算すれば良いことになる。従来の計算法なら121回
必要となる。
向、ここで5ビット隣りの値との差の絶対値を4ビツト
おきに計算しているのは、ただ単に隣りの値の差の絶対
値を4ビツトおきに計算するよシもコントラストの感度
を良くするためである。この点に関し、例えば第7図に
示したイメージセンサ−上の光の強度分布tに基づき比
軸計算を行ってみると、本実施例の場合は C=lf(64)  f(69)l+1f(68)  
f(73)l=113−301+125−601 =52 となるのに対し、従来の場合は C′=lf(6’4)  f(65)l+1f(68)
  f(69)1=11.3−1.41+125−30
1=6 となることから、本実施例の方が従来の場合よりコント
ラスト感度が良くなっている。
更に、計算量を少なくする為にXビット隣りの値との差
を求め、これをYビットおきに計算する場合は、X)Y
が好ましい。本実施例はX=5)、4=Yである。
なお、上記関数fに用いるデータは画像データA、Bの
どちらか一方で良い。
かくして、以上の様な方法でブロックa、b。
・・・・、eのコントラストを計算してその内の一番コ
ントラストの良いものを選ぶが、ここで第6図から明ら
かなようにブロックaとbが128〜192ビツトで重
なっているので、無駄々計算をし々いように64〜12
8ビツト、128〜192 ビット、192〜256ビ
ツトのコントラストを各々計算し、ブロックaのコント
ラストは64〜128キツトと128〜192ビツトの
コントラストの和、ブロックbのコントラストは128
〜192 ビットと192〜256  ビットのコント
ラストの和としても良い。尚、ブロック” + b+ 
c+ d + eが各々の半分ずつ重なり合っているの
は、ブロックの境界に画像強度変化の著しい部分がある
場合でもその変化を含んだブロックを設定できるように
する為である。例えばブロックa、cの境界すなわち1
92ビット近辺に画数強度変化の著しい部分があった場
合、ブロックaあるいはブロックCでは情報を全て使う
ことは出来ないが、ブロックbが設定されていれば情報
の全てがブロックbに含まれることになり都合が良い。
コントラストを求める演算は相関の演算に比べて非常に
短時間で済むので、本実施例の演算時間は128ビツト
だけの相関演算時間+α程度の時間で済む。又、両側の
それぞれ64ビツトにブロックを設定していないのは、
イメージセンサ−が一定の太きを有せざるを得ないため
イメージセンサ−に写る画像データは竿に位置がずれて
いるだけでなく周辺部分が異なっており、その丑ま相関
演算を行うと誤差が生じてしまうからである。
以上のように処理を行なえば、必ずしも合焦させるべき
被写体や標本が睨野の中心になくとも被写体のある部分
(ブロック)が自動的に選ばれて焦点検出が行われる。
以上のことは特に固定的なブロックを定めておく必要は
なく、視野の大部分をカバーするように配設されたイメ
ージセンサ−の数多くのフォトダイオードアレイの中か
ら、相関演3章に必要なフォトダイオードアレイを含ん
だ部分をコントラスト等で選べば良い。また観察用の視
野中にマーク等を設は手動で設定するようにしても良い
。この様にすると視野中に立体的な標本があっても、あ
るいはゴミがあっても、使用者の合わせたい被写体に焦
点を合わせることができる。
次に、全体の動作について説明する。まず、第3図のイ
メージセンサー65からの二つの画像データA及びBは
インターフェイス69e通してマイクロコンピュータ7
0のメモリーに格納される。
そして、五つのブロックの白書もコントラストの高いブ
ロックが選択され、そのブロックの画像データによって
相関が演算される。仮に第6図のブロックaを選択した
として話を進める。
相関演算はメモリに格納された二つの画像に対応する画
像データAと画像データBとを相対的に1ビツトずつず
らしながら計算し、伺ビット分ずらしたら画像が重なっ
たかを判定して像の位相差量を求める。相関の式は、例
えば l:ばδl−”j! ” A、BS (f (x) −
f (x+δ月    (8)x = 6 lI   
 A   B となり、A、BS  は絶対値を表わし、関数f A(
X+ 。
f (x)は夫々画像データAIBのXビット目の値を
表わしている。そして、−組の関数’l”flBについ
てδを変えていって1(、(δ)が最小となる時のδ即
ちδ′を位相差としている。又、この例では一611≦
δ≦6・1としている。このδの範囲は合焦点近くでは
狭くすることができるので、演算時間の短縮となる。
実際のδの瞳はイメージセンサ−の1ビットごとの値し
かとらないので、さらに精度良く検出する為には相関の
離数的な値をカーブフイテイング等で近1以して1ビツ
ト以下の精度で像の位相差を求める(第8図)。あるい
はfl(δ)が最小の時のδ即ちδ′とその前後の三点
o+ I)+ qを用いて二次曲線近似を行うことによ
って求めることもできる(第9図)。
以上の結果、視暗の多くの部分をカバーし且つ合焦の精
度を維持しながら、演算時間をほとんど増加させないで
済む。
上記の例ではδが−611〜611の範囲にあり、この
範囲のデフォーカス量は(6)式から0625 X64
=40 mmとなり、対物側では4. O/102=0
.4 =40011mであるからデフォーカス量が±4
00μmとなる。これ以上の広い範囲のデフォーカス量
を検出範囲に入れようとする場合、δの範囲を3′θ−
!すことが考えられるが、これは計算量が増大し好捷し
くない。またその様にデフォーカス量が大きい場合に上
記の様な精度の高い計算をしても意味が無い。
そこで、本実施例では画像データとして取込んだデータ
の内の数ビットごとのデータを用いてコントラストや相
関の計算を実行している。具体的には5ビツトおきにデ
ータを用いるとすると、画像メモリ中のデータt (o
) 、 f (1) 、 r (2) 、 −−−−。
I(510)、 f(51,1)の内のf(0) 、 
f(5) 、 f (1,0) 。
・・・・、f(505)、f(510)が使用するデー
タになると考えれば良い。実際には割算の際に5ビツト
おきのデータを用いるに過ぎない。例えば(8)式の様
になる。この場合は、デフォーカス量が大きく像もぼや
けて低周波成分しかないから、ブロック分けは行なって
い々い。この場合のδの変化量も5つおきに計算するか
ら、δの範囲を例えば−200≦δ≦200とした場合
でも相関計算の回数は81回となり少なくて済む。検出
範、囲は±1.25ynmと5へる。
以上の様に、画像データを数ビットおきに用いることに
より計算量を増やすことなく検出範囲を広げられる。こ
の様にデフォーカス量の大きい時は数ビットごとの計算
により焦点位置の近くに合わせ、その後に前述の精度を
考えた計算を行なうと、合焦可能範囲が広く且つ合焦精
度の良い自動焦点検出を行なうことが出来る。
さらにデフォーカス量が大きい場合には、画像データか
らコントラスト(計算量が少なくて済む)だけを割算し
つつステージを移動し、コントラストが一定の値になっ
てから相関による焦点合わせを′r斤なうようにすると
良い。またこれは、コントラストが一定以上ないと相関
計算が誤った像位相を計算する恐れもあるので、それよ
り低いコントラストの場合は計算しないなどの判断に用
いてもよい。
尚、カメラ等対物光学系を移動して焦点合わせを行なう
装置の場合は、光学系を駆動するのは首う捷でもない。
上記の実施例の場合、瞳を通る光束を分割して二つの像
を得るので、光学系の偏芯や瞳の偏芯等で画像データA
とBの光計が異なる場合がある。
特に合焦系をアタッチメント形式にすると影響が出やす
い。また瞳位置に瞳分割器が無い場合には、第10図の
ように画像データAとBで光計にむらが出来る。第11
図は光量むらを模式的に説明する図である。(a)の場
合、瞳と瞳分割器が一致しているから各像高り、i、j
に対して瞳を通過する光計は全てaに等しい。(b)の
場合、瞳と瞳分割器が一致していないから、各像高h 
、 i 、 jに対して瞳を通過する光計はそれぞれす
、a、cとなって不均一となり、光量むらが生じる。
以上のような光量差や光量むらがあると、画像データA
とBの二つの像の相似性が恋化し、相関処理結果の精度
が著しく低下することになる。そこで補正が必要となる
。補正の一つの例は、イメージセンサーの固定パターン
ノイズの除去によく用いられている方法で、あらかじめ
リーな光でイメージセンサ−を露光しその画像データを
得る。
入射光が均一であることにより画像データは固定パター
ンノイズそのものであるから、その逆数によって補正係
数をつくれば、その後画隊データに補正係数をかけるこ
とにより固定パターンノイズの影響を除くことができる
。本実施例の場合、合焦光学系を通した均一な光で画像
データA及びBを得ると画像データAとBは偏芯等によ
り第11図の様に光量むらのあるデータとなっている。
従って、その逆数等によって補正係数をつくり同様な処
理を行なえば、光量むらの影響を除くことが出来る。光
量差がある場合もその光学系を通して同様な処理を行な
えば同様な効果を得ることができる。伺随的にはイメー
ジセンサ−の固定パターンノイズの除去にもなる。均一
光で露光する具体的方法としては、ステージ53上に試
料をおかない状態での画像データを入力する方法が簡単
である。
以上のように、上記の補正には一度均一光によるデータ
入力を行なう必要がある。。これはめんどうな操作では
ない→王、それでも補正用のデータ人力を行ないたくな
い場合は計算によって補正することも出来る。第12図
はそれを説明する図で、y軸をセンサーアレイの並び方
向にy軸を画数データの強度の方向に夫々とっである。
画像データA、Hの値は、第11図の説明でもわかる通
りある一定の傾きをもつ直線と考えることが出来る。
それぞれを1 .1  とする。画像データLAの傾B きをβ4とすると、画像データらの式は、IAをへの光
量の平均として、 y−β×十IA となる。ここで傾きβ4は光量によって変化するが、β
4−一となる定数kを導入することにより、kから求め
ることが出来る。Ikはその光学系の特性により決まる
もので、あらかじめ測定しておけば良い。画像データA
、Bの光量の平均をIallとすると、補正係数αは と々す、これによって光量差の補正及び光量むらの補正
ができる。
以上の様に、均一光を用いたりあるいは計−することで
、光学系の偏芯あるいは瞳の偏芯の影響や瞳と瞳分割器
が一致していない影響を補正し除去することが出来る。
その結果、合焦の精度が向上し、検出範囲も拡がる。更
には合焦検出部もアタッチメント形式にしても使用出来
る。最も大きな効果としては、瞳位置の異なる各種各倍
率の対物レンズが使用出来ることである。
寸だ、顕微鏡のよう((多くの種類の対物レンズを用い
るとそれぞれの対物レンズにより瞳位置が違うので、瞳
分割器を瞳位置に全ての対物レンズについて正しく設置
することが91降シい。この不具合の解決法の一つとし
て瞳分割器を複数個設けることか考えられる。複数の瞳
分割器をそれぞれの対物レンズの瞳位置に設けることに
より瞳と瞳分割器とを一致させる。一つの瞳分割器を使
用している場合、他の瞳分割器が瞳をけらないように構
成されているのは言うまでもない。例えば第13図のよ
うに第1I図と同じ瞳分割器を二枚連結したものを用い
てもよい。
第3図において、フィルター671は赤外カットフィル
ター或いはノ々ンドパスフィルターであって、イメージ
センサ−及び光源51等の分光感度1分光分布が比想感
度と異なるので、そのことによる焦点ずれの現象を防ぐ
役目をする。
以上のような自動焦点装置の制御、演算処理を行う場合
、マイクロコンピュータ及び演算処理ユニットによる方
法が最も設計容易で安価である。
これについて、第14図のフローチャートで説明を補足
する。これは最も基本的な場合を示している。合焦が開
始されると、1ず顕微鏡の状態が合焦動作に適した状態
になっているかをチェックし、対物の種類1倍率を判別
する、これは、光隈むら補正の場合対物の種類及び倍率
によってパラメータが異なり、像位相差量をステージ廊
動量に変換する変換の係数も倍率によって違うからであ
る((1)式参照)。次に、イメージセンサ−から法及
び「13のデータを得てメモリに格納する。その後、光
量むらを補正し、再びメモリに格納する。合焦開始時は
焦点が太きくずれていることがあるので、5ビツトおき
の相関演算でおおよその焦点位置を決定する((9)式
参照)。そして、相関により求めた像位相差量をステー
ジ移動針に変換しステージを移動する。そこで再びf、
 、 f8のデータを得、補正を行なう。次にコントラ
スト評価によりブロックを決定する。コントラストが一
定値以上々ければ相関による結果の信頼性が少ないので
、もう一度5ビット相関を行ないステージを焦点位置に
近づける。数回性なってもコントラストが上がらない揚
台は試料のコントラストが低すぎるめで不可能表示を行
なう。コントラストが一定以上あれば、決定されたブロ
ックで相関を計算し、ステージを移動して合焦する。合
焦の確認としてもう一度、fA、「1.を得、相関を計
算する。ここで体位相差−1@−が焦点深度内の値であ
れば合焦であり、ステージを移動しない。もし焦点深度
外であればもうD(同じ動作を繰り返す。
以十は最も基本的な動作を説明したもので、実際のプロ
グラムには試料が無かった場合とか機械が故障した場合
のフェイル・セイフ等も考慮されている。
また5ビツト相関から1ビツト相関に移る場合の判定に
像位相差量を用いてもよい。前例の場合=200≦δ≦
200の範囲を5つおきに計算しているが、相関R【δ
)が最小値をとるδが一200≦δ′≦200ならばそ
の分ステージを移動した後に1ビツト相関に移る。この
場合判定条件を一180≦δ′≦180のように計算し
たδの範囲より小さめに設定するほうがよい。これはデ
フォーカス量が大きい場合には雑音等で誤って最小値を
とるδ′を決定することがあるからである。
第15図は第二実施例として中央処理装置以外をハード
ウェアで構成した例の制御・演算回路を示している。こ
れについて説明すれば、まずコンソール71からの合焦
開始信号により瞳分割型駆動回路66が働き画像データ
Aをイメージセンサ−65により得る。イメージセンサ
−65は瞳分割器62と′同期してセンサー駆動回路6
8により撮像を開始する。この時、蓄積型イメージセン
サ−の場合は(一般に固体撮像素子はこの型)、−庇取
前に蓄積された信号を消去する為にカラ読み出しを行な
う。イメージセンサ−65がら連続シて読み出される画
像データAはサンプルボールド回路31 、 A/Dコ
ンバータ32.スイッチ回路33を通って第一メモリ3
4に記憶される。そして、図示していないメモリにあら
かじめ記憶されている補正係数データによって画像デー
タAは補正されて再び第一メモ!J 34に記憶される
。補正係数データはあらかじめ均一光を入射して画像セ
ンサーで撮像した前述の画像データの逆数にその時の画
像データA、Bの平均値を掛けたものである。512ビ
ツトのイメージ十ノサーの場合を考える。画像データA
、Bは両方合わせると0〜1023ビツトtで合計10
24個となる。画像データAは0〜511ビツト、画像
データBは512〜1o23 ビットとする。試料が無
い状態での吻−光で得た画像データの11ビツト目のイ
直をxoとすると、nビット目の補正係数knは となる。
次に、画像データAが第一メモリ34に格納されると、
瞳分割器62は画像データBを取る状態になり画像デー
タBは画像データAと同様にして第二メモリ35に補正
されて格納される。第一メモリ34に格納されたデータ
は第6図に示したブロックごとにコントラスト判別器3
6に送られ、コントラストの高さにより用いるべきブロ
ックが決定される。ブロックbのコントラストが最も高
い場合にはアドレス指定回路37に128が与えられる
。アドレスシフト回路38には初期値−32が入ってお
り、アドレス指定回路37が第一メモリ34の128を
指定すると、アドレスシフト回路38は第二メモリ35
の96を指定する。そして画像デTりfA(128)と
fB(96)が減算器39に入力され、絶対値回路40
を経てl fA(128)−f8.(96月の演算が行
なわれる。そして、加算器41を経てメモリ42に格納
される。以上が終ると、アドレス指定回路37はメモI
J 3 liの129を指定し、アドレスシフト回路3
8はメモリ35の97を指定し、以後同様に演算されl
 fA(129)−fB(97) lは加算器l11に
よって前のデータl fA(128)−fl3(96)
 1に加えられてメモl) 42に格納される。以後第
一メモリ311のアドレス255まで繰り返され、相関
演算 R(32>−21”’  ABS(fl(X)−fB(
x  32))x=128 が完了する。この計算が完了すると、アドレスシフト回
路38の値は−31になり、 1((−31)=  Σ’  Al3S(fA(x) 
fB(x 31月x=128 が計算される。そして、これはアドレスシフト回路38
の1直が31になる壕で続き、全体の相関演算 が行なわれる。続いて中央処理装置43によりメモl)
 42内の1(、(δ)を比較し、  R(δ)が最小
となるδを見つけて像の位相差量とする。それに従って
ステージ駆動回路67を駆動しピントを合わせる。
尚、デフォーカス量が太き、 <−32≦δ≦31の位
相差量では不足な場合は、アドレス指定回路37は第一
メモリ34の128を指定し且つアドレスシフト回路3
8の初期値は−64となる。そして、それぞれの相関計
算が終るごとに2ずつ増え、R(−64)=lf (1
28)  fB(128−(34月+l fA(130
)−fB(130−64) l+−・φ・・…・・  
 +l fA(382)−fB(382−611月R(
−62)=・拳・―拳・・ R(60)=・・・・・・・ という計算が行なわれる。これは画像データを1ピツト
おきに用いたことに相当し、同じ計算量で像位相差の検
出範囲が二倍になっている。但し合焦精度は1/2にな
る。
以上のように像位相差を計算しステージ駆動(9)路6
7を駆動してピントを合わせるが、ピントを正確に合わ
せる為上記動作を数回繰り返しても良い。尚、コンノー
ル71では合焦開始や合焦表示を行なう。
上述の如く、本発明による自動焦点検出装置は、イメー
ジセンサ−に一様な光を当ててその際の出力信号の逆数
を求める手段と、該逆数を合焦検出のだめの出力信号に
乗じて該出力1言号を補正する手段とを含んでいるので
、正確な合焦を行うことが出来る。
尚、本発明は、二つのイメージセンサーヲ用いた自動焦
点検出装置にも適消し得るのは言うまでも無い。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の自動焦点検出装置の要部回路を示す図、
第2図は本発明による自動焦点検出装置の一実施例に用
いられる瞳分割法の原理を示す図、第3図は上記実施例
の全体図、第・1図は上記実施例に用いられる瞳分割器
の具体例を示す正面図、第5図は二つの像の位相差−赦
とデフォーカス量との関係を示す図、第6図は上記実施
例のイメージセンサーとそこにおける処理方法を示す図
、第7図はイメージセンサ−上の光の強度分布の一例を
示す図ζ第8図及び第9図は合焦点付近における精度の
良い位相差計算法を示す図、第10図は上記実施例にお
ける画像データの光量むらを示す図、第11図は光量む
らを模式的に説明する図、第12図は光量むらの補正方
法を示す図、第13図は他の瞳分割器の斜視図、第14
図は上記実施例のコンピュータによる制御及び演算処理
方法を示すフローチャート、第15図は他の実施例の制
御・演算回路を示す図である。 51・・・光源、  52・・・コンデンサーレンズ、
53・・ステージ、54・対物レンz、55・・ビーム
スプリッタ−156・・プリズム、57・接眼レンズ、
58・写真用接眼レンズ、59 フィルム、60・・リ
レーレンズ、61・・・レンズ、62 ・瞳分割器、6
3・・結像レンズ、64・・フィルター、65・イメー
ジセンサ−166・瞳分割器1駆動回路、67・・ステ
ージ駆動回路、68 ・1メ一ジセンザー駆動回路、6
9・・・インターフェイス回路、70・・・マイクロコ
ンピュータ、71・・・コンソール。 ii図 q 第2 図 n 第4図    第5図 オフ図 第8図   19図 第10図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 物体像を複数の素子から成る光電変換装置で受けて各素
    子からその受光旨を表わす出力信号を得、該出力信号に
    基づいて合焦検出を行うようにした自動焦点検出装置に
    おいて、光電変換装置に一様な光を当ててその際の出力
    信号の逆数を求める手段と、該逆数を合焦検出のだめの
    出力信号に乗じて該出力信号を補正する手段とを含んで
    いることを特徴とする自動焦点検出装置。
JP58028599A 1983-02-24 1983-02-24 自動焦点検出装置 Granted JPS59155809A (ja)

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US06/582,736 US4633073A (en) 1983-02-24 1984-02-23 Data correcting device in an automatic focus detecting system
DE3406460A DE3406460C2 (de) 1983-02-24 1984-02-23 Automatische Brennpunktermittlungsvorrichtung

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